一種amoled面板測試電路的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及電子電路設(shè)計技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種AMOLED面板測試電路。
【背景技術(shù)】
[0002]AMOLED(Active-matrix organic light emitting d1de，有源矩陣有機(jī)發(fā)光二極體，簡稱AM0LED)是目前普遍采用的顯示發(fā)光設(shè)備，隨著技術(shù)的發(fā)展，AMOLED技術(shù)逐步走向成熟，同時衍生出很多不同的版本，比如AMOLED、Super AMOLED, Super AMOLED Plus以及Super AMOLED Advanced 等等。
[0003]隨著AMOLED技術(shù)的成熟，AMOLED的成本逐步增加，測試，生產(chǎn)過程中的高效率測試變得尤為重要，及時測試問題及時解決，不僅提高產(chǎn)品的良率，同時節(jié)省了時間，提高了效率。
[0004]而目前的AMOLED中，面板顯示測試電路和陣列基板測試電路是分開的:陣列基板測試電路是測量在鍍OLED前基板的性能，面板顯示測試電路是測量切割成小顯示測試電路后的性能。陣列基板測試電路是測量每一根數(shù)據(jù)線(data)的情況，而面板顯示測試電路是測量相同信號(如單色的紅或者綠)，采用shorting bar (圖形產(chǎn)生器)的方式。而隨著PPI (Pixels Per Inch，像素數(shù))越來越高，而且采用rendering的方式，一根數(shù)據(jù)線上有不同的顏色(如紅色和綠色)，那么數(shù)據(jù)線(data line)的信號就是AC (AlternatingCurrent，連續(xù)交流信號)信號，這樣面板顯示測試電路的負(fù)載就不能太大，否則面板顯示測試電路就驅(qū)動不了，而目前面板顯示測試電路要繞到顯示面板的尾端，所以走線阻抗很大，面對該問題，如何高效準(zhǔn)確測試AMOLED顯示面板成為本領(lǐng)域人員面臨的一大難題。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]針對上述存在的問題，本發(fā)明提供了一種AMOLED面板測試電路，通過控制單元與數(shù)據(jù)線測試單元連接完成數(shù)據(jù)線測試單元的測試，并通過數(shù)據(jù)線測試單元與顯示面板測試單元連接實現(xiàn)顯示面板測試單元的測試，該技術(shù)方案具體為:
[0006]一種AMOLED面板測試電路，其中，所述AMOLED測試電路包括:
[0007]數(shù)據(jù)線輸出單元，包括若干數(shù)據(jù)線輸出模塊，每個所述數(shù)據(jù)線輸出模塊均包括若干組數(shù)據(jù)線對，每對所述數(shù)據(jù)線的一端耦合在一起，并且所述數(shù)據(jù)線輸出模塊中每個所述數(shù)據(jù)線的未與數(shù)據(jù)線輸出模塊中的其他數(shù)據(jù)線耦合在一起的一段用于提供輸出數(shù)據(jù)；
[0008]第一測試單元，包括若干子控制單元，每個所述子控制單元均包括若干條支路，每條所述支路均與所述數(shù)據(jù)線輸出模塊中的一組數(shù)據(jù)線對唯一對應(yīng)，所述支路連接到與該支路對應(yīng)的所述數(shù)據(jù)線對的相互耦合在一起的一端上；
[0009]第二測試單元，包括若干條輸入信號線，每條所述輸入信號線與所述數(shù)據(jù)線輸出模塊中的一組數(shù)據(jù)線對唯一對應(yīng)，所述輸入信號線連接到與該輸入信號線對應(yīng)的數(shù)據(jù)線對的相互親合在一起的一端上。
[0010]上述的AMOLED面板測試電路，其中，所述數(shù)據(jù)線輸出單元中的相鄰兩個數(shù)據(jù)線輸出模塊的相互耦合在一起的一端通過一晶體管連接，且，
[0011]該晶體管位于第二測試單元中。
[0012]上述的AMOLED面板測試電路，其中，在第一測試單元測試數(shù)據(jù)線輸出單元的工作階段，第二測試單元的輸入信號線的輸出無效。
[0013]上述的AMOLED面板測試電路，其中，每個數(shù)據(jù)線輸出模塊中僅開啟一個晶體管以使每個所述數(shù)據(jù)線輸出模塊中只提供一個輸出數(shù)據(jù)。
[0014]上述的AMOLED面板測試電路，其中，每個數(shù)據(jù)線輸出模塊中的與數(shù)據(jù)線連接的晶體管均開啟，以使每個所述數(shù)據(jù)線輸出模塊中的數(shù)據(jù)線均輸出數(shù)據(jù)時。
[0015]上述的AMOLED面板測試電路，其中，所述子控制單元關(guān)閉，以使所述第二測試單元測試所述數(shù)據(jù)線輸出單元。
[0016]上述的AMOLED面板測試電路，其中，子控制單元關(guān)閉，打開所述晶體管以使所述第二測試單元測試所述數(shù)據(jù)線輸出單元。
[0017]上述的AMOLED面板測試電路，其中，打開所述數(shù)據(jù)線輸出模塊中的與一所述數(shù)據(jù)線對連接的一晶體管，以使每個所述數(shù)據(jù)線輸出模塊中只有一數(shù)據(jù)線對提供輸出數(shù)據(jù)。
[0018]上述的AMOLED面板測試電路，其中，所述第二測試單元中晶體管均打開，以使所述數(shù)據(jù)線輸出模塊中的所述數(shù)據(jù)線均提供輸出數(shù)據(jù)。
[0019]一種AMOLED面板測試電路，其中，所述AMOLED測試電路包括:
[0020]數(shù)據(jù)線輸出單元，包括若干數(shù)據(jù)線輸出模塊，每個所述數(shù)據(jù)線輸出模塊均包括若干組數(shù)據(jù)線對，每對所述數(shù)據(jù)線的一端均耦合在一起，未與其他數(shù)據(jù)線耦合在一起的一端用以提供輸出數(shù)據(jù)；
[0021]第一測試單元，包括若干子控制單元，每個所述子控制單元均包括若干條支路，每條所述支路與所述數(shù)據(jù)線輸出模塊中的一數(shù)據(jù)線對唯一對應(yīng)，每條所述支路與之對應(yīng)的數(shù)據(jù)線對的所述親合在一起的一端連接；
[0022]第二測試單元，包括若干輸入信號線，每條數(shù)據(jù)線與數(shù)據(jù)線輸出模塊中的一數(shù)據(jù)線對唯一對應(yīng)，每條所述數(shù)據(jù)線均通過一晶體管連接到與其唯一對應(yīng)的數(shù)據(jù)線對的相互耦合在一起的一端。
[0023]上述的AMOLED面板測試電路，其中，所述數(shù)據(jù)線輸出單元一數(shù)據(jù)線輸出模塊的一數(shù)據(jù)線對相互耦合在一起的一端與所述數(shù)據(jù)線輸出模塊相鄰的數(shù)據(jù)線輸出模塊中的一數(shù)據(jù)線對相互耦合在一起的一端通過一晶體管與一電平線連接，其中，所述電平線控制所述晶體管的打開與關(guān)閉的狀態(tài)。
[0024]上述的AMOLED面板測試電路，其中，第二測試單元的輸出無效，以使所述第一測試單元測試所述數(shù)據(jù)線輸出單元。
[0025]上述的AMOLED面板測試電路，其中，所述數(shù)據(jù)線輸出模塊中打開一個晶體管，以使每個所述數(shù)據(jù)線輸出模塊提供一個輸出數(shù)據(jù)。
[0026]上述的AMOLED面板測試電路，其中，所述數(shù)據(jù)線輸出模塊中的與素數(shù)數(shù)據(jù)線連接的晶體管均打開，以使所述數(shù)據(jù)線輸出模塊中數(shù)據(jù)線均輸出數(shù)據(jù)。
[0027]上述的AMOLED面板測試電路，其中，所述子控制單元關(guān)閉，以使所述第二測試單元測試所述數(shù)據(jù)線輸出單元。
[0028]上述的AMOLED面板測試電路，其中，所述子控制單元關(guān)閉，所述信號輸入線均輸入信號，以使所述第二測試單元測試所述數(shù)據(jù)線輸出單元的工作階段。
[0029]上述的AMOLED面板測試電路，其中，通過控制與所述數(shù)據(jù)線對連接的電平線打開與所述電平線連接的晶體管，以使每個所述數(shù)據(jù)線輸出模塊中只有一數(shù)據(jù)線對提供輸出數(shù)據(jù)。
[0030]上述的AMOLED面板測試電路，其中，控制所述第二測試單元中的電平線使素數(shù)晶體管均打開，以使所述數(shù)據(jù)線輸出單元中的每個數(shù)據(jù)線輸出模塊中的數(shù)據(jù)線均提供輸出數(shù)據(jù)。
[0031]本發(fā)明具有的優(yōu)點及帶來的有益效果:
[0032]本發(fā)明通過將第二測試單元與第一測試單元以及數(shù)據(jù)線輸出單元集成在一起，并通過晶體管開關(guān)的打開和關(guān)閉分別實現(xiàn)面板第一測試單元和第二測試單元的測試，從而避免了由于當(dāng)前技術(shù)中測試電路不集成，其中一個測試電路要繞道面板的尾端而導(dǎo)致的走線阻抗很大的問題，進(jìn)而增加了檢出率，節(jié)省了成本。
【附圖說明】
[0033]通過閱讀參照以下附圖對非限制性實施例所作的詳細(xì)描述，本發(fā)明及其特征、夕卜形和優(yōu)點將會變得更加明顯。在全部附圖中相同的標(biāo)記指示相同的部分。并未可以按照比例繪制附圖，重點在于示出本發(fā)明的主旨。
[0034]圖1是本發(fā)明AMOLED面板測試電路結(jié)構(gòu)圖；
[0035]圖2是本發(fā)明AMOLED面板測試電路的另一種結(jié)構(gòu)圖。
【具體實施方式】
[0036]下面根據(jù)具體的實施例及附圖對本發(fā)明作進(jìn)一步的說明，但是不作為本發(fā)明的限定。
[0037]參見圖1所示結(jié)構(gòu)，本發(fā)明公開一種AMOLED面板測試電路，其中，AMOLED面板測試電路包括第一測試單元1、數(shù)據(jù)線輸出單元3和第二測試單元2，其中:
[0038]數(shù)據(jù)線輸出單元3具有一個或多個數(shù)據(jù)線輸出模塊(例如但不僅限于，圖1中列舉出的數(shù)據(jù)線輸出模塊31和數(shù)據(jù)線輸出模塊32)，每個數(shù)據(jù)線輸出模塊均包括一組或多組數(shù)據(jù)線對，每對數(shù)據(jù)線的一端耦合在一起，并且數(shù)據(jù)線輸出模塊中每個數(shù)據(jù)線中未與數(shù)據(jù)線輸出模塊中其他數(shù)據(jù)線相連的另一端用于提供輸出數(shù)據(jù)。
[0039]第一測試單元I包括一個或多個子控制單元，每個子控制單元都包括一條或者多條支路，每個支路與一數(shù)據(jù)線對對應(yīng)，所述支路連接到與該支路對應(yīng)的數(shù)據(jù)線對的相互耦合在一起的一端上。第二測試單元2包括一個或多輸入信號線，所述輸入信號線與所述數(shù)據(jù)線輸出模塊中的數(shù)據(jù)線對對應(yīng)，所述輸入信號線連接到與該輸入信號線對應(yīng)的數(shù)據(jù)線對的相互親合在一起的一端上。。
[0040]作為本發(fā)明一個優(yōu)選實施例，AMOLED面板測試電路的第一測試單元I包括四個子控制單元，每個子控制單元均包括一個晶體管以控制該子控制單元是否打開，每個子控制單元均包括若干個支路，每個支路均包括一個晶體管，通過子控制單元控制可以使數(shù)據(jù)線輸出單元中的所有數(shù)據(jù)線均輸出