專利名稱：麥克風(fēng)密封性測(cè)試方法、測(cè)試工裝以及測(cè)試系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及麥克風(fēng)測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，更為具體地，涉及一種麥克風(fēng)密封性的測(cè)試方法及其測(cè)試工裝、測(cè)試系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
隨著手機(jī)、筆記本、助聽(tīng)器等電子產(chǎn)品市場(chǎng)的不斷增大，在對(duì)微型麥克風(fēng)特別是微型電容式麥克風(fēng)的需求量不斷增大的同時(shí)，對(duì)微型麥克風(fēng)的性能也提出了更高的要求。公知的，常規(guī)結(jié)構(gòu)的微型電容式麥克風(fēng)一般由一個(gè)外殼和一個(gè)線路板共同圍成外部框架，在外殼和線路板圍成麥克風(fēng)內(nèi)部空腔內(nèi)設(shè)置有聲-電轉(zhuǎn)換部件(如平行板電容器)，在線路板上設(shè)置聲音信號(hào)處理元件，并且在麥克風(fēng)外殼的表面開(kāi)設(shè)有供聲音信號(hào)進(jìn)入麥克風(fēng)內(nèi)部空腔的進(jìn)聲孔。這種傳統(tǒng)結(jié)構(gòu)的麥克風(fēng)，在實(shí)際生產(chǎn)過(guò)程中一般都會(huì)存在密封問(wèn)題，S卩外部聲源產(chǎn)生的聲音通過(guò)麥克風(fēng)進(jìn)聲孔外的其它部位(如部件結(jié)合處之間的縫隙等)傳遞到麥克風(fēng)單元的內(nèi)部，產(chǎn)生并不是實(shí)際需要的電信號(hào)，造成麥克風(fēng)靈敏度的降低。實(shí)際生產(chǎn)過(guò)程中， 對(duì)麥克風(fēng)的密封性的測(cè)試一般是通過(guò)測(cè)試麥克風(fēng)的頻率-響應(yīng)曲線來(lái)進(jìn)行，根據(jù)麥克風(fēng)在低頻時(shí)的頻響的差異來(lái)判定被測(cè)試麥克風(fēng)的密封性，差異越大說(shuō)明產(chǎn)品的密封性越強(qiáng)。但由于現(xiàn)有的測(cè)試方案中，一般采用頻響曲線測(cè)試單元對(duì)麥克風(fēng)單元進(jìn)行測(cè)試得到其頻響曲線，再通過(guò)觀察在低頻率時(shí)的曲線所對(duì)應(yīng)的響應(yīng)大小來(lái)判定麥克風(fēng)單元的漏氣性，現(xiàn)有技術(shù)實(shí)際中主要參照測(cè)試人員的經(jīng)驗(yàn)來(lái)分析測(cè)試到的頻響曲線來(lái)判定麥克風(fēng)單元的漏氣性，測(cè)試結(jié)果不精確，并且難以對(duì)不同的麥克風(fēng)單元的密封性進(jìn)行準(zhǔn)確的比較和量化，難以作出準(zhǔn)確的判斷?，F(xiàn)有技術(shù)中，對(duì)由多個(gè)麥克風(fēng)陣列形成的陣列，同樣會(huì)存在這種缺陷。所以，有必要對(duì)上述結(jié)構(gòu)的麥克風(fēng)密封性測(cè)試方案進(jìn)行進(jìn)一步的改進(jìn)，以克服上述麥克風(fēng)密封性測(cè)試的現(xiàn)有技術(shù)中存在的缺陷。

發(fā)明內(nèi)容
鑒于上述問(wèn)題，本發(fā)明的目的是提供一種麥克風(fēng)密封性的測(cè)試方法及其測(cè)試工裝、測(cè)試系統(tǒng)。本發(fā)明所要解決的技術(shù)問(wèn)題是提供一種可以方便快捷的測(cè)試麥克風(fēng)密封性的測(cè)試方案，其中包括麥克風(fēng)密封性的測(cè)試方法及其測(cè)試工裝、測(cè)試系統(tǒng)，可以快捷的計(jì)算出的不同麥克風(fēng)的密封性差異，工藝更為簡(jiǎn)便，判斷更為準(zhǔn)確。根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)方面，提供了一種麥克風(fēng)密封性測(cè)試方法，包括固定待測(cè)試麥克風(fēng)，使所述待測(cè)試麥克風(fēng)僅通過(guò)進(jìn)聲孔接收第一測(cè)試聲源發(fā)出的聲音信號(hào)，并且使所述待測(cè)試麥克風(fēng)僅通過(guò)非進(jìn)聲孔結(jié)構(gòu)部分接收第二測(cè)試聲源發(fā)出的聲音信號(hào)；測(cè)試開(kāi)通第一測(cè)試聲源、關(guān)閉第二測(cè)試聲源條件下的第一頻響曲線；
測(cè)試同時(shí)開(kāi)通第一測(cè)試聲源和第二測(cè)試聲源條件下的第二頻響曲線；通過(guò)所述第一頻響曲線和所述第二頻響曲線的差值確定所述待測(cè)試麥克風(fēng)的密封性。根據(jù)本發(fā)明的另一方面，提供了一種麥克風(fēng)密封性測(cè)試工裝，包括用于固定待測(cè)試麥克風(fēng)的固定件、第一測(cè)試聲源和第二測(cè)試聲源，其中，所述固定件包括第一進(jìn)聲孔和第二進(jìn)聲孔，所述第一進(jìn)聲孔對(duì)應(yīng)所述待測(cè)試麥克風(fēng)的進(jìn)聲孔設(shè)置，并且待測(cè)試麥克風(fēng)的進(jìn)聲孔通過(guò)所述第一進(jìn)聲孔與所述第一測(cè)試聲源之間密閉相通；所述第二進(jìn)聲孔與所述第二測(cè)試聲源密閉相通，并將所述第二測(cè)試聲源發(fā)出的聲音信號(hào)提供給所述待測(cè)試麥克風(fēng)的非進(jìn)聲孔結(jié)構(gòu)部分。根據(jù)本發(fā)明的另一方面，提供了一種麥克風(fēng)密封性測(cè)試系統(tǒng)，包括頻響曲線測(cè)試單元和上述測(cè)試工裝。再一方面，本發(fā)明還提供一種包括麥克風(fēng)輸出電壓測(cè)試單元和上述測(cè)試工裝的麥克風(fēng)密封性測(cè)試系統(tǒng)，其中的麥克風(fēng)輸出電壓測(cè)試單元用于測(cè)量麥克風(fēng)受到激勵(lì)后的輸出電壓變化。相比較于現(xiàn)有技術(shù)，利用上述根據(jù)本發(fā)明的麥克風(fēng)密封性測(cè)試方法及裝置，測(cè)試結(jié)果更為準(zhǔn)確和量化，能對(duì)麥克風(fēng)單元的漏氣性進(jìn)行準(zhǔn)確的判定，并且根據(jù)測(cè)試后量化的數(shù)據(jù)能夠更加快捷地計(jì)算出不同麥克風(fēng)的密封性差異，并且工藝更為簡(jiǎn)便，判斷結(jié)果更為準(zhǔn)確。為了實(shí)現(xiàn)上述以及相關(guān)目的，本發(fā)明的一個(gè)或多個(gè)方面包括后面將詳細(xì)說(shuō)明并在權(quán)利要求中特別指出的特征。下面的說(shuō)明以及附圖詳細(xì)說(shuō)明了本發(fā)明的某些示例性方面。 然而，這些方面指示的僅僅是可使用本發(fā)明的原理的各種方式中的一些方式。此外，本發(fā)明旨在包括所有這些方面以及它們的等同物。


通過(guò)參考以下結(jié)合附圖的說(shuō)明及權(quán)利要求書(shū)的內(nèi)容，并且隨著對(duì)本發(fā)明的更全面理解，本發(fā)明的其它目的及結(jié)果將更加明白及易于理解。在附圖中圖1是本發(fā)明提供的麥克風(fēng)密封性測(cè)試方法流程示意圖；圖2是本發(fā)明實(shí)施例一涉及的麥克風(fēng)單元密封性測(cè)試裝置的剖視圖；圖3是圖1的局部A的放大圖；圖4是本發(fā)明實(shí)施例一涉及的麥克風(fēng)單元密封性測(cè)試的頻響曲線圖；圖5是本發(fā)明實(shí)施例二涉及的麥克風(fēng)陣列密封性測(cè)試裝置的剖視圖；圖6是本發(fā)明實(shí)施例二涉及的麥克風(fēng)陣列密封性測(cè)試裝置的原理圖。圖中11單點(diǎn)信號(hào)聲源；12聲源；21單點(diǎn)信號(hào)通道；22聲源信號(hào)通道；3、3’支架； 31,31'基座；32,32'升降裝置；4,4'固定件；41,41'調(diào)節(jié)端；42固定端；43膠套；44,44' 第一進(jìn)聲孔；45、45’第二進(jìn)聲孔；5麥克風(fēng)單元；Sl測(cè)試設(shè)備；S2聲卡；S3測(cè)量信號(hào)放大器； S4功率放大器；S5密封性檢測(cè)設(shè)備。在所有附圖中相同的標(biāo)號(hào)指示相似或相應(yīng)的特征或功能。
具體實(shí)施方式
以下將結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明的具體實(shí)施例進(jìn)行詳細(xì)描述。在下面的描述中，只通過(guò)說(shuō)明的方式對(duì)本發(fā)明的某些示范性實(shí)施例進(jìn)行描述，毋庸置疑，本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員可以認(rèn)識(shí)到，在不偏離本發(fā)明的精神和范圍的情況下，可以用各種不同的方式對(duì)所述的實(shí)施方案進(jìn)行修正。因此，附圖和描述在本質(zhì)上只是說(shuō)明性的， 而不是用于限制權(quán)利要求的保護(hù)范圍。此外，在本說(shuō)明書(shū)中，相同的附圖標(biāo)記標(biāo)示相同的部分。此外，本發(fā)明所提供的測(cè)試工裝可以為單個(gè)的麥克風(fēng)或者由多個(gè)麥克風(fēng)組成的麥克風(fēng)單元提供密封性測(cè)試，因此，在下面的描述中，麥克風(fēng)單元、麥克風(fēng)、預(yù)測(cè)試麥克風(fēng)、預(yù)測(cè)試麥克風(fēng)單元均指利用本發(fā)明測(cè)試系統(tǒng)和測(cè)試工裝進(jìn)行測(cè)試的麥克風(fēng)產(chǎn)品。圖1為本發(fā)明提供的麥克風(fēng)密封性測(cè)試方法流程示意圖，如圖1所示，本發(fā)明提供的麥克風(fēng)密封性測(cè)試方法包括SllO 固定待測(cè)試麥克風(fēng)，使待測(cè)試麥克風(fēng)僅通過(guò)進(jìn)聲孔接收第一測(cè)試聲源發(fā)出的聲音信號(hào)，并且使待測(cè)試麥克風(fēng)僅通過(guò)非進(jìn)聲孔結(jié)構(gòu)部分接收第二測(cè)試聲源發(fā)出的聲音信號(hào)；S120 測(cè)試開(kāi)通第一測(cè)試聲源、關(guān)閉第二測(cè)試聲源條件下的第一頻響曲線；S130 測(cè)試同時(shí)開(kāi)通第一測(cè)試聲源和第二測(cè)試聲源條件下的第二頻響曲線；S140 通過(guò)第一頻響曲線和第二頻響曲線的差值確定所述待測(cè)試麥克風(fēng)的密封性。下面以兩個(gè)具體實(shí)施例來(lái)對(duì)圖1所示的方法進(jìn)行詳細(xì)的說(shuō)明。實(shí)施例一圖2是本發(fā)明實(shí)施例一涉及的麥克風(fēng)單元密封性測(cè)試工裝的剖視圖，圖3是圖2 的局部A的放大圖，即麥克風(fēng)單元密封性測(cè)試工裝中固定件4的放大示意圖。如圖2和圖 3所示，麥克風(fēng)單元密封性測(cè)試工裝，包括只在某一頻率發(fā)出單點(diǎn)聲音信號(hào)的單點(diǎn)信號(hào)聲源 11，聲源12，支架3和固定件4，支架3對(duì)應(yīng)安裝和支撐固定件4，麥克風(fēng)單元5安裝在固定件4中，單點(diǎn)信號(hào)聲源11和聲源12分別通過(guò)單點(diǎn)信號(hào)通道21和聲源信號(hào)通道22將聲音信號(hào)傳遞到麥克風(fēng)單元5中，優(yōu)選的單點(diǎn)信號(hào)通道21和聲源信號(hào)通道22為導(dǎo)管。在本實(shí)施例一的一個(gè)優(yōu)選方案中，單點(diǎn)信號(hào)聲源11優(yōu)選為低頻單點(diǎn)信號(hào)聲源，相應(yīng)的單點(diǎn)信號(hào)通道21為低頻單點(diǎn)信號(hào)通道。支架3包括基座31、升降裝置32、氣缸33、固定裝置34和導(dǎo)軌35，氣缸33安裝在基座31上可以使升降裝32置沿導(dǎo)軌35在豎直方向上移動(dòng)，固定裝置對(duì)應(yīng)固定導(dǎo)軌35 ；固定件4包括一調(diào)節(jié)端41和固定端42，其中調(diào)節(jié)端41上對(duì)應(yīng)設(shè)有連通低頻單點(diǎn)信號(hào)通道21 的第二進(jìn)聲孔45，固定端42上設(shè)有連通低頻聲源信號(hào)通道22的第一進(jìn)聲孔44。調(diào)節(jié)端 41和固定端42對(duì)應(yīng)形成容納待測(cè)試麥克風(fēng)單元的容納腔，在第一進(jìn)聲孔44和麥克風(fēng)單元 (主要是麥克風(fēng)單元的進(jìn)聲孔)之間還設(shè)置有膠套43，用于使得第一進(jìn)聲孔44和麥克風(fēng)聲孔之間密閉配合。升降裝置32和調(diào)節(jié)端41配合可以給予麥克風(fēng)單元5適當(dāng)壓力，使麥克風(fēng)單元5與測(cè)試裝置之間更加緊密耦合。通過(guò)本發(fā)明的麥克風(fēng)單元密封性測(cè)試工裝，待測(cè)試的麥克風(fēng)僅通過(guò)其進(jìn)聲孔接收聲源12通過(guò)第一進(jìn)聲孔44傳輸過(guò)來(lái)的聲音測(cè)試信號(hào)，僅通過(guò)其非聲孔結(jié)構(gòu)部分接收低頻單點(diǎn)信號(hào)聲源11通過(guò)第二進(jìn)聲孔45傳輸過(guò)來(lái)的聲音測(cè)試信號(hào)。這樣，如果待測(cè)試的麥克風(fēng)密封性好，則低頻單點(diǎn)信號(hào)聲源11經(jīng)第二進(jìn)聲孔通過(guò)被測(cè)試麥克風(fēng)的非聲孔結(jié)構(gòu)部分泄露進(jìn)麥克風(fēng)內(nèi)部的可能性就小，通過(guò)比較低頻單點(diǎn)信號(hào)聲源11開(kāi)通前后進(jìn)入待測(cè)試麥克風(fēng)內(nèi)部的聲音信號(hào)的多少就可以確定待測(cè)試麥克風(fēng)的密封性能，差別越大，說(shuō)明通過(guò)其非聲孔結(jié)構(gòu)部分進(jìn)入該待測(cè)試麥克風(fēng)內(nèi)部的聲音信號(hào)越多，該待測(cè)試麥克風(fēng)的密封性越差； 反之，低頻單點(diǎn)信號(hào)聲源11開(kāi)通前后進(jìn)入待測(cè)試麥克風(fēng)內(nèi)部的聲音信號(hào)的多少差別越小， 說(shuō)明通過(guò)其非聲孔結(jié)構(gòu)部分進(jìn)入該待測(cè)試麥克風(fēng)內(nèi)部的聲音信號(hào)越少，該待測(cè)試麥克風(fēng)的密封性越好。在本實(shí)施例中測(cè)試麥克風(fēng)單元5的密封性的具體過(guò)程如下a.將麥克風(fēng)單元5的聲孔和聲源12之間密封相連通；b.首先開(kāi)通聲源12，關(guān)閉低頻單點(diǎn)信號(hào)聲源11，測(cè)試出一條頻響曲線；c.然后同時(shí)開(kāi)通聲源12和低頻單點(diǎn)信號(hào)聲源11，測(cè)試出另一條頻響曲線；d.計(jì)算出單點(diǎn)信號(hào)處兩頻響曲線的差值。在實(shí)際的生產(chǎn)測(cè)試中，聲源12可以采用人工嘴等方式通過(guò)聲源信號(hào)通道22給待測(cè)試麥克風(fēng)單元5的聲孔提供一個(gè)聲音掃頻信號(hào)，記作r(t) = Rsin (ω t)其中，t表示時(shí)間，R表示振幅，ω表示角速度，r(t)表示信號(hào)。此時(shí)通過(guò)聲音核對(duì)儀器(Sound Check)等業(yè)內(nèi)公知的儀器測(cè)得麥克風(fēng)產(chǎn)品傳出信號(hào)為 C1 (t) = A1 ( ω ) sin [ ω t+ Φ ( ω )]；其中，C1 (t)表示傳出信號(hào)，A1(Co)表示隨頻率變化的振幅，A1(Co)可以通過(guò)公知測(cè)試軟件計(jì)算得出，通過(guò)業(yè)內(nèi)公知的計(jì)算公式計(jì)算出在不同頻率下麥克風(fēng)單元的靈敏度級(jí)；測(cè)試完畢后保持麥克風(fēng)產(chǎn)品在固定件4中的狀態(tài)不變，再次通過(guò)測(cè)試儀器給麥克風(fēng)聲孔提供聲音掃頻信號(hào)進(jìn)行測(cè)試r(t) = Rsin( t),同時(shí)通過(guò)測(cè)試儀器驅(qū)動(dòng)單點(diǎn)信號(hào)聲源11從工裝上聲孔提供一正弦波聲音信號(hào)r，(t) = R' sin (ω Ot) ； (ω 0 e ω，R，> > R)其中，r’ (t)表示信號(hào)，R’表示振幅；此時(shí)測(cè)得麥克風(fēng)產(chǎn)品傳出信號(hào)為c2 (t) = A2 ( ω ) sin [ ω t+ Φ ( ω )]其中，Α2(ω)表示振幅，ω表示角速度，t表示時(shí)間，Φ表示相位，可以通過(guò)測(cè)試軟件計(jì)算得出，通過(guò)業(yè)內(nèi)公知的計(jì)算公式計(jì)算出在該頻率下麥克風(fēng)單元的靈敏度級(jí)，即得到該頻率下的麥克風(fēng)單元的聲壓級(jí)2。最后計(jì)算兩個(gè)聲音信號(hào)的振幅差值Α(ω)A(CO)=A1(CO)-A2(CO)SA(co) =0，則證明該被測(cè)試的麥克風(fēng)產(chǎn)品密封性良好；若Α(ω)興0，則證明該被測(cè)試的麥克風(fēng)產(chǎn)品密封性不良，需要改進(jìn)；本實(shí)施過(guò)程中由于振幅與聲壓級(jí)之間呈正比關(guān)系，因此可以直接通過(guò)比較振幅之間的關(guān)系就可以進(jìn)行判定和分析。圖4是本發(fā)明實(shí)施例一涉及的麥克風(fēng)單元密封性測(cè)試的頻響曲線圖，如圖4所示， 在單獨(dú)開(kāi)通聲源12時(shí)測(cè)得的頻響曲線為曲線1，其中橫軸代表f頻率，縱軸代表聲壓級(jí)，當(dāng)同時(shí)開(kāi)通低頻單點(diǎn)信號(hào)聲源11和聲源12時(shí)，在低頻單點(diǎn)信號(hào)的頻率f0處，可以根據(jù)頻響的變化大小來(lái)判斷其產(chǎn)品的密封性，當(dāng)差值越大時(shí)，說(shuō)明產(chǎn)品的密封性越差，差值越小，說(shuō)明其密封性越好。在本實(shí)施例中，在通過(guò)測(cè)試儀器(包括測(cè)試設(shè)備、聲卡、測(cè)量信號(hào)放大器、功率放大器等)給被測(cè)試麥克風(fēng)的聲孔提供一個(gè)聲音掃頻信號(hào)時(shí)，也可以通過(guò)測(cè)量麥克風(fēng)受到激勵(lì)后的輸出電壓變化來(lái)判定其密封性。如同時(shí)使用測(cè)試儀器記錄麥克風(fēng)產(chǎn)品受到激勵(lì)后輸出的電壓變化，標(biāo)記為V1,然后再一次對(duì)被測(cè)試麥克風(fēng)產(chǎn)品進(jìn)行重復(fù)掃頻，掃頻時(shí)同時(shí)通過(guò)單點(diǎn)信號(hào)聲源11給予麥克風(fēng)產(chǎn)品非進(jìn)聲孔結(jié)構(gòu)部分一個(gè)高聲壓正弦波信號(hào)(正弦波信號(hào)頻率為聲音掃頻信號(hào)中的某一個(gè)頻點(diǎn))此時(shí)記錄麥克風(fēng)輸出的電壓變化標(biāo)記為V2，計(jì)算V =V2-V1，若V = 0，則證明麥克風(fēng)產(chǎn)品結(jié)構(gòu)密封性良好，若V興0，則說(shuō)明麥克風(fēng)產(chǎn)品密封性不良。在本實(shí)施過(guò)程中，優(yōu)選的，低頻單點(diǎn)信號(hào)聲源的頻率為80HZ，聲源優(yōu)選低頻聲源， 其頻率為50-500HZ，采用頻率較低的低頻單點(diǎn)信號(hào)聲源，聲音容易繞過(guò)麥克風(fēng)的本體到達(dá)麥克風(fēng)處的聲孔處，利于麥克風(fēng)單元的密封性檢測(cè)的準(zhǔn)確性。通過(guò)實(shí)施本實(shí)施過(guò)程的技術(shù)方案，可以根據(jù)快捷的計(jì)算出的不同麥克風(fēng)的密封性差異，工藝更為簡(jiǎn)便，判斷更為準(zhǔn)確。實(shí)施例二 下面，參照?qǐng)D5和圖6來(lái)詳細(xì)說(shuō)明本發(fā)明第二實(shí)施例的具體實(shí)施過(guò)程。圖5是本發(fā)明實(shí)施例二涉及的麥克風(fēng)陣列密封性測(cè)試工裝的剖視圖，如圖5所示， 本實(shí)施例二與實(shí)施例一的主要區(qū)別在于，本實(shí)施過(guò)程的預(yù)測(cè)試的麥克風(fēng)是由多個(gè)麥克風(fēng)單元構(gòu)成的麥克風(fēng)陣列固定件4’安裝在支架3’上，支架3’包括氣缸33’、固定部34’和被固定部34’固定的導(dǎo)軌35’ ；多個(gè)第一進(jìn)聲孔44’和多個(gè)第二進(jìn)聲孔45’分別對(duì)多個(gè)預(yù)測(cè)試的麥克風(fēng)陣列上的麥克風(fēng)單元輸送來(lái)自低頻單點(diǎn)信號(hào)聲源和聲源的聲音信號(hào)；調(diào)節(jié)端41’ 可以對(duì)應(yīng)調(diào)節(jié)第二進(jìn)聲孔45’與固定件4’的耦合緊密程度，并通過(guò)升降裝置32’來(lái)進(jìn)行固定。圖6是本發(fā)明實(shí)施例二涉及的麥克風(fēng)陣列密封性測(cè)試系統(tǒng)的原理圖。如圖6所示，本發(fā)明提供的麥克風(fēng)陣列密封性測(cè)試系統(tǒng)的測(cè)試原理如下，聲卡S2產(chǎn)生的信號(hào)r (t)和 r’ (t)通過(guò)功率放大器S4放大后形成測(cè)試聲源，r' (t)在單點(diǎn)信號(hào)聲源11上形成低頻單點(diǎn)聲音信號(hào)，r(t)通過(guò)聲源12轉(zhuǎn)換為聲音掃頻信號(hào)，在經(jīng)過(guò)實(shí)施例一所述的測(cè)試過(guò)程后， 由密封性檢測(cè)設(shè)備S5輸出聲音信號(hào)，通過(guò)測(cè)量信號(hào)放大器S3對(duì)密封性檢測(cè)設(shè)備S5輸出的聲音信號(hào)進(jìn)行編碼分析，并通過(guò)測(cè)試設(shè)備Sl測(cè)試得出需要的數(shù)據(jù)和曲線，并顯示在顯示設(shè)備中，這樣就可以采用上述實(shí)施過(guò)程的計(jì)算方式來(lái)計(jì)算麥克風(fēng)陣列的密封性。在本實(shí)施過(guò)程同樣可以實(shí)現(xiàn)單體麥克風(fēng)測(cè)試的技術(shù)效果，準(zhǔn)確的測(cè)試出麥克風(fēng)陣列的密封性，工藝簡(jiǎn)便，檢測(cè)結(jié)果判定準(zhǔn)確。本實(shí)施過(guò)程中，只要將聲源和麥克風(fēng)聲孔之間密封，就可以依據(jù)本發(fā)明創(chuàng)造的測(cè)試工藝對(duì)麥克風(fēng)的密封性進(jìn)行測(cè)試；低頻聲源僅為優(yōu)選的實(shí)施方案；測(cè)試裝置的開(kāi)孔數(shù)量和位置等也可以進(jìn)行改進(jìn)，皆不影響本發(fā)明創(chuàng)造的實(shí)施，皆可以實(shí)現(xiàn)上述技術(shù)效果。相應(yīng)地，本發(fā)明還提供一種包括頻響曲線測(cè)試單元和上述測(cè)試工裝的麥克風(fēng)密封性測(cè)試系統(tǒng)，其中的頻響曲線測(cè)試單元即為本領(lǐng)域測(cè)試麥克風(fēng)密封性過(guò)程中常用的頻響曲線測(cè)試單元。
另一方面，本發(fā)明還提供一種麥克風(fēng)密封性測(cè)試系統(tǒng)，包括麥克風(fēng)輸出電壓測(cè)試單元和上述測(cè)試工裝，其中的麥克風(fēng)輸出電壓測(cè)試單元用于測(cè)量麥克風(fēng)受到激勵(lì)后的輸出電壓變化，從而判定所測(cè)試的麥克風(fēng)的密封性。另外，本發(fā)明提供的麥克風(fēng)密封性測(cè)試系統(tǒng)還包括聲卡、功率放大器和測(cè)量信號(hào)放大器，聲卡用于生成測(cè)試聲源所需要的聲音信號(hào)，功率放大器用于放大聲卡所生成的聲音信號(hào)，測(cè)量信號(hào)放大器用于放大待測(cè)試麥克風(fēng)根據(jù)輸入的不同聲源信號(hào)所輸出的測(cè)量信號(hào)。如上參照附圖以示例的方式描述根據(jù)本發(fā)明的麥克風(fēng)單元密封性測(cè)試方法、測(cè)試工裝和測(cè)試系統(tǒng)。但是，本領(lǐng)域技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解，對(duì)于上述本發(fā)明所提出的測(cè)試方法、測(cè)試工裝和測(cè)試系統(tǒng)，還可以在不脫離本發(fā)明內(nèi)容的基礎(chǔ)上做出各種改進(jìn)和變形，而這些改進(jìn)和變形，都落在本發(fā)明的保護(hù)范圍內(nèi)，本領(lǐng)域技術(shù)人員應(yīng)該明白，上述的具體描述只是更好的解釋本發(fā)明的目的，本發(fā)明的保護(hù)范圍由權(quán)利要求及其等同物限定。
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權(quán)利要求
1.一種麥克風(fēng)密封性測(cè)試方法，包括固定待測(cè)試麥克風(fēng)，使所述待測(cè)試麥克風(fēng)僅通過(guò)進(jìn)聲孔接收第一測(cè)試聲源發(fā)出的聲音信號(hào)，并且使所述待測(cè)試麥克風(fēng)僅通過(guò)非進(jìn)聲孔結(jié)構(gòu)部分接收第二測(cè)試聲源發(fā)出的聲音信號(hào)；測(cè)試開(kāi)通第一測(cè)試聲源、關(guān)閉第二測(cè)試聲源條件下的第一頻響曲線；測(cè)試同時(shí)開(kāi)通第一測(cè)試聲源和第二測(cè)試聲源條件下的第二頻響曲線；通過(guò)所述第一頻響曲線和所述第二頻響曲線的差值確定所述待測(cè)試麥克風(fēng)的密封性。
2.如權(quán)利要求1所述的麥克風(fēng)密封性測(cè)試方法，其中， 所述待測(cè)試麥克風(fēng)的進(jìn)聲孔與所述第一測(cè)試聲源密閉連接。
3.如權(quán)利要求2所述的麥克風(fēng)密封性測(cè)試方法，其中， 所述第一測(cè)試聲源為低頻聲源。
4.如權(quán)利要求3所述的麥克風(fēng)密封性測(cè)試方法，其中， 所述第一測(cè)試聲源的頻率為50 500Hz。
5.如權(quán)利要求1所述的麥克風(fēng)密封性測(cè)試方法，其中， 所述第二測(cè)試聲源為低頻單點(diǎn)信號(hào)聲源。
6.如權(quán)利要求5所述的麥克風(fēng)密封性測(cè)試方法，其中， 所述第二測(cè)試聲源頻率為80Hz。
7.如權(quán)利要求1所述的麥克風(fēng)密封性測(cè)試方法，其中， 所述待測(cè)試麥克風(fēng)為麥克風(fēng)單元或者麥克風(fēng)陣列。
8.一種麥克風(fēng)密封性測(cè)試工裝，包括用于固定待測(cè)試麥克風(fēng)的固定件、第一測(cè)試聲源和第二測(cè)試聲源，其中，所述固定件包括第一進(jìn)聲孔和第二進(jìn)聲孔，所述第一進(jìn)聲孔對(duì)應(yīng)所述待測(cè)試麥克風(fēng)的進(jìn)聲孔設(shè)置，并且待測(cè)試麥克風(fēng)的進(jìn)聲孔通過(guò)所述第一進(jìn)聲孔與所述第一測(cè)試聲源之間密閉相通；所述第二進(jìn)聲孔與所述第二測(cè)試聲源密閉相通，并將所述第二測(cè)試聲源發(fā)出的聲音信號(hào)提供給所述待測(cè)試麥克風(fēng)的非進(jìn)聲孔結(jié)構(gòu)部分。
9.如權(quán)利要求8所述的麥克風(fēng)密封性測(cè)試工裝，其中，所述固定件還包括設(shè)置在所述待測(cè)試麥克風(fēng)的進(jìn)聲孔和所述第一進(jìn)聲孔之間的膠套。
10.如權(quán)利要求9所述的麥克風(fēng)密封性測(cè)試工裝，其中，所述固定件還包括 調(diào)節(jié)端，用于調(diào)節(jié)所述第二進(jìn)聲孔的高度；固定端，用于密閉固定所述第一進(jìn)聲孔和所述膠套；并且所述調(diào)節(jié)端和所述固定端對(duì)應(yīng)形成容納所述待測(cè)試麥克風(fēng)的容納腔。
11.如權(quán)利要求10所述的麥克風(fēng)密封性測(cè)試工裝，其中，所述測(cè)試工裝還包括用于安裝和支撐所述固定件的支架，所述支架包括基座和升降裝置，所述升降裝置用于通過(guò)調(diào)節(jié)所述固定件的調(diào)節(jié)端來(lái)調(diào)劑所述第二進(jìn)聲孔的高度。
12.一種麥克風(fēng)密封性測(cè)試系統(tǒng)，包括頻響曲線測(cè)試單元和測(cè)試工裝，其中，所述測(cè)試工裝為權(quán)利要求8 11所述的麥克風(fēng)密封性測(cè)試工裝。
13.如權(quán)利要求12所述的麥克風(fēng)密封性測(cè)試系統(tǒng)，還包括聲卡，用于生成所述第一測(cè)試聲源和所述第一測(cè)試聲源所需要的聲音信號(hào)； 功率放大器，用于放大所述聲卡生成的聲音信號(hào)。
14.一種麥克風(fēng)密封性測(cè)試系統(tǒng)，包括麥克風(fēng)輸出電壓測(cè)試單元和測(cè)試工裝，其中，所述麥克風(fēng)輸出電壓測(cè)試單元用于測(cè)量麥克風(fēng)受到激勵(lì)后的輸出電壓變化，所述測(cè)試工裝為權(quán)利要求8 11所述的麥克風(fēng)密封性測(cè)試工裝。
15.如權(quán)利要求14所述的麥克風(fēng)密封性測(cè)試系統(tǒng)，還包括聲卡，用于生成所述第一測(cè)試聲源和所述第一測(cè)試聲源所需要的聲音信號(hào)； 功率放大器，用于放大所述聲卡生成的聲音信號(hào)。
全文摘要
本發(fā)明提供了一麥克風(fēng)密封性測(cè)試方法，包括固定待測(cè)試麥克風(fēng)，使所述待測(cè)試麥克風(fēng)僅通過(guò)進(jìn)聲孔接收第一測(cè)試聲源發(fā)出的聲音信號(hào)，并且使所述待測(cè)試麥克風(fēng)僅通過(guò)非進(jìn)聲孔結(jié)構(gòu)部分接收第二測(cè)試聲源發(fā)出的聲音信號(hào)；測(cè)試開(kāi)通第一測(cè)試聲源、關(guān)閉第二測(cè)試聲源條件下的第一頻響曲線；測(cè)試同時(shí)開(kāi)通第一測(cè)試聲源和第二測(cè)試聲源條件下的第二頻響曲線；通過(guò)所述第一頻響曲線和所述第二頻響曲線的差值確定所述待測(cè)試麥克風(fēng)的密封性。相比較于現(xiàn)有技術(shù)，本發(fā)明能夠更加快捷地計(jì)算出不同麥克風(fēng)的密封性差異，并且工藝更為簡(jiǎn)便，判斷結(jié)果更為準(zhǔn)確。
文檔編號(hào)H04R29/00GK102572671SQ20101059632
公開(kāi)日2012年7月11日 申請(qǐng)日期2010年12月20日 優(yōu)先權(quán)日2010年12月20日
發(fā)明者劉德華, 吳海雯 申請(qǐng)人:歌爾聲學(xué)股份有限公司