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X射線標(biāo)準(zhǔn)檢測系統(tǒng)的制作方法

文檔序號:9248396閱讀:556來源:國知局
X射線標(biāo)準(zhǔn)檢測系統(tǒng)的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種機(jī)械裝置,尤其涉及一種X射線標(biāo)準(zhǔn)檢測系統(tǒng)。
【背景技術(shù)】
[0002]X射線標(biāo)準(zhǔn)檢測系統(tǒng)是指一套利用X射線對被測物進(jìn)行檢測的裝置,常用于工業(yè)無損檢測等領(lǐng)域。
[0003]在進(jìn)行被測物檢測時(shí),需要被測物非常精準(zhǔn)的放置在X射線束的出束位置上,在X軸、Y軸和Z軸方向都需要精確調(diào)整。
[0004]但現(xiàn)有的設(shè)備的調(diào)整過程復(fù)雜,很難通過簡單操作就實(shí)現(xiàn)X射線束主軸,限束光闌中心及被檢測物體的同軸,尤其是在被測物放置于較長導(dǎo)軌上行程可變情況下,更是不易實(shí)現(xiàn),無法保證其處于X射線光束中心,因而會影響到檢測效果和準(zhǔn)確度;同時(shí),現(xiàn)有設(shè)備不便于進(jìn)行X射線管及被測物的位置調(diào)整,在使用過程中更換被測物,或發(fā)生震動、碰撞等原因造成位置改變后,需要很復(fù)雜的操作才能進(jìn)行位置復(fù)位。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]本發(fā)明的目的是針對現(xiàn)有技術(shù)的缺陷,提供一種X射線標(biāo)準(zhǔn)檢測系統(tǒng),從而實(shí)現(xiàn)方便和精確的X射線源到被測物的X射線出射調(diào)整。
[0006]為實(shí)現(xiàn)上述目的,本發(fā)明提供了一種X射線標(biāo)準(zhǔn)檢測系統(tǒng),所述X射線標(biāo)準(zhǔn)檢測系統(tǒng)包括:
[0007]X射線發(fā)生裝置,固定在光學(xué)平臺上,產(chǎn)生水平出射的X射線束;
[0008]擋板,由支架和固定在所述支架中的鉛板構(gòu)成,屏蔽X射線管產(chǎn)生的X射線光子主束方向的漏射線,所述擋板上具有X射線束的出射孔,形成光闌;
[0009]快門,固定在所述光學(xué)平臺上,并設(shè)置在所述擋板的X射線束射出方向一側(cè);所述快門包括:具有通孔的擋板和可移動的遮光片;所述通孔的中心、所述光闌的中心、所述X射線束的中心在同一直線上;當(dāng)所述遮光片遮擋在所述通孔上時(shí),所述快門閉合;當(dāng)所述遮光片從所述通孔上移開時(shí),所述快門打開,使所述X射線束由所述通孔出射;
[0010]過濾裝置,固定在所述光學(xué)平臺上,并設(shè)置在所述快門的X射線束射出方向一側(cè),包括以所述通孔為中心位置對稱設(shè)置的兩組濾波轉(zhuǎn)盤;每組濾波轉(zhuǎn)盤包括N個(gè)濾光孔,所述N為大于I的正整數(shù),所述濾光孔中夾設(shè)有濾光片;當(dāng)所述濾波轉(zhuǎn)盤旋轉(zhuǎn)時(shí),沿轉(zhuǎn)動方向依次有兩個(gè)濾光孔同時(shí)與所述通孔位置相對準(zhǔn),使所述X射線束由所述濾光孔中的濾光片進(jìn)行濾光之后再由所述通孔出射;
[0011]導(dǎo)軌平臺,設(shè)置在所述光學(xué)平臺的X射線束出束方向的一側(cè),包括:導(dǎo)軌和在所述導(dǎo)軌上平行移動的測量檢定平臺;調(diào)整所述測量檢定平臺,使放置于所述測量檢定平臺上的待檢物的中心與所述X射線束的中心相重合。
[0012]優(yōu)選的,所述系統(tǒng)還包括:
[0013]監(jiān)督電離室,固定在所述光學(xué)平臺上,并設(shè)置在所述過濾裝置的X射線束射出方向一側(cè),對所述X射線束的劑量進(jìn)行測量。
[0014]優(yōu)選的,在每組濾波轉(zhuǎn)盤中,除一個(gè)濾光孔外,其余(N-1)個(gè)濾光孔中夾設(shè)有濾光片;
[0015]其中,一組濾波轉(zhuǎn)盤的未夾設(shè)濾光片的濾光孔與所述通孔位置對準(zhǔn),當(dāng)另一組濾波轉(zhuǎn)盤旋轉(zhuǎn)時(shí),沿轉(zhuǎn)動方向依次有一個(gè)夾設(shè)有濾光片的濾光孔與所述未夾設(shè)濾光片的濾光孔以及通孔的位置相對準(zhǔn),使所述X射線束由所述另一組濾波轉(zhuǎn)盤的濾光片進(jìn)行濾光之后再由所述通孔出射。
[0016]進(jìn)一步優(yōu)選的,所述濾光孔的直徑不小于所述通孔的直徑。
[0017]優(yōu)選的,所述X射線發(fā)生裝置包括X射線光管和光管多維調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu);
[0018]所述光管多維調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)固定在所述光學(xué)平臺上,所述X射線光管安裝在所述光管多維調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)的安裝面上;調(diào)整所述光管多維調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)的安裝面,使所述X射線光管發(fā)出的X射線束沿所述測量檢定平臺在所述導(dǎo)軌上的移動方向水平束出。
[0019]進(jìn)一步優(yōu)選的,所述光管多維調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)包括:
[0020]橫向?qū)к?,垂直所述擋板安裝在所述光學(xué)平臺上;
[0021]旋轉(zhuǎn)平臺,滑設(shè)在所述橫向?qū)к壣?,在所述光學(xué)平臺上橫向移動,并在平行所述光學(xué)平臺的平面上進(jìn)行角度旋轉(zhuǎn);
[0022]縱向調(diào)節(jié)架,安裝在所述旋轉(zhuǎn)平臺上,調(diào)整所述縱向調(diào)解架,使所述縱向調(diào)節(jié)架的頂端到所述旋轉(zhuǎn)平臺之間的垂直距離發(fā)生改變;
[0023]光管固定器,安裝在所述縱向調(diào)節(jié)架的頂端,固定提供X射線束的X射線管;
[0024]通過調(diào)節(jié)所述縱向調(diào)節(jié)架的高度,調(diào)整所述X射線束的出射高度,并且通過調(diào)節(jié)所述旋轉(zhuǎn)平臺的旋轉(zhuǎn)角度,調(diào)整所述X射線束的出射角度,使所述X射線管的中心與所述出射孔的中心對準(zhǔn);通過調(diào)節(jié)所述旋轉(zhuǎn)平臺在所述橫向?qū)к壣系奈恢?,調(diào)整所述X射線管與所述出射孔之間的距離。
[0025]優(yōu)選的,移動基座,包括:
[0026]第一底座,平行所述導(dǎo)軌所在平面滑設(shè)在所述導(dǎo)軌上,由第一電機(jī)控制,沿平行導(dǎo)軌方向運(yùn)動;
[0027]滑軌,安裝在所述第一底座上,與所述導(dǎo)軌方向垂直;
[0028]第二底座,平行所述導(dǎo)軌所在平面滑設(shè)在所述滑軌上,由第二電機(jī)控制,沿垂直導(dǎo)軌方向運(yùn)動;
[0029]第一測量平臺,架設(shè)在所述第二底座上,具有第一轉(zhuǎn)軸和第二轉(zhuǎn)軸;通過所述第一轉(zhuǎn)軸調(diào)整所述第一測量平臺沿垂直所述導(dǎo)軌所在平面方向的高度位置,通過所述第二轉(zhuǎn)軸調(diào)整第一測量平臺角動;
[0030]第二測量平臺,放置所述待檢物,架設(shè)在所述第一測量平臺之上,所述第二測量平臺隨所述第一測量平臺垂直移動和角動;所述第二測量平臺具有第三轉(zhuǎn)軸、第四轉(zhuǎn)軸、第五轉(zhuǎn)軸和第六轉(zhuǎn)軸;通過所述第三轉(zhuǎn)軸調(diào)整所述第二測量平臺沿垂直所述導(dǎo)軌所在平面方向的高度位置,通過所述第四轉(zhuǎn)軸調(diào)整所述第二測量平臺在平行導(dǎo)軌所在平面沿所述導(dǎo)軌方向的位移,通過所述第五轉(zhuǎn)軸調(diào)整所述第二測量平臺在平行導(dǎo)軌所在平面沿垂直所述導(dǎo)軌方向的位移,通過所述第六轉(zhuǎn)軸調(diào)整第二測量平臺角動。
[0031]優(yōu)選的,所述測量檢定平臺包括:
[0032]移動基座,包括:
[0033]第一底座,平行所述導(dǎo)軌所在平面滑設(shè)在所述導(dǎo)軌上,由第一電機(jī)控制,沿平行導(dǎo)軌方向運(yùn)動;
[0034]滑軌,安裝在所述第一底座上,與所述導(dǎo)軌方向垂直;
[0035]第二底座,平行所述導(dǎo)軌所在平面滑設(shè)在所述滑軌上,由第二電機(jī)控制,沿垂直導(dǎo)軌方向運(yùn)動;
[0036]第二測量平臺,放置所述待檢物,架設(shè)在所述第二底座上;所述第二測量平臺具有第三轉(zhuǎn)軸、第四轉(zhuǎn)軸、第五轉(zhuǎn)軸和第六轉(zhuǎn)軸;通過所述第三轉(zhuǎn)軸調(diào)整所述第二測量平臺沿垂直所述導(dǎo)軌所在平面方向的高度位置,通過所述第四轉(zhuǎn)軸調(diào)整所述第二測量平臺在平行導(dǎo)軌所在平面沿所述導(dǎo)軌方向的位移,通過所述第五轉(zhuǎn)軸調(diào)整所述第二測量平臺在平行導(dǎo)軌所在平面沿垂直所述導(dǎo)軌方向的位移,通過所述第六轉(zhuǎn)軸調(diào)整第二測量平臺角動。
[0037]本發(fā)明X射線標(biāo)準(zhǔn)檢測系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)了方便和精確的X射線源到被測物的X射線出射調(diào)整。
【附圖說明】
[0038]圖1為本發(fā)明X射線標(biāo)準(zhǔn)檢測系統(tǒng)的示意圖;
[0039]圖2為本發(fā)明X射線標(biāo)準(zhǔn)檢測系統(tǒng)的多維調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)的示意圖;
[0040]圖3本發(fā)明X射線標(biāo)準(zhǔn)檢測系統(tǒng)的光學(xué)平臺部分的示意圖;
[0041]圖4為本發(fā)明X射線標(biāo)準(zhǔn)檢測系統(tǒng)的濾波轉(zhuǎn)盤的示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0042]下面通過附圖和實(shí)施例,對本發(fā)明的技術(shù)方案做進(jìn)一步的詳細(xì)描述。
[0043]圖1為本發(fā)明實(shí)施例提供的X射線標(biāo)準(zhǔn)檢測系統(tǒng)的示意圖,如圖所示,本發(fā)明X射線標(biāo)準(zhǔn)檢測系統(tǒng)包括:x射線發(fā)生裝置1、擋板(圖中未示出)、快門3、過濾裝置4、監(jiān)督電離室5和導(dǎo)軌平臺6。其中,X射線發(fā)生裝置1、擋板(圖中未示出)、快門3、過濾裝置4和監(jiān)督電離室5沿圖中自左向右方向依次固定在光學(xué)平臺7上。
[0044]X射線發(fā)生裝置1,固定在光學(xué)平臺7上,產(chǎn)生水平出射的X射線束;
[0045]其中,所述X射線發(fā)生裝置I包括X射線光管11和光管多維調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)12,具體可以如圖2所示。
[0046]所述光管多維調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)12固定在所述光學(xué)平臺7上,所述X射線光管11安裝在所述光管多維調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)12上;調(diào)整所述光管多維調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)12,使所述X射線光管11發(fā)出的X射線束沿導(dǎo)軌平臺6的測量檢定平臺62在導(dǎo)軌61上的移動方向水平束出。
[0047]進(jìn)一步的,如圖2所示,所述光管多維調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)12可以具體包括:
[0048]橫向?qū)к?21,垂直所述擋板安裝在所述光學(xué)平臺7上;橫向?qū)к?21具有絲杠(圖中未示出)和電機(jī)(圖中未示出)。
[0049]旋轉(zhuǎn)平臺122,滑設(shè)在所述橫向?qū)к?21上,在所述橫向?qū)к?21的電機(jī)驅(qū)動下,所述絲杠帶動旋轉(zhuǎn)平臺122在所述光學(xué)平臺7上橫向移動。并且,旋轉(zhuǎn)平臺122自身能夠在平行所述光學(xué)平臺7的平面上進(jìn)行角度旋轉(zhuǎn);
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