專利名稱：管理記錄介質(zhì)中的缺陷的方法和設(shè)備及使用該方法獲得的缺陷被管理的記錄介質(zhì)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及用于記錄介質(zhì)的缺陷管理，更具體地講，涉及一種即使當(dāng)異常終止記錄介質(zhì)的缺陷管理時(shí)也執(zhí)行記錄介質(zhì)的缺陷管理的方法、設(shè)備和計(jì)算機(jī)可讀介質(zhì)，以及一種使用該方法、設(shè)備和計(jì)算機(jī)可讀介質(zhì)獲得的缺陷被管理的記錄介質(zhì)。
背景技術(shù)：
缺陷管理包括在用戶數(shù)據(jù)區(qū)新的部分對(duì)存儲(chǔ)在記錄介質(zhì)的用戶數(shù)據(jù)區(qū)的缺陷區(qū)中的數(shù)據(jù)進(jìn)行重寫的過(guò)程，從而補(bǔ)償由缺陷區(qū)導(dǎo)致的數(shù)據(jù)丟失。通常，使用線性替換或滑移替換來(lái)執(zhí)行缺陷管理。在線性替換中，存儲(chǔ)在用戶數(shù)據(jù)區(qū)的缺陷區(qū)中的數(shù)據(jù)被記錄在沒(méi)有缺陷的備用數(shù)據(jù)區(qū)中。在滑移替換中，用戶數(shù)據(jù)區(qū)的缺陷區(qū)被跳過(guò)，沒(méi)有缺陷的用戶數(shù)據(jù)區(qū)的下一個(gè)可用區(qū)被使用。
然而，線性替換和滑移替換二者都僅適用于在其上可重復(fù)寫數(shù)據(jù)并且可使用隨機(jī)訪問(wèn)方法執(zhí)行記錄的比如DVD-RAW/RW盤的記錄介質(zhì)。難以在僅允許記錄一次的一次寫入記錄介質(zhì)上執(zhí)行線性替換和滑移替換。通常，通過(guò)在記錄介質(zhì)上記錄數(shù)據(jù)并然后確認(rèn)數(shù)據(jù)是否被正確地寫在該記錄介質(zhì)上來(lái)檢測(cè)記錄介質(zhì)中缺陷的存在。然而，一旦數(shù)據(jù)被寫在一次寫入記錄介質(zhì)上，則此后無(wú)法在該一次寫入記錄介質(zhì)上再寫新數(shù)據(jù)并管理缺陷。
管理在其上寫入的數(shù)據(jù)不能被擦除或重寫的一次寫入記錄介質(zhì)上的缺陷的其它方法、設(shè)備和計(jì)算機(jī)可讀介質(zhì)包括可能包含再現(xiàn)和/或記錄介質(zhì)驅(qū)動(dòng)器的使用以生成被缺陷管理的一次寫入記錄介質(zhì)的方法、設(shè)備和介質(zhì)。
然而，由于不可避免的事件，例如，當(dāng)由于電源故障導(dǎo)致供應(yīng)給再現(xiàn)和/或記錄介質(zhì)驅(qū)動(dòng)器的電源中斷時(shí)，由再現(xiàn)和/或記錄介質(zhì)驅(qū)動(dòng)器執(zhí)行的缺陷管理可被異常停止。因此，在此研究并描述了不管這些中斷而產(chǎn)生所得的被缺陷管理的記錄介質(zhì)的設(shè)備、方法和計(jì)算機(jī)可讀介質(zhì)。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提供一種對(duì)至少由于比如電源故障的不可避免的事件導(dǎo)致異常終止缺陷管理的記錄介質(zhì)執(zhí)行缺陷管理的方法、設(shè)備以及計(jì)算機(jī)可讀介質(zhì)，和一種執(zhí)行用于以上補(bǔ)償?shù)娜毕荼还芾淼囊淮螌懭氡P。
本發(fā)明的另外方面和/或優(yōu)點(diǎn)將在下面的描述中被部分地闡述，并且部分地根據(jù)描述將變得清楚，或者可以通過(guò)實(shí)施本發(fā)明而被了解。
為了實(shí)現(xiàn)上述和/或其它方面和優(yōu)點(diǎn)，本發(fā)明實(shí)施例提供一種記錄介質(zhì)，包括備用區(qū)，其存儲(chǔ)作為所述記錄介質(zhì)的缺陷區(qū)的替代的替換區(qū)；和臨時(shí)缺陷管理區(qū)，其存儲(chǔ)用于識(shí)別所述缺陷區(qū)和所述替換區(qū)的臨時(shí)管理信息，其中，關(guān)于所述缺陷區(qū)的位置信息和狀態(tài)信息被記錄在所述替換區(qū)中。
關(guān)于缺陷區(qū)的位置信息和狀態(tài)信息可以在對(duì)替換區(qū)中記錄的數(shù)據(jù)進(jìn)行糾錯(cuò)碼(ECC)編碼期間被ECC編碼。另外，ECC編碼的數(shù)據(jù)以及所述位置信息和狀態(tài)信息被記錄在所述替換區(qū)中。
為了實(shí)現(xiàn)上述和/或其它方面和優(yōu)點(diǎn)，本發(fā)明實(shí)施例提供一種管理記錄介質(zhì)中的缺陷的方法，包括將用于所述記錄介質(zhì)的缺陷區(qū)的替換區(qū)記錄在備用區(qū)中；和將用于識(shí)別所述缺陷區(qū)和對(duì)應(yīng)的替換區(qū)的臨時(shí)管理信息記錄在所述記錄介質(zhì)的臨時(shí)缺陷管理區(qū)中，其中，關(guān)于所述缺陷區(qū)的位置信息和狀態(tài)信息被記錄在所述替換區(qū)中。
該方法還可包括記錄臨時(shí)管理信息，所述臨時(shí)管理信息是在最終確定所述記錄介質(zhì)期間最后被記錄在缺陷管理區(qū)(DMA)中的臨時(shí)缺陷管理區(qū)中。最后被記錄的臨時(shí)管理信息可被記錄在所述記錄介質(zhì)的導(dǎo)入?yún)^(qū)和導(dǎo)出區(qū)中的至少一個(gè)中的缺陷管理區(qū)中。
為了實(shí)現(xiàn)上述和/或其它方面和優(yōu)點(diǎn)，本發(fā)明實(shí)施例提供一種設(shè)備，包括記錄/讀取單元，其將數(shù)據(jù)記錄到記錄介質(zhì)和/或從記錄介質(zhì)記錄數(shù)據(jù)；和控制器，其控制將用于所述記錄介質(zhì)的缺陷區(qū)的替換區(qū)的數(shù)據(jù)記錄到所述記錄介質(zhì)的備用區(qū)中，并且控制所述記錄/讀取單元將用于識(shí)別缺陷區(qū)和替換區(qū)的臨時(shí)管理信息記錄在臨時(shí)缺陷管理區(qū)中，并且控制所述記錄/讀取單元將關(guān)于所述缺陷區(qū)的位置信息的狀態(tài)信息記錄在所述替換區(qū)中。
為了實(shí)現(xiàn)上述和/或其它方面和優(yōu)點(diǎn)，本發(fā)明實(shí)施例提供一種管理記錄介質(zhì)中的缺陷的方法，包括確定記錄介質(zhì)的缺陷管理是否被成功地完成；當(dāng)確定所述記錄介質(zhì)的缺陷管理沒(méi)有被成功完成時(shí)，從用于所述記錄介質(zhì)的缺陷區(qū)的所述記錄介質(zhì)的替換區(qū)讀取最后記錄的缺陷信息，并且產(chǎn)生新的缺陷信息；和基于所產(chǎn)生的缺陷信息更新所述記錄介質(zhì)的缺陷管理區(qū)中的缺陷管理信息。
確定記錄介質(zhì)的缺陷管理是否被成功地完成可通過(guò)檢查關(guān)于所述記錄介質(zhì)的一致性標(biāo)志而被確定。
所述產(chǎn)生新的缺陷信息的步驟還可包括從所述替換區(qū)讀取關(guān)于所述缺陷區(qū)的位置信息。所述產(chǎn)生新的缺陷信息的步驟還可包括基于先前的缺陷信息和讀取的缺陷信息產(chǎn)生新的缺陷信息。
為了實(shí)現(xiàn)上述和/或其它方面和優(yōu)點(diǎn)，本發(fā)明實(shí)施例提供一種管理記錄介質(zhì)中的缺陷的方法，包括確定先前是否成功地完成記錄介質(zhì)的缺陷管理；掃描以備用位映射(SBM)識(shí)別的據(jù)稱不包含記錄數(shù)據(jù)的記錄介質(zhì)的部分，并且驗(yàn)證所述部分是否不包含記錄的數(shù)據(jù)；和基于所述記錄介質(zhì)的所述部分的驗(yàn)證來(lái)更新備用位映射，以準(zhǔn)確地反映所述記錄介質(zhì)的記錄狀態(tài)。
SBM的更新還可包括將更新的SBM作為臨時(shí)管理信息記錄在所述記錄介質(zhì)上的臨時(shí)缺陷管理區(qū)中。
為了實(shí)現(xiàn)上述和/或其它方面和優(yōu)點(diǎn)，本發(fā)明實(shí)施例提供一種設(shè)備，包括記錄/讀取單元，其從將數(shù)據(jù)記錄到記錄介質(zhì)記錄和/或從記錄介質(zhì)記錄數(shù)據(jù)；和控制器，其確定記錄介質(zhì)的缺陷管理先前是否被成功地完成，當(dāng)所述記錄介質(zhì)的缺陷管理被確定先前沒(méi)有被成功地完成時(shí)，控制記錄/讀取單元記錄來(lái)自替換區(qū)的最后記錄的缺陷信息并且產(chǎn)生新的缺陷信息，并且控制所述記錄/讀取單元基于產(chǎn)生的缺陷信息更新所述記錄介質(zhì)的缺陷管理區(qū)(DMA)。
為了實(shí)現(xiàn)上述和/或其它方面和優(yōu)點(diǎn)，本發(fā)明實(shí)施例提供一種設(shè)備，包括拾取器，其將數(shù)據(jù)記錄到記錄介質(zhì)和/或從記錄介質(zhì)記錄數(shù)據(jù)；控制器，其控制所述拾取器記錄和/或讀取數(shù)據(jù)以確定記錄介質(zhì)的缺陷管理先前是否被成功地完成，掃描以在所述記錄介質(zhì)上的最后記錄的備用位映射(SBM)識(shí)別的據(jù)稱沒(méi)有包含記錄數(shù)據(jù)的記錄介質(zhì)的部分，以驗(yàn)證當(dāng)所述記錄介質(zhì)的缺陷管理被確定先前沒(méi)有被成功地完成時(shí)數(shù)據(jù)是否被記錄在該部分中，并且基于對(duì)所述記錄介質(zhì)的所述部分的驗(yàn)證來(lái)更新備用位映射，以準(zhǔn)確地反映所述記錄介質(zhì)的記錄狀態(tài)。
所述控制器可控制將更新的SBM作為臨時(shí)管理信息記錄在所述記錄介質(zhì)的臨時(shí)缺陷管理區(qū)中。
為了實(shí)現(xiàn)上述和/或其它方面和優(yōu)點(diǎn)，本發(fā)明實(shí)施例提供一種包括用于控制再現(xiàn)和/或記錄設(shè)備執(zhí)行上述方法中的任何一種的計(jì)算機(jī)可讀代碼的計(jì)算機(jī)可讀介質(zhì)。


通過(guò)結(jié)合附圖，從實(shí)施例的下面描述中，本發(fā)明上述和/或其它方面及優(yōu)點(diǎn)將會(huì)變得更易于理解，其中圖1A和1B示出根據(jù)本發(fā)明再現(xiàn)和/或記錄的實(shí)施例的具有臨時(shí)缺陷管理區(qū)(TDMA)和缺陷管理區(qū)的一次寫入記錄介質(zhì)的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)；圖2示出根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的用于執(zhí)行記錄介質(zhì)的缺陷管理的設(shè)備的方框圖；和圖3是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的包括圖2的再現(xiàn)和/或記錄設(shè)備的再現(xiàn)和/或記錄介質(zhì)驅(qū)動(dòng)器的方框圖；圖4示出根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的記錄介質(zhì)的數(shù)據(jù)幀格式；圖5示出當(dāng)由于比如電源故障的不可避免的事件導(dǎo)致的異常終止記錄介質(zhì)的缺陷管理時(shí)形成的記錄介質(zhì)中的備用區(qū)；圖6A-6C示出根據(jù)本發(fā)明另一實(shí)施例的用于解釋恢復(fù)作為一種臨時(shí)管理信息的備用位映射(SBM)的方法的示圖；和圖7是示出根據(jù)本發(fā)明另一實(shí)施例的記錄介質(zhì)的缺陷管理方法。
具體實(shí)施例方式
現(xiàn)在將詳細(xì)描述本發(fā)明的實(shí)施例，其示例在附圖中示出，其中，相同的標(biāo)號(hào)始終表示相同的部件。下面通過(guò)參照附圖來(lái)描述這些實(shí)施例以解釋本發(fā)明。以下，將參照附圖描述本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例。
圖1A和1B示出根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的記錄介質(zhì)100的結(jié)構(gòu)。
圖1A示出具有記錄層L0的記錄介質(zhì)100的單記錄層記錄介質(zhì)代表。記錄介質(zhì)100包括導(dǎo)入?yún)^(qū)、數(shù)據(jù)區(qū)和導(dǎo)出區(qū)。導(dǎo)入?yún)^(qū)位于記錄介質(zhì)100的內(nèi)側(cè)部分，導(dǎo)出區(qū)位于記錄介質(zhì)100的外側(cè)部分。數(shù)據(jù)區(qū)存在于導(dǎo)入?yún)^(qū)和導(dǎo)出區(qū)之間。在這個(gè)實(shí)施例中，數(shù)據(jù)區(qū)的開(kāi)始和結(jié)束與可重寫CD(CD RW)的開(kāi)始和結(jié)束相同，數(shù)據(jù)區(qū)從記錄介質(zhì)100的內(nèi)側(cè)部分開(kāi)始被順序地分成備用區(qū)、用戶數(shù)據(jù)區(qū)和備用區(qū)。用戶數(shù)據(jù)區(qū)是寫入用戶數(shù)據(jù)的區(qū)，備用區(qū)用于補(bǔ)償由于缺陷所導(dǎo)致的在用戶數(shù)據(jù)區(qū)的記錄空間中的丟失。由于缺陷可發(fā)生在記錄介質(zhì)100上，所以備用區(qū)的大小最好被分配以使大量的數(shù)據(jù)還可被寫在記錄介質(zhì)100上。在這個(gè)實(shí)施例中，沒(méi)有固定備用區(qū)的位置。缺陷管理區(qū)和臨時(shí)缺陷管理區(qū)中的至少一個(gè)存在于導(dǎo)入?yún)^(qū)和導(dǎo)出區(qū)中的至少一個(gè)中。
圖1B示出具有記錄層L0和L1的記錄介質(zhì)100的雙記錄層記錄介質(zhì)代表。從第一記錄層L0的內(nèi)側(cè)部分到第一記錄層L0的外側(cè)部分順序地形成導(dǎo)入?yún)^(qū)、數(shù)據(jù)區(qū)和外部區(qū)。類似地，從第二記錄層L1的外側(cè)部分到第二記錄層L1的內(nèi)側(cè)部分順序地形成外部區(qū)、數(shù)據(jù)區(qū)和導(dǎo)出區(qū)。與圖1A的單記錄層記錄介質(zhì)不同，導(dǎo)出區(qū)存在于圖1B的記錄介質(zhì)100的內(nèi)側(cè)部分。即，圖1B的記錄介質(zhì)100具有從第一記錄層L0的導(dǎo)入?yún)^(qū)開(kāi)始向著第一記錄層的外部區(qū)并且繼續(xù)從第二記錄層L1的外部區(qū)到第二記錄層L1的導(dǎo)出區(qū)寫數(shù)據(jù)的逆軌道路經(jīng)(OTP)。備用區(qū)分配給記錄層L0和L1中的每一個(gè)。
在這些實(shí)施例中，備用區(qū)可存在于導(dǎo)入?yún)^(qū)和用戶數(shù)據(jù)區(qū)之間、用戶數(shù)據(jù)區(qū)和導(dǎo)出區(qū)之間以及用戶數(shù)據(jù)區(qū)和外部區(qū)之間。如果必要，用戶數(shù)據(jù)區(qū)的一部分可被用作另一備用區(qū)，即，多于一個(gè)的備用區(qū)可存在于導(dǎo)入?yún)^(qū)和導(dǎo)出區(qū)之間。
圖2是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的執(zhí)行記錄介質(zhì)的缺陷管理的再現(xiàn)和/或記錄設(shè)備的方框圖。參照?qǐng)D2，該記錄設(shè)備包括記錄/讀取單元1、控制器2和存儲(chǔ)器3。根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例，記錄/讀取單元1在記錄介質(zhì)100上寫數(shù)據(jù)，并且從記錄介質(zhì)100回讀數(shù)據(jù)以驗(yàn)證所寫的數(shù)據(jù)。
根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例，控制器2執(zhí)行記錄介質(zhì)的缺陷管理。在這個(gè)實(shí)施例中，控制器2使用寫入后驗(yàn)證的方法，在該方法中，以預(yù)定單位的數(shù)據(jù)在記錄介質(zhì)100上寫數(shù)據(jù)，然后對(duì)寫入的數(shù)據(jù)進(jìn)行驗(yàn)證以檢測(cè)記錄介質(zhì)100的區(qū)是否具有缺陷。更具體地講，控制器2以預(yù)定單位的數(shù)據(jù)在記錄介質(zhì)100上寫數(shù)據(jù)，驗(yàn)證寫入的用戶數(shù)據(jù)以檢測(cè)在其中存在缺陷的記錄介質(zhì)100的區(qū)，并且用替換區(qū)替換檢測(cè)到的缺陷區(qū)。其后，控制器2創(chuàng)建用于識(shí)別缺陷區(qū)和替換區(qū)二者位置的信息，并且將創(chuàng)建的信息存儲(chǔ)到存儲(chǔ)器3中。如果存儲(chǔ)的信息量達(dá)到預(yù)定水平，則控制器2將存儲(chǔ)的信息寫到記錄介質(zhì)100的臨時(shí)缺陷管理區(qū)(TDMA)中。寫到TDMA中的信息被稱為臨時(shí)管理信息，與寫到缺陷管理區(qū)(DMA)中的缺陷管理信息對(duì)應(yīng)。臨時(shí)管理信息包含用于識(shí)別缺陷區(qū)和對(duì)應(yīng)的替換區(qū)的臨時(shí)缺陷信息和用于管理臨時(shí)缺陷信息的臨時(shí)缺陷管理信息。具體地，在這個(gè)實(shí)施例中，臨時(shí)缺陷管理信息包括提供用于識(shí)別記錄介質(zhì)100的可用區(qū)和不可用區(qū)的信息的空間位映射(SBM)。
即使已經(jīng)用替換區(qū)替換了缺陷區(qū)，關(guān)于缺陷區(qū)的信息也被寫到替換區(qū)中，以使當(dāng)臨時(shí)管理信息不能被更新時(shí)，例如，當(dāng)比如電源故障的不可避免的事件發(fā)生時(shí)恢復(fù)這個(gè)信息。關(guān)于缺陷區(qū)的信息指定缺陷區(qū)的位置和狀態(tài)。例如，為缺陷簇(cluster)初始指定的信息被寫到新的簇，即，作為缺陷簇的替代者的替換簇。在替換簇中關(guān)于缺陷簇的信息識(shí)別缺陷簇的位置和狀態(tài)。記錄介質(zhì)缺陷包括在記錄數(shù)據(jù)期間導(dǎo)致的缺陷和在驗(yàn)證寫入的數(shù)據(jù)期間導(dǎo)致的缺陷。關(guān)于缺陷簇的位置信息被認(rèn)為是地址信息。例如，如果幾個(gè)連續(xù)的物理扇區(qū)數(shù)(PSN)被初始指定為用于缺陷簇，則缺陷簇的第一PSN被記錄成其位置信息。位置信息的大小是以字節(jié)為單位，所以記錄介質(zhì)100的所有地址可被表示為位置信息。例如，位置信息可以大約為4個(gè)字節(jié)長(zhǎng)。關(guān)于缺陷簇的狀態(tài)信息識(shí)別寫在缺陷簇中的用戶數(shù)據(jù)與寫在替換簇中的用戶數(shù)據(jù)是否相等，或者識(shí)別缺陷是完全缺陷還是不完全缺陷。完全缺陷表示被完全損壞并且不能被糾正因此不能被讀出的數(shù)據(jù)，然而不完全缺陷表示已經(jīng)被糾正但是很可能被再次損壞的數(shù)據(jù)。如果缺陷是完全缺陷，則寫在替換簇中的數(shù)據(jù)可能與寫在缺陷簇中的數(shù)據(jù)不相同。這是因?yàn)楫?dāng)在記錄比如視頻數(shù)據(jù)的平穩(wěn)改變的數(shù)據(jù)期間完全缺陷發(fā)生時(shí)，與實(shí)際上結(jié)束了被寫到缺陷簇中的數(shù)據(jù)相比，應(yīng)該已經(jīng)被寫到缺陷簇中的數(shù)據(jù)可能被寫到替換簇中。
在記錄數(shù)據(jù)之后，當(dāng)用戶按下再現(xiàn)和/或記錄設(shè)備的彈出按鈕(未示出)以移出記錄介質(zhì)100時(shí)，控制器2希望寫操作已經(jīng)被終止。接著，控制器2從存儲(chǔ)器3讀取缺陷信息，將它提供給記錄/讀取單元1，并且控制記錄/讀取單元1將缺陷信息寫到記錄介質(zhì)100中。對(duì)于每一寫操作臨時(shí)管理信息都被更新?；蛘撸慨?dāng)以預(yù)定的記錄單位完成記錄時(shí)，臨時(shí)管理信息都可被更新。
另外，即使已經(jīng)用替換區(qū)替換了缺陷區(qū)，但為了在臨時(shí)管理信息由于比如電源故障的不可避免的事件而沒(méi)有被更新時(shí)恢復(fù)臨時(shí)管理信息，當(dāng)在TDMA中記錄臨時(shí)管理信息時(shí)控制器2設(shè)置一致性標(biāo)志。一致性標(biāo)志識(shí)別臨時(shí)管理信息的更新的開(kāi)始。例如，在這種情況下，一致性標(biāo)志可被設(shè)置成1。當(dāng)以預(yù)定的單位記錄數(shù)據(jù)之后或在寫操作之后記錄介質(zhì)100需要從記錄介質(zhì)驅(qū)動(dòng)器被移出時(shí)，一致性標(biāo)志可被重置為0，以表示成功更新了臨時(shí)管理信息，而臨時(shí)管理信息被最終更新。
當(dāng)在下一個(gè)記錄單元中記錄開(kāi)始時(shí)或記錄介質(zhì)100被重新加載時(shí)，控制器2檢查一致性標(biāo)志。如果一致性標(biāo)志是1，則控制器2確定記錄被異常終止并且開(kāi)始臨時(shí)管理信息和其它附加信息的恢復(fù)。即，控制器2從最近被替換的區(qū)讀取關(guān)于缺陷區(qū)的信息，并且基于讀取的信息更新臨時(shí)管理信息和其它附加信息。隨后將提供其詳細(xì)描述。
當(dāng)數(shù)據(jù)的記錄被完成時(shí)，即當(dāng)附加數(shù)據(jù)將不被寫到記錄介質(zhì)100中(記錄介質(zhì)100需要被最終確定)時(shí)，控制器2控制記錄/讀取單元1將最近更新的臨時(shí)管理信息記錄在記錄介質(zhì)100的盤管理區(qū)(DMA)中。
當(dāng)在數(shù)據(jù)的再現(xiàn)期間發(fā)生缺陷時(shí)，關(guān)于缺陷區(qū)的信息也被寫到替換區(qū)中。例如，位置信息，例如缺陷簇的第一PSN和關(guān)于該缺陷的狀態(tài)信息也被寫到替換簇中。
圖3是示出包括在圖2的再現(xiàn)和/或記錄設(shè)備中的記錄介質(zhì)驅(qū)動(dòng)器的結(jié)構(gòu)的方框圖。參照?qǐng)D3，記錄介質(zhì)驅(qū)動(dòng)器包括拾取器10，與圖2的記錄/讀取單元1對(duì)應(yīng)。記錄介質(zhì)100被加載在拾取器10上。類似地，記錄驅(qū)動(dòng)器包括具有PC I/F 21、數(shù)字信號(hào)處理器(DSP)22、射頻(RF)放大器23、伺服機(jī)構(gòu)24和系統(tǒng)控制器25的控制器2。圖2的存儲(chǔ)器3可被包括在控制器2的系統(tǒng)控制器25中。
在寫操作期間，PC I/F 21從主機(jī)(未示出)接收將被寫入的數(shù)據(jù)和寫命令。系統(tǒng)控制器25執(zhí)行寫操作所需的記錄介質(zhì)的初始化。DSP 22通過(guò)添加附加數(shù)據(jù)，比如對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行奇偶校驗(yàn)的數(shù)據(jù)來(lái)對(duì)從PC I/F 21發(fā)送的數(shù)據(jù)執(zhí)行糾錯(cuò)碼(ECC)編碼，并以預(yù)定數(shù)據(jù)格式對(duì)ECC編碼的數(shù)據(jù)進(jìn)行調(diào)制。RF放大器23將從DSP 22輸出的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換成RF信號(hào)。然后拾取器10使用從RF放大器23輸出的RF信號(hào)寫到記錄介質(zhì)100中。因此，伺服機(jī)構(gòu)24從系統(tǒng)控制器25接收伺服控制命令，并且執(zhí)行關(guān)于拾取器10的伺服控制。系統(tǒng)控制器25還命令拾取器10從記錄介質(zhì)100讀取數(shù)據(jù)或?qū)⒈热缗R時(shí)管理信息的信息記錄到記錄介質(zhì)100中。
更具體地講，系統(tǒng)控制器25以預(yù)定數(shù)量的簇將數(shù)據(jù)寫到記錄介質(zhì)100中，并且驗(yàn)證寫到簇中的數(shù)據(jù)。如果在簇中檢測(cè)到缺陷，則關(guān)于缺陷簇的位置信息和關(guān)于缺陷的狀態(tài)信息被存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器3中。當(dāng)完成數(shù)據(jù)驗(yàn)證或檢測(cè)到缺陷時(shí)，系統(tǒng)控制器25從包含從主機(jī)發(fā)送的寫命令和用戶數(shù)據(jù)的存儲(chǔ)器3接收用戶數(shù)據(jù)。用戶數(shù)據(jù)指定缺陷簇的位置。然后，系統(tǒng)控制器25將關(guān)于缺陷簇的位置信息和關(guān)于缺陷的狀態(tài)信息合并到用戶數(shù)據(jù)中，并且將用戶數(shù)據(jù)寫到替換簇中。
在再現(xiàn)操作期間，PC I/F 21從主機(jī)接收讀命令。系統(tǒng)控制器25執(zhí)行讀操作所需的記錄介質(zhì)100的初始化。拾取器10將激光束輸出到記錄介質(zhì)100，并且從由記錄介質(zhì)100反射的激光束獲得并輸出反射的光信號(hào)。RF放大器23將從拾取器10輸出的光信號(hào)轉(zhuǎn)換成RF信號(hào)，將從RF信號(hào)調(diào)制的數(shù)據(jù)提供給DSP 22，并且將從RF信號(hào)獲得的用于伺服控制的伺服信號(hào)提供給伺服機(jī)構(gòu)24。DSP 22對(duì)調(diào)制的信號(hào)進(jìn)行解調(diào)，對(duì)解調(diào)的數(shù)據(jù)執(zhí)行ECC解碼，并且輸出ECC解碼的數(shù)據(jù)。伺服機(jī)構(gòu)24響應(yīng)于從RF放大器23輸出的伺服信號(hào)和從系統(tǒng)控制器25輸出的伺服控制命令對(duì)拾取器10執(zhí)行伺服控制。然后PC I/F 21將從DSP 22接收的數(shù)據(jù)發(fā)送給主機(jī)。另外，在讀操作期間，系統(tǒng)控制器25可命令拾取器10從記錄介質(zhì)100讀取缺陷管理信息。
更具體地講，如果在讀操作期間響應(yīng)于從主機(jī)給出的讀命令檢測(cè)到不完全缺陷，并且如果系統(tǒng)控制器25確定在讀操作之后或者甚至在讀操作期間有充分的時(shí)間對(duì)不完全缺陷進(jìn)行替換，則系統(tǒng)控制器25可通過(guò)將關(guān)于缺陷簇的信息添加到用戶數(shù)據(jù)中并且將用戶數(shù)據(jù)寫到替換簇中，來(lái)再現(xiàn)為包含不完全缺陷的缺陷簇初始指定的用戶數(shù)據(jù)。先前寫到缺陷簇中的用戶數(shù)據(jù)和關(guān)于缺陷簇的信息可被進(jìn)行ECC編碼并且被寫到替換簇中。否則，僅用戶數(shù)據(jù)被進(jìn)行ECC編碼并且與關(guān)于缺陷簇的信息一起被寫到替換簇中。
恢復(fù)被寫到缺陷簇中的數(shù)據(jù)的方法的示例如下第6,367,049號(hào)美國(guó)專利示出用包括304個(gè)長(zhǎng)距離Reed-Solomon ECC的ECC簇和包括24個(gè)分幀指示符子碼(BIS)的BIS簇以ECC格式記錄數(shù)據(jù)的方法。在生成BIS簇期間，控制數(shù)據(jù)的一部分可以被指定為關(guān)于缺陷簇的信息被寫到其中的字段。
更具體地講，在以ECC格式記錄數(shù)據(jù)的過(guò)程中，當(dāng)在初始記錄之后在驗(yàn)證過(guò)程期間缺陷被檢測(cè)到時(shí)，先前被寫到包含缺陷的缺陷簇中的用戶數(shù)據(jù)響應(yīng)從主機(jī)給出的寫命令從存儲(chǔ)器被讀取，并且被編碼成ECC簇。接著，具有缺陷簇的物理地址的控制數(shù)據(jù)被編碼成控制數(shù)據(jù)的一部分中的BIS簇，以生成物理簇。這里，控制數(shù)據(jù)的一部分被用作替換簇的16個(gè)物理地址和關(guān)于缺陷簇的位置和狀態(tài)的信息被記錄在其中的字段。接著，該物理簇被寫到替換簇中。
第6,367,049號(hào)美國(guó)專利示出當(dāng)在響應(yīng)于主機(jī)給出的讀命令的讀操作期間檢測(cè)到不完全缺陷時(shí)以ECC格式記錄，即，用替換簇替換包含缺陷的缺陷簇的方法。因此，鑒于本發(fā)明實(shí)施例，依據(jù)第6,367,049號(hào)美國(guó)專利示出的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)的應(yīng)用，缺陷簇可被再現(xiàn)，并且ECC簇和BIS簇中的錯(cuò)誤被糾正以獲得用戶數(shù)據(jù)。接著，用戶數(shù)據(jù)可被編碼成ECC簇。然后，具有缺陷簇的物理地址和狀態(tài)信息的控制數(shù)據(jù)被編碼成控制數(shù)據(jù)的一部分中的BIS簇，從而獲得物理簇。這里，所述控制數(shù)據(jù)的一部分可被用作替換簇的16個(gè)地址和關(guān)于缺陷簇的位置和狀態(tài)的信息被記錄在其中的字段。接著，物理簇可被寫到替換簇中。
也可使用記錄介質(zhì)驅(qū)動(dòng)器對(duì)DVD-RAM執(zhí)行記錄介質(zhì)的缺陷管理。可使用理德-所羅門乘積碼(RSPC，Reed_Solomon product code)以ECC格式寫數(shù)據(jù)(參閱DVD-RAM規(guī)范的數(shù)據(jù)格式)。因此，本發(fā)明可類似地被應(yīng)用到比如可使用RSPC將信息記錄在其上的DVD-RAM和DVD的信息存儲(chǔ)介質(zhì)。
當(dāng)用替換簇替換缺陷簇時(shí)，關(guān)于缺陷簇的位置和狀態(tài)的信息也可被存儲(chǔ)在記錄介質(zhì)的記錄單元之間的鏈接區(qū)中。為了增加記錄的數(shù)據(jù)的可靠性，關(guān)于缺陷簇的位置和狀態(tài)可以以糾錯(cuò)結(jié)構(gòu)優(yōu)先被寫到鏈接區(qū)中，以使信息中的錯(cuò)誤可被容易地糾正。
以下，將描述恢復(fù)被寫到臨時(shí)缺陷管理區(qū)(TDMA)中的臨時(shí)管理信息的方法。
圖5示出當(dāng)例如由于比如電源故障的不可避免的事件導(dǎo)致記錄介質(zhì)的缺陷管理被異常終止時(shí)形成的記錄介質(zhì)備用區(qū)。參照?qǐng)D5，作為缺陷簇的替代的替換簇被寫到備用區(qū)。通常，在備用區(qū)從具有最小PSN的部分開(kāi)始順序地形成缺陷的替換。如果必要，可從備用區(qū)的具有最大PSN的部分開(kāi)始順序地形成替換。替換簇可被分成兩種類型的簇其信息用臨時(shí)管理信息(TDMS)更新的簇和其信息沒(méi)有被更新的簇。這里，替換簇信息的更新指示記錄介質(zhì)的缺陷管理被成功地完成。其信息沒(méi)有被更新的替換簇表示記錄介質(zhì)的缺陷管理被異常終止，寫到缺陷簇中的數(shù)據(jù)需要被恢復(fù)。
圖6示出解釋作為一類臨時(shí)管理信息的備用位映射(SBM，spare bit map)的更新的方法的示圖。詳細(xì)地，圖6A示出在記錄介質(zhì)的缺陷管理被異常終止并且需要恢復(fù)寫到缺陷簇中的數(shù)據(jù)的記錄介質(zhì)100的以SBM描述的記錄介質(zhì)的記錄狀態(tài)，圖6B示出記錄介質(zhì)100的實(shí)際記錄狀態(tài)。這里，黑色矩形表示包含數(shù)據(jù)的記錄介質(zhì)100的部分，灰色矩形表示實(shí)際包含數(shù)據(jù)但是被指示在SBM中不包括數(shù)據(jù)的記錄介質(zhì)100的部分，并且白色矩形表示不包含數(shù)據(jù)的記錄介質(zhì)100的部分。如果記錄介質(zhì)的缺陷管理異常結(jié)束，則SBM不能適當(dāng)?shù)胤从掣碌挠涗洝?br> 當(dāng)記錄介質(zhì)100被插入記錄介質(zhì)驅(qū)動(dòng)器時(shí)，記錄介質(zhì)驅(qū)動(dòng)器檢查一致性標(biāo)志。如果一致性標(biāo)志是‘1’，則記錄介質(zhì)驅(qū)動(dòng)器確定在沒(méi)有成功更新寫到記錄介質(zhì)100的TDMA中的臨時(shí)管理信息的情況下記錄介質(zhì)100從記錄介質(zhì)驅(qū)動(dòng)器被移出。
記錄介質(zhì)驅(qū)動(dòng)器掃描以SBM指示的沒(méi)有包含數(shù)據(jù)的記錄介質(zhì)100的部分，并且檢查數(shù)據(jù)是否實(shí)際上被寫到該部分中。以這種方式，記錄介質(zhì)驅(qū)動(dòng)器糾正SBM以準(zhǔn)確地反映記錄介質(zhì)100的記錄狀態(tài)。如上所述，SBM是用比特值指定記錄介質(zhì)的記錄狀態(tài)的映射，即它指示被分配給記錄介質(zhì)100的物理上可記錄區(qū)的簇是否包含數(shù)據(jù)。記錄介質(zhì)驅(qū)動(dòng)器掃描以SBM指定的被確定為不包含數(shù)據(jù)的所有區(qū)，檢查這些簇是否確實(shí)沒(méi)有包含數(shù)據(jù)，并且生成用于反映檢查結(jié)果的新的SBM，即它更新先前的SBM。當(dāng)更新的SBM作為臨時(shí)管理信息被寫到TDMA中時(shí)，SBM的更新被完成。
圖6C用準(zhǔn)確指示簇是否包含數(shù)據(jù)的新的SBM示出記錄介質(zhì)100的記錄狀態(tài)。記錄介質(zhì)驅(qū)動(dòng)器通過(guò)用比特值更新先前SBM來(lái)生成新的SBM。
圖7是示出根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的記錄介質(zhì)的缺陷管理的方法的流程圖。參照?qǐng)D7，在操作701中，當(dāng)在其上從未執(zhí)行記錄介質(zhì)的缺陷管理的一次寫入記錄介質(zhì)被加載到記錄介質(zhì)驅(qū)動(dòng)器(或再現(xiàn)和/或記錄設(shè)備)中時(shí)，記錄介質(zhì)驅(qū)動(dòng)器從TDMA讀取臨時(shí)管理信息，將所讀取的信息存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器中，并且執(zhí)行寫/讀操作所需的記錄介質(zhì)的初始化。在操作702中，如果加載的記錄介質(zhì)不是空的記錄介質(zhì)，則記錄介質(zhì)驅(qū)動(dòng)器從記錄在TDMA中的臨時(shí)缺陷管理信息讀取一致性標(biāo)志設(shè)置C_flag，并且確定關(guān)于一次寫入記錄介質(zhì)的缺陷信息是否被成功地更新。例如，如果一致性標(biāo)志C_flag＝1，則缺陷信息被異常終止，如果一致性標(biāo)志C_flag＝0，則缺陷信息被成功地完成。如果在操作702中確定缺陷信息沒(méi)有被成功地更新，則在操作703中，包含在記錄在存儲(chǔ)器中的臨時(shí)管理信息中的臨時(shí)缺陷信息被讀取，最近形成的替換區(qū)的位置被檢測(cè)，寫到下一個(gè)替換簇中的數(shù)據(jù)被再現(xiàn)，并且關(guān)于缺陷簇的位置和狀態(tài)的信息被檢測(cè)。在操作704中，基于檢測(cè)的位置和狀態(tài)的信息創(chuàng)建列舉出缺陷簇和替換簇的缺陷列表。在操作705中，基于創(chuàng)建的缺陷列表和先前的臨時(shí)缺陷信息創(chuàng)建新的缺陷信息。在操作706中，更新臨時(shí)缺陷管理區(qū)TDMA。
如上所述，第6,367,049號(hào)美國(guó)專利示出以ECC格式記錄數(shù)據(jù)的方法，在其中缺陷簇的物理地址和關(guān)于缺陷簇的信息在缺陷管理期間被寫到替換簇中。因此，鑒于本發(fā)明實(shí)施例，并且依據(jù)第6,367,049號(hào)美國(guó)專利中示出的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)的應(yīng)用，基于包含在缺陷管理信息中的臨時(shí)缺陷信息可從記錄介質(zhì)的備用區(qū)檢測(cè)到最近更新的替換簇。接著，寫到緊接于檢測(cè)到的替換簇的替換簇中的數(shù)據(jù)被讀取。接著，在被替換的物理簇的BIS簇中的錯(cuò)誤可被糾正。接著，列舉出缺陷簇和替換簇的缺陷列表可通過(guò)參照在控制數(shù)據(jù)中指定的缺陷簇的物理地址和狀態(tài)信息而被創(chuàng)建。接著，當(dāng)將一次寫入記錄介質(zhì)加載到記錄介質(zhì)驅(qū)動(dòng)器上時(shí)，新的臨時(shí)缺陷信息可基于缺陷列表和被讀取并被存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器中的最終臨時(shí)缺陷信息而被創(chuàng)建。另外，如果將被包含在臨時(shí)管理信息中的數(shù)據(jù)存在并且需要被更新，則所述數(shù)據(jù)也被更新并且作為臨時(shí)管理信息被記錄在TDMA中。這個(gè)實(shí)施例在根據(jù)使用的記錄介質(zhì)的特性改變數(shù)據(jù)更新的細(xì)節(jié)的同時(shí)可被應(yīng)用于一次寫入記錄介質(zhì)和可重寫記錄介質(zhì)二者。
類似地，為了恢復(fù)包含在以RSPC格式寫數(shù)據(jù)并且缺陷簇的物理地址和狀態(tài)信息被寫到替換塊中的DVD的缺陷簇中的數(shù)據(jù)，首先，基于包含在TDMA中的臨時(shí)缺陷信息從DVD的備用區(qū)檢測(cè)最近形成的替換塊。接著，讀取并再現(xiàn)寫到下一個(gè)塊中的數(shù)據(jù)并且糾正該數(shù)據(jù)中的錯(cuò)誤。接著，關(guān)于寫到圖4中示出的保留區(qū)RSV中的缺陷簇的位置和狀態(tài)的信息被獲得，并且基于獲得的信息創(chuàng)建列舉出缺陷簇和替換簇的缺陷列表。接著，基于缺陷列表和當(dāng)將DVD加載到記錄介質(zhì)驅(qū)動(dòng)器上時(shí)被讀取并被存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器中的最終臨時(shí)缺陷信息，來(lái)創(chuàng)建新的臨時(shí)缺陷信息。如果將被包含在臨時(shí)管理信息中的數(shù)據(jù)存在并且需要被更新，則該數(shù)據(jù)再次被更新并且被作為臨時(shí)管理信息被寫到TDMA中。該方法在根據(jù)使用的記錄介質(zhì)的特性改變數(shù)據(jù)更新的細(xì)節(jié)的同時(shí)可對(duì)一次寫入記錄介質(zhì)和可重寫記錄介質(zhì)二者執(zhí)行。
另外，為了恢復(fù)寫到包含關(guān)于缺陷簇的位置和狀態(tài)的信息的鏈接區(qū)中的缺陷簇中的數(shù)據(jù)，可基于包含在臨時(shí)管理信息中的臨時(shí)缺陷信息從記錄介質(zhì)的備用區(qū)檢測(cè)最近更新的替換塊。接著，從鏈接區(qū)讀取關(guān)于分配給替換塊的替換簇的數(shù)據(jù)，以獲得關(guān)于缺陷簇的位置和狀態(tài)的信息。接著，可基于讀取的信息創(chuàng)建列舉出缺陷簇和替換簇的缺陷列表。接著，基于缺陷列表和作為當(dāng)記錄介質(zhì)被加載到記錄介質(zhì)驅(qū)動(dòng)器中時(shí)被讀取并被存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器中的臨時(shí)管理信息的最終臨時(shí)缺陷信息來(lái)創(chuàng)建新的臨時(shí)缺陷信息。如果將被添加到臨時(shí)管理信息的信息存在并且需要被更新，則該信息被更新并且作為臨時(shí)管理信息被寫到TDMA中。這個(gè)方法也可在根據(jù)使用的記錄介質(zhì)的特性改變數(shù)據(jù)更新的細(xì)節(jié)的同時(shí)對(duì)一次寫入記錄介質(zhì)和可重寫記錄介質(zhì)二者上執(zhí)行。
這些上述數(shù)據(jù)恢復(fù)方法可應(yīng)用于一次寫入記錄介質(zhì)和可重寫記錄介質(zhì)二者。然而，一次寫入記錄介質(zhì)需要缺陷管理區(qū)和用于記錄介質(zhì)的缺陷管理的TDMA，但是將TDMA包含在可重寫記錄介質(zhì)中也是可選擇的。為了與可重寫記錄介質(zhì)兼容，建議一次寫入記錄介質(zhì)中的缺陷管理區(qū)與可重寫記錄介質(zhì)的缺陷管理區(qū)相等，并且在記錄介質(zhì)最終確定期間，寫到TDMA中的最近更新的臨時(shí)管理信息被寫到缺陷管理區(qū)。
這里描述的缺陷管理方法可被實(shí)施為可由計(jì)算機(jī)運(yùn)行的計(jì)算機(jī)程序。該程序可被存儲(chǔ)在計(jì)算機(jī)可讀介質(zhì)中。當(dāng)由計(jì)算機(jī)讀取并運(yùn)行該程序時(shí)，缺陷管理被執(zhí)行。這里，計(jì)算機(jī)可讀介質(zhì)舉例說(shuō)可以是磁記錄介質(zhì)、光記錄介質(zhì)或載波。
因此，如上所述，本發(fā)明實(shí)施例提供一種用于恢復(fù)包括被寫到臨時(shí)缺陷管理區(qū)(TDMA)中的臨時(shí)缺陷信息的臨時(shí)管理信息的方法、設(shè)備以及計(jì)算機(jī)可讀介質(zhì)。
根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例，可恢復(fù)寫到每一可重寫記錄介質(zhì)的缺陷管理區(qū)中的缺陷信息。例如，盡管替換簇可替換在對(duì)一次寫入記錄介質(zhì)(或可重寫記錄介質(zhì))執(zhí)行寫/讀操作期間導(dǎo)致的缺陷簇，但是在例如，由于比如系統(tǒng)電源故障的不可避免的事件導(dǎo)致沒(méi)有成功更新TDMA/缺陷管理區(qū)中的缺陷信息的情況下，記錄介質(zhì)可從記錄介質(zhì)驅(qū)動(dòng)器中被移出。因此，即使在這種情況下，根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例，也可恢復(fù)寫到TDMA/缺陷管理區(qū)中的臨時(shí)缺陷信息/缺陷信息。也可恢復(fù)沒(méi)有被更新的備用位映射(SBM)。
盡管已經(jīng)顯示并描述了一些本發(fā)明的實(shí)施例，但是本發(fā)明并不限于公開(kāi)的實(shí)施例。另外，本領(lǐng)域的技術(shù)人員應(yīng)該理解，在不脫離由權(quán)利要求和它們的等同物限定其范圍的本發(fā)明的原理和精神的情況下，可對(duì)實(shí)施例進(jìn)行改變。
產(chǎn)業(yè)上的可利用性具體地講，本發(fā)明可被方便地應(yīng)用于能檢查系統(tǒng)是否被異常斷電的記錄介質(zhì)驅(qū)動(dòng)器或者再現(xiàn)和/或記錄設(shè)備。然而，即使記錄介質(zhì)驅(qū)動(dòng)器不能夠檢查系統(tǒng)是否被異常地?cái)嚯?，本發(fā)明也使得記錄介質(zhì)驅(qū)動(dòng)器能夠響應(yīng)于主機(jī)命令或當(dāng)記錄介質(zhì)被加載到記錄介質(zhì)驅(qū)動(dòng)器時(shí)執(zhí)行寫操作和數(shù)據(jù)的恢復(fù)。
權(quán)利要求
1.一種記錄介質(zhì)，包括備用區(qū)，其存儲(chǔ)作為所述記錄介質(zhì)的缺陷區(qū)的替代的替換區(qū)；和臨時(shí)缺陷管理區(qū)，其存儲(chǔ)用于識(shí)別所述缺陷區(qū)和所述替換區(qū)的臨時(shí)管理信息，其中，關(guān)于所述缺陷區(qū)的位置信息和狀態(tài)信息被記錄在所述替換區(qū)中。
2.如權(quán)利要求1所述的記錄介質(zhì)，其中，每一記錄操作都在所述臨時(shí)缺陷管理區(qū)對(duì)所述臨時(shí)管理信息進(jìn)行更新。
3.如權(quán)利要求2所述的記錄介質(zhì)，其中，還包括缺陷管理區(qū)(DMA)，在其中記錄在臨時(shí)缺陷管理區(qū)中最后更新的臨時(shí)管理信息。
4.如權(quán)利要求3所述的記錄介質(zhì)，其中，所述DMA在所述記錄介質(zhì)的導(dǎo)入?yún)^(qū)和導(dǎo)出區(qū)中的至少一個(gè)中。
5.如權(quán)利要求1所述的記錄介質(zhì)，其中，所述臨時(shí)缺陷管理區(qū)在導(dǎo)入?yún)^(qū)和導(dǎo)出區(qū)中的至少一個(gè)中。
6.如權(quán)利要求1所述的記錄介質(zhì)，其中，在對(duì)記錄在所述替換區(qū)中的數(shù)據(jù)進(jìn)行糾錯(cuò)碼(ECC)編碼期間，對(duì)所述關(guān)于所述缺陷區(qū)的位置信息和狀態(tài)信息進(jìn)行ECC編碼。
7.如權(quán)利要求1所述的記錄介質(zhì)，其中，ECC編碼的數(shù)據(jù)以及所述位置信息和狀態(tài)信息被記錄在所述替換區(qū)中。
8.一種管理記錄介質(zhì)中的缺陷的方法，包括將用于所述記錄介質(zhì)的缺陷區(qū)的替換區(qū)記錄在備用區(qū)中；和將用于識(shí)別所述缺陷區(qū)和對(duì)應(yīng)的替換區(qū)的臨時(shí)管理信息記錄在所述記錄介質(zhì)的臨時(shí)缺陷管理區(qū)中，其中，關(guān)于所述缺陷區(qū)的位置信息和狀態(tài)信息被記錄在所述替換區(qū)中。
9.如權(quán)利要求8所述的方法，其中，所述臨時(shí)管理信息被記錄在所述記錄介質(zhì)的導(dǎo)入?yún)^(qū)和導(dǎo)出區(qū)中的至少一個(gè)中的臨時(shí)缺陷管理區(qū)中。
10.如權(quán)利要求8所述的方法，還包括在最終確定所述記錄介質(zhì)期間將最后被記錄在所述臨時(shí)缺陷管理區(qū)中的臨時(shí)管理信息記錄在缺陷管理區(qū)(DMA)中。
11.如權(quán)利要求10所述的方法，其中，最后被記錄的臨時(shí)管理信息被記錄在所述記錄介質(zhì)的導(dǎo)入?yún)^(qū)和導(dǎo)出區(qū)中的至少一個(gè)中的DMA中。
12.如權(quán)利要求8所述的方法，其中，所述位置信息和狀態(tài)信息與將被記錄在所述替換區(qū)中的數(shù)據(jù)的ECC一起被ECC編碼。
13.如權(quán)利要求8所述的方法，其中，所述位置信息和狀態(tài)信息和ECC編碼的數(shù)據(jù)被記錄在所述替換區(qū)中。
14.如權(quán)利要求8所述的方法，其中，每當(dāng)執(zhí)行所述替換區(qū)的記錄或多個(gè)替換區(qū)的記錄時(shí)，所述臨時(shí)缺陷管理信息的記錄被執(zhí)行。
15.如權(quán)利要求8所述的方法，其中，所述替換區(qū)的記錄或多個(gè)替換區(qū)的記錄表示記錄操作，并且每一記錄操作都執(zhí)行所述臨時(shí)缺陷管理信息的記錄。
16.一種設(shè)備，包括記錄/讀取單元，其將數(shù)據(jù)記錄到記錄介質(zhì)和/或從記錄介質(zhì)記錄數(shù)據(jù)；和控制器，其控制將用于所述記錄介質(zhì)的缺陷區(qū)的替換區(qū)的數(shù)據(jù)記錄到所述記錄介質(zhì)的備用區(qū)中，并且控制所述記錄/讀取單元將用于識(shí)別缺陷區(qū)和替換區(qū)的臨時(shí)管理信息記錄在臨時(shí)缺陷管理區(qū)中，并且控制所述記錄/讀取單元將關(guān)于所述缺陷區(qū)的位置信息的狀態(tài)信息記錄在所述替換區(qū)中。
17.如權(quán)利要求16所述的設(shè)備，其中，所述控制器控制所述記錄/讀取單元將所述臨時(shí)管理信息記錄在所述記錄介質(zhì)的導(dǎo)入?yún)^(qū)和導(dǎo)出區(qū)的至少一個(gè)中形成的臨時(shí)缺陷管理區(qū)中。
18.如權(quán)利要求16所述的設(shè)備，其中，所述控制器控制所述記錄/讀取單元在最終確定記錄介質(zhì)期間將最后記錄在所述臨時(shí)缺陷管理區(qū)中的臨時(shí)管理信息記錄在缺陷管理區(qū)(DMA)中。
19.如權(quán)利要求16所述的設(shè)備，其中，所述控制器控制所述記錄/讀取單元將最終記錄在臨時(shí)缺陷管理區(qū)中的臨時(shí)管理信息記錄在所述導(dǎo)入?yún)^(qū)和所述導(dǎo)出區(qū)的至少一個(gè)中的缺陷管理區(qū)(DMA)中。
20.如權(quán)利要求16所述的設(shè)備，其中，所述控制器控制所述記錄/讀取單元對(duì)所述位置信息和狀態(tài)信息以及將被記錄在所述替換區(qū)中的數(shù)據(jù)進(jìn)行ECC編碼。
21.如權(quán)利要求16所述的設(shè)備，其中，所述控制器控制所述記錄/讀取單元將所述位置信息和狀態(tài)信息以及ECC編碼的數(shù)據(jù)記錄在所述替換區(qū)中。
22.一種管理記錄介質(zhì)中的缺陷的方法，包括確定記錄介質(zhì)的缺陷管理是否被成功地完成；當(dāng)確定所述記錄介質(zhì)的缺陷管理沒(méi)有被成功完成時(shí)，從用于所述記錄介質(zhì)的缺陷區(qū)的所述記錄介質(zhì)的替換區(qū)讀取最后記錄的缺陷信息，并且產(chǎn)生新的缺陷信息；和基于所產(chǎn)生的缺陷信息更新所述記錄介質(zhì)的缺陷管理區(qū)(DMA)中的缺陷管理信息。
23.如權(quán)利要求22所述的方法，其中，確定記錄介質(zhì)的缺陷管理是否被成功地完成通過(guò)檢查關(guān)于所述記錄介質(zhì)的一致性標(biāo)志而被確定。
24.如權(quán)利要求22所述的方法，其中，所述產(chǎn)生新的缺陷信息的步驟還包括從所述替換區(qū)讀取關(guān)于所述缺陷區(qū)的位置信息。
25.如權(quán)利要求22所述的方法，其中，記錄最近記錄的缺陷信息還包括從所述替換區(qū)讀取關(guān)于所述缺陷區(qū)的狀態(tài)信息。
26.如權(quán)利要求22所述的方法，其中，所述產(chǎn)生新的缺陷信息的步驟還包括基于先前的缺陷信息和讀取的缺陷信息產(chǎn)生新的缺陷信息。
27.一種管理記錄介質(zhì)中的缺陷的方法，包括確定先前是否成功地完成記錄介質(zhì)的缺陷管理；掃描以備用位映射(SBM)識(shí)別的據(jù)稱不包含記錄數(shù)據(jù)的記錄介質(zhì)的部分，并且驗(yàn)證所述部分是否不包含記錄的數(shù)據(jù)；和基于所述記錄介質(zhì)的所述部分的驗(yàn)證來(lái)更新SBM，以準(zhǔn)確地反映所述記錄介質(zhì)的記錄狀態(tài)。
28.如權(quán)利要求27所述的方法，其中，SBM的更新還包括將更新的SBM作為臨時(shí)管理信息記錄在所述記錄介質(zhì)上的臨時(shí)缺陷管理區(qū)中。
29.一種設(shè)備，包括記錄/讀取單元，其將數(shù)據(jù)記錄到記錄介質(zhì)記錄和/或從記錄介質(zhì)記錄數(shù)據(jù)；和控制器，其確定記錄介質(zhì)的缺陷管理先前是否被成功地完成，當(dāng)所述記錄介質(zhì)的缺陷管理被確定先前沒(méi)有被成功地完成時(shí)，控制記錄/讀取單元記錄來(lái)自替換區(qū)的最后記錄的缺陷信息并且產(chǎn)生新的缺陷信息，并且控制所述記錄/讀取單元基于產(chǎn)生的缺陷信息更新所述記錄介質(zhì)的缺陷管理區(qū)(DMA)。
30.如權(quán)利要求29所述的設(shè)備，其中，所述控制器控制從所述記錄介質(zhì)讀取一致性標(biāo)志，并且基于所述一致性標(biāo)志確定對(duì)所述記錄介質(zhì)是否成功地完成所述記錄介質(zhì)的缺陷管理。
31.如權(quán)利要求29所述的設(shè)備，其中，所述控制器控制從所述替換區(qū)的讀取關(guān)于缺陷區(qū)的位置信息，并且產(chǎn)生所述新的缺陷信息。
32.如權(quán)利要求29所述的設(shè)備，其中，所述控制器從所述替換區(qū)讀取關(guān)于所述缺陷的狀態(tài)信息，并且產(chǎn)生所述新的缺陷信息。
33.如權(quán)利要求29所述的設(shè)備，其中，所述控制器基于先前的缺陷信息和讀取的缺陷信息創(chuàng)建所述新的缺陷信息。
34.一種設(shè)備，包括拾取器，其將數(shù)據(jù)記錄到記錄介質(zhì)和/或從記錄介質(zhì)記錄數(shù)據(jù)；和控制器，其控制所述拾取器記錄和/或讀取數(shù)據(jù)以確定記錄介質(zhì)的缺陷管理先前是否被成功地完成，掃描以在所述記錄介質(zhì)上的最后記錄的備用位映射(SBM)識(shí)別的據(jù)稱沒(méi)有包含記錄數(shù)據(jù)的記錄介質(zhì)的部分，以驗(yàn)證當(dāng)所述記錄介質(zhì)的缺陷管理被確定先前沒(méi)有被成功地完成時(shí)數(shù)據(jù)是否被記錄在該部分中，并且基于對(duì)所述記錄介質(zhì)的所述部分的驗(yàn)證來(lái)更新SBM，以準(zhǔn)確地反映所述記錄介質(zhì)的記錄狀態(tài)。
35.如權(quán)利要求34所述的設(shè)備，其中，所述控制器控制將更新的SBM作為臨時(shí)管理信息記錄在所述記錄介質(zhì)的臨時(shí)缺陷管理區(qū)中。
36.一種包括用于控制再現(xiàn)和/或記錄設(shè)備執(zhí)行如權(quán)利要求8所述的方法的計(jì)算機(jī)可讀代碼的計(jì)算機(jī)可讀介質(zhì)。
37.一種包括用于控制再現(xiàn)和/或記錄設(shè)備執(zhí)行如權(quán)利要求22所述的方法的計(jì)算機(jī)可讀代碼的計(jì)算機(jī)可讀介質(zhì)。
38.一種包括用于控制再現(xiàn)和/或記錄設(shè)備執(zhí)行如權(quán)利要求27所述的方法的計(jì)算機(jī)可讀代碼的計(jì)算機(jī)可讀介質(zhì)。
全文摘要
一種管理記錄介質(zhì)缺陷的方法、設(shè)備和計(jì)算機(jī)可讀介質(zhì)以及一種缺陷被管理的記錄介質(zhì)。所述記錄介質(zhì)包括備用區(qū)，在其中形成有作為所述記錄介質(zhì)的缺陷區(qū)的替代的替換區(qū)；和臨時(shí)缺陷管理區(qū)，在其中記錄有用于指定所述缺陷區(qū)和對(duì)應(yīng)的替換區(qū)的臨時(shí)管理信息，其中，關(guān)于所述缺陷區(qū)的位置信息和狀態(tài)信息被記錄在所述替換區(qū)中。因此，即使對(duì)所述記錄介質(zhì)的記錄介質(zhì)缺陷管理被異常結(jié)束，也可恢復(fù)缺陷信息。
文檔編號(hào)G11B20/18GK1781142SQ200480011097
公開(kāi)日2006年5月31日 申請(qǐng)日期2004年4月22日 優(yōu)先權(quán)日2003年5月1日
發(fā)明者黃盛凞, 高禎完, 李坰根 申請(qǐng)人:三星電子株式會(huì)社