Aoi影像掃描檢測處理方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種印刷線路板AOI檢測技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種圖像掃描處理方法。
【背景技術(shù)】
[0002]AOI (Automatic Optic Inspect1n)的全稱是自動光學(xué)檢測，是基于光學(xué)原理來對焊接生產(chǎn)中遇到的常見缺陷進(jìn)行檢測的設(shè)備。AOI是新興起的一種新型測試技術(shù)，但發(fā)展迅速，很多廠家都推出了 AOI測試設(shè)備。當(dāng)自動檢測時，機器通過攝像頭自動掃描PCB，采集圖像，測試的焊點與數(shù)據(jù)庫中的合格的參數(shù)進(jìn)行比較，經(jīng)過圖像處理，檢查出PCB上缺陷，并通過顯示器或自動標(biāo)志把缺陷顯示/標(biāo)示出來，供維修人員修整。
[0003]目前，AOI設(shè)備大都只有一個定位的CCD攝像頭，拍攝到的圖形會由于元件具有高度，從而使圖像具有部分元件陰影，甚至相鄰元件的陰影粘連，最終影響灰階圖的缺陷比對。
[0004]有鑒于上述的缺陷，本設(shè)計人，積極加以研究創(chuàng)新，以期創(chuàng)設(shè)一種AOI影像掃描檢測處理方法以提高缺陷檢驗?zāi)芰?，使其更具有產(chǎn)業(yè)上的利用價值。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明的目的是提供一種AOI影像掃描檢測處理方法以提尚缺陷檢驗?zāi)芰Α?br>[0006]本發(fā)明的AOI影像掃描檢測處理方法，其特征在于:按照下述步驟進(jìn)行:
[0007]—、AOI設(shè)備具有CXD攝像頭，通過CXD攝像頭對被檢測線路板進(jìn)行面掃描，得到線路板的全景圖像；
[0008]二、對全景圖像進(jìn)行垂直投影以消除元件左右陰影和粘連；
[0009]三、對全景圖像進(jìn)行水平投影以消除元件前后陰影和粘連；
[0010]四、采用灰階臨界值將全景圖像轉(zhuǎn)化為黑白圖；
[0011]五、對黑白圖進(jìn)行二值化處理。
[0012]進(jìn)一步的，所述垂直投影以消除元件左右陰影和粘連的步驟為:對全景圖像進(jìn)行區(qū)域增長，獲得若干個目標(biāo)聯(lián)通域，對每個聯(lián)通域進(jìn)行檢測區(qū)域定位，判別其所在的區(qū)域位置，然后在每個聯(lián)通域內(nèi)的橫坐標(biāo)點上對全景圖像邊緣圖像和全景圖像進(jìn)行垂直掃描，分別統(tǒng)計出每個橫坐標(biāo)點上對應(yīng)的全景圖像邊緣圖像的像素點數(shù)ml和全景圖像的像素點數(shù)nl，當(dāng)ml和nl分別小于等于某一預(yù)設(shè)值時，則將該聯(lián)通區(qū)域內(nèi)的此橫坐標(biāo)點垂直方向上的全景圖像所對應(yīng)的每個像素點置為O。
[0013]進(jìn)一步的，所述水平投影以消除元件前后陰影和粘連的步驟為:將步驟二得到的全景圖像進(jìn)行進(jìn)行膨脹和腐蝕，此時對全景圖像再次進(jìn)行區(qū)域增長，獲得若干個目標(biāo)聯(lián)通域，對每個聯(lián)通域進(jìn)行檢測區(qū)域定位，判別其所在的區(qū)域位置，然后在每個聯(lián)通域內(nèi)的縱坐標(biāo)點上對全景圖像邊緣圖像和全景圖像進(jìn)行水平掃描，分別統(tǒng)計出每個縱坐標(biāo)點上對應(yīng)的全景圖像邊緣圖像的像素點數(shù)m2和全景圖像的像素點數(shù)n2，當(dāng)m2和n2分別小于某一預(yù)設(shè)值時，則將該聯(lián)通區(qū)域內(nèi)的此縱坐標(biāo)點垂直方向上的全景圖像所對應(yīng)的每個像素點置為O。
[0014]進(jìn)一步的，所述重灰階臨界值根據(jù)參數(shù)設(shè)定。
[0015]進(jìn)一步的，所述CXD攝像頭可以為黑白CXD攝像頭。
[0016]進(jìn)一步的，所述CXD攝像頭可以為彩色CXD攝像頭。
[0017]借由上述方案，本發(fā)明至少具有以下優(yōu)點:本發(fā)明在將圖像轉(zhuǎn)化為灰階圖像之前先對其進(jìn)行去陰影及粘連處理，使灰階轉(zhuǎn)化后的黑白圖像消除了陰影造成的干擾及錯誤，提尚了缺陷檢測能力。
[0018]上述說明僅是本發(fā)明技術(shù)方案的概述，為了能夠更清楚了解本發(fā)明的技術(shù)手段，并可依照說明書的內(nèi)容予以實施，以下以本發(fā)明的較佳實施例進(jìn)行詳細(xì)說明。
【具體實施方式】
[0019]下面結(jié)合實施例，對本發(fā)明的【具體實施方式】作進(jìn)一步詳細(xì)描述。以下實施例用于說明本發(fā)明，但不用來限制本發(fā)明的范圍。
[0020]一種AOI影像掃描檢測處理方法，按照下述步驟進(jìn)行:
[0021]—、AOI設(shè)備具有CXD攝像頭，通過CXD攝像頭對被檢測線路板進(jìn)行面掃描，得到線路板的全景圖像；
[0022]二、對全景圖像進(jìn)行垂直投影以消除元件左右陰影和粘連；
[0023]三、對全景圖像進(jìn)行水平投影以消除元件前后陰影和粘連；
[0024]四、采用灰階臨界值將全景圖像轉(zhuǎn)化為黑白圖；
[0025]五、對黑白圖進(jìn)行二值化處理。
[0026]其中，所述垂直投影以消除元件左右陰影和粘連的步驟為:對全景圖像進(jìn)行區(qū)域增長，獲得若干個目標(biāo)聯(lián)通域，對每個聯(lián)通域進(jìn)行檢測區(qū)域定位，判別其所在的區(qū)域位置，然后在每個聯(lián)通域內(nèi)的橫坐標(biāo)點上對全景圖像邊緣圖像和全景圖像進(jìn)行垂直掃描，分別統(tǒng)計出每個橫坐標(biāo)點上對應(yīng)的全景圖像邊緣圖像的像素點數(shù)ml和全景圖像的像素點數(shù)nl，當(dāng)ml和nl分別小于等于某一預(yù)設(shè)值時，則將該聯(lián)通區(qū)域內(nèi)的此橫坐標(biāo)點垂直方向上的全景圖像所對應(yīng)的每個像素點置為O。
[0027]其中，所述水平投影以消除元件前后陰影和粘連的步驟為:將步驟二得到的全景圖像進(jìn)行進(jìn)行膨脹和腐蝕，此時對全景圖像再次進(jìn)行區(qū)域增長，獲得若干個目標(biāo)聯(lián)通域，對每個聯(lián)通域進(jìn)行檢測區(qū)域定位，判別其所在的區(qū)域位置，然后在每個聯(lián)通域內(nèi)的縱坐標(biāo)點上對全景圖像邊緣圖像和全景圖像進(jìn)行水平掃描，分別統(tǒng)計出每個縱坐標(biāo)點上對應(yīng)的全景圖像邊緣圖像的像素點數(shù)m2和全景圖像的像素點數(shù)n2，當(dāng)m2和n2分別小于某一預(yù)設(shè)值時，則將該聯(lián)通區(qū)域內(nèi)的此縱坐標(biāo)點垂直方向上的全景圖像所對應(yīng)的每個像素點置為O。
[0028]其中，所述重灰階臨界值根據(jù)參數(shù)設(shè)定。
[0029]其中，所述CXD攝像頭為黑白CXD攝像頭或彩色CXD攝像頭。
[0030]以上所述僅是本發(fā)明的優(yōu)選實施方式，并不用于限制本發(fā)明，應(yīng)當(dāng)指出，對于本技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，在不脫離本發(fā)明技術(shù)原理的前提下，還可以做出若干改進(jìn)和變型，這些改進(jìn)和變型也應(yīng)視為本發(fā)明的保護范圍。
【主權(quán)項】
1.一種AOI影像掃描檢測處理方法，其特征在于:按照下述步驟進(jìn)行: 一、AOI設(shè)備具有CCD攝像頭，通過CCD攝像頭對被檢測線路板進(jìn)行面掃描，得到線路板的全景圖像； 二、對全景圖像進(jìn)行垂直投影以消除元件左右陰影和粘連； 三、對全景圖像進(jìn)行水平投影以消除元件前后陰影和粘連； 四、采用灰階臨界值將全景圖像轉(zhuǎn)化為黑白圖； 五、對黑白圖進(jìn)行二值化處理。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的AOI影像掃描檢測處理方法，其特征在于:所述垂直投影以消除元件左右陰影和粘連的步驟為:對全景圖像進(jìn)行區(qū)域增長，獲得若干個目標(biāo)聯(lián)通域，對每個聯(lián)通域進(jìn)行檢測區(qū)域定位，判別其所在的區(qū)域位置，然后在每個聯(lián)通域內(nèi)的橫坐標(biāo)點上對全景圖像邊緣圖像和全景圖像進(jìn)行垂直掃描，分別統(tǒng)計出每個橫坐標(biāo)點上對應(yīng)的全景圖像邊緣圖像的像素點數(shù)ml和全景圖像的像素點數(shù)nl，當(dāng)ml和nl分別小于等于某一預(yù)設(shè)值時，則將該聯(lián)通區(qū)域內(nèi)的此橫坐標(biāo)點垂直方向上的全景圖像所對應(yīng)的每個像素點置為O。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的AOI影像掃描檢測處理方法，其特征在于:所述水平投影以消除元件前后陰影和粘連的步驟為:將步驟二得到的全景圖像進(jìn)行進(jìn)行膨脹和腐蝕，此時對全景圖像再次進(jìn)行區(qū)域增長，獲得若干個目標(biāo)聯(lián)通域，對每個聯(lián)通域進(jìn)行檢測區(qū)域定位，判別其所在的區(qū)域位置，然后在每個聯(lián)通域內(nèi)的縱坐標(biāo)點上對全景圖像邊緣圖像和全景圖像進(jìn)行水平掃描，分別統(tǒng)計出每個縱坐標(biāo)點上對應(yīng)的全景圖像邊緣圖像的像素點數(shù)m2和全景圖像的像素點數(shù)n2，當(dāng)m2和n2分別小于某一預(yù)設(shè)值時，則將該聯(lián)通區(qū)域內(nèi)的此縱坐標(biāo)點垂直方向上的全景圖像所對應(yīng)的每個像素點置為O。4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的AOI影像掃描檢測處理方法，其特征在于:所述重灰階臨界值根據(jù)參數(shù)設(shè)定。5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的AOI影像掃描檢測處理方法，其特征在于:所述CCD攝像頭為黑白C⑶攝像頭。6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的AOI影像掃描檢測處理方法，其特征在于:所述CCD攝像頭為彩色CXD攝像頭。
【專利摘要】本發(fā)明涉及一種AOI影像掃描檢測處理方法，按照下述步驟進(jìn)行：一、AOI設(shè)備具有CCD攝像頭，通過CCD攝像頭對被檢測線路板進(jìn)行面掃描，得到線路板的全景圖像；二、對全景圖像進(jìn)行垂直投影以消除元件左右陰影和粘連；三、對全景圖像進(jìn)行水平投影以消除元件前后陰影和粘連；四、采用灰階臨界值將全景圖像轉(zhuǎn)化為黑白圖；五、對黑白圖進(jìn)行二值化處理。本發(fā)明在將圖像轉(zhuǎn)化為灰階圖像之前先對其進(jìn)行去陰影及粘連處理，使灰階轉(zhuǎn)化后的黑白圖像消除了陰影造成的干擾及錯誤，提高了缺陷檢測能力。
【IPC分類】G01N21/956, G06T5/50
【公開號】CN105069770
【申請?zhí)枴緾N201510569885
【發(fā)明人】張智海, 易永祥
【申請人】蘇州威盛視信息科技有限公司
【公開日】2015年11月18日
【申請日】2015年9月9日