本申請涉及android系統(tǒng)測試,尤其涉及android系統(tǒng)的測試方法、android系統(tǒng)的測試裝置、android系統(tǒng)的測試設(shè)備、存儲介質(zhì)及計算機(jī)程序產(chǎn)品。
背景技術(shù):
1、隨著android系統(tǒng)功能越來越豐富,在功能豐富的同時也給測試帶來很多新的挑戰(zhàn)。android系統(tǒng)版本更新迭代頻繁,當(dāng)android系統(tǒng)ui(user?interface,用戶界面)界面發(fā)生變化時,需要在測試腳本中對android系統(tǒng)中變化部分進(jìn)行相應(yīng)的修改,現(xiàn)階段的測試腳本只能點對點進(jìn)行測試和修改,維護(hù)和開發(fā)需要投入額外的人力。所以,使用合理高效的android系統(tǒng)的測試方法,將成為系統(tǒng)測試技術(shù)領(lǐng)域的主流。
技術(shù)實現(xiàn)思路
1、本申請的主要目的在于提供一種android系統(tǒng)的測試方法、android系統(tǒng)的測試裝置、android系統(tǒng)的測試設(shè)備、存儲介質(zhì)及計算機(jī)程序產(chǎn)品,旨在解決android系統(tǒng)測試效率低的技術(shù)問題。
2、為實現(xiàn)上述目的,本申請?zhí)岢鲆环Nandroid系統(tǒng)的測試方法,所述的方法包括:
3、對android系統(tǒng)的android控件進(jìn)行第一次封裝,得到android系統(tǒng)的組件;
4、對所述組件進(jìn)行第二次封裝,得到所述組件的組件標(biāo)識;
5、在android系統(tǒng)的測試腳本中,通過所述組件標(biāo)識訪問所述android控件,得到android系統(tǒng)的測試結(jié)果。
6、在一實施例中,對android系統(tǒng)的android控件以及所述android控件的狀態(tài)進(jìn)行第一次封裝,得到android系統(tǒng)的組件。
7、在一實施例中,根據(jù)所述組件、所述組件標(biāo)識和所述android控件,構(gòu)建得到組件庫;
8、通過封裝裝載android系統(tǒng)的設(shè)備的外設(shè)接口,構(gòu)建得到用于測試android系統(tǒng)的測試框架;
9、根據(jù)所述組件庫和所述測試框架,得到測試android系統(tǒng)的測試腳本。
10、在一實施例中,根據(jù)預(yù)設(shè)命令獲取預(yù)設(shè)時間段內(nèi)android系統(tǒng)的數(shù)據(jù),其中,所述數(shù)據(jù)包括android系統(tǒng)的系統(tǒng)數(shù)據(jù),android系統(tǒng)正在運行的應(yīng)用的應(yīng)用數(shù)據(jù),以及android系統(tǒng)的日志數(shù)據(jù);
11、在android系統(tǒng)的測試腳本中對android系統(tǒng)進(jìn)行測試時,將所述數(shù)據(jù)作為測試數(shù)據(jù),得到android系統(tǒng)的測試結(jié)果。
12、在一實施例中,對所述數(shù)據(jù)進(jìn)行預(yù)處理,其中,所述預(yù)處理包括數(shù)據(jù)來源歸類和不同歸類下的異常分析。
13、在一實施例中,若所述測試結(jié)果為測試通過,則進(jìn)行壓力測試,得到android系統(tǒng)的壓力測試結(jié)果;
14、若所述測試結(jié)果為測試未通過,則對android系統(tǒng)中的異常進(jìn)行修復(fù)。
15、此外,為實現(xiàn)上述目的,本申請還提出一種android系統(tǒng)的測試裝置,所述android系統(tǒng)的測試裝置包括:
16、第一模塊,用于對android系統(tǒng)的android控件進(jìn)行第一次封裝,得到android系統(tǒng)的組件;
17、第二模塊,用于對所述組件進(jìn)行第二次封裝,得到所述組件的組件標(biāo)識;
18、測試模塊,用于在android系統(tǒng)的測試腳本中,通過所述組件標(biāo)識訪問所述android控件,得到android系統(tǒng)的測試結(jié)果。
19、此外,為實現(xiàn)上述目的,本申請還提出一種android系統(tǒng)的測試設(shè)備,所述設(shè)備包括:存儲器、處理器及存儲在所述存儲器上并可在所述處理器上運行的計算機(jī)程序,所述計算機(jī)程序配置為實現(xiàn)如上文所述的android系統(tǒng)的測試方法的步驟。
20、此外,為實現(xiàn)上述目的,本申請還提出一種存儲介質(zhì),所述存儲介質(zhì)為計算機(jī)可讀存儲介質(zhì),所述存儲介質(zhì)上存儲有計算機(jī)程序,所述計算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時實現(xiàn)如上文所述的android系統(tǒng)的測試方法的步驟。
21、此外,為實現(xiàn)上述目的,本申請還提供一種計算機(jī)程序產(chǎn)品,所述計算機(jī)程序產(chǎn)品包括計算機(jī)程序,所述計算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時實現(xiàn)如上文所述的android系統(tǒng)的測試方法的步驟。
22、本申請?zhí)岢隽艘环Nandroid系統(tǒng)的測試方法,該方法通過對android系統(tǒng)的android控件進(jìn)行第一次封裝,得到android系統(tǒng)的組件;對組件進(jìn)行第二次封裝,得到組件的組件標(biāo)識;將直接面向android控件編寫android系統(tǒng)的測試腳本的方式,改為面向組件編寫android系統(tǒng)的測試腳本;將android控件封裝在組件上,當(dāng)android系統(tǒng)ui界面發(fā)生變化時,只需要修改組件標(biāo)識對應(yīng)組件就能完成對測試腳本的修改,再根據(jù)測試腳本對android系統(tǒng)進(jìn)行測試,提高了android系統(tǒng)測試的效率。
1.一種android系統(tǒng)的測試方法,其特征在于,所述的方法包括:
2.如權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述對android系統(tǒng)的android控件進(jìn)行第一次封裝,得到android系統(tǒng)的組件的步驟,包括:
3.如權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述對所述組件進(jìn)行第二次封裝,得到所述組件的組件標(biāo)識的步驟之后,包括:
4.如權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述的方法包括:
5.如權(quán)利要求4所述的方法,其特征在于,所述根據(jù)預(yù)設(shè)命令獲取預(yù)設(shè)時間段內(nèi)android系統(tǒng)的數(shù)據(jù)的步驟之后,包括:
6.如權(quán)利要求4所述的方法,其特征在于,所述在android系統(tǒng)的測試腳本中對android系統(tǒng)進(jìn)行測試時,將所述數(shù)據(jù)作為測試數(shù)據(jù),得到android系統(tǒng)的測試結(jié)果的步驟之后,包括:
7.一種android系統(tǒng)的測試裝置,其特征在于,所述裝置包括:
8.一種android系統(tǒng)的測試設(shè)備,其特征在于,所述設(shè)備包括:存儲器、處理器及存儲在所述存儲器上并可在所述處理器上運行的計算機(jī)程序,所述計算機(jī)程序配置為實現(xiàn)如權(quán)利要求1至6中任一項所述的android系統(tǒng)的測試方法的步驟。
9.一種存儲介質(zhì),其特征在于,所述存儲介質(zhì)為計算機(jī)可讀存儲介質(zhì),所述存儲介質(zhì)上存儲有計算機(jī)程序,所述計算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時實現(xiàn)如權(quán)利要求1至6中任一項所述的android系統(tǒng)的測試方法的步驟。
10.一種計算機(jī)程序產(chǎn)品,其特征在于,所述計算機(jī)程序產(chǎn)品包括計算機(jī)程序,所述計算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時實現(xiàn)如權(quán)利要求1至6中任一項所述的android系統(tǒng)的測試方法的步驟。