專(zhuān)利名稱(chēng)：檢測(cè)方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種檢測(cè)技術(shù)，尤其涉及一種待測(cè)裝置的檢測(cè)方法。
背景技術(shù)：
現(xiàn)今網(wǎng)絡(luò)技術(shù)趨于成熟，依賴(lài)網(wǎng)絡(luò)來(lái)進(jìn)行信息的傳遞與交換的比重越來(lái)越高，作為信息交換平臺(tái)的伺服器的可靠度也越來(lái)越重要。伺服器具有冗余式磁碟陣列(RedundantArray of Independent Disks, RAID)卡,提供儲(chǔ)存裝置的容錯(cuò)功能,使得伺服器中儲(chǔ)存的數(shù)據(jù)在部分毀損時(shí)得以恢復(fù)。伺服器在開(kāi)機(jī)之后，使用者可以通過(guò)基本輸入輸出系統(tǒng)(Basic Input OutputSystem, BIOS)設(shè)定程序來(lái)了解目前硬件的設(shè)置狀態(tài)。其中BIOS設(shè)定程序從RAID卡讀取到硬盤(pán)的識(shí)別編號(hào)，因此使用者可以看到不同的硬盤(pán)的識(shí)別編號(hào)。例如伺服器具有標(biāo)記為
C、D、E的三個(gè)硬盤(pán)，第一次開(kāi)機(jī)的硬盤(pán)順序?yàn)镃、D、E，而第二次開(kāi)機(jī)的硬盤(pán)順序可能變更為
D、C、E,如此會(huì)造判別硬盤(pán)穩(wěn)定的不確定性。由于RAID卡掃描硬盤(pán)的順序和時(shí)間不是固定的，RAID卡將先掃描到的硬盤(pán)給予順序在前的識(shí)別編號(hào)，這導(dǎo)致同一個(gè)硬盤(pán)在不同開(kāi)機(jī)時(shí)間的BIOS設(shè)定程序中，存在不同的識(shí)別編號(hào)。如此一來(lái)，常令使用者困惑，是否操作系統(tǒng)中硬盤(pán)設(shè)定已經(jīng)變更。

發(fā)明內(nèi)容
有鑒于此，本發(fā)明提供一種檢測(cè)方法，藉以解決現(xiàn)有技術(shù)所述及的問(wèn)題。本發(fā)明提出一種檢測(cè)方法，適用于至少一待測(cè)裝置。此待測(cè)裝置包括基板管理控制器、至少一待測(cè)元件與輸出入端口與網(wǎng)絡(luò)連接端口，且待測(cè)裝置電性耦接至檢測(cè)系統(tǒng)，而檢測(cè)系統(tǒng)為接收及輸出一直流電源。此檢測(cè)方法包括:基板管理控制器與待測(cè)元件分別接收直流電源；基板管理控制器接收待測(cè)元件的識(shí)別字串與地址信息，并通過(guò)輸出入端口作輸出；檢測(cè)系統(tǒng)接收及判斷識(shí)別字串與預(yù)設(shè)字串相同與否；當(dāng)識(shí)別字串與預(yù)設(shè)字串相同時(shí)，則判斷一檢測(cè)次數(shù)達(dá)到預(yù)設(shè)檢測(cè)值與否；以及當(dāng)檢測(cè)次數(shù)未達(dá)到預(yù)設(shè)檢測(cè)值時(shí)，則停止供給直流電源至待測(cè)裝置。在本發(fā)明的一實(shí)施例中，檢測(cè)方法還包括:檢測(cè)系統(tǒng)判斷停止供給直流電源至待測(cè)裝置達(dá)預(yù)設(shè)時(shí)間與否；以及當(dāng)停止供給直流電源至待測(cè)裝置達(dá)預(yù)設(shè)時(shí)間時(shí)，檢測(cè)系統(tǒng)再次供給直流電源至待測(cè)裝置。在本發(fā)明的一實(shí)施例中，當(dāng)檢測(cè)系統(tǒng)再次供給直流電源至待測(cè)裝置時(shí)，則對(duì)檢測(cè)次數(shù)加一。在本發(fā)明的一實(shí)施例中，當(dāng)識(shí)別字串與預(yù)設(shè)字串不相同時(shí)，則輸出一驗(yàn)證失敗信
肩、O在本發(fā)明的一實(shí)施例中，基板管理控制器接收待測(cè)元件的識(shí)別字串的步驟包括:判斷在接收預(yù)設(shè)時(shí)間之內(nèi)接收到識(shí)別字串與否；當(dāng)在接收預(yù)設(shè)時(shí)間之內(nèi)接收到識(shí)別字串時(shí)，則輸出識(shí)別字串；以及當(dāng)在接收預(yù)設(shè)時(shí)間之內(nèi)未接收到識(shí)別字串時(shí)，則輸出一驗(yàn)證失敗信息。在本發(fā)明的一實(shí)施例中，檢測(cè)方法還包括當(dāng)檢測(cè)次數(shù)達(dá)到預(yù)設(shè)檢測(cè)值時(shí)，則輸出一驗(yàn)證成功信息。在本發(fā)明的一實(shí)施例中，檢測(cè)方法還包括檢測(cè)系統(tǒng)接收及輸出該地址信息?；谏鲜?，本發(fā)明采用檢測(cè)系統(tǒng)來(lái)檢測(cè)一待測(cè)裝置。在待測(cè)裝置接收到直流電源且運(yùn)作時(shí)，檢測(cè)系統(tǒng)可根據(jù)待測(cè)裝置所傳出的識(shí)別字串進(jìn)行比對(duì)與驗(yàn)證，可以用來(lái)檢測(cè)一待測(cè)裝置的穩(wěn)定性與可靠度。另外，使用者僅需設(shè)定檢測(cè)次數(shù)與停止供給直流電源的預(yù)設(shè)時(shí)間即可得到完整的測(cè)試結(jié)果，大幅提升了穩(wěn)定性測(cè)試的方便性與準(zhǔn)確性。為讓本發(fā)明的上述特征和優(yōu)點(diǎn)能更明顯易懂，下文特舉實(shí)施例，并配合附圖作詳細(xì)說(shuō)明如下。


圖1A是依照本發(fā)明一實(shí)施例的待測(cè)裝置與檢測(cè)系統(tǒng)的示意圖；圖1B是依照本發(fā)明另一實(shí)施例的待測(cè)裝置與檢測(cè)系統(tǒng)的示意圖；圖2是依照本發(fā)明一實(shí)施例的檢測(cè)方法流程圖。附圖標(biāo)記:10:檢測(cè)系統(tǒng)；20A、20B:待測(cè)裝置；22:網(wǎng)絡(luò)連接端口；24、24_1、24_2、...、24_n:待測(cè)元件；26:基板管理控制器；28:輸出入端口；30:直流電源供應(yīng)器；S201 S221:方法流程圖各步驟。
具體實(shí)施例方式現(xiàn)將詳細(xì)參考本發(fā)明的實(shí)施例，并在附圖中說(shuō)明所述實(shí)施例的實(shí)例。另外，凡可能之處，在附圖及實(shí)施方式中使用相同標(biāo)號(hào)的元件/構(gòu)件代表相同或類(lèi)似部分。圖1A是依照本發(fā)明一實(shí)施例的待測(cè)裝置與檢測(cè)系統(tǒng)的示意圖。待測(cè)裝置20A包括網(wǎng)絡(luò)連接端口 22、待測(cè)元件24、基板管理控制器26與輸出入端口 28，其中基板管理控制器26電性耦接至網(wǎng)絡(luò)連接端口 22、待測(cè)元件24與輸出入端口 28。且檢測(cè)系統(tǒng)10電性耦接至待測(cè)裝置20A的網(wǎng)絡(luò)連接端口 22與輸出入端口 28。而檢測(cè)系統(tǒng)10接收來(lái)自直流電源供應(yīng)器30的直流電源，并可控制所接收到的直流電源是否輸出至待測(cè)裝置20A，以提供待測(cè)裝置20A所需的電力，并且檢測(cè)系統(tǒng)10用來(lái)對(duì)待測(cè)裝置20A進(jìn)行檢測(cè)。在待測(cè)裝置20A中的待測(cè)元件24與基板管理控制器26接收到直流電源之后開(kāi)始作動(dòng)。且在待測(cè)元件24開(kāi)始執(zhí)行測(cè)試的程序或是待測(cè)元件24開(kāi)始其驅(qū)動(dòng)程序后，待測(cè)元件24可輸出識(shí)別字串至基板管理控制器26。基于在一個(gè)接收預(yù)設(shè)時(shí)間之內(nèi)，基板管理控制器26判斷是否收到識(shí)別字串。若收到識(shí)別字串時(shí)，基板管理控制器26將識(shí)別字串通過(guò)輸出入端口 28或者是通過(guò)網(wǎng)絡(luò)連接端口 22輸出至檢測(cè)系統(tǒng)10來(lái)做檢測(cè)，否則基板管理控制器26通過(guò)輸出入端口 28而輸出一驗(yàn)證失敗信息，以使檢測(cè)系統(tǒng)10得知在此段接收預(yù)設(shè)時(shí)間之內(nèi)并未接收到識(shí)別字串。為了說(shuō)明圖1A的詳細(xì)檢測(cè)步驟，以下特舉另一實(shí)施例來(lái)對(duì)本發(fā)明進(jìn)行說(shuō)明。圖2是依照本發(fā)明一實(shí)施例的檢測(cè)方法流程圖，請(qǐng)合并參閱圖1A和圖2。如步驟S201所示，待測(cè)裝置20A中的基板管理控制器26與待測(cè)元件24分別接收直流電源。接著，如步驟S203所示，在待測(cè)元件24開(kāi)始執(zhí)行測(cè)試的程序或是待測(cè)元件24開(kāi)始其驅(qū)動(dòng)程序后，待測(cè)元件24會(huì)輸出一識(shí)別字串，因此在本實(shí)施例中是利用基板管理控制器26來(lái)接收待測(cè)元件24的識(shí)別字串與地址信息，并且基板管理控制器26判斷在接收預(yù)設(shè)時(shí)間之內(nèi)接收到識(shí)別字串與否，其中此接收預(yù)設(shè)時(shí)間可定義為讀取此識(shí)別字串的等待時(shí)間，可依照設(shè)計(jì)需求而定。倘若在接收預(yù)設(shè)時(shí)間之內(nèi)未收到識(shí)別字串，表示超過(guò)等待時(shí)間而已經(jīng)逾時(shí)(timeout)則不再進(jìn)行讀取，則如步驟S205所示，基板管理控制器26輸出驗(yàn)證失敗信息。倘若基板管理控制器26接收到識(shí)別字串，則直接輸出識(shí)別字串。接著，如步驟S207所示，由檢測(cè)系統(tǒng)10接收識(shí)別字串。接著，如步驟S209所示，檢測(cè)系統(tǒng)10判斷識(shí)別字串與預(yù)設(shè)字串相同與否。倘若判斷識(shí)別字串的結(jié)果為與預(yù)設(shè)字串不相同，則如步驟S211所示，檢測(cè)系統(tǒng)10輸出驗(yàn)證失敗信息。倘若判斷識(shí)別字串的結(jié)果為與預(yù)設(shè)字串相同，則如步驟S213所示，則檢測(cè)系統(tǒng)10進(jìn)一步判斷檢測(cè)次數(shù)達(dá)到預(yù)設(shè)檢測(cè)值與否。倘若判斷次數(shù)的結(jié)果為已達(dá)到預(yù)設(shè)檢測(cè)值，則如步驟S215所示，檢測(cè)系統(tǒng)10輸出驗(yàn)證成功信息，此驗(yàn)證成功信息可以用來(lái)表示待測(cè)元件24達(dá)到穩(wěn)定性規(guī)格。倘若判斷次數(shù)的結(jié)果為未達(dá)到預(yù)設(shè)檢測(cè)值，則如步驟S217所示，檢測(cè)系統(tǒng)10停止供給直流電源至待測(cè)裝置20A。更清楚來(lái)說(shuō)，在步驟S217之后，如步驟S219所示，檢測(cè)系統(tǒng)10會(huì)不中斷地判斷停止供給直流電源至待測(cè)裝置20A達(dá)到預(yù)設(shè)時(shí)間與否。倘若停止供給的時(shí)間達(dá)到預(yù)設(shè)時(shí)間，則如步驟S221所示，對(duì)于檢測(cè)次數(shù)加一，此一步驟主要是為記錄識(shí)別字串的驗(yàn)證次數(shù)。然后回到步驟S201，重復(fù)另一循環(huán)如步驟S201至S221的檢測(cè)流程。如此一來(lái)，檢測(cè)系統(tǒng)10再次供給直流電源至待測(cè)裝置20A，以重新進(jìn)行識(shí)別字串的測(cè)試。此外，上述檢測(cè)方法中，檢測(cè)系統(tǒng)10還可通過(guò)輸出入端口 28或是通過(guò)網(wǎng)絡(luò)連接端口 22來(lái)接收及輸出相關(guān)的地址信息。值得一提的是，在步驟S213中所設(shè)定的預(yù)設(shè)檢測(cè)值主要是反映出待測(cè)元件24的測(cè)試次數(shù)，可依照待測(cè)元件的設(shè)計(jì)需求設(shè)定為200次、300次或500次或是任何想要測(cè)試的次數(shù)皆可，可完全依照設(shè)定者希望測(cè)試的穩(wěn)定性程度而決定。而在步驟S219中，檢測(cè)系統(tǒng)10停止供給直流電源的預(yù)設(shè)時(shí)間可依照設(shè)計(jì)需求而定，例如10秒鐘、20秒鐘或I分鐘，當(dāng)然也可以將預(yù)設(shè)時(shí)間依照設(shè)定者的期望值，也就是在待測(cè)裝置20A完成關(guān)機(jī)后，可以避免電容效應(yīng)。在又一實(shí)施例中，檢測(cè)系統(tǒng)10可以是第三方電腦，待測(cè)裝置20A可以伺服器，而待測(cè)元件24可以是硬盤(pán)，且輸出入端口 28可以是通訊端口(簡(jiǎn)稱(chēng)，COM Port)，但本發(fā)明的應(yīng)用范疇并不以上述揭露為限。于是，當(dāng)檢測(cè)系統(tǒng)10供應(yīng)直流電源至待測(cè)裝置20A，因而供給硬盤(pán)而進(jìn)行開(kāi)機(jī)。待測(cè)裝置20A開(kāi)機(jī)后進(jìn)入一操作系統(tǒng)必且接收識(shí)別字串。此操作系統(tǒng)可以是微軟出品的Windows操作系統(tǒng)，或是其他的操作系統(tǒng)，在此不特別限定。待測(cè)裝置20A通過(guò)輸出入端口 28送出硬盤(pán)的識(shí)別字串至檢測(cè)系統(tǒng)10。因此，檢測(cè)系統(tǒng)10可以驗(yàn)證識(shí)別字串是否正確，來(lái)檢測(cè)待測(cè)裝置20A中的硬盤(pán)驅(qū)動(dòng)順序是否穩(wěn)定。例如，具有操作系統(tǒng)的硬盤(pán)的識(shí)別字串為“C:\”，而正確的識(shí)別字串可以預(yù)先儲(chǔ)存在檢測(cè)系統(tǒng)10。圖1B是依照本發(fā)明另一實(shí)施例的待測(cè)裝置與檢測(cè)系統(tǒng)的示意圖。請(qǐng)參閱圖1B，待測(cè)裝置20B類(lèi)似于圖1A的待測(cè)裝置20A?；趫D1A的原理，待測(cè)裝置20B可以擴(kuò)展至測(cè)試多個(gè)待測(cè)元件24_1、24_2、...、24_n。請(qǐng)?jiān)賲㈤唸D1B。檢測(cè)系統(tǒng)10電性耦接至待測(cè)裝置20B的網(wǎng)絡(luò)連接端口 22與輸出入端口 28。而在待測(cè)裝置20B中，基板管理控制器26電性耦接至網(wǎng)絡(luò)連接端口 22、待測(cè)元件24_1、24_2、...、24_n與輸出入端口 28。檢測(cè)系統(tǒng)10接收來(lái)自直流電源供應(yīng)器30的電力，并可控制所接收到的直流電源是否輸出至待測(cè)裝置20B，以提供待測(cè)裝置20B所需的電力，并且檢測(cè)系統(tǒng)10用來(lái)對(duì)待測(cè)裝置20B進(jìn)行檢測(cè)。承上述，在待測(cè)裝置20B中的待測(cè)元件24_1、24_2、...、24_n與基板管理控制器26接收到直流電源之后開(kāi)始作動(dòng)。基板管理控制器26可用來(lái)接收由待測(cè)元件24_1、
24_2.....24_n中的每一個(gè)分別通過(guò)輸出入端口 28送出識(shí)別字串以及地址信息至檢測(cè)系
統(tǒng)10。在又一實(shí)施例中，若待測(cè)元件24_1、24_2.....24_n為伺服器時(shí)，其實(shí)施方式可以是
每個(gè)待測(cè)元件24_1、24_2.....24_n均配置有其各自的基板管理控制器26與輸出入端口
28，而每個(gè)待測(cè)元件24_1、24_2、...、24_n的輸出入端口 28則以分時(shí)多工的方式將識(shí)別字串傳送至檢測(cè)系統(tǒng)10。而在另一實(shí)施例中，每個(gè)待測(cè)元件24_1、24_2、...、24_n均配置有其各自的基板管理控制器26，而這些基板管理控制器26連接到同一個(gè)輸出入端口 28，這些基板管理控制器26并且以分時(shí)多工的方式將識(shí)別字串傳送至同一個(gè)輸出入端口 28。因此，檢測(cè)系統(tǒng)10可以分別各個(gè)驗(yàn)證識(shí)別字串是否正確，以用來(lái)檢測(cè)待測(cè)元件是否穩(wěn)定。在本發(fā)明的較佳實(shí)施例中，待測(cè)元件24與24_1、24_2、...、24_n可以例如是伺服器、硬盤(pán)、網(wǎng)絡(luò)卡、硬盤(pán)擴(kuò)充卡或是各種芯片等等，但本發(fā)明的待測(cè)元件的型態(tài)并不以此為限。藉由本實(shí)施例的技術(shù)手段，使用者可以快速且方便地得到待測(cè)裝置中待測(cè)元件的穩(wěn)定性的測(cè)試結(jié)果。當(dāng)檢測(cè)系統(tǒng)輸出一驗(yàn)證成功信息時(shí)，表示待測(cè)裝置中的待測(cè)元件符合穩(wěn)定性規(guī)格。當(dāng)檢測(cè)系統(tǒng)輸出驗(yàn)證失敗信息時(shí)，表示待測(cè)裝置中的待測(cè)元件出現(xiàn)錯(cuò)誤的情況，也表示待測(cè)元件的穩(wěn)定性不夠，需要重新檢視待測(cè)裝置的電路或設(shè)計(jì)。使用者尚可藉由設(shè)定驗(yàn)證次數(shù)與關(guān)機(jī)所維持的時(shí)間來(lái)改變測(cè)試條件以得到不同情況下的穩(wěn)定度測(cè)結(jié)果。綜上所述，本發(fā)明實(shí)施例采用檢測(cè)系統(tǒng)來(lái)檢測(cè)一待測(cè)裝置。在待測(cè)裝置接收到直流電源且運(yùn)作時(shí)，檢測(cè)系統(tǒng)可根據(jù)待測(cè)裝置所傳出的識(shí)別字串進(jìn)行比對(duì)與驗(yàn)證，可以用來(lái)檢測(cè)此待測(cè)裝置的穩(wěn)定性與可靠度。另外，使用者僅需設(shè)定檢測(cè)次數(shù)與停止供給直流電源的預(yù)設(shè)時(shí)間即可得到完整的測(cè)試結(jié)果，大幅提升了穩(wěn)定性測(cè)試的方便性與準(zhǔn)確性。另外，本發(fā)明實(shí)施例可以應(yīng)用在伺服器的品管與研發(fā)上，如此一來(lái)，可以生產(chǎn)出更高穩(wěn)定性的伺服器。雖然本發(fā)明已以實(shí)施例揭示如上，然其并非用以限定本發(fā)明，任何所屬技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員，當(dāng)可作些許更動(dòng)與潤(rùn)飾，不脫離本發(fā)明的精神和范圍。
權(quán)利要求
1.一種檢測(cè)方法，適用于至少一待測(cè)裝置，該待測(cè)裝置包括一基板管理控制器、至少一待測(cè)元件、一輸出入端口與一網(wǎng)絡(luò)連接端口，且該待測(cè)裝置電性耦接至一檢測(cè)系統(tǒng)，而該檢測(cè)系統(tǒng)為接收及輸出一直流電源，該檢測(cè)方法包括: 該基板管理控制器與該待測(cè)元件分別接收該直流電源； 該基板管理控制器接收該待測(cè)元件的一識(shí)別字串與一地址信息，并通過(guò)該輸出入端口作輸出； 該檢測(cè)系統(tǒng)接收及判斷該識(shí)別字串與一預(yù)設(shè)字串相同與否； 當(dāng)該識(shí)別字串與該預(yù)設(shè)字串相同時(shí)，則判斷一檢測(cè)次數(shù)達(dá)到一預(yù)設(shè)檢測(cè)值與否；以及 當(dāng)該檢測(cè)次數(shù)未達(dá)到該預(yù)設(shè)檢測(cè)值時(shí)，則停止供給該直流電源至該待測(cè)裝置。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測(cè)方法，其中還包括: 該檢測(cè)系統(tǒng)判斷停止供給該直流電源至該待測(cè)裝置達(dá)一預(yù)設(shè)時(shí)間與否；以及 當(dāng)停止供給該直流電源至該待測(cè)裝置達(dá)該預(yù)設(shè)時(shí)間時(shí)，該檢測(cè)系統(tǒng)再次供給該直流電源至該待測(cè)裝置。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的檢測(cè)方法，其中當(dāng)檢測(cè)系統(tǒng)再次供給該直流電源至該待測(cè)裝置時(shí)，則對(duì)該檢測(cè)次數(shù)加一。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測(cè)方法，其中還包括當(dāng)該識(shí)別字串與該預(yù)設(shè)字串不相同時(shí)，貝1J輸出一驗(yàn)證失敗信息。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測(cè)方法，其中該基板管理控制器接收該待測(cè)元件的該識(shí)別字串的步驟包括: 判斷在一接收預(yù)設(shè)時(shí)間之內(nèi)接收到該識(shí)別字串與否； 當(dāng)在該接收預(yù)設(shè)時(shí)間之內(nèi)接收到該識(shí)別字串時(shí)，則輸出該識(shí)別字串；以及 當(dāng)在該接收預(yù)設(shè)時(shí)間之內(nèi)未接收到該識(shí)別字串時(shí)，則輸出一驗(yàn)證失敗信息。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測(cè)方法，其中還包括當(dāng)該檢測(cè)次數(shù)達(dá)到該預(yù)設(shè)檢測(cè)值時(shí)，則輸出一驗(yàn)證成功信息。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測(cè)方法，其中還包括該檢測(cè)系統(tǒng)接收及輸出該地址信息。
全文摘要
本發(fā)明公開(kāi)了一種檢測(cè)方法。此方法包括以下步驟?；骞芾砜刂破髋c待測(cè)元件接收直流電源。其次，基板管理控制器接收來(lái)自待測(cè)元件的識(shí)別字串與地址信息，并通過(guò)輸出入端口作輸出。接著，檢測(cè)系統(tǒng)接收及判斷所接受到的識(shí)別字串與預(yù)設(shè)字串相同與否，并于識(shí)別字串與預(yù)設(shè)字串相同時(shí)，判斷檢測(cè)次數(shù)達(dá)到預(yù)設(shè)檢測(cè)值與否。然后，當(dāng)檢測(cè)次數(shù)未達(dá)到預(yù)設(shè)檢測(cè)值時(shí)，則停止供給直流電源至待測(cè)裝置。
文檔編號(hào)G06F11/22GK103176871SQ201110429320
公開(kāi)日2013年6月26日 申請(qǐng)日期2011年12月20日 優(yōu)先權(quán)日2011年12月20日
發(fā)明者游喬智 申請(qǐng)人:英業(yè)達(dá)股份有限公司