專利名稱：輔助校正方法及輔助校正裝置和計(jì)算機(jī)裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種程序啟動(dòng)方法、輔助校正方法及其相關(guān)裝置和計(jì)算機(jī)裝置，尤其涉及一種通過觸控屏幕的程序啟動(dòng)方法、輔助校正方法及其相關(guān)裝置和計(jì)算機(jī)裝置。
背景技術(shù)：
對于配備觸控面板的電子產(chǎn)品的趨勢，使用者界面逐漸以軟件按鍵取代實(shí)體的機(jī)械按鍵。當(dāng)使用者實(shí)際觸碰觸控面板的位置無法正確反映在使用者想要的顯示屏幕位置上時(shí)，則表示觸控面板與顯示屏幕之間有觸碰偏移的狀況。因此，電子產(chǎn)品多半配有屏幕校正 軟件，使用者可經(jīng)由點(diǎn)選屏幕上的啟動(dòng)按鍵來啟動(dòng)。然而，在偏移嚴(yán)重的情況下，使用者完全無法點(diǎn)擊到啟動(dòng)按鍵，造成無法進(jìn)行屏幕校正。此外，在屏幕校正過程中，當(dāng)使用者視覺偏差(例如使用者以45度俯視屏幕)或習(xí)慣性以某一方向施加壓力來觸碰觸控面板時(shí)，容易造成校正偏差，使得校正之后屏幕仍有偏移情形。一旦校正偏差超過觸控面板的有效區(qū)域，更造成使用者無法點(diǎn)選屏幕的邊緣區(qū)域。

發(fā)明內(nèi)容
因此，本發(fā)明的主要目的即在于提供一種通過一觸控屏幕的程序啟動(dòng)方法及其相關(guān)裝置，其可減少電子裝置的機(jī)械按鈕，并避免因屏幕偏移造成無法校正屏幕的問題。本發(fā)明公開一種程序啟動(dòng)方法，包含有通過對應(yīng)于一坐標(biāo)陣列的一觸控面板，檢測多個(gè)觸碰信號；根據(jù)該多個(gè)觸碰信號，產(chǎn)生屬于該坐標(biāo)陣列的一觸碰坐標(biāo)特性；比對該觸碰坐標(biāo)特性與屬于該坐標(biāo)陣列的一預(yù)設(shè)坐標(biāo)特性，以產(chǎn)生一比對結(jié)果；以及在該比對結(jié)果顯示該觸碰坐標(biāo)特性符合屬于該預(yù)設(shè)坐標(biāo)特性時(shí)，啟動(dòng)一應(yīng)用程序。在優(yōu)選實(shí)施方案中，所述觸碰坐標(biāo)特性為一觸碰坐標(biāo)集，且所述預(yù)設(shè)坐標(biāo)特性為一預(yù)設(shè)坐標(biāo)集。在優(yōu)選實(shí)施方案中，根據(jù)所述多個(gè)觸碰信號產(chǎn)生屬于所述坐標(biāo)陣列的所述觸碰坐標(biāo)特性的操作包括通過模擬轉(zhuǎn)數(shù)字方式，轉(zhuǎn)換所述多個(gè)觸碰信號為多個(gè)二維數(shù)字信號，以產(chǎn)生所述觸碰坐標(biāo)集。在優(yōu)選實(shí)施方案中，所述觸碰坐標(biāo)特性為一觸碰時(shí)間集，且所述預(yù)設(shè)坐標(biāo)特性為一預(yù)設(shè)時(shí)間集。在優(yōu)選實(shí)施方案中，根據(jù)所述多個(gè)觸碰信號產(chǎn)生屬于所述坐標(biāo)陣列的所述觸碰坐標(biāo)特性的操作包括記錄所述多個(gè)觸碰信號的每一觸碰信號的一起始時(shí)間與一結(jié)束時(shí)間，以產(chǎn)生所述觸碰時(shí)間集。在優(yōu)選實(shí)施方案中，所述觸碰坐標(biāo)特性為一觸碰間隔時(shí)間集，且所述預(yù)設(shè)坐標(biāo)特性為一預(yù)設(shè)間隔時(shí)間集。在優(yōu)選實(shí)施方案中，根據(jù)所述多個(gè)觸碰信號產(chǎn)生屬于所述坐標(biāo)陣列的所述觸碰坐標(biāo)特性的操作包括計(jì)算所述多個(gè)觸碰信號的每兩相鄰觸碰信號的時(shí)間差，以產(chǎn)生所述觸碰間隔時(shí)間集。在優(yōu)選實(shí)施方案中，所述觸碰坐標(biāo)特性包括一觸碰坐標(biāo)集及一觸碰時(shí)間集，且所述預(yù)設(shè)坐標(biāo)特性包括一預(yù)設(shè)坐標(biāo)集及一預(yù)設(shè)時(shí)間集。在優(yōu)選實(shí)施方案中，根據(jù)所述多個(gè)觸碰信號產(chǎn)生屬于所述坐標(biāo)陣列的所述觸碰坐標(biāo)特性的操作包括通過模擬轉(zhuǎn)數(shù)字的方式，轉(zhuǎn)換所述多個(gè)觸碰信號為多個(gè)二維數(shù)字信號，以產(chǎn)生所述觸碰坐標(biāo)集；以及記錄所述多個(gè)觸碰信號的每一觸碰信號的一起始時(shí)間與一結(jié)束時(shí)間 ，以產(chǎn)生所述觸碰時(shí)間集。在優(yōu)選實(shí)施方案中，所述觸碰坐標(biāo)特性包括一觸碰坐標(biāo)集及一觸碰間隔時(shí)間集，且所述預(yù)設(shè)坐標(biāo)特性包括一預(yù)設(shè)坐標(biāo)集及一預(yù)設(shè)間隔時(shí)間集。在優(yōu)選實(shí)施方案中，根據(jù)所述多個(gè)觸碰信號產(chǎn)生屬于所述坐標(biāo)陣列的所述觸碰坐標(biāo)特性的操作包括通過模擬轉(zhuǎn)數(shù)字的方式，轉(zhuǎn)換所述多個(gè)觸碰信號為多個(gè)二維數(shù)字信號，以產(chǎn)生所述觸碰坐標(biāo)集；以及計(jì)算所述多個(gè)觸碰信號的每兩相鄰觸碰信號的時(shí)間差，以產(chǎn)生所述觸碰間隔時(shí)間集。在優(yōu)選實(shí)施方案中，所述觸碰坐標(biāo)特性包括一觸碰坐標(biāo)集、一觸碰時(shí)間集及一觸碰間隔時(shí)間集，且所述預(yù)設(shè)坐標(biāo)特性包括一預(yù)設(shè)坐標(biāo)集、一預(yù)設(shè)時(shí)間集及一預(yù)設(shè)間隔時(shí)間集。在優(yōu)選實(shí)施方案中，根據(jù)所述多個(gè)觸碰信號產(chǎn)生屬于所述坐標(biāo)陣列的所述觸碰坐標(biāo)特性的操作包括通過模擬轉(zhuǎn)數(shù)字的方式，轉(zhuǎn)換所述多個(gè)觸碰信號為多個(gè)二維數(shù)字信號，以產(chǎn)生所述觸碰坐標(biāo)集；記錄所述多個(gè)觸碰信號的每一觸碰信號的一起始時(shí)間與一結(jié)束時(shí)間，以產(chǎn)生所述觸碰時(shí)間集；以及計(jì)算所述多個(gè)觸碰信號的每兩相鄰觸碰信號的時(shí)間差，以產(chǎn)生所述觸碰間隔時(shí)間集。在優(yōu)選實(shí)施方案中，所述應(yīng)用程序?yàn)橐挥|控面板校正程序或一關(guān)機(jī)程序。本發(fā)明還公開一種程序啟動(dòng)裝置，包含有一觸控面板、一觸控估測模塊、一儲存單元、一比對單元以及一啟動(dòng)單元。該觸控面板對應(yīng)于一坐標(biāo)陣列，用來檢測多個(gè)觸碰信號。該觸控估測模塊耦接于該觸控面板，用來根據(jù)該多個(gè)觸碰信號，產(chǎn)生屬于該坐標(biāo)陣列的一觸碰坐標(biāo)特性。該儲存單元用來儲存屬于該坐標(biāo)陣列的一預(yù)設(shè)坐標(biāo)特性。該比對單元用來比對該觸碰坐標(biāo)特性與該預(yù)設(shè)坐標(biāo)特性，以產(chǎn)生一比對結(jié)果。該啟動(dòng)單元用來在該比對結(jié)果顯示該觸碰坐標(biāo)特性符合屬于該預(yù)設(shè)坐標(biāo)特性時(shí)，啟動(dòng)一應(yīng)用程序。在優(yōu)選實(shí)施方案中，所述觸碰坐標(biāo)特性為一觸碰坐標(biāo)集，且所述預(yù)設(shè)坐標(biāo)特性為一預(yù)設(shè)坐標(biāo)集。在優(yōu)選實(shí)施方案中，所述觸控估測模塊包括一模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器模塊，用來轉(zhuǎn)換所述多個(gè)觸碰信號為多個(gè)二維數(shù)字信號，以產(chǎn)生所述觸碰坐標(biāo)集。在優(yōu)選實(shí)施方案中，所述觸碰坐標(biāo)特性為一觸碰時(shí)間集，且所述預(yù)設(shè)坐標(biāo)特性為一預(yù)設(shè)時(shí)間集。在優(yōu)選實(shí)施方案中，所述觸控估測模塊包括一觸碰時(shí)間計(jì)算單元，用來記錄所述多個(gè)觸碰信號的每一觸碰信號的一起始時(shí)間與一結(jié)束時(shí)間，以產(chǎn)生所述觸碰時(shí)間集。在優(yōu)選實(shí)施方案中，所述觸碰坐標(biāo)特性為一觸碰間隔時(shí)間集，且所述預(yù)設(shè)坐標(biāo)特性為一預(yù)設(shè)間隔時(shí)間集。在優(yōu)選實(shí)施方案中，所述觸控估測模塊包括一間隔時(shí)間計(jì)算單元，用來計(jì)算所述 多個(gè)觸碰信號的每兩相鄰觸碰信號的時(shí)間差，以產(chǎn)生所述觸碰間隔時(shí)間集。在優(yōu)選實(shí)施方案中，所述觸碰坐標(biāo)特性包括一觸碰坐標(biāo)集及一觸碰時(shí)間集，且所述預(yù)設(shè)坐標(biāo)特性包括一預(yù)設(shè)坐標(biāo)集及一預(yù)設(shè)時(shí)間集。在優(yōu)選實(shí)施方案中，所述觸控估測模塊包括一模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器模塊，用來轉(zhuǎn)換所述多個(gè)觸碰信號為多個(gè)二維數(shù)字信號，以產(chǎn)生所述觸碰坐標(biāo)集；以及一觸碰時(shí)間計(jì)算單元，用來記錄所述多個(gè)觸碰信號的每一觸碰信號的一起始時(shí)間與一結(jié)束時(shí)間，以產(chǎn)生所述觸碰時(shí)間集。在優(yōu)選實(shí)施方案中，所述觸碰坐標(biāo)特性包括一觸碰坐標(biāo)集及一觸碰間隔時(shí)間集，且所述預(yù)設(shè)坐標(biāo)特性包括一預(yù)設(shè)坐標(biāo)集及一預(yù)設(shè)間隔時(shí)間集。在優(yōu)選實(shí)施方案中，根據(jù)所述多個(gè)觸碰信號產(chǎn)生屬于所述坐標(biāo)陣列的所述觸碰坐標(biāo)特性的所述觸控估測模塊包括一模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器模塊，通過模擬轉(zhuǎn)數(shù)字的方式，轉(zhuǎn)換所述多個(gè)觸碰信號為多個(gè)二維數(shù)字信號，以產(chǎn)生所述觸碰坐標(biāo)集；以及一間隔時(shí)間計(jì)算單元，用來計(jì)算所述多個(gè)觸碰信號的每兩相鄰觸碰信號的時(shí)間差，以產(chǎn)生所述觸碰間隔時(shí)間集。在優(yōu)選實(shí)施方案中，所述觸碰坐標(biāo)特性包括一觸碰坐標(biāo)集、一觸碰時(shí)間集及一觸碰間隔時(shí)間集，且所述預(yù)設(shè)坐標(biāo)特性包括一預(yù)設(shè)坐標(biāo)集、一預(yù)設(shè)時(shí)間集及一預(yù)設(shè)間隔時(shí)間集。在優(yōu)選實(shí)施方案中，所述觸控估測模塊包括—模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器模塊，用來轉(zhuǎn)換所述多個(gè)觸碰信號為多個(gè)二維數(shù)字信號，以產(chǎn)生所述觸碰坐標(biāo)集；一觸碰時(shí)間計(jì)算單元，用來記錄所述多個(gè)觸碰信號的每一觸碰信號的一起始時(shí)間與一結(jié)束時(shí)間，以產(chǎn)生所述觸碰時(shí)間集；以及—間隔時(shí)間計(jì)算單元，用來計(jì)算所述多個(gè)觸碰信號的每兩相鄰觸碰信號的時(shí)間差，以產(chǎn)生所述觸碰間隔時(shí)間集。在優(yōu)選實(shí)施方案中，所述應(yīng)用程序?yàn)橐挥|控面板校正程序或一關(guān)機(jī)程序。本發(fā)明還公開一種輔助校正方法，包含有在對應(yīng)于一第一坐標(biāo)陣列的一屏幕畫面上顯示多個(gè)預(yù)設(shè)坐標(biāo)區(qū)塊，其中該第一坐標(biāo)陣列包含一第一維及一第二維，且該多個(gè)預(yù)設(shè)坐標(biāo)區(qū)塊包含該第一維的最小值、該第二維的最大值、該第一維的最大值與該第二維的最小值的一坐標(biāo)組合；通過對應(yīng)于一第二坐標(biāo)陣列的一觸控面板，檢測多個(gè)觸碰信號，其中該觸控面板與該屏幕畫面重疊；計(jì)算該多個(gè)觸碰信號的個(gè)數(shù)；根據(jù)該多個(gè)觸碰信號，產(chǎn)生屬于該第二坐標(biāo)陣列的多個(gè)觸碰坐標(biāo)；以及在該多個(gè)觸碰信號的個(gè)數(shù)不少于該多個(gè)預(yù)設(shè)坐標(biāo)區(qū)塊的個(gè)數(shù)，且該多個(gè)預(yù)設(shè)坐標(biāo)區(qū)塊的每一預(yù)設(shè)坐標(biāo)區(qū)塊的范圍內(nèi)至少有一個(gè)觸碰坐標(biāo)落入時(shí)，啟動(dòng)一觸控面板校正程序。本發(fā)明還公開一種輔助校正裝置，包含有一顯示面板、一觸控面板、一儲存單元、一計(jì)算單元、一模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器模塊以及一啟動(dòng)單元。該顯示面板用來顯示對應(yīng)于一第一坐標(biāo)陣列的一屏幕畫面，其中該屏幕畫面包含多個(gè)預(yù)設(shè)坐標(biāo)區(qū)塊，該第一坐標(biāo)陣列包含一第一維及一第二維，且該多個(gè)預(yù)設(shè)坐標(biāo)區(qū)塊包含該第一維的最小值、該第二維的最大值、該第一維的最大值與該第二維的最小值的一坐標(biāo)組合。該觸控面板對應(yīng)于一第二坐標(biāo)陣列，用來檢測多個(gè)觸碰信號，其中該觸控面板與該屏幕畫面重疊，該第二坐標(biāo)陣列與該第一坐標(biāo)陣列具有映射關(guān)系。該模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器模塊用來根據(jù)該多個(gè)觸碰信號，產(chǎn)生屬于該第二坐標(biāo)陣列的多個(gè)觸碰坐標(biāo)。該儲存單元用來儲存該多個(gè)預(yù)設(shè)坐標(biāo)區(qū)塊與該多個(gè)觸碰坐標(biāo)。該計(jì)算單元用來計(jì)算該多個(gè)觸碰信號的個(gè)數(shù)。該啟動(dòng)單元用來在該多個(gè)觸碰信號的個(gè)數(shù)不少于該多個(gè)預(yù)設(shè)坐標(biāo)區(qū)塊的個(gè)數(shù)，且該多個(gè)預(yù)設(shè)坐標(biāo)區(qū)塊的每一預(yù)設(shè)坐標(biāo)區(qū)塊的范圍內(nèi)至 少有一個(gè)觸碰坐標(biāo)落入時(shí)，啟動(dòng)一觸控面板校正程序。本發(fā)明還公開一計(jì)算機(jī)裝置，包含有一顯示面板、一觸控面板、一觸控面板校正裝置、一校正啟動(dòng)單元以及一輔助校正單元。該顯示面板用來顯示對應(yīng)于一第一坐標(biāo)陣列的一屏幕畫面，其中該第一坐標(biāo)陣列包含一第一維及一第二維。該觸控面板對應(yīng)于一第二坐標(biāo)陣列，且與該屏幕畫面重疊。該觸控面板校正裝置用來校正該觸控面板與該顯示面板，以產(chǎn)生一校正坐標(biāo)數(shù)據(jù)。該校正啟動(dòng)單元用來執(zhí)行一校正啟動(dòng)程序，以決定該觸控面板校正裝置的啟動(dòng)；該輔助校正單元用來根據(jù)該校正坐標(biāo)數(shù)據(jù)，執(zhí)行一輔助校正程序。其中，該校正啟動(dòng)程序包含有通過該觸控面板，檢測多個(gè)第一觸碰信號；根據(jù)該多個(gè)第一觸碰信號，產(chǎn)生屬于該第二坐標(biāo)陣列的一觸碰坐標(biāo)特性；比對該觸碰坐標(biāo)特性與屬于該第二坐標(biāo)陣列的一預(yù)設(shè)坐標(biāo)特性，以產(chǎn)生一比對結(jié)果；以及在該比對結(jié)果顯示該觸碰坐標(biāo)特性符合屬于該預(yù)設(shè)坐標(biāo)特性時(shí)，啟動(dòng)該觸控面板校正程序。該輔助校正程序包含有根據(jù)該校正坐標(biāo)數(shù)據(jù)，在該屏幕畫面上顯示多個(gè)預(yù)設(shè)坐標(biāo)區(qū)塊，該多個(gè)預(yù)設(shè)坐標(biāo)區(qū)塊包含該第一維的最小值、該第二維的最大值、該第一維的最大值與該第二維的最小值的一坐標(biāo)組合；通過該觸控面板，檢測多個(gè)第二觸碰信號；計(jì)算該多個(gè)第二觸碰信號的個(gè)數(shù)；根據(jù)該多個(gè)第二觸碰信號，產(chǎn)生屬于該第二坐標(biāo)陣列的多個(gè)觸碰坐標(biāo)；以及在該多個(gè)第二觸碰信號的個(gè)數(shù)不少于該多個(gè)預(yù)設(shè)坐標(biāo)區(qū)塊的個(gè)數(shù)，且該多個(gè)預(yù)設(shè)坐標(biāo)區(qū)塊的每一預(yù)設(shè)坐標(biāo)區(qū)塊的范圍內(nèi)至少有一個(gè)觸碰坐標(biāo)落入時(shí),啟動(dòng)該觸控面板校正程序。本發(fā)明的供使用者在無法點(diǎn)選特定程序的啟動(dòng)按鈕時(shí)，利用檢測使用者特定的觸碰過程來啟動(dòng)程序。此外，本發(fā)明亦提供一邊緣區(qū)域觸碰機(jī)制，可用來啟動(dòng)特定程序，且當(dāng)用于屏幕校正時(shí)，驗(yàn)證校正結(jié)果的正確性及有效性。


圖I為本發(fā)明第一實(shí)施例的一程序啟動(dòng)流程的示意圖。
圖2為本發(fā)明第一實(shí)施例的一程序啟動(dòng)裝置的示意圖。圖3為本發(fā)明第二實(shí)施例的一輔助校正流程的示意圖。圖4為本發(fā)明第二實(shí)施例的一輔助校正裝置的示意圖。圖5為本發(fā)明第三實(shí)施例的一計(jì)算機(jī)裝置的示意圖。圖6為圖5的觸控面板的預(yù)設(shè)坐標(biāo)集的實(shí)施示意圖。圖7為根據(jù)圖6的校正啟動(dòng)程序的實(shí)施例流程圖。圖8為輔助校正程序起始狀態(tài)下屏幕畫面的實(shí)施示意圖。圖9為根據(jù)圖6的輔助校正程序的實(shí)施例流程圖。 圖10為圖8的屏幕畫面與校正坐標(biāo)數(shù)據(jù)的對應(yīng)關(guān)系的示意圖。主要組件符號說明20程序啟動(dòng)裝置 530校正啟動(dòng)單元40輔助校正裝置 540輔助校正單元210、510觸控面板 C0R_DATA校正坐標(biāo)數(shù)據(jù)220觸控估測模塊 CMP_RE比對結(jié)果230、420儲存單元 B1、B2、B3、B4預(yù)設(shè)坐標(biāo)集240比對單元 C1、C2、C3、C4預(yù)設(shè)坐標(biāo)區(qū)塊250,470啟動(dòng)單元 TSgm(I)、TSgm(η)觸碰信號TSg(I) TSg(n)觸碰信號[(zl, wl)，…，(zn, wn)] 觸碰坐標(biāo)222,440模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器模塊[TCI {(x, y)},···, TCn{(x, y)}] 觸碰坐標(biāo)集224觸碰時(shí)間計(jì)算單元 [ΤΤ(1)，···，ΤΤ(η)] 觸碰時(shí)間集226間隔時(shí)間計(jì)算單元 [TTI (1)，…，TTI (η)] 觸碰間隔時(shí)間集ΑΡ、ΑΡ1應(yīng)用程序 [PCl {(X，y)}，…，PCn{(x, y)}]預(yù)設(shè)坐標(biāo)集400,500顯示面板 [PT (I)，PT (2)，…，PT (η)] 預(yù)設(shè)時(shí)間集430計(jì)算單元 [PTI (1)，…，PTI (η)] 預(yù)設(shè)間隔時(shí)間集450數(shù)據(jù)清除單元 10、30、70、90流程460區(qū)塊清除單元 100、102、104、106、108、110、112、300、302、402,502屏幕畫面 304、306、308、310、312、700、702、704、706、Α1、Α2預(yù)設(shè)坐標(biāo)區(qū)塊 708、710、712、714、716、718、720、722、724、50計(jì)算機(jī)裝置 726、728、730、732、734、900、902、904、906、520觸控面板校正裝置 908、910、912、914、916 步驟
具體實(shí)施例方式請參考圖1，圖I為本發(fā)明第一實(shí)施例的一程序啟動(dòng)流程10的示意圖。程序啟動(dòng)流程10用于在具有一觸控面板的一計(jì)算機(jī)裝置中啟動(dòng)應(yīng)用程序，其中該觸控面板對應(yīng)于一X-Y軸的坐標(biāo)陣列，其可表示觸控面板的分辨率。程序啟動(dòng)流程10包含以下步驟步驟100 :開始。步驟102 :通過該觸控面板，檢測多個(gè)觸碰信號。步驟104 :根據(jù)該多個(gè)觸碰信號，產(chǎn)生屬于該坐標(biāo)陣列的一觸碰坐標(biāo)特性。步驟106 :比對該觸碰坐標(biāo)特性與屬于該坐標(biāo)陣列的一預(yù)設(shè)坐標(biāo)特性，以產(chǎn)生一比對結(jié)果。步驟108 :判斷該比對結(jié)果是否顯示該觸碰坐標(biāo)特性符合屬于該預(yù)設(shè)坐標(biāo)特性？若是，進(jìn)行步驟110 ;若否，進(jìn)行步驟102。步驟110 :啟動(dòng)一應(yīng)用程序。步驟112:結(jié)束。根據(jù)程序啟動(dòng)流程10，本發(fā)明是利用觸控面板檢測多個(gè)觸碰信號，并據(jù)以產(chǎn)生這些觸碰信號的觸碰坐標(biāo)特性，接著與預(yù)設(shè)坐標(biāo)特性相互比較，以在兩特性相符合時(shí)啟動(dòng)應(yīng)用程序。預(yù)設(shè)坐標(biāo)特性可為預(yù)設(shè)的X-Y坐標(biāo)集、預(yù)設(shè)時(shí)間集或預(yù)設(shè)間隔時(shí)間集，或其組合，在此情況下，所產(chǎn)生的觸碰坐標(biāo)特性為對應(yīng)的觸碰信息(即觸碰坐標(biāo)、觸碰時(shí)間或觸碰間隔時(shí)間，或其組合)。以預(yù)設(shè)坐標(biāo)特性同時(shí)包含預(yù)設(shè)的X-Y坐標(biāo)集、預(yù)設(shè)時(shí)間集及預(yù)設(shè)間隔時(shí) 間集為例，本發(fā)明在比對結(jié)果顯示觸碰坐標(biāo)集、觸碰時(shí)間集及觸碰間隔時(shí)間集符合對應(yīng)的預(yù)設(shè)特性時(shí)，啟動(dòng)應(yīng)用程序；否則，繼續(xù)通過觸控面板檢測多個(gè)觸碰信號。觸碰坐標(biāo)集的產(chǎn)生方式可通過模擬轉(zhuǎn)數(shù)字的方式，轉(zhuǎn)換觸碰信號為數(shù)字信號，并安排成X-Y軸的坐標(biāo)信號；觸碰時(shí)間集的產(chǎn)生方式可記錄每一觸碰信號的一起始時(shí)間與一結(jié)束時(shí)間，并計(jì)算起始時(shí)間與結(jié)束時(shí)間的時(shí)間差；觸碰間隔時(shí)間集的產(chǎn)生方式可記錄該每兩相鄰觸碰信號的時(shí)間差。較佳地，應(yīng)用程序可為一觸控面板校正程序或一關(guān)機(jī)程序等等。如此一來，使用者可直接通過觸控面板操作來啟動(dòng)程序，可避免因?yàn)槠聊黄扑斐蔁o法選取屏幕上程序起始按鈕的問題。除此之外，對觸控面板的消費(fèi)性電子制造商來說，操作界面的設(shè)計(jì)上能減少機(jī)械按鈕(如屏幕校正按鈕)的數(shù)目。圖2為本發(fā)明第一實(shí)施例一程序啟動(dòng)裝置20的示意圖。程序啟動(dòng)裝置20包含有一觸控面板210、一觸控估測模塊220、一儲存單元230、一比對單元240以及一啟動(dòng)單元250。觸控面板210對應(yīng)于一 X-Y軸的坐標(biāo)陣列，用來檢測觸碰信號TSg(I) TSg(n)。觸控估測模塊220包含一模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器模塊222、一觸碰時(shí)間計(jì)算單元224及一間隔時(shí)間計(jì)算單元226。模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器模塊222用來轉(zhuǎn)換觸碰信號TSg(I) TSg(n)為X-Y軸數(shù)字信號，以產(chǎn)生觸碰坐標(biāo)集[TCI {(x, y) }，···，TCn {(x, y)}];觸碰時(shí)間計(jì)算單元224用來記錄觸碰信號TSg(I) TSg(n)中每一觸碰信號的起始時(shí)間與結(jié)束時(shí)間，以產(chǎn)生觸碰時(shí)間集[TT(I),…，TT(η)];間隔時(shí)間計(jì)算單元226用來計(jì)算觸碰信號TSg(I) TSg的每兩相鄰觸碰信號的時(shí)間差，以產(chǎn)生觸碰間隔時(shí)間集[TTI (1)，…，TTI (η)]。儲存單元230用來儲存屬于X-Y軸的坐標(biāo)陣列的一預(yù)設(shè)坐標(biāo)集[PCI {(x, y) }，···，PCn {(x, y)}]、一預(yù)設(shè)時(shí)間集[ΡΤ(1)，Ρ ^2)，···，ΡΤ(η)]與一預(yù)設(shè)間隔時(shí)間集[PTI (I)，…，PTI (η)]。比對單元240用來比對觸碰坐標(biāo)集[TCl {(X，y)}，...，TCn {(x, y)}]與預(yù)設(shè)坐標(biāo)集[PCI {(x, y)}，...，PCn{(x，y)}]、觸碰時(shí)間集[TT(1)，"^TT(Ii)]與預(yù)設(shè)時(shí)間集[PT (I)，…，PT (η)]，以及觸碰間格時(shí)間集[TTI (1)，…，TTI (η)]與預(yù)設(shè)間隔時(shí)間集[PTI (1)，…，PTI (η)]，以產(chǎn)生一比對結(jié)果CMP_RE。啟動(dòng)單元250用來在比對結(jié)果CMP_RE顯示觸碰坐標(biāo)集[TCI {(x，y)}，…，TCn{(x，y)}]、觸碰時(shí)間集[TT(1)，"^TT(Ii)]與觸碰間隔時(shí)間集[TTI (I)，…，TTI (η)]分別符合(相同)對應(yīng)的預(yù)設(shè)集時(shí)，啟動(dòng)一應(yīng)用程序ΑΡ。請參考圖3，圖3為本發(fā)明第二實(shí)施例的用于一計(jì)算機(jī)裝置的一輔助校正流程30的示意圖。其中該計(jì)算機(jī)裝置包含一觸控面板，其對應(yīng)于一X-Y軸的坐標(biāo)陣列，及一屏幕畫面，其對應(yīng)于一 Z-W軸的坐標(biāo)陣列并與該屏幕畫面重疊，X-Y軸與Z-W軸的坐標(biāo)陣列可分別表示觸控面板及屏幕畫面的分辨率，且具有映射關(guān)系，意即每一 X-Y軸的坐標(biāo)點(diǎn)皆具有一對應(yīng)的Z-W軸的坐標(biāo)點(diǎn)。輔助校正流程30用來判斷面板偏移是否過大，其包含以下步驟步驟300:開始。步驟302:在該屏幕畫面上顯示多個(gè)預(yù)設(shè)坐標(biāo)區(qū)塊，其包含X軸的最小值、Y軸的最大值、X的最大值與Y軸的最小值的一坐標(biāo)組合。步驟304 :通過該觸控面板，檢測屬于X-Y軸的多個(gè)觸碰信號。步驟306 :計(jì)算該多個(gè)觸碰信號的個(gè)數(shù)。步驟308 :根據(jù)該多個(gè)觸碰信號，產(chǎn)生屬于Z-W軸的坐標(biāo)陣列的多個(gè)觸碰坐標(biāo)。
步驟310 :在該多個(gè)觸碰信號的個(gè)數(shù)不少于該多個(gè)預(yù)設(shè)坐標(biāo)區(qū)塊的個(gè)數(shù)，且該多個(gè)預(yù)設(shè)坐標(biāo)區(qū)塊的每一預(yù)設(shè)坐標(biāo)區(qū)塊的范圍內(nèi)至少有一個(gè)觸碰坐標(biāo)落入時(shí)，啟動(dòng)一面板校正程序。步驟312:結(jié)束。根據(jù)輔助校正流程30，本發(fā)明先顯示預(yù)設(shè)坐標(biāo)區(qū)塊于屏幕畫面上，并對檢測到的觸碰信號計(jì)算其信號個(gè)數(shù)，以及從X-Y軸轉(zhuǎn)換成Z-W軸的觸碰坐標(biāo)。在觸碰信號的個(gè)數(shù)不少于預(yù)設(shè)坐標(biāo)區(qū)塊的個(gè)數(shù)，且每一預(yù)設(shè)坐標(biāo)區(qū)塊的范圍內(nèi)至少有一個(gè)觸碰坐標(biāo)落入時(shí)，則本發(fā)明啟動(dòng)面板校正程序。這意謂，在觸碰信號的個(gè)數(shù)等于預(yù)設(shè)坐標(biāo)區(qū)塊的個(gè)數(shù)時(shí)，觸碰坐標(biāo)必須一對一命中預(yù)設(shè)坐標(biāo)區(qū)塊，面板校正程序才會啟動(dòng)。相反地，在觸碰信號的個(gè)數(shù)少于預(yù)設(shè)坐標(biāo)區(qū)塊的個(gè)數(shù)時(shí)，則清除所有的觸碰坐標(biāo)，以重新通過觸控面板進(jìn)行觸碰信號檢測。除此之外，每次一觸碰坐標(biāo)落于一預(yù)設(shè)坐標(biāo)區(qū)塊范圍內(nèi)時(shí)，本發(fā)明可以隨即取消顯示該預(yù)設(shè)坐標(biāo)區(qū)塊?；蚴牵鹊缴鲜鰡?dòng)面板校正程序的條件符合時(shí)，取消顯示所有預(yù)設(shè)坐標(biāo)區(qū)塊，以回復(fù)正常屏幕畫面。較佳地，預(yù)設(shè)坐標(biāo)區(qū)塊為按鈕圖形，以供使用者點(diǎn)擊。所使用的預(yù)設(shè)坐標(biāo)區(qū)塊內(nèi)的坐標(biāo)組合可至少包含一(Z軸的最小值，W軸的最大值)與(Z軸的最大值，W軸的最小值)的坐標(biāo)組合、一(Z軸的最大值，W軸的最大值)與(Z軸的最小值，W軸的最小值)的坐標(biāo)組合，或一(Z軸的最小值，W軸的最大值)、(Z軸的最大值，W軸的最小值)、(Z軸的最大值，W軸的最大值)與(Z軸的最小值，W軸的最小值)的坐標(biāo)組合。也就是，前述第一種坐標(biāo)組合包含屏幕畫面的左上與右下坐標(biāo)端點(diǎn)；第二種坐標(biāo)組合包含屏幕畫面的右上與左下坐標(biāo)端點(diǎn)；第三種坐標(biāo)組合則包含屏幕畫面的四個(gè)坐標(biāo)端點(diǎn)。在此情況下，本發(fā)明通過檢測邊界區(qū)塊的觸碰信號，來確定觸控面板及屏幕畫面是否偏移過當(dāng)，以決定是否執(zhí)行面板校正程序。圖4為本發(fā)明第二實(shí)施例的一輔助校正裝置40的示意圖。輔助校正裝置40用來啟動(dòng)一面板校正程序AP1，且包含有一顯示面板400、一觸控面板410、一儲存單元420、一計(jì)算單元430、一模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器模塊440、一數(shù)據(jù)清除單元450、一區(qū)塊清除單元460及一啟動(dòng)單元470。顯示面板400用來顯示對應(yīng)于Z-W軸的坐標(biāo)陣列的一屏幕畫面402，其包含兩個(gè)預(yù)設(shè)坐標(biāo)區(qū)塊Al與A2，預(yù)設(shè)坐標(biāo)區(qū)塊Al包含坐標(biāo)(Z軸的最小值，W軸的最大值)，而預(yù)設(shè)坐標(biāo)區(qū)塊A2包含坐標(biāo)(Z軸的最大值，W軸的最小值)。觸控面板410與屏幕畫面402尺寸相同并重疊，其對應(yīng)于X-Y軸的坐標(biāo)陣列，用來檢測觸碰信號TSgm(I) TSgm(η) ο計(jì)算單元430用來計(jì)算觸碰信號TSgm(I) TSgm(η)的個(gè)數(shù)為η個(gè)。模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器模塊440用來根據(jù)觸碰信號TSgm(I) TSgm(η)，產(chǎn)生屬于Z-W軸坐標(biāo)陣列的觸碰坐標(biāo)[(zl, wl)，…，(zn, wn)]。儲存單元420用來儲存預(yù)設(shè)坐標(biāo)區(qū)塊Al與A2的坐標(biāo)集與觸碰坐標(biāo)[(zl, wl),…，(zn，wn)]。數(shù)據(jù)清除單元450用來在個(gè)數(shù)η少于2時(shí),清除儲存單元420的觸碰坐標(biāo)[(zl, wl)，…，(zn，wn)]。啟動(dòng)單元470用來在個(gè)數(shù)η不少于2且預(yù)設(shè)坐標(biāo)區(qū)塊Al與Α2的范圍內(nèi)皆至少有一個(gè)觸碰坐標(biāo)落入時(shí)，啟動(dòng)面板校正程序API。區(qū)塊清除單元460用來在任一觸碰坐標(biāo)落于預(yù)設(shè)坐標(biāo)區(qū)塊Al或A2的范圍內(nèi)時(shí)，取消顯示被命中的預(yù)設(shè)坐標(biāo)區(qū)塊?；蚴?，區(qū)塊清除單元460也可用來在個(gè)數(shù)η不少于2且預(yù)設(shè)坐標(biāo)區(qū)塊Al與Α2的范圍內(nèi)皆至少有一個(gè)觸碰坐標(biāo)落入時(shí)，取消顯示預(yù)設(shè)坐標(biāo)區(qū)塊Al及Α2，以回復(fù)正常屏幕畫面。前述的程序啟動(dòng)流程10及輔助校正流程30的概念可合并使用于一計(jì)算機(jī)裝置，以完整進(jìn)行屏幕偏移校正。請參考圖5，圖5為本發(fā)明第三實(shí)施例的一計(jì)算機(jī)裝置50的示意圖。計(jì)算機(jī)裝置50包含有一顯示面板500、一觸控面板510、一觸控面板校正裝置520、一校正啟動(dòng)單元530以及一輔助校正單元540。顯示面板500用來顯示Z-W軸的坐標(biāo)陣列的一屏幕畫面502。觸控面板510對應(yīng)于X-Y軸的坐標(biāo)陣列，且與屏幕畫面500大小相同并 重疊。校正啟動(dòng)單元530用來通過執(zhí)行一校正啟動(dòng)程序，決定是否啟動(dòng)觸控面板校正裝置520。觸控面板校正裝置520校正觸控面板510與顯示面板500的坐標(biāo)映射關(guān)系，以產(chǎn)生一校正坐標(biāo)數(shù)據(jù)C0R_DATA，而輔助校正單元540根據(jù)校正坐標(biāo)數(shù)據(jù)C0R_DATA，執(zhí)行一輔助校正程序，以決定是否重新啟動(dòng)觸控面板校正裝置520。請參考圖6，圖6為觸控面板510的預(yù)設(shè)坐標(biāo)集的示意圖。在圖6中，觸控面板510的預(yù)設(shè)坐標(biāo)集為[B1，B2，B3，B4]。此外，計(jì)算機(jī)裝置50設(shè)定(I)預(yù)設(shè)時(shí)間條件每次按壓時(shí)間超過兩秒；(II)預(yù)設(shè)間隔時(shí)間條件觸碰間隔時(shí)間大于一秒且小于三秒。接著，請參考圖7，圖7為用于校正啟動(dòng)單元530的一校正啟動(dòng)程序70的實(shí)施例流程圖。校正啟動(dòng)程序70為流程10的衍生，其利用觸控面板510的預(yù)設(shè)坐標(biāo)集與條件(I)及(II)來決定觸控面板校正裝置520的啟動(dòng)與否，其包含下列步驟步驟700:開始。步驟702 :設(shè)定i的起始值為O。步驟704 :判斷是否有一面板觸碰事件？若有，進(jìn)行步驟708 ;若否，進(jìn)行步驟706。步驟706 :記錄一觸碰間隔起始時(shí)間。步驟708 :檢測屏幕觸碰狀態(tài)為“按壓”或“釋放”？若為“按壓”，進(jìn)行步驟710 ;若否，進(jìn)行步驟712。步驟710 :計(jì)算一觸碰間隔時(shí)間且記錄一按壓起始時(shí)間。步驟712 :根據(jù)該按壓起始時(shí)間，計(jì)算一按壓時(shí)間。步驟714:判斷該面板觸碰事件是否符合一階段ST(O) 若是，進(jìn)行步驟716;若否，進(jìn)行步驟724。步驟716 :判斷該面板觸碰事件是否符合一階段ST(i) 若是，進(jìn)行步驟718 ;若否，進(jìn)行步驟732。步驟718 :將i的數(shù)值加I。步驟720 :判斷該面板觸碰事件是否符合一啟動(dòng)條件ACON(i) 若是，進(jìn)行步驟722 ;若否，進(jìn)行步驟732。步驟722 :判斷i是否等于4 若是，進(jìn)行步驟730 ;若否，進(jìn)行步驟726。
步驟724 :判斷該面板觸碰事件是否符合條件(II)且i大于或等于I 若是，進(jìn)行步驟716 ;若否，進(jìn)行步驟732。步驟726 :回報(bào)該面板觸碰事件的一按壓狀況及其X-Y軸的按壓坐標(biāo)。步驟728 :根據(jù)觸碰間隔起始時(shí)間、該按壓狀況及該按壓坐標(biāo)，進(jìn)行相關(guān)系統(tǒng)運(yùn)算或記錄。步驟730 :啟動(dòng)觸控面板校正裝置520。步驟732 :進(jìn)入階段ST(O)且設(shè)定i為O。步驟734:結(jié)束。在校正啟動(dòng)程序70中，啟動(dòng)條件ACON(I) ACON(4)分別為面板觸碰事件命中預(yù) 設(shè)坐標(biāo)集[B1，B2，B3，B4]，且符合條件(I)。此外，階段ST(O)的符合條件條件(I)及(II)無任何條件成立；階段ST(I)的符合條件階段ST(O)與啟動(dòng)條件ACON(I)成立；階段ST(2)的符合條件階段ST(I)、啟動(dòng)條件ACON(2)且條件(II)成立；階段ST(3)的符合條件階段ST(2)、啟動(dòng)條件ACON(3)且條件(II)成立；階段ST(4)的符合條件階段ST(3)、啟動(dòng)條件ACON(4)且條件(II)成立。步驟728的相關(guān)系統(tǒng)運(yùn)算或記錄包含根據(jù)觸碰間隔起始時(shí)間及該按壓狀況，計(jì)算一觸碰間隔時(shí)間。由上可知，當(dāng)所檢測的觸碰信號分別按照順序落在坐標(biāo)區(qū)塊B1、B2、B3及B4的范圍內(nèi)，且符合(I)與(II)的條件時(shí)，校正啟動(dòng)程序70啟動(dòng)觸控面板校正裝置520。當(dāng)所檢測的任一觸碰信號不符合預(yù)設(shè)條件時(shí)，校正啟動(dòng)程序70則重新進(jìn)行觸碰信號檢測。請參考圖8及圖9，圖9為用于輔助校正單元540的一輔助校正程序90的實(shí)施例流程圖，圖8為圖9的輔助校正程序90起始狀態(tài)下屏幕畫面502的示意圖。輔助校正程序90運(yùn)用流程30的概念，其包含下列步驟步驟900:開始。步驟902 :在屏幕畫面502上顯示預(yù)設(shè)坐標(biāo)區(qū)塊Cl、C2、C3及C4。步驟904 :等待觸碰事件。步驟906 :根據(jù)校正坐標(biāo)數(shù)據(jù)C0R_DATA，檢測觸碰事件且記錄觸碰事件的總次數(shù)。步驟908 :當(dāng)觸碰位置命中預(yù)設(shè)坐標(biāo)區(qū)塊C1、C2、C3及C4的其中之一時(shí)，移除被命中的預(yù)設(shè)坐標(biāo)區(qū)塊。步驟910 :判斷總次數(shù)是否小于四次？若是，則回到步驟904 ;若否，則進(jìn)行步驟912。步驟912 :判斷觸碰位置命中預(yù)設(shè)坐標(biāo)區(qū)塊的次數(shù)是否小于四次？若是，則進(jìn)行步驟914 ;若否，則進(jìn)行916。步驟914 :啟動(dòng)觸控面板校正裝置520。步驟916:結(jié)束。由上可知，當(dāng)觸碰事件總次數(shù)少于四次時(shí)，表示使用者觸碰次數(shù)不足，因此重新等待觸碰事件。當(dāng)觸碰事件總次數(shù)不少于四次但命中次數(shù)少于四次時(shí)，意即預(yù)設(shè)坐標(biāo)區(qū)塊Cl、C2、C3及C4之中有預(yù)設(shè)坐標(biāo)區(qū)塊未被命中，表示校正坐標(biāo)數(shù)據(jù)C0R_DATA有偏差，因此必須啟動(dòng)觸控面板校正裝置520，以進(jìn)行重新校正屏幕。當(dāng)觸碰事件總次數(shù)與命中次數(shù)皆不少于四次時(shí)，意即預(yù)設(shè)坐標(biāo)區(qū)塊Cl、C2、C3及C4皆被命中，表示校正坐標(biāo)數(shù)據(jù)C0R_DATA無偏差，因此結(jié)束輔助校正程序90回到系統(tǒng)正常運(yùn)作。請參考圖10，圖10為圖8的屏幕畫面502與校正坐標(biāo)數(shù)據(jù)C0R_DATA的對應(yīng)關(guān)系的示意圖。在圖10中，預(yù)設(shè)坐標(biāo)區(qū)塊C1、C2、C3及C4與校正坐標(biāo)數(shù)據(jù)C0R_DATA具有偏移。當(dāng)使用者觸碰觸控面板510的最右下方時(shí)，對應(yīng)的校正坐標(biāo)數(shù)據(jù)C0R_DATA為觸碰坐標(biāo)D1，其明顯地?zé)o法命中預(yù)設(shè)坐標(biāo)區(qū)塊C4，造成觸碰位置命中預(yù)設(shè)坐標(biāo)區(qū)塊的次數(shù)必定小于四次的結(jié)果。在此情況下，輔助校正程序90會啟動(dòng)觸控面板校正裝置520。因此，輔助校正單元540可以驗(yàn)證校正坐標(biāo)數(shù)據(jù)C0R_DATA的正確性及有效性。綜上所述，本發(fā)明的實(shí)施例供使用者在無法點(diǎn)選特定程序的啟動(dòng)按鈕時(shí)，利用檢測使用者特定的觸碰過程來啟動(dòng)程序。此外，本發(fā)明亦提供一邊緣區(qū)域觸碰機(jī)制，可用來啟動(dòng)特定程序，且當(dāng)用于屏幕校正時(shí)，驗(yàn)證校正結(jié)果的正確性及有效性。以上所述僅為本發(fā)明的較佳實(shí)施例，凡是依本發(fā)明權(quán)利要求書范圍所作的等同變化與修飾，皆應(yīng)屬本發(fā)明的涵蓋范圍?！?br> 權(quán)利要求
1.一種輔助校正方法，包括 在對應(yīng)于一第一坐標(biāo)陣列的一屏幕畫面上顯示多個(gè)預(yù)設(shè)坐標(biāo)區(qū)塊，其中所述第一坐標(biāo)陣列包括一第一維及一第二維，所述多個(gè)預(yù)設(shè)坐標(biāo)區(qū)塊包括所述第一維的最小值、所述第二維的最大值、所述第一維的最大值與所述第二維的最小值的一坐標(biāo)組合； 通過對應(yīng)于一第二坐標(biāo)陣列的一觸控面板，檢測多個(gè)觸碰信號，其中所述觸控面板與所述屏幕畫面重疊； 計(jì)算所述多個(gè)觸碰信號的個(gè)數(shù)； 根據(jù)所述多個(gè)觸碰信號，產(chǎn)生屬于所述第二坐標(biāo)陣列的多個(gè)觸碰坐標(biāo)；以及 在所述多個(gè)觸碰信號的個(gè)數(shù)不少于所述多個(gè)預(yù)設(shè)坐標(biāo)區(qū)塊的個(gè)數(shù)，且所述多個(gè)預(yù)設(shè)坐標(biāo)區(qū)塊的每一預(yù)設(shè)坐標(biāo)區(qū)塊的范圍內(nèi)至少有一個(gè)觸碰坐標(biāo)落入時(shí)，啟動(dòng)一觸控面板校正程序。
2.如權(quán)利要求I所述的輔助校正方法，還包括在所述多個(gè)觸碰信號的個(gè)數(shù)少于所述多個(gè)預(yù)設(shè)坐標(biāo)區(qū)塊的個(gè)數(shù)時(shí)，清除所檢測的所述多個(gè)觸碰坐標(biāo)，并重新進(jìn)行觸碰信號檢測。
3.如權(quán)利要求I所述的輔助校正方法，還包括在所述多個(gè)觸碰坐標(biāo)的一觸碰坐標(biāo)落于所述多個(gè)預(yù)設(shè)坐標(biāo)區(qū)塊的一預(yù)設(shè)坐標(biāo)區(qū)塊范圍內(nèi)時(shí)，取消顯示所述預(yù)設(shè)坐標(biāo)區(qū)塊。
4.如權(quán)利要求I所述的輔助校正方法，還包括在所述多個(gè)觸碰信號的個(gè)數(shù)不少于所述多個(gè)預(yù)設(shè)坐標(biāo)區(qū)塊的個(gè)數(shù)，且所述多個(gè)預(yù)設(shè)坐標(biāo)區(qū)塊的每一預(yù)設(shè)坐標(biāo)區(qū)塊的范圍內(nèi)至少有一個(gè)觸碰坐標(biāo)落入時(shí)，取消顯示所述多個(gè)預(yù)設(shè)坐標(biāo)區(qū)塊，以回復(fù)正常屏幕畫面。
5.如權(quán)利要求I所述的輔助校正方法，其中所述多個(gè)預(yù)設(shè)坐標(biāo)區(qū)塊為按鈕圖形。
6.如權(quán)利要求I所述的輔助校正方法，其中所述坐標(biāo)組合為一(所述第一維的最小值，所述第二維的最大值)與(所述第一維的最大值，所述第二維的最小值)的坐標(biāo)組合，或一(所述第一維的最大值，所述第二維的最大值)與(所述第一維的最小值，所述第二維的最小值)的坐標(biāo)組合。
7.如權(quán)利要求I所述的輔助校正方法，其中所述坐標(biāo)組合為一(所述第一維的最小值，所述第二維的最大值)、(所述第一維的最大值，所述第二維的最小值)、(所述第一維的最大值，所述第二維的最大值)與(所述第一維的最小值，所述第二維的最小值)的坐標(biāo)組合。
8.一種輔助校正裝置,包括 一顯示面板，用來顯示對應(yīng)于一第一坐標(biāo)陣列的一屏幕畫面，所述屏幕畫面包括多個(gè)預(yù)設(shè)坐標(biāo)區(qū)塊，所述第一坐標(biāo)陣列包括一第一維及一第二維，所述多個(gè)預(yù)設(shè)坐標(biāo)區(qū)塊包括所述第一維的最小值、所述第二維的最大值、所述第一維的最大值與所述第二維的最小值的一坐標(biāo)組合； 一觸控面板，對應(yīng)于一第二坐標(biāo)陣列，用來檢測多個(gè)觸碰信號，其中所述觸控面板與所述屏幕畫面重疊，所述第二坐標(biāo)陣列與所述第一坐標(biāo)陣列具有映射關(guān)系； 一計(jì)算單元，用來計(jì)算所述多個(gè)觸碰信號的個(gè)數(shù)； 一模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器模塊，用來根據(jù)所述多個(gè)觸碰信號，產(chǎn)生屬于所述第二坐標(biāo)陣列的多個(gè)觸碰坐標(biāo)； 一儲存單元，用來儲存所述多個(gè)預(yù)設(shè)坐標(biāo)區(qū)塊與所述多個(gè)觸碰坐標(biāo)；以及 一啟動(dòng)單元，用來于所述多個(gè)觸碰信號的個(gè)數(shù)不少于所述多個(gè)預(yù)設(shè)坐標(biāo)區(qū)塊的個(gè)數(shù)，且所述多個(gè)預(yù)設(shè)坐標(biāo)區(qū)塊的每一預(yù)設(shè)坐標(biāo)區(qū)塊的范圍內(nèi)至少有一個(gè)觸碰坐標(biāo)落入時(shí)，啟動(dòng)一觸控面板校正程序。
9.如權(quán)利要求8所述的輔助校正裝置，還包括一數(shù)據(jù)清除單元，用來在所述多個(gè)觸碰信號的個(gè)數(shù)少于所述多個(gè)預(yù)設(shè)坐標(biāo)區(qū)塊的個(gè)數(shù)時(shí)，清除所述儲存單元的所述多個(gè)觸碰坐標(biāo)。
10.如權(quán)利要求8所述的輔助校正裝置，還包括一區(qū)塊清除單元，用來在所述多個(gè)觸碰坐標(biāo)的一觸碰坐標(biāo)落于所述多個(gè)預(yù)設(shè)坐標(biāo)區(qū)塊的一預(yù)設(shè)坐標(biāo)區(qū)塊范圍內(nèi)時(shí)，取消顯示所述預(yù)設(shè)坐標(biāo)區(qū)塊。
11.如權(quán)利要求8所述的輔助校正裝置，還包括一區(qū)塊清除單元，用來在所述多個(gè)觸碰信號的個(gè)數(shù)不少于所述多個(gè)預(yù)設(shè)坐標(biāo)區(qū)塊的個(gè)數(shù)，且所述多個(gè)預(yù)設(shè)坐標(biāo)區(qū)塊的每一預(yù)設(shè)坐標(biāo)區(qū)塊的范圍內(nèi)至少有一個(gè)觸碰坐標(biāo)落入時(shí)，取消顯示所述多個(gè)預(yù)設(shè)坐標(biāo)區(qū)塊，以回復(fù)正常屏幕畫面。
12.如權(quán)利要求8所述的輔助校正裝置，其中所述多個(gè)預(yù)設(shè)坐標(biāo)區(qū)塊為按鈕圖形。
13.如權(quán)利要求8所述的輔助校正裝置，其中所述坐標(biāo)組合為一(所述第一維的最小值，所述第二維的最大值)與(所述第一維的最大值，所述第二維的最小值)的坐標(biāo)組合，或一(所述第一維的最大值，所述第二維的最大值)與(所述第一維的最小值，所述第二維的最小值)的坐標(biāo)組合。
14.如權(quán)利要求8所述的輔助校正裝置，其中所述坐標(biāo)組合為一(所述第一維的最小值，所述第二維的最大值)、(所述第一維的最大值，所述第二維的最小值)、(所述第一維的最大值，所述第二維的最大值)與(所述第一維的最小值，所述第二維的最小值)的坐標(biāo)組合。
15.一計(jì)算機(jī)裝置，包括 一顯示面板，用來顯示對應(yīng)于一第一坐標(biāo)陣列的一屏幕畫面，所述第一坐標(biāo)陣列包括一第一維及一第二維； 一觸控面板，對應(yīng)于一第二坐標(biāo)陣列，所述觸控面板與所述屏幕畫面重疊； 一觸控面板校正裝置，用來校正所述觸控面板與所述顯示面板，以產(chǎn)生一校正坐標(biāo)數(shù)據(jù)； 一校正啟動(dòng)單元，用來執(zhí)行一校正啟動(dòng)程序，以決定所述觸控面板校正程序的啟動(dòng)；以及 一輔助校正單元，用來根據(jù)所述校正坐標(biāo)數(shù)據(jù)，執(zhí)行一輔助校正程序； 其中，所述校正啟動(dòng)程序包括 通過所述觸控面板，檢測多個(gè)第一觸碰信號； 根據(jù)所述多個(gè)第一觸碰信號，產(chǎn)生屬于所述第二坐標(biāo)陣列的一觸碰坐標(biāo)特性； 比對所述觸碰坐標(biāo)特性與屬于所述第二坐標(biāo)陣列的一預(yù)設(shè)坐標(biāo)特性，以產(chǎn)生一比對結(jié)果；以及 在所述比對結(jié)果顯示所述觸碰坐標(biāo)特性符合屬于所述預(yù)設(shè)坐標(biāo)特性時(shí)，啟動(dòng)所述觸控面板校正裝置； 所述輔助校正程序包括 根據(jù)所述校正坐標(biāo)數(shù)據(jù)，在所述屏幕畫面上顯示多個(gè)預(yù)設(shè)坐標(biāo)區(qū)塊，所述多個(gè)預(yù)設(shè)坐標(biāo)區(qū)塊包括所述第一維的最小值、所述第二維的最大值、所述第一維的最大值與所述第二維的最小值的一坐標(biāo)組合；通過所述觸控面板，檢測多個(gè)第二觸碰信號； 計(jì)算所述多個(gè)第二觸碰信號的個(gè)數(shù)； 根據(jù)所述多個(gè)第二觸碰信號，產(chǎn)生屬于所述第二坐標(biāo)陣列的多個(gè)觸碰坐標(biāo)；以及在所述多個(gè)第二觸碰信號的個(gè)數(shù)不少于所述多個(gè)預(yù)設(shè)坐標(biāo)區(qū)塊的個(gè)數(shù)，且所述多個(gè)預(yù)設(shè)坐標(biāo)區(qū)塊的每一預(yù)設(shè)坐標(biāo)區(qū)塊的范圍內(nèi)至少有一個(gè)觸碰坐標(biāo)落入時(shí)，啟動(dòng)所述觸控面板校正程序。
全文摘要
本發(fā)明涉及輔助校正方法及輔助校正裝置和計(jì)算機(jī)裝置。所述輔助校正方法包括在對應(yīng)于第一坐標(biāo)陣列的屏幕畫面上顯示多個(gè)預(yù)設(shè)坐標(biāo)區(qū)塊，第一坐標(biāo)陣列包括第一維及第二維，預(yù)設(shè)坐標(biāo)區(qū)塊包括第一維的最小值、第二維的最大值、第一維的最大值與第二維的最小值的坐標(biāo)組合；通過對應(yīng)于第二坐標(biāo)陣列的觸控面板，檢測多個(gè)觸碰信號，觸控面板與屏幕畫面重疊；計(jì)算觸碰信號的個(gè)數(shù)；根據(jù)觸碰信號產(chǎn)生屬于第二坐標(biāo)陣列的觸碰坐標(biāo)；以及在觸碰信號的個(gè)數(shù)不少于預(yù)設(shè)坐標(biāo)區(qū)塊的個(gè)數(shù)，且預(yù)設(shè)坐標(biāo)區(qū)塊的每一預(yù)設(shè)坐標(biāo)區(qū)塊的范圍內(nèi)至少有一個(gè)觸碰坐標(biāo)落入時(shí)，啟動(dòng)觸控面板校正程序。本發(fā)明在無法點(diǎn)選特定程序的啟動(dòng)按鈕時(shí)，檢測使用者特定的觸碰過程來啟動(dòng)程序。
文檔編號G06F3/048GK102841706SQ201210193710
公開日2012年12月26日 申請日期2009年4月20日 優(yōu)先權(quán)日2009年4月20日
發(fā)明者洪笠彰, 鄭俊隆, 徐慶驊 申請人:緯創(chuàng)資通股份有限公司