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一種用于低壓差線性穩(wěn)壓器的快速響應(yīng)電路及方法與流程

文檔序號:12717762閱讀:386來源:國知局
一種用于低壓差線性穩(wěn)壓器的快速響應(yīng)電路及方法與流程

本發(fā)明屬于集成電路技術(shù)領(lǐng)域,涉及快速響應(yīng)電路,尤其是一種用于低壓差線性穩(wěn)壓器的快速響應(yīng)電路及方法。



背景技術(shù):

在目前IC的發(fā)展過程中,高效、節(jié)能已經(jīng)成為人們普遍關(guān)注的電子產(chǎn)品指標,這使得許多工程師和科研人員致力于電源管理技術(shù)的研究。集成穩(wěn)壓器是常用的電源管理芯片,其中低壓差線性穩(wěn)壓器(LDO:Low-Dropout regulator)憑借其壓差低、效率高等優(yōu)點應(yīng)用最為廣泛。然而,隨著輸出負載電流的突變,比如從100μA到10mA,或者從10mA到100μA,LDO的輸出電壓也隨之出現(xiàn)突變,即:輸出電壓出現(xiàn)下沖或過沖。較大的過沖或者下沖電壓波動往往需要一定的時間才能恢復(fù)到穩(wěn)定值,不僅影響了LDO的瞬態(tài)響應(yīng),而且還會影響后級電路的正常工作。



技術(shù)實現(xiàn)要素:

本發(fā)明的目的在于克服上述現(xiàn)有技術(shù)的缺點,提供一種用于低壓差線性穩(wěn)壓器的快速響應(yīng)電路及方法,其通過額外的反饋控制調(diào)節(jié)路徑對輸出負載進行充放電,一方面能夠減小過沖和下沖的大小,減小對后級電路的影響,另一方面也使得輸出電壓恢復(fù)速度較快。

本發(fā)明的目的是通過以下技術(shù)方案來實現(xiàn)的:

這種用于低壓差線性穩(wěn)壓器的快速響應(yīng)電路,包括控制電路和過沖及下沖調(diào)節(jié)電路;所述控制電路包括結(jié)構(gòu)相同的電路A和電路B,所述電路A或電路B均由兩個CMOS反相器級聯(lián)構(gòu)成;所述過沖及下沖調(diào)節(jié)電路由PMOS管M1和NMOS管M2構(gòu)成;PMOS管M1和NMOS管M2的柵極分別和控制電路的輸出信號相連,PMOS管M1和NMOS管M2的漏極均接LDO的輸出VOUT,PMOS管M1的源極接LDO的輸入電壓Vin,NMOS管M2的源極接地;所述PMOS管M1和NMOS管M2的漏極和源極均能夠互換;所述PMOS管M1襯底接Vin,NMOS管M2的襯底接地。

進一步,所述電路A或電路B包括PMOS晶體管Mp1、NMOS晶體管Mn1、PMOS晶體管Mp2以及NMOS晶體管Mn2;所述PMOS晶體管Mp1和NMOS晶體管Mn1構(gòu)成第1級反相器,所述PMOS晶體管Mp2和NMOS晶體管Mn2構(gòu)成第2級反相器;

所述PMOS晶體管Mp1和NMOS晶體管Mn1,或者PMOS晶體管Mp2和NMOS晶體管Mn2的柵極相連作為反相器的輸入;

所述PMOS晶體管Mp1和NMOS晶體管Mn1,或者PMOS晶體管Mp2和NMOS晶體管Mn2的漏極相連作為反相器的輸出;

所述NMOS晶體管Mn1和NMOS晶體管Mn2的源極均接地;

所述PMOS晶體管Mp1的源極接偏置電壓VB,所述PMOS晶體管Mp2的源極接LDO的輸入電壓Vin,其中VB<Vin;

所述第1級反相器的輸入接LDO中的反饋信號VFB,第2級反相器的輸入與第1級反相器的輸出相連,第2級反相器的輸出為ctr1或ctr2;所述NMOS晶體管Mn1和NMOS晶體管Mn2的漏極和源極均能夠互換;所述PMOS晶體管Mp1或PMOS晶體管Mp2的襯底接Vin,NMOS晶體管Mn1或NMOS晶體管Mn2襯底接地。

進一步,過沖及下沖調(diào)節(jié)電路的PMOS管M1和NMOS管M2的柵極分別和控制電路的輸出信號ctr1和ctr2相連。

進一步,上述快速響應(yīng)電路中的所有晶體管均采取同一種制作工藝。

進一步,上述快速響應(yīng)電路中的PMOS晶體管制作于同一N阱中。

本發(fā)明還提出一種上述快速響應(yīng)電路的快速響應(yīng)方法如下:

所述控制電路的電路A和電路B的輸入均為LDO的反饋信號VFB,電路A輸出的ctr1用來調(diào)節(jié)下沖電壓,電路B輸出的ctr2用來調(diào)節(jié)過沖電壓;

當負載電流恒定時,控制電路輸出ctr1為高電平,ctr2為低電平,PMOS管M1和NMOS管M2均關(guān)斷;若由于負載電流發(fā)生突降引起輸出電壓出現(xiàn)過沖,控制電路輸出ctr2變?yōu)楦唠娖?,NMOS管M2開啟形成額外電流泄放路徑,減小過沖電壓;若由于負載電流突然增大引起輸出電壓出現(xiàn)下沖,控制電路輸出ctr1變?yōu)榈碗娖?,PMOS管M1開啟形成額外電流充電路徑,輸出電壓的下沖迅速得到恢復(fù)。

本發(fā)明具有以下有益效果:

本發(fā)明用于低壓差線性穩(wěn)壓器的快速響應(yīng)電路及方法的實現(xiàn)電路簡單,包括反相器在內(nèi),僅需10個MOS晶體管(5個PMOS晶體管和5個NMOS晶體管)即可實現(xiàn),其通過額外的反饋控制調(diào)節(jié)路徑對輸出負載進行充放電,一方面能夠減小過沖和下沖的大小,減小對后級電路的影響,另一方面也使得輸出電壓恢復(fù)速度較快。本發(fā)明能更好地滿足低功耗小型化集成電路發(fā)展的需要。

附圖說明

圖1為本發(fā)明公開的LDO快速響應(yīng)方法實現(xiàn)電路;

圖2為圖1中模塊I控制電路部分的實施例;

圖3為本發(fā)明公開的LDO快速響應(yīng)方法示意圖;

圖4本發(fā)明公開方法實現(xiàn)電路的仿真驗證結(jié)果。

具體實施方式

下面結(jié)合附圖對本發(fā)明再作進一步詳細的說明。在此,本發(fā)明的實施例及說明僅為對本發(fā)明的解釋,不作為對本發(fā)明的限定。

本發(fā)明所涉及的專業(yè)術(shù)語說明:

LDO:Low-Dropout regulator,低壓差線性穩(wěn)壓器;

NMOS:N-channel metal oxide semiconductor FET,N溝道金屬氧化物半導(dǎo)體場效應(yīng)晶體管;

PMOS:P-channel metal oxide semiconductor FET,P溝道金屬氧化物半導(dǎo)體場效應(yīng)晶體管;

本發(fā)明的實現(xiàn)電路結(jié)構(gòu)及原理

參照圖1:示出了本發(fā)明LDO快速響應(yīng)方法的電路實施例,包括控制電路I和過沖及下沖調(diào)節(jié)電路II。

參照圖2:過沖及下沖調(diào)節(jié)電路II由PMOS管M1和NMOS管M2構(gòu)成;PMOS管M1和NMOS管M2的柵極分別和控制電路I的輸出信號相連,PMOS管M1和NMOS管M2的漏極均接LDO的輸出VOUT,PMOS管M1的源極接LDO的輸入電壓Vin,NMOS管M2的源極接地;PMOS管M1和NMOS管M2的漏極和源極均能夠互換;PMOS管M1襯底接Vin,NMOS管M2的襯底接地。

所述控制電路I包括結(jié)構(gòu)相同的電路A和電路B,電路A或電路B均由兩個CMOS反相器級聯(lián)構(gòu)成;電路A或電路B包括PMOS晶體管Mp1、NMOS晶體管Mn1、PMOS晶體管Mp2以及NMOS晶體管Mn2;PMOS晶體管Mp1和NMOS晶體管Mn1構(gòu)成第1級反相器,PMOS晶體管Mp2和NMOS晶體管Mn2構(gòu)成第2級反相器。

PMOS晶體管Mp1和NMOS晶體管Mn1,或者PMOS晶體管Mp2和NMOS晶體管Mn2的柵極相連作為反相器的輸入。

PMOS晶體管Mp1和NMOS晶體管Mn1,或者PMOS晶體管Mp2和NMOS晶體管Mn2的漏極相連作為反相器的輸出。

NMOS晶體管Mn1和NMOS晶體管Mn2的源極均接地。

PMOS晶體管Mp1的源極接偏置電壓VB,所述PMOS晶體管Mp2的源極接LDO的輸入電壓Vin,其中VB<Vin。

第1級反相器的輸入接LDO中的反饋信號VFB,第2級反相器的輸入與第1級反相器的輸出相連,第2級反相器的輸出為ctr1或ctr2;所述NMOS晶體管Mn1和NMOS晶體管Mn2的漏極和源極均能夠互換;所述PMOS晶體管Mp1或PMOS晶體管Mp2的襯底接Vin,NMOS晶體管Mn1或NMOS晶體管Mn2襯底接地。

參照圖1,過沖及下沖調(diào)節(jié)電路II由PMOS管M1和NMOS管M2構(gòu)成;PMOS管M1和NMOS管M2的柵極分別和控制電路的輸出信號ctr1和ctr2相連,PMOS管M1和NMOS管M2的漏極均接LDO的輸出VOUT,PMOS管M1的源極接LDO的輸入電壓Vin,NMOS管M2的源極接地;所述PMOS管M1和NMOS管M2兩個晶體管的漏極和源極均可互換,PMOS管M1的襯底接Vin,NMOS管M2的襯底接地。

本發(fā)明的快速響應(yīng)電路中,所有PMOS晶體管制作于同一N阱中,且Mn1、Mn2、M1和M2四個晶體管的漏極和源極均可互換。

基于以上用于低壓差線性穩(wěn)壓器的快速響應(yīng)電路,本發(fā)明還提出一種用于低壓差線性穩(wěn)壓器的快速響應(yīng)方法如下:

所述控制電路I的電路A和電路B的輸入均為LDO的反饋信號VFB,電路A輸出的ctr1用來調(diào)節(jié)下沖電壓,電路B輸出的ctr2用來調(diào)節(jié)過沖電壓;

參照圖3,當負載電流恒定時,ctr1為高電平,ctr2為低電平,M1和M2均關(guān)斷;若由于負載電流發(fā)生突降引起輸出電壓出現(xiàn)過沖,控制電路輸出ctr2變?yōu)楦唠娖?,NMOS管M2開啟形成額外電流泄放路徑(Idown),減小過沖電壓;若由于負載電流突然增大引起輸出電壓出現(xiàn)下沖,控制電路輸出ctr1變?yōu)榈碗娖剑琍MOS管M1開啟形成額外電流充電路徑(Iup),輸出電壓的下沖迅速得到恢復(fù)。

參照圖4,基于65nm CMOS工藝,在2.5V電源電壓下,對輸出VOUT為1.2V、反饋電壓VFB為0.8V的實施例進行了電路仿真,仿真結(jié)果與圖3中的原理示意圖基本一致。

本發(fā)明僅需在傳統(tǒng)LDO的電路基礎(chǔ)上增加10個MOS管即可實現(xiàn)。與傳統(tǒng)的LDO電路相比,本發(fā)明所公開方法的實施電路通過額外的反饋控制調(diào)節(jié)路徑對輸出負載進行充放電,能夠減小過沖和下沖的大小,進而減小對后級電路的影響,此外,經(jīng)調(diào)整之后,較小的過沖和下沖也使得輸出電壓恢復(fù)速度較快。

以上所述是本發(fā)明的較佳實施例,并不用以限制本發(fā)明,凡是在本發(fā)明的精神和原則范圍之內(nèi),所作的任何等同替換、潤飾和改進等,均應(yīng)視為本發(fā)明的保護范圍。

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