專(zhuān)利名稱(chēng)：記錄和/或再現(xiàn)缺陷列表的方法以及記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種一次寫(xiě)入記錄介質(zhì)，更具體地講，涉及一種將臨時(shí)缺陷列表記錄在一次寫(xiě)入記錄介質(zhì)上的方法、一種再現(xiàn)臨時(shí)缺陷列表的方法、一種用于記錄和/或再現(xiàn)臨時(shí)缺陷列表的設(shè)備、和一次寫(xiě)入記錄介質(zhì)。
背景技術(shù)：
缺陷管理涉及當(dāng)已經(jīng)被記錄在記錄介質(zhì)的產(chǎn)生缺陷的位置上的數(shù)據(jù)不能被正常再現(xiàn)時(shí)將該數(shù)據(jù)記錄在該記錄介質(zhì)的另一位置上，從而防止由缺陷的產(chǎn)生引起的數(shù)據(jù)損失。
傳統(tǒng)地，缺陷管理被分為使用線(xiàn)性替換方法的缺陷管理和使用滑移替換方法的缺陷管理。線(xiàn)性替換方法是用沒(méi)有產(chǎn)生缺陷的數(shù)據(jù)區(qū)的備用區(qū)來(lái)替換產(chǎn)生缺陷的數(shù)據(jù)區(qū)。滑移替換方法不使用產(chǎn)生缺陷的數(shù)據(jù)區(qū)，并且滑移到并使用沒(méi)有產(chǎn)生缺陷的下一數(shù)據(jù)區(qū)。
線(xiàn)性替換和滑移替換方法已經(jīng)主要被應(yīng)用于如DVD-RAM/RW(數(shù)字多用途盤(pán)-隨機(jī)存取存儲(chǔ)器/可重寫(xiě))的盤(pán)，在其上數(shù)據(jù)可被重新記錄并且允許通過(guò)隨機(jī)存取來(lái)記錄。
近來(lái)，幾種解決方法已經(jīng)被考慮以在一次寫(xiě)入記錄介質(zhì)中使用數(shù)據(jù)記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備執(zhí)行缺陷管理，在該記錄介質(zhì)中一旦數(shù)據(jù)被寫(xiě)入則該數(shù)據(jù)不能被消除或擦除。
現(xiàn)在將對(duì)使用線(xiàn)性替換的一次寫(xiě)入記錄介質(zhì)的缺陷管理進(jìn)行詳細(xì)描述。從主機(jī)接收用戶(hù)數(shù)據(jù)記錄命令和用戶(hù)數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備以簇為單位記錄用戶(hù)數(shù)據(jù)，簇是數(shù)據(jù)記錄單位。在數(shù)據(jù)記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備執(zhí)行寫(xiě)入后檢驗(yàn)(verify-after-write)操作之后，如果缺陷在記錄用戶(hù)數(shù)據(jù)的用戶(hù)數(shù)據(jù)區(qū)的簇中產(chǎn)生，則數(shù)據(jù)記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備將用戶(hù)數(shù)據(jù)記錄在包括于數(shù)據(jù)區(qū)中的備用區(qū)中。
在當(dāng)數(shù)據(jù)正被記錄的預(yù)定時(shí)間間隔期間，或者在單一數(shù)據(jù)記錄完成之后，數(shù)據(jù)記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備創(chuàng)建包含產(chǎn)生缺陷的用戶(hù)數(shù)據(jù)區(qū)的簇的位置信息和記錄在缺陷簇中的用戶(hù)數(shù)據(jù)被重寫(xiě)在其上的備用區(qū)的替換簇的位置信息的臨時(shí)缺陷列表(以下稱(chēng)為T(mén)DFL)。然后，數(shù)據(jù)記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備將創(chuàng)建的TDFL記錄在臨時(shí)盤(pán)管理區(qū)(以下稱(chēng)為T(mén)DMA)中。另外，在數(shù)據(jù)記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備將創(chuàng)建的TDFL記錄在TDMA中之后，其記錄指示記錄TDFL的位置的指針信息。
當(dāng)一次寫(xiě)入記錄介質(zhì)被重新裝入記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備時(shí)，數(shù)據(jù)記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備從一次寫(xiě)入記錄介質(zhì)中讀出TDFL，并且將讀取的TDFL存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器中。當(dāng)另外的數(shù)據(jù)被記錄在一次寫(xiě)入記錄介質(zhì)中時(shí)，如果產(chǎn)生新的缺陷簇，則數(shù)據(jù)記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備將記錄在缺陷簇中的數(shù)據(jù)重寫(xiě)入備用區(qū)的替換簇中。其后，除存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器中的TDFL之外，數(shù)據(jù)記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備創(chuàng)建包含新產(chǎn)生的缺陷簇的位置信息和相應(yīng)于新產(chǎn)生的缺陷簇的替換簇的位置信息的更新的TDFL，記錄更新的TDMA，并且記錄指示記錄更新的TDFL的位置的指針信息。
當(dāng)為了再現(xiàn)用戶(hù)數(shù)據(jù)，一次寫(xiě)入記錄介質(zhì)被裝入數(shù)據(jù)記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備時(shí)，數(shù)據(jù)記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備首先訪問(wèn)TDMA，獲得指示記錄更新的TDFL的位置的指針信息，并且獲得更新的TDFL。數(shù)據(jù)記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備能夠隨后通過(guò)參照更新的TDFL無(wú)錯(cuò)誤地再現(xiàn)用戶(hù)數(shù)據(jù)。
如上所述，由于TDFL是用于用戶(hù)數(shù)據(jù)再現(xiàn)的關(guān)鍵信息，所以TDFL應(yīng)被高可靠性地記錄。因此，在記錄TDFL期間，寫(xiě)入后檢驗(yàn)操作以與用戶(hù)數(shù)據(jù)的記錄期間相同的方式來(lái)被執(zhí)行。因此，如果缺陷簇被產(chǎn)生，則記錄在缺陷簇中的數(shù)據(jù)被重寫(xiě)入TDMA的另一簇中。
根據(jù)現(xiàn)有技術(shù)，如果TDFL的大小相應(yīng)于至少兩個(gè)簇并且TDFL被記錄在至少兩個(gè)簇中，則寫(xiě)入后檢驗(yàn)操作被執(zhí)行，并且如果缺陷簇被產(chǎn)生，則TDFL被重寫(xiě)入其他簇中。然而，TDMA小于數(shù)據(jù)區(qū)，并且可被存儲(chǔ)在TDMA中的數(shù)據(jù)量不大。因此，當(dāng)根據(jù)現(xiàn)有技術(shù)對(duì)TDFL執(zhí)行缺陷管理時(shí)，TDMA被快速用盡。
發(fā)明內(nèi)容
技術(shù)解決方案本發(fā)明一方面在于提供一種用于以高可靠性和為記錄TDFL分配的區(qū)域的改進(jìn)利用將TDFL記錄在一次寫(xiě)入記錄介質(zhì)中的方法和設(shè)備。
本發(fā)明一方面在于提供一種用于再現(xiàn)以高可靠性和為記錄TDFL分配的區(qū)域的改進(jìn)利用記錄在一次寫(xiě)入記錄介質(zhì)上的TDFL的方法和設(shè)備。
本發(fā)明一方面在于提供一種以高可靠性和為記錄TDFL分配的區(qū)域的改進(jìn)利用存儲(chǔ)TDFL的一次寫(xiě)入記錄介質(zhì)。
有益效果根據(jù)本發(fā)明，可更有效地使用一次寫(xiě)入記錄介質(zhì)的區(qū)域并且更可靠地記錄和再現(xiàn)TDFL。具體地講，寫(xiě)入后檢驗(yàn)處理在記錄TDFL期間被執(zhí)行，并且如果產(chǎn)生缺陷簇，則TDFL被重寫(xiě)入另一簇中。因此，TDFL可被高可靠性地記錄。這里，當(dāng)缺陷在記錄TDFL期間被產(chǎn)生時(shí)，記錄在缺陷簇中的數(shù)據(jù)被重寫(xiě)入替換簇，而不是重新記錄整個(gè)TDFL，指示TDFL被正常記錄在其中的簇的位置的指針信息被包括在TDDS中，并且TDSS被記錄在TDMA中。因此，TDMA的空間不會(huì)被快速用盡。
圖1示出根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的一次寫(xiě)入記錄介質(zhì)的結(jié)構(gòu)；圖2是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的數(shù)據(jù)記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備的方框圖；圖3是示出根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的記錄TDFL的方法的流程圖；圖4是用于詳細(xì)解釋根據(jù)寫(xiě)入后檢驗(yàn)處理創(chuàng)建TDFL的示圖；圖5示出示例性的TDFL；圖6是用于解釋根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的TDFL記錄后檢驗(yàn)處理的示圖；圖7是用于解釋根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的TDFL記錄后檢驗(yàn)處理的示圖；圖8示出根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的指示TDFL的位置的示例性指針信息；和圖9是示出根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的再現(xiàn)TDFL的方法的流程圖。
最佳實(shí)施方式根據(jù)本發(fā)明一方面，提供一種將用于缺陷管理的臨時(shí)缺陷列表記錄在一次寫(xiě)入記錄介質(zhì)中的方法，該方法包括將當(dāng)數(shù)據(jù)被記錄在一次寫(xiě)入記錄介質(zhì)上時(shí)被創(chuàng)建的臨時(shí)缺陷列表記錄在一次寫(xiě)入記錄介質(zhì)的至少一簇中，并且檢驗(yàn)在該至少一簇中是否產(chǎn)生缺陷；將記錄在缺陷簇中的數(shù)據(jù)記錄在另一簇中，并且將指示在其中記錄臨時(shí)缺陷列表的該至少一簇的位置的指針信息記錄在一次寫(xiě)入記錄介質(zhì)上。
將在接下來(lái)的描述中部分闡述本發(fā)明另外的方面和/或優(yōu)點(diǎn)，還有一部分通過(guò)描述將是清楚的，或者可以經(jīng)過(guò)本發(fā)明的實(shí)施而得知。
根據(jù)本發(fā)明一方面，臨時(shí)缺陷列表包括缺陷簇的位置信息和用于替換缺陷簇的替換簇的位置信息。
根據(jù)本發(fā)明一方面，指針信息包括不是缺陷簇的該另一簇的位置信息。
根據(jù)本發(fā)明一方面，指針信息被包括在臨時(shí)盤(pán)定義結(jié)構(gòu)中。臨時(shí)缺陷列表和臨時(shí)盤(pán)定義結(jié)構(gòu)可被記錄在設(shè)置在一次寫(xiě)入記錄介質(zhì)上的臨時(shí)盤(pán)管理區(qū)中。
根據(jù)本發(fā)明另一方面，提供一種用于記錄和/或再現(xiàn)數(shù)據(jù)的設(shè)備，該設(shè)備包括記錄/讀取單元，用于將數(shù)據(jù)記錄在一次寫(xiě)入記錄介質(zhì)上或從一次寫(xiě)入記錄介質(zhì)讀取數(shù)據(jù)；和控制單元，用于控制記錄/讀取單元將當(dāng)數(shù)據(jù)被記錄在一次寫(xiě)入記錄介質(zhì)上時(shí)被創(chuàng)建的用于缺陷管理的臨時(shí)缺陷列表記錄在一次寫(xiě)入記錄介質(zhì)的至少一簇中?？刂茊卧€檢驗(yàn)在該至少一簇中是否產(chǎn)生缺陷，控制記錄/讀取單元將記錄在缺陷簇中的數(shù)據(jù)記錄在另一簇中，并且控制記錄/讀取單元將指示在其中記錄臨時(shí)缺陷列表的該至少一簇的位置的指針信息記錄在一次寫(xiě)入記錄介質(zhì)上。
根據(jù)本發(fā)明一方面，臨時(shí)缺陷列表包括缺陷簇的位置信息和用于替換缺陷簇的替換簇的位置信息。
根據(jù)本發(fā)明一方面，指針信息包括不是缺陷簇的該另一簇的位置信息。
根據(jù)本發(fā)明一方面，指針信息被包括在臨時(shí)盤(pán)定義結(jié)構(gòu)中。
根據(jù)本發(fā)明一方面，臨時(shí)缺陷列表和臨時(shí)盤(pán)定義結(jié)構(gòu)被記錄在設(shè)置在一次寫(xiě)入記錄介質(zhì)上的臨時(shí)盤(pán)管理區(qū)中。
根據(jù)本發(fā)明另一方面，提供一種讀取記錄在一次寫(xiě)入記錄介質(zhì)上的用于缺陷管理的臨時(shí)缺陷列表的方法，該方法包括從一次寫(xiě)入記錄介質(zhì)獲得指示記錄臨時(shí)缺陷列表的位置的指針信息；和根據(jù)指針信息訪問(wèn)記錄臨時(shí)缺陷列表的至少一簇并且讀取臨時(shí)缺陷列表。
根據(jù)本發(fā)明一方面，指針信息指示記錄臨時(shí)缺陷列表的至少一簇的位置。
根據(jù)本發(fā)明一方面，指針信息指示該至少一簇中的每個(gè)的位置。
根據(jù)本發(fā)明一方面，在記錄臨時(shí)缺陷列表期間，如果缺陷在至少一簇中被產(chǎn)生并且數(shù)據(jù)被記錄在另一簇中，則指針信息可包括不是缺陷簇的該另一簇的位置信息。
根據(jù)本發(fā)明一方面，臨時(shí)缺陷列表包括缺陷簇的位置信息和用于替換缺陷簇的替換簇的位置信息。
根據(jù)本發(fā)明一方面，指針信息被包括在臨時(shí)盤(pán)定義結(jié)構(gòu)中。臨時(shí)缺陷列表和臨時(shí)盤(pán)定義結(jié)構(gòu)可被記錄在設(shè)置在一次寫(xiě)入記錄介質(zhì)上的臨時(shí)盤(pán)管理區(qū)中。
根據(jù)本發(fā)明另一方面，提供了一種用于再現(xiàn)數(shù)據(jù)的設(shè)備，該設(shè)備包括讀取單元，用于讀取記錄在一次寫(xiě)入記錄介質(zhì)上的數(shù)據(jù)；和控制單元；用于控制讀取單元從一次記錄介質(zhì)讀取指示記錄用于缺陷管理的臨時(shí)缺陷列表的位置的指針信息，根據(jù)指針信息訪問(wèn)記錄臨時(shí)缺陷列表的至少一簇，并且讀取臨時(shí)缺陷列表。
根據(jù)本發(fā)明一方面，指針信息指示記錄臨時(shí)缺陷列表的該至少一簇的位置。指針信息可指示該至少一簇中的每個(gè)的位置。
根據(jù)本發(fā)明一方面，在記錄臨時(shí)缺陷列表期間，如果缺陷在至少一簇中被產(chǎn)生并且數(shù)據(jù)被記錄在另一簇中，則指針信息包括不是缺陷簇的該另一簇的位置信息。
根據(jù)本發(fā)明一方面，臨時(shí)缺陷列表可包括缺陷簇的位置信息和用于替換缺陷簇的替換簇的位置信息。
根據(jù)本發(fā)明一方面，指針信息被包括在臨時(shí)盤(pán)定義結(jié)構(gòu)中。臨時(shí)缺陷列表和臨時(shí)盤(pán)定義結(jié)構(gòu)可被記錄在設(shè)置在一次寫(xiě)入記錄介質(zhì)上的臨時(shí)盤(pán)管理區(qū)中。
根據(jù)本發(fā)明另一方面，提供了一種一次寫(xiě)入記錄介質(zhì)，包括至少一個(gè)用戶(hù)數(shù)據(jù)區(qū)，用于記錄用戶(hù)數(shù)據(jù)；至少一個(gè)備用區(qū)，當(dāng)缺陷在用戶(hù)數(shù)據(jù)區(qū)中被產(chǎn)生時(shí)用于替換；和至少一個(gè)臨時(shí)盤(pán)管理區(qū)，用于記錄用于缺陷管理的臨時(shí)缺陷列表和指示在其中記錄臨時(shí)缺陷列表的至少一簇的位置的指針信息。
根據(jù)本發(fā)明一方面，臨時(shí)缺陷列表包括產(chǎn)生缺陷的用戶(hù)數(shù)據(jù)區(qū)的缺陷簇的位置信息和用于替換缺陷簇的備用區(qū)的替換簇的位置信息。
根據(jù)本發(fā)明一方面，當(dāng)臨時(shí)缺陷列表被記錄在臨時(shí)盤(pán)管理區(qū)的至少一簇中時(shí)，如果缺陷在該至少一簇中被產(chǎn)生并且數(shù)據(jù)被記錄在另一簇中，則指針信息包括不是缺陷簇的該另一簇的位置信息。指針信息可被包括在臨時(shí)盤(pán)定義結(jié)構(gòu)中。
本發(fā)明的實(shí)施方式現(xiàn)在將詳細(xì)描述本發(fā)明的實(shí)施例，其示例在附圖中表示，其中，相同的標(biāo)號(hào)始終表示相同的部件。以下通過(guò)參考附圖描述實(shí)施例以解釋本發(fā)明。
圖1示出根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的一次寫(xiě)入記錄介質(zhì)100的結(jié)構(gòu)。圖1中顯示的一次寫(xiě)入記錄介質(zhì)100具有包括導(dǎo)入?yún)^(qū)、數(shù)據(jù)區(qū)、和導(dǎo)出區(qū)的單記錄層。
在導(dǎo)入?yún)^(qū)中，設(shè)置了盤(pán)管理區(qū)1(DMA 1)，盤(pán)管理區(qū)2(DMA 2)、主臨時(shí)盤(pán)管理區(qū)(TDMA)、寫(xiě)入條件測(cè)試區(qū)、和驅(qū)動(dòng)器信息區(qū)。在數(shù)據(jù)區(qū)中，設(shè)置了用于替換在用戶(hù)數(shù)據(jù)區(qū)中產(chǎn)生的缺陷簇的備用區(qū)1和備用區(qū)2、次FDMA、和用戶(hù)數(shù)據(jù)區(qū)。在導(dǎo)出區(qū)中，設(shè)置了盤(pán)管理區(qū)3(DMA 3)和盤(pán)管理區(qū)4(DMA 4)。
TDFL和臨時(shí)盤(pán)定義結(jié)構(gòu)(以下稱(chēng)為T(mén)DDS)被記錄在主TDMA和次TDMA中。TDDS包括寫(xiě)條件測(cè)試區(qū)的可記錄位置信息、寫(xiě)保護(hù)信息、和分配給數(shù)據(jù)區(qū)的備用區(qū)1和2的位置和/或大小信息。具體地講，在本實(shí)施例的一方面中，TDDS包括指示TDFL的位置的指針信息。TDDS和指示TDFL的位置的指針信息稍后將被詳細(xì)描述。
TDFL和TDDS首先被記錄在主TDMA中。在主TDMA被完全耗盡之后，TDFL和TDDS被記錄在次TDMA中。根據(jù)用戶(hù)命令或來(lái)自數(shù)據(jù)記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備的命令，包括在數(shù)據(jù)區(qū)中的次TDMA可或不可被分配，以便使用戶(hù)或數(shù)據(jù)記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備的生產(chǎn)者能夠更有效地使用一次寫(xiě)入記錄介質(zhì)。
當(dāng)一次寫(xiě)入記錄介質(zhì)100被裝入如圖2所示數(shù)據(jù)記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備中時(shí)，數(shù)據(jù)記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備執(zhí)行初始化以使用一次寫(xiě)入記錄介質(zhì)100。換句話(huà)說(shuō)，數(shù)據(jù)記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備讀取記錄在導(dǎo)入?yún)^(qū)和/或?qū)С鰠^(qū)中的信息，并且確定如何管理一次寫(xiě)入記錄介質(zhì)100以及如何將數(shù)據(jù)記錄在一次寫(xiě)入記錄介質(zhì)100上或如何從一次寫(xiě)入記錄介質(zhì)100再現(xiàn)數(shù)據(jù)。當(dāng)記錄在導(dǎo)入?yún)^(qū)和/或?qū)С鰠^(qū)中的數(shù)據(jù)量增加時(shí)，在一次寫(xiě)入記錄介質(zhì)100被裝入之后數(shù)據(jù)記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備準(zhǔn)備記錄或再現(xiàn)處理所需的時(shí)間也增加。為了解決這個(gè)和/或其他問(wèn)題，TDDS和TDFL的概念被引入。
換句話(huà)說(shuō)，在一次寫(xiě)入記錄介質(zhì)100被最終確定之前，TDFL和TDDS被更新并且被記錄在TDMA中。在一次寫(xiě)入記錄介質(zhì)100被最終確定之后，有意義的更新的TDFL和TDDS作為缺陷列表(DFL)和缺陷定義結(jié)構(gòu)(DDS)被記錄在DMA 1至4之一中。另外，通過(guò)將有意義的更新的TDFL和TDDS記錄在DMA 1至4中，一次寫(xiě)入記錄介質(zhì)100可在用于再現(xiàn)可重寫(xiě)介質(zhì)100的設(shè)備中被再現(xiàn)。
圖2是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的數(shù)據(jù)記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備的方框圖。參照?qǐng)D2，數(shù)據(jù)記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備包括記錄/讀取單元1、控制單元2、和存儲(chǔ)器3。一次寫(xiě)入記錄介質(zhì)100具有與具有圖1中顯示的單記錄層的一次寫(xiě)入記錄介質(zhì)相同的結(jié)構(gòu)。
根據(jù)控制單元2的控制，記錄/讀取單元1將數(shù)據(jù)記錄在一次寫(xiě)入記錄介質(zhì)100上和/或從一次記錄介質(zhì)100上再現(xiàn)數(shù)據(jù)。在數(shù)據(jù)記錄期間，為了檢驗(yàn)記錄的數(shù)據(jù)，記錄的數(shù)據(jù)被讀出。
控制單元2控制數(shù)據(jù)記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備的全部操作。另外，當(dāng)數(shù)據(jù)被記錄在一次寫(xiě)入記錄介質(zhì)100上和/或從一次寫(xiě)入記錄介質(zhì)100上被再現(xiàn)時(shí)，控制單元2創(chuàng)建更新的TDFL，將更新的TDFL記錄在一次寫(xiě)入記錄介質(zhì)100上，并且將包含指示更新的TDFL的位置的指針信息的TDDS記錄在TDMA中，從而執(zhí)行缺陷管理。當(dāng)不要求時(shí)，應(yīng)該理解控制單元2可以是通用或?qū)Ｓ糜?jì)算機(jī)。
當(dāng)一次寫(xiě)入記錄介質(zhì)100被初始化以用于使用時(shí)，從一次寫(xiě)入記錄介質(zhì)100讀出的更新的TDFL和TDDS被存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器3中。其后，如果新的用戶(hù)數(shù)據(jù)被記錄，則缺陷管理被再次執(zhí)行，控制單元2在存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器3中的TDFL中創(chuàng)建包括新的缺陷簇的位置信息和與新的缺陷簇相應(yīng)的替換簇的位置信息的新的更新的TDFL，將更新的TDFL記錄在TDMA中，并且將指示記錄更新的TDFL的位置的指針信息記錄在TDMA中。
現(xiàn)在將參照?qǐng)D3來(lái)描述一種根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例將TDFL記錄在一次寫(xiě)入記錄介質(zhì)100上的方法，該方法通過(guò)圖2中所示的數(shù)據(jù)記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備來(lái)執(zhí)行。
圖3是示出一種根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的記錄TDFL的方法的流程圖。
盡管沒(méi)有顯示在圖3中，但是當(dāng)一次寫(xiě)入記錄介質(zhì)100被裝入數(shù)據(jù)記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備中時(shí)，初始化被執(zhí)行以使用一次寫(xiě)入記錄介質(zhì)100。換句話(huà)說(shuō)，控制單元2從一次寫(xiě)入記錄介質(zhì)100中讀取更新的TDFL和TDDS，并且將讀取的TDFL和TDDS存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器3中。
其后，如果用戶(hù)數(shù)據(jù)和用戶(hù)數(shù)據(jù)記錄命令從主機(jī)(未顯示)被輸入到一次寫(xiě)入記錄介質(zhì)100，則控制單元2以預(yù)定的單位將用戶(hù)數(shù)據(jù)記錄在一次寫(xiě)入記錄介質(zhì)100上，并且執(zhí)行寫(xiě)入后檢驗(yàn)操作以檢驗(yàn)記錄的數(shù)據(jù)。
在當(dāng)數(shù)據(jù)正被記錄的預(yù)定時(shí)間間隔期間，或者在完成單一數(shù)據(jù)記錄之后，數(shù)據(jù)記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備創(chuàng)建包含新的缺陷簇的位置信息和與新的缺陷簇相應(yīng)的替換簇的位置信息的新的更新的TDFL，將更新的TDFL記錄在TDMA中，并且將包括指示記錄更新的TDFL的位置的指針信息的TDDS記錄在TDMA中。
圖4是用于詳細(xì)解釋根據(jù)寫(xiě)入后檢驗(yàn)處理創(chuàng)建TDFL的示圖。這里，數(shù)據(jù)以扇區(qū)或簇為單位被處理。扇區(qū)是可由計(jì)算機(jī)的文件系統(tǒng)或應(yīng)用程序管理的數(shù)據(jù)的最小單位。簇是可被一次物理地記錄在盤(pán)上的數(shù)據(jù)的最小單位。通常，至少一個(gè)扇區(qū)組成一個(gè)簇。
扇區(qū)被再分為物理扇區(qū)和邏輯扇區(qū)。物理扇區(qū)是在其中記錄與扇區(qū)相應(yīng)的數(shù)據(jù)的盤(pán)的空間。用于找到物理扇區(qū)的地址被稱(chēng)為物理扇區(qū)號(hào)(PSN)。邏輯扇區(qū)是用于管理文件系統(tǒng)或應(yīng)用程序中的數(shù)據(jù)的扇區(qū)單元。同樣，邏輯扇區(qū)號(hào)(LSN)被分配給邏輯扇區(qū)。
數(shù)據(jù)記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備使用PSN來(lái)找到將被記錄在一次寫(xiě)入記錄介質(zhì)100或在一次寫(xiě)入記錄介質(zhì)100上被再現(xiàn)的數(shù)據(jù)的位置，在用于記錄或再現(xiàn)數(shù)據(jù)的計(jì)算機(jī)或應(yīng)用程序中以邏輯扇區(qū)為單位來(lái)管理所有的數(shù)據(jù)，并且使用LSN來(lái)找到數(shù)據(jù)的位置。LSN和PSN之間的關(guān)系根據(jù)缺陷產(chǎn)生和記錄數(shù)據(jù)起始的位置通過(guò)控制單元2來(lái)映射。
參照?qǐng)D4，A表示用戶(hù)數(shù)據(jù)區(qū)，B表示備用區(qū)。在用戶(hù)數(shù)據(jù)區(qū)A和備用區(qū)B中，存在PSN被順序分配給其的多個(gè)物理扇區(qū)(未顯示)。LSN被分配到至少一個(gè)物理扇區(qū)單元。然而，除產(chǎn)生缺陷的用戶(hù)數(shù)據(jù)區(qū)A的缺陷區(qū)之外，LSN被分配給備用區(qū)B的替換區(qū)。其結(jié)果是，盡管物理扇區(qū)和邏輯扇區(qū)大小相同，但是如果缺陷區(qū)被產(chǎn)生，則PSN和LSN變得不同。
用戶(hù)數(shù)據(jù)根據(jù)連續(xù)記錄模式或隨機(jī)記錄模式被記錄在用戶(hù)數(shù)據(jù)區(qū)A中。在連續(xù)記錄模式下，用戶(hù)數(shù)據(jù)被順序并連續(xù)地記錄。在隨機(jī)記錄模式下，用戶(hù)數(shù)據(jù)沒(méi)必要被連續(xù)地記錄，而是被隨機(jī)記錄。①至⑦指示在其中寫(xiě)入后檢驗(yàn)操作被執(zhí)行的單元區(qū)。
數(shù)據(jù)記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備將用戶(hù)數(shù)據(jù)記錄在單元區(qū)①中，數(shù)據(jù)記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備返回到單元區(qū)①的起始并且檢驗(yàn)用戶(hù)數(shù)據(jù)是否被正常記錄或缺陷是否被產(chǎn)生。如果在其中產(chǎn)生缺陷的簇被找到，則該簇被識(shí)別為缺陷簇并且被指定為缺陷區(qū)，即缺陷#1，如圖4所示。
另外，數(shù)據(jù)記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備將記錄在缺陷#1中的用戶(hù)數(shù)據(jù)重寫(xiě)入備用區(qū)B。在其中用戶(hù)數(shù)據(jù)被重寫(xiě)的備用區(qū)B的一部分被指定為替換#1。接著，在將用戶(hù)數(shù)據(jù)記錄在單元區(qū)②中之后，則數(shù)據(jù)記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備返回到單元區(qū)②的起始并且檢驗(yàn)用戶(hù)數(shù)據(jù)是否被正常記錄或者缺陷是否被產(chǎn)生。如果在其中缺陷被產(chǎn)生的至少一簇被找到，則該至少一簇被指定為缺陷②。以與上述同樣的方式，與缺陷#2相應(yīng)的替換#2被指定。另外，在單元區(qū)③中，缺陷區(qū)，即缺陷#3和與缺陷#3相應(yīng)的替換#3被指定。在單元區(qū)④中，沒(méi)有缺陷被找到并且不存在缺陷區(qū)。
在記錄和檢驗(yàn)被完成一直到單元區(qū)④之后，如果期望終止記錄操作#1(例如，如果用戶(hù)按下彈出按鈕或者分配給記錄操作#1的用戶(hù)數(shù)據(jù)的記錄被完成)，則數(shù)據(jù)記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備在存儲(chǔ)于存儲(chǔ)器3中的先前TDFL中創(chuàng)建TDFL#1，在TDFL#1中在單元區(qū)①至④中產(chǎn)生的缺陷#1至#3的位置信息和與缺陷#1至#3相應(yīng)的替換#1至#3的位置信息被更新。
當(dāng)一次寫(xiě)入記錄介質(zhì)100被再次裝入數(shù)據(jù)記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備時(shí)，控制單元2從一次寫(xiě)入記錄介質(zhì)100讀取先前記錄的TDFL#1，并且將讀取的TDFL#1存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器3中。其后，一旦記錄操作#2開(kāi)始，以與記錄操作#1中相同的方式，數(shù)據(jù)被記錄并且缺陷管理被執(zhí)行。
換句話(huà)說(shuō)，在記錄操作#2中，記錄用戶(hù)數(shù)據(jù)之后的檢驗(yàn)從單元區(qū)⑤至⑦被執(zhí)行，因此，缺陷#4和#5和相應(yīng)的替換#4和#5被指定。在記錄操作#2被終止之后，數(shù)據(jù)記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備在存儲(chǔ)于存儲(chǔ)器3中的先前TDFL#1中創(chuàng)建TDFL#2，在TDFL#2中缺陷#4和#5的位置信息和替換#4和#5的位置信息被更新。
圖5示出示例性的TDFL。參照?qǐng)D5，一次寫(xiě)入記錄介質(zhì)100上的所有缺陷簇的位置信息被包括在TDFL的第一列中，并且與缺陷簇相應(yīng)的替換簇的位置信息被包括在TDFL的第二列中。在本實(shí)施例的一方面中，缺陷簇或替換簇的位置使用缺陷簇或替換簇的各自第一扇區(qū)的PSN來(lái)被指示。然而，根據(jù)本發(fā)明的方面，缺陷簇或替換簇的位置可使用缺陷簇或替換簇的各自最后扇區(qū)的PSN或者使用指示缺陷簇或替換簇的索引來(lái)被指示。
返回參照?qǐng)D3，一旦TDFL被如上所述創(chuàng)建，則控制單元2將創(chuàng)建的TDFL記錄在TDMA的至少一簇中，并且檢驗(yàn)記錄的TDFL(操作S510)。根據(jù)檢驗(yàn)的結(jié)果，如果缺陷簇在記錄TDFL的簇之中被產(chǎn)生，則控制單元2將記錄在缺陷簇中的數(shù)據(jù)重寫(xiě)入TDMA的另一簇中(操作S530)。
現(xiàn)在將對(duì)TDFL記錄后檢驗(yàn)的兩個(gè)示例性實(shí)施例進(jìn)行描述。
圖6是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的TDFL記錄后檢驗(yàn)的示圖。根據(jù)本發(fā)明所示實(shí)施例，當(dāng)其大小等于多個(gè)簇的大小的TDFL被記錄在TDMA中時(shí)，整個(gè)TDFL被記錄并且隨后被檢驗(yàn)。
參照?qǐng)D6，TDFL的大小是包括第一簇210、第二簇230、第三簇250的三個(gè)簇，并且TDFL被記錄在三個(gè)簇中并且隨后被檢驗(yàn)。根據(jù)檢驗(yàn)的結(jié)果，其確定缺陷在第二簇230中被產(chǎn)生。因此，記錄在第二簇230中的數(shù)據(jù)被重寫(xiě)入緊跟第三簇250之后的簇270。在簇270的檢驗(yàn)之后，如果確定沒(méi)有在簇270中產(chǎn)生缺陷，則TDFL的記錄被終止，并且指示在其中記錄TDFL的簇的位置的指針信息被包括在TDDS中，并且TDDS被記錄在TDMA中。此時(shí)，指針信息包括指示在初始記錄期間沒(méi)有產(chǎn)生缺陷的第一簇210和第三簇250的位置以及替換有缺陷的第二簇230的簇270的位置的指針。
圖7是用于解釋根據(jù)本發(fā)明另一實(shí)施例的TDFL記錄后檢驗(yàn)的示圖。根據(jù)本發(fā)明所示實(shí)施例，TDFL具有三個(gè)簇的大小。TDFL被記錄在第一簇310中并且隨后被檢驗(yàn)。根據(jù)檢驗(yàn)的結(jié)果，確定在第一簇310中沒(méi)有產(chǎn)生缺陷。TDFL被記錄在第二簇330中并且被檢驗(yàn)。根據(jù)檢驗(yàn)的結(jié)果，確定缺陷在第二簇330中被產(chǎn)生。因此，記錄在第二簇330中的TDFL被重寫(xiě)入緊跟缺陷的第二簇330之后的簇350。在簇350的檢驗(yàn)之后，如果確定在簇350中沒(méi)有產(chǎn)生缺陷，則TDFL被記錄在第三簇370中并被檢驗(yàn)。在檢驗(yàn)第三簇370之后，如果確定沒(méi)有產(chǎn)生缺陷，則TDFL的記錄被終止，并且指示在其中記錄TDFL的簇的位置的指針信息被記錄在TDDS中，并且TDDS被記錄在TDMA中。如圖6的實(shí)施例中，指針信息包括指示在初始記錄期間沒(méi)有產(chǎn)生缺陷的第一簇310和第三簇370的位置以及代替有缺陷的第二簇330的簇350的位置的指針。
圖8示出根據(jù)本發(fā)明一方面的指示TDFL的位置的示例性指針信息。圖8中顯示的指針信息包括k個(gè)指針410、430、和450。數(shù)據(jù)記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備通過(guò)再現(xiàn)圖8中所示的指針信息來(lái)順序地將TDFL記錄在k個(gè)簇中，并且k個(gè)簇的位置可被看到。
在本實(shí)施例中，TDFL的第n簇指針(n是范圍從1到k的整數(shù))具有4字節(jié)大小。另外，指針信息被包括在TDDS中。換句話(huà)說(shuō)，TDDS包括指示TDFL的位置的指針信息、關(guān)于寫(xiě)入條件測(cè)試區(qū)的可記錄位置的信息、寫(xiě)保護(hù)信息、和分配給數(shù)據(jù)區(qū)的備用區(qū)的位置和/或大小信息。
由于TDDS應(yīng)包括指示TDFL的位置的指針信息，所以TDDS應(yīng)總在TDFL被記錄之后被記錄。
如上所述，根據(jù)用于記錄TDFL的方法和設(shè)備，可通過(guò)在記錄TDFL期間執(zhí)行寫(xiě)入后檢驗(yàn)并且如果產(chǎn)生缺陷簇則將TDFL重寫(xiě)入另一簇中來(lái)具有高可靠性地記錄TDFL。另外，當(dāng)缺陷在TDFL的記錄期間被產(chǎn)生時(shí)，僅記錄在缺陷簇中的數(shù)據(jù)被記錄在替換簇中，而不是重新記錄整個(gè)TDFL。參照?qǐng)D3，在操作S550，指示在其中正常記錄TDFL的簇的位置的指針信息被包括在TDDS中，并且TDDS被記錄在TDMA中。因此，可保存TDMA中的存儲(chǔ)空間。
現(xiàn)在將對(duì)一種根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的用于再現(xiàn)TDFL的方法和設(shè)備進(jìn)行描述。
用于再現(xiàn)TDFL的設(shè)備使用圖2中所示的數(shù)據(jù)記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備。然而，如果用于再現(xiàn)TDFL的設(shè)備是僅再現(xiàn)設(shè)備，則記錄/讀取單元1和控制單元2可僅執(zhí)行數(shù)據(jù)讀取。
圖9是示出根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的再現(xiàn)TDFL的方法的流程圖。盡管沒(méi)有顯示在附圖中，但是當(dāng)根據(jù)上述方法將用戶(hù)數(shù)據(jù)、TDFL、和TDDS記錄在其中的一次寫(xiě)入記錄介質(zhì)100被裝入數(shù)據(jù)記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備時(shí)，控制單元2執(zhí)行初始化以使用一次寫(xiě)入記錄介質(zhì)100。換句話(huà)說(shuō)，使用和管理一次寫(xiě)入記錄介質(zhì)100所需的基本數(shù)據(jù)從一次寫(xiě)入記錄介質(zhì)100被讀取。
具體地講，在更新的TDDS被定位和讀取之后，指示更新的TDFL的位置的指針信息從更新的TDDS中被獲得(操作S610)。指示更新的TDFL的位置的指針信息具有圖8中顯示的結(jié)構(gòu)。
由于控制單元2可從指針信息中獲得記錄更新的TDFL的簇的位置和TDFL被記錄在簇中的順序，所以其讀取更新的TDFL(操作S630)?？刂茊卧?將從一次寫(xiě)入記錄介質(zhì)100中讀取的更新的TDDS和TDFL存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器3中?？刂茊卧?能夠參照存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器3中的TDDS和TDFL來(lái)無(wú)缺陷地再現(xiàn)記錄在一次寫(xiě)入記錄介質(zhì)100上的用戶(hù)數(shù)據(jù)。
本發(fā)明還能夠被實(shí)現(xiàn)為計(jì)算機(jī)可讀記錄介質(zhì)中的計(jì)算機(jī)可讀代碼。計(jì)算機(jī)可讀記錄介質(zhì)包括可由計(jì)算機(jī)系統(tǒng)讀取的數(shù)據(jù)被存儲(chǔ)在其中的所有類(lèi)型的記錄設(shè)備。這種計(jì)算機(jī)可讀記錄介質(zhì)是ROM、RAM、CD-ROM、磁帶、軟盤(pán)、和光學(xué)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器、和經(jīng)由如互聯(lián)網(wǎng)的載波的傳輸。另外，計(jì)算機(jī)可讀記錄介質(zhì)可被分布在經(jīng)網(wǎng)絡(luò)連接的計(jì)算機(jī)系統(tǒng)之中，并且計(jì)算機(jī)可讀代碼可被存儲(chǔ)在其上并且以分散方式被執(zhí)行。
另外，應(yīng)該理解本發(fā)明的方法可被使用在TDMA將被保存在其中的多種類(lèi)型的介質(zhì)中，這些介質(zhì)包括可寫(xiě)光學(xué)介質(zhì)(例如CD-R、DVD-R)、可重寫(xiě)介質(zhì)(例如CD-R/W、DVD-R/W、DVD-RAM)、磁和磁光介質(zhì)、和如藍(lán)光盤(pán)、高級(jí)光盤(pán)(AOD)、E-DVD的下一代DVD。
盡管已經(jīng)顯示和描述了本發(fā)明的一些實(shí)施例，但本領(lǐng)域的技術(shù)人員應(yīng)該理解在不脫離由權(quán)利要求和其等同物限定范圍的本發(fā)明的原理和精神的情況下，可對(duì)實(shí)施例進(jìn)行改變。
權(quán)利要求
1.一種讀取記錄在一次寫(xiě)入記錄介質(zhì)上的用于缺陷管理的臨時(shí)缺陷列表的方法，該方法包括從一次寫(xiě)入記錄介質(zhì)獲得指示記錄臨時(shí)缺陷列表的位置的指針信息；和根據(jù)指針信息，訪問(wèn)記錄臨時(shí)缺陷列表的至少一簇并且讀取該臨時(shí)缺陷列表，其中，臨時(shí)缺陷列表包括缺陷簇的位置信息和用于替換缺陷簇的替換簇的位置信息，其中，指針信息被包括在臨時(shí)盤(pán)定義結(jié)構(gòu)中，其中，臨時(shí)缺陷列表和臨時(shí)盤(pán)定義結(jié)構(gòu)被記錄在設(shè)置在一次寫(xiě)入記錄介質(zhì)上的臨時(shí)盤(pán)管理區(qū)中。
2.如權(quán)利要求1所述的方法，其中，指針信息指示記錄臨時(shí)缺陷列表的該至少一簇的位置。
3.如權(quán)利要求2所述的方法，其中，指針信息單獨(dú)地指示每一簇的位置。
4.如權(quán)利要求2所述的方法，其中，在記錄臨時(shí)缺陷列表期間，如果在該至少一簇中產(chǎn)生缺陷并且數(shù)據(jù)被記錄在另一簇中，則指針信息包括不是缺陷簇的該另一簇的位置信息。
5.如權(quán)利要求1所述的方法，其中，在一次記錄完成之后，更新的臨時(shí)缺陷列表和臨時(shí)盤(pán)定義結(jié)構(gòu)被記錄在設(shè)置在一次寫(xiě)入記錄介質(zhì)上的臨時(shí)盤(pán)管理區(qū)中。
6.一種用于再現(xiàn)和/或記錄關(guān)于一次寫(xiě)入記錄介質(zhì)的數(shù)據(jù)的設(shè)備，該設(shè)備包括讀取單元，用于讀取記錄在一次寫(xiě)入記錄介質(zhì)上的數(shù)據(jù)；和控制單元，用于控制讀取單元從一次寫(xiě)入記錄介質(zhì)讀取指示記錄用于缺陷管理的記錄臨時(shí)缺陷列表的位置的指針信息，根據(jù)指針信息訪問(wèn)記錄臨時(shí)缺陷列表的至少一簇，并且讀取臨時(shí)缺陷列表，其中，臨時(shí)缺陷列表包括缺陷簇的第一位置信息和用于替換缺陷簇的替換簇的第二位置信息，其中，指針信息被包括在臨時(shí)盤(pán)定義結(jié)構(gòu)中，其中，臨時(shí)缺陷列表和臨時(shí)盤(pán)定義結(jié)構(gòu)被記錄在設(shè)置在一次寫(xiě)入記錄介質(zhì)上的臨時(shí)盤(pán)管理區(qū)中。
7.如權(quán)利要求6所述的設(shè)備，其中，指針信息指示記錄臨時(shí)缺陷列表的該至少一簇的位置。
8.如權(quán)利要求7所述的設(shè)備，其中，指針信息指示每一簇的位置。
9.如權(quán)利要求7所述的設(shè)備，其中，在記錄臨時(shí)缺陷列表期間，如果在該至少一簇中產(chǎn)生缺陷并且數(shù)據(jù)被記錄在另一簇中，則指針信息包括不是缺陷簇的該另一簇的位置信息。
10.如權(quán)利要求6所述的設(shè)備，其中，在一次記錄完成之后，更新的臨時(shí)缺陷列表和臨時(shí)盤(pán)定義結(jié)構(gòu)被記錄在設(shè)置在一次寫(xiě)入記錄介質(zhì)上的臨時(shí)盤(pán)管理區(qū)中。
全文摘要
一種將臨時(shí)缺陷列表記錄在一次寫(xiě)入記錄介質(zhì)上的方法，一種再現(xiàn)該臨時(shí)缺陷列表的方法，一種用于記錄和/或再現(xiàn)臨時(shí)缺陷列表的設(shè)備，以及一次寫(xiě)入記錄介質(zhì)。將用于缺陷管理的臨時(shí)缺陷列表記錄在一次寫(xiě)入記錄介質(zhì)上的方法包括將當(dāng)數(shù)據(jù)被記錄在一次寫(xiě)入記錄介質(zhì)上時(shí)被創(chuàng)建的臨時(shí)缺陷列表記錄在一次寫(xiě)入記錄介質(zhì)的至少一簇中，并且檢驗(yàn)在該至少一簇中是否產(chǎn)生缺陷。隨后，該方法包括將原始記錄在缺陷簇中的數(shù)據(jù)重新記錄在另一簇中，并且將指示記錄臨時(shí)缺陷列表的該至少一簇的位置的指針信息記錄在一次寫(xiě)入記錄介質(zhì)上。
文檔編號(hào)G11B20/18GK1975909SQ20061016871
公開(kāi)日2007年6月6日 申請(qǐng)日期2004年4月29日 優(yōu)先權(quán)日2003年4月30日
發(fā)明者黃盛凞, 高禎完 申請(qǐng)人:三星電子株式會(huì)社