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X-γ射線劑量?jī)x自動(dòng)檢定裝置的制造方法

文檔序號(hào):8579878閱讀:608來源:國(guó)知局
X-γ射線劑量?jī)x自動(dòng)檢定裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及到一種檢定裝置,特別是涉及到一種Χ-γ射線劑量?jī)x自動(dòng)檢定
目.ο
【背景技術(shù)】
[0002]在Χ-γ射線劑量?jī)x的檢定/校準(zhǔn)/檢測(cè)過程中,通常使用γ射線(或/和X射線)來對(duì)被檢儀器進(jìn)行檢定/校準(zhǔn)/檢測(cè)。傳統(tǒng)的X- γ射線劑量?jī)x檢定/校準(zhǔn)/檢測(cè)方法為:
[0003]通過改變條件來測(cè)試,如使用不同的輻射源,改變被檢儀器與輻射源之間的距離,改變某種條件使同一個(gè)輻射源產(chǎn)生不同的輻射劑量,通常用人工的方法將被檢儀器傳感器的參考點(diǎn)與激光定位燈指示出的測(cè)試點(diǎn)重合,這種操作方法需要工作人員在處于輻射控制區(qū)內(nèi)的檢測(cè)平臺(tái)旁邊,并需要大量的時(shí)間來完成將參考點(diǎn)與測(cè)試點(diǎn)重合的對(duì)位工作。當(dāng)被檢儀器的傳感器體積較大時(shí),無法將被檢儀器與標(biāo)準(zhǔn)劑量?jī)x同時(shí)放入均勻場(chǎng)中進(jìn)行測(cè)量(即:無法使用比較法進(jìn)行檢定/校準(zhǔn))時(shí),因而采用替換法進(jìn)行檢定/校準(zhǔn),即:用標(biāo)準(zhǔn)儀表測(cè)出測(cè)試點(diǎn)的標(biāo)準(zhǔn)值(標(biāo)準(zhǔn)儀表的參考點(diǎn)所在處),然后將被檢儀器參考點(diǎn)與該點(diǎn)(即:測(cè)試點(diǎn))重合。然后工作人員在控制室通過攝像頭讀取并記錄被檢儀器的讀數(shù),完成數(shù)據(jù)處理后填寫證書,這種靠人工記錄不僅容易遺漏,非常的麻煩,浪費(fèi)了大量的時(shí)間,尤其是用γ射線測(cè)試時(shí)需要在γ射線檢定裝置上完成,用X射線測(cè)試時(shí)需要在X射線檢定裝置上完成,如果要作Χ-γ射線檢定,就須要在兩套裝置上來完成,重復(fù)安裝對(duì)位等繁瑣的體力工作,使用各種技術(shù)手段使檢定/校準(zhǔn)/檢測(cè)從數(shù)據(jù)采集到生成證書全自動(dòng)完成是歷史的必然。
[0004]在專利《采用圖形識(shí)別的Χ-γ輻射防護(hù)儀表自動(dòng)檢定裝置》(201320545618.X)中提出:代替工作人員用眼睛讀取被檢儀器的讀數(shù),通過圖像捕獲裝置采集被檢儀器的讀數(shù)圖形,之后使用圖形識(shí)別的方法判讀出被檢儀器的讀數(shù),從而完成被檢儀器的自動(dòng)檢定/校準(zhǔn)/檢測(cè),然而RS131高壓電離室型射線劑量?jī)x通常通過串口(COM1、COM2、COM3、COM4)傳輸數(shù)據(jù),因而采用圖形識(shí)別的自動(dòng)檢定裝置無法完成對(duì)RS131的自動(dòng)檢定,同時(shí)SD660N、SD660P、F66以及FB66等輻射儀也具有數(shù)據(jù)傳輸功能。
【實(shí)用新型內(nèi)容】
[0005]本實(shí)用新型的目的在于克服上述現(xiàn)有技術(shù)的缺點(diǎn)和不足,提供一種Χ-γ射線劑量?jī)x自動(dòng)檢定裝置,解決現(xiàn)有Χ-γ射線劑量?jī)x檢定過程中,需要工作人員不斷進(jìn)出測(cè)試場(chǎng)地進(jìn)行調(diào)試,從而增加工作人員的工作量,浪費(fèi)大量的時(shí)間的缺陷。
[0006]本實(shí)用新型的目的通過下述技術(shù)方案實(shí)現(xiàn):
[0007]Χ-γ射線劑量?jī)x自動(dòng)檢定裝置,包括X軸軌道、射線福射單元、X軸電動(dòng)小車、承載臺(tái)、待測(cè)試儀器、PLD驅(qū)動(dòng)控制器、X位置指示器以及上位機(jī),所述X軸軌道沿水平方向安裝,X軸軌道的至少一端安裝有射線輻射單元,所述X軸電動(dòng)小車安裝在X軸軌道上,并能夠沿X軸軌道移動(dòng),X軸電動(dòng)小車的控制線和信號(hào)反饋線連接到PLD驅(qū)動(dòng)控制器,所述承載臺(tái)安放在X軸電動(dòng)小車上,且承載臺(tái)能夠在水平面內(nèi)旋轉(zhuǎn),所述待測(cè)試儀器放置在承載臺(tái)上,待測(cè)試儀器的信號(hào)線連接到上位機(jī);所述PLD驅(qū)動(dòng)控制器的通訊線連接到上位機(jī),所述X位置指示器安放在X軸電動(dòng)小車上,X位置指示器主要由激光定位燈構(gòu)成。
[0008]在本方案中,當(dāng)被檢儀器的輻射傳感器安裝在承載臺(tái)上后,通過調(diào)整不同的角度,本檢定裝置就可連續(xù)自動(dòng)完成角響應(yīng)參數(shù)的測(cè)試,當(dāng)承載臺(tái)從0°旋轉(zhuǎn)到180°,并且X軸電動(dòng)小車從一個(gè)射線輻射單元處移動(dòng)到另一射線輻射單元處時(shí),本檢定裝置就可連續(xù)自動(dòng)對(duì)X射線參數(shù)和γ射線參數(shù)的測(cè)試。X位置指示器主要由激光定位燈構(gòu)成,該激光定位燈發(fā)出的激光束垂直于射線方向(即:垂直于X軸軌道),該激光束在X軸的交匯點(diǎn)代表了測(cè)試點(diǎn)的X位置(距離),因而標(biāo)準(zhǔn)劑量?jī)x的參考點(diǎn)和被檢儀器的參考點(diǎn)均須對(duì)準(zhǔn)該線,這樣它們距輻射源就有相同的距離,也即是參考點(diǎn)的X坐標(biāo)與測(cè)試點(diǎn)的X坐標(biāo)相同。
[0009]進(jìn)一步地,作為優(yōu)選方案,所述射線輻射單元為X射線輻射器或γ射線輻射器。
[0010]進(jìn)一步地,作為優(yōu)選方案,所述射線輻射單元包括X射線輻射器和γ射線輻射器,X射線輻射器和γ射線輻射器分別設(shè)置在X軸軌道的兩端,所述X射線輻射器產(chǎn)生的X射線經(jīng)限束后的沿水平方向出射,出射方向與X軸軌道平行,X射線輻射器的控制線和信號(hào)反饋線連接到PLD驅(qū)動(dòng)控制器;所述γ射線輻射器產(chǎn)生的γ射線經(jīng)限束后的沿水平方向出射,出射方向與X軸軌道平行,γ射線輻射器的控制線和信號(hào)反饋線連接到PLD驅(qū)動(dòng)控制器。
[0011]在本方案中,γ射線輻射器內(nèi)安裝有Co-60、Cs-137等多個(gè)放射源,在PLD驅(qū)動(dòng)控制器的控制下,通過使用不同種類的放射源(如:Co-60或Cs-137)得到不同能量,通過選用不同活度的放射源等使輸出的劑量率可以涵蓋幾個(gè)數(shù)量級(jí);X射線輻射器主要為X射線光機(jī),通過改變X射線光機(jī)管電壓得到不同能量的X射線,通過改變燈絲電流值得到不同的劑量率,通過使用不同的過濾片改變輻射質(zhì)。
[0012]進(jìn)一步地,作為優(yōu)選方案,所述待測(cè)試儀器包括標(biāo)準(zhǔn)劑量?jī)x和被檢儀器,所述標(biāo)準(zhǔn)劑量?jī)x的電離室放置在承載臺(tái)上,標(biāo)準(zhǔn)劑量?jī)x的信號(hào)線連接到上位機(jī),所述被檢儀器的輻射傳感器放置在承載臺(tái)上,被檢儀器的信號(hào)線連接到上位機(jī)。
[0013]進(jìn)一步地,作為優(yōu)選方案,所述承載臺(tái)從下往上依次包括底座、Y軸平移小車和Z軸升降臺(tái),所述底座設(shè)置在X軸電動(dòng)小車上,且底座能夠在水平面內(nèi)旋轉(zhuǎn),所述Y軸平移小車安裝在底座上且能夠沿著底座移動(dòng),所述Z軸升降臺(tái)安裝在Y軸平移小車上且能夠?qū)崿F(xiàn)垂直升降;
[0014]還包括Y位置指示器、標(biāo)識(shí)模塊、識(shí)別模塊以及用于安放被檢儀器的形狀適配器,所述Y位置指示器安裝在Y軸平移小車上,位置指示器包括激光定位燈,該激光定位燈發(fā)出的激光束平行于承載臺(tái)上0°刻度線與180°刻度線的連線,所述形狀適配器7安放在Z軸升降臺(tái)上,所述形狀適配器上設(shè)有定位孔A和定位孔B,Z軸升降臺(tái)上有與定位孔A和定位孔B對(duì)應(yīng)的定位銷,所述形狀適配器的上表面設(shè)有安放待測(cè)試儀器的限位支架,所述標(biāo)識(shí)模塊安裝在形狀適配器上,所述識(shí)別模塊接連到上位機(jī)。
[0015]在本方案中,底座可通過帶電機(jī)驅(qū)動(dòng)的旋轉(zhuǎn)軸安裝在X軸電動(dòng)小車上,從而實(shí)現(xiàn)旋轉(zhuǎn);Y位置指示器作為一個(gè)測(cè)試點(diǎn),主要由激光定位燈構(gòu)成,該激光定位燈發(fā)出的激光束平行于承載臺(tái)上0°刻度線與180°刻度線的連線,當(dāng)承載臺(tái)處于0°時(shí),此時(shí)該激光束平行于射線方向(即:平行于X軸軌道),該激光束在Y軸的交匯點(diǎn)代表了參考點(diǎn)在Y方向的安放位置,因而標(biāo)準(zhǔn)劑量?jī)x的參考點(diǎn)和被檢儀器的參考點(diǎn)均須對(duì)準(zhǔn)該點(diǎn),這樣當(dāng)承載臺(tái)處于0° (或180° )時(shí),該激光束與輻射源中心線重合時(shí),參考點(diǎn)與輻射源中心線重合,也即是參考點(diǎn)的Y坐標(biāo)與測(cè)試點(diǎn)的Y坐標(biāo)相同。由于X射線輻射器和γ射線輻射器的射線出射孔近似在X軸軌道中心,且兩者出射孔的高度也不完全等高,因而當(dāng)從γ射線檢測(cè)切換到X射線檢測(cè)時(shí),PLD驅(qū)動(dòng)控制器自動(dòng)通過Y軸平移小車修正Y方向的偏差、通過Z軸升降臺(tái)修正高度方向的偏差。所以,對(duì)于同一臺(tái)被檢儀器,只需一次安裝對(duì)位就可連續(xù)自動(dòng)完成對(duì)X射線參數(shù)和γ射線參數(shù)的測(cè)試。
[0016]進(jìn)一步地,作為優(yōu)選方案,所述Y位置指示器4至少由2個(gè)激光定位燈組成,每個(gè)激光定位燈指示出一個(gè)參考點(diǎn)在Y方向的安放位置。采用上述結(jié)構(gòu)后,承載臺(tái)上可同時(shí)安放標(biāo)準(zhǔn)劑量?jī)x的電離室和被檢儀器的輻射傳感器,供本裝置測(cè)試約定真值后自動(dòng)測(cè)量被檢儀器;在不需要測(cè)試約定真值時(shí)(如短時(shí)間內(nèi)γ射線輻射量為穩(wěn)定值),承載臺(tái)上可同時(shí)放2臺(tái)以上的被檢儀器,供本裝置同時(shí)對(duì)多臺(tái)被檢儀器自動(dòng)測(cè)量。
[0017]進(jìn)一步地,作為優(yōu)選方案,所述標(biāo)識(shí)模塊為條碼,識(shí)別模塊為條碼掃描器。識(shí)別模塊向上位機(jī)提供被檢儀器型號(hào),上位機(jī)可根據(jù)儀器型號(hào)信息確定被檢儀器參考點(diǎn)的位置,確定攝像頭從被檢儀器顯示屏上獲得清晰圖像的位置參數(shù),采用專利號(hào)為201320545618.X的專利公開的方法采集數(shù)據(jù),使本裝置從數(shù)據(jù)采集到生成證書全自動(dòng)完成,無需人工干預(yù)。
[0018]采用本裝置進(jìn)行檢定/校準(zhǔn)/檢測(cè)包括以下流程:
[0019](I)工作人員設(shè)置單位信息、被檢儀器型號(hào)等信息、規(guī)程信息、測(cè)試參數(shù)及條件等。
[0020](2)工作人員按下啟動(dòng)按鍵。
[0021](a)PLD驅(qū)動(dòng)控制器通過改變承載臺(tái)的Χ,Υ,Ζ數(shù)以及承載臺(tái)的角度,使待測(cè)試儀器的參考點(diǎn)與測(cè)試點(diǎn)重合并滿足測(cè)試對(duì)入射角的要求。
[0022](b)PLD驅(qū)動(dòng)控制器通過改變攝像頭的X,Y,Z數(shù)以及攝像頭的角度,使攝像頭從待測(cè)試儀器的顯示屏上獲得清晰的圖像。
[0023](c) PLD驅(qū)動(dòng)控制器改變輻射源、改變被檢儀器與輻射源之間的距離、改變過濾片以及改變衰減片等,按測(cè)試參數(shù)要求產(chǎn)生輻射劑量和輻射質(zhì)。
[0024](d)延時(shí)等待輻射輸出穩(wěn)定,且超過儀器響應(yīng)時(shí)間。
[0025]Ce)上位機(jī)啟動(dòng)標(biāo)準(zhǔn)劑量?jī)x進(jìn)行約定真值測(cè)量,接收標(biāo)準(zhǔn)劑量?jī)x的數(shù)據(jù)并作必要的修正后,得到約定真值。
[0026](f)如果得到約定真值在機(jī)內(nèi)設(shè)定的范圍以內(nèi),則:保存該約定真值,并進(jìn)一步執(zhí)行以下步驟,否則進(jìn)入出錯(cuò)處理程序。對(duì)于γ射線輻射源,如果距上次測(cè)量約定真值的日期在機(jī)內(nèi)設(shè)定的范圍以內(nèi),則不執(zhí)行(b)?(d)步驟,直接調(diào)用保存在上位機(jī)內(nèi)的約定真值。
[0027](g)PLD驅(qū)動(dòng)控制器通過改變承載臺(tái)的X,Y,Z數(shù)以及承載臺(tái)的角度,使待測(cè)試儀器的參考點(diǎn)與測(cè)試點(diǎn)重合并滿足測(cè)試對(duì)入射角的要求。
[0028](h) PLD驅(qū)動(dòng)控制器改變輻射源、改變被檢儀器與輻射源之間的距離、改變過濾片以及改變衰減片等,按測(cè)試參數(shù)要求產(chǎn)生輻射劑量和輻射質(zhì)。
[0029]( i )延時(shí)等待輻射輸出穩(wěn)定,且超過儀器響應(yīng)時(shí)間。
[0030]( j )接收被檢儀器數(shù)據(jù)。
[0031](k)如果參數(shù)測(cè)試未完畢,則重復(fù)步驟(g)?(j),否則生成測(cè)試記錄及證書電子版,并保存相關(guān)數(shù)據(jù)。
[0032](I)該裝置登錄
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