技術總結
本發(fā)明提供一種檢測出有機TFT陣列中的斷線缺陷和/或能評價各有機TFT元件的輸出特性、響應速度的偏差的檢測裝置及其方法。本發(fā)明的裝置及其方法是對作為有機TFT元件通道層的有機半導體薄膜中的載流子的蓄積的有無進行光學測定的裝置及其方法，其特征在于，使各有機TFT中的源極和漏極短路，并在源極/漏極與柵極之間以規(guī)定周期使電壓開/關，并且在照射單色光的同時，與所述規(guī)定周期同步進行電壓施加前后的攝像，獲得該差分圖像。

技術研發(fā)人員：堤潤也;松岡悟志;山田壽一;長谷川達生
受保護的技術使用者：國立研究開發(fā)法人產(chǎn)業(yè)技術綜合研究所
文檔號碼：201580043636
技術研發(fā)日：2015.08.11
技術公布日：2017.05.10