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一種裝粉包套檢漏裝置的制造方法

文檔序號:10424434閱讀:661來源:國知局
一種裝粉包套檢漏裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明屬于真空檢漏領(lǐng)域,尤其是涉及各種裝粉包套的氣密性檢測,特別是粉末冶金領(lǐng)域中熱等靜壓成形用裝粉包套的氣密性檢測。
【背景技術(shù)】
[0002]裝粉包套的氣密性不但影響熱等靜壓過程中包套成形,而且直接決定了包套中金屬粉末的致密化能否順利完成。熱等靜壓是一種利用高溫高壓介質(zhì)對制件進(jìn)行壓制的成形工藝,通常采用惰性氣體或氮?dú)庾鳛閭鲏航橘|(zhì),工作溫度1000?2000°C,工作壓力可達(dá)200MPa,在高溫高壓介質(zhì)的作用下,制件各方向所受壓力相同,制件實(shí)現(xiàn)均勻致密化。在熱等靜壓過程中,因包套始終處于高溫高壓環(huán)境,且會發(fā)生比較明顯的收縮形變。若包套的氣密性達(dá)不到使用要求,氣體極易通過微裂紋或空隙滲入包套內(nèi)部,造成包套中的金屬粉末不能完全壓實(shí),殘留大量孔洞,最終導(dǎo)致制件報廢。因此,在熱等靜壓前,必須對包套的氣密性進(jìn)行嚴(yán)格檢查,及時發(fā)現(xiàn)包套中存在的微裂紋及孔隙。
[0003]經(jīng)過對未壓實(shí)現(xiàn)象進(jìn)行研究分析,得出引起未壓實(shí)的原因主要有以下兩種:①包套制作:包套各焊道有氣孔或微漏;②包套材質(zhì):包套材質(zhì)存在極微小的缺陷。目前用于包套檢漏的裝置由于施加壓力及檢漏靈敏度有限,無法檢出上述兩種缺陷,在熱等靜壓過程中高壓Ar氣會滲入包套,造成包套中的金屬粉末未壓實(shí)。
[0004]目前裝粉包套檢漏采用簡易的檢漏裝置,在包套表面刷涂肥皂水,在大氣環(huán)境下向空的包套中充入一定壓力的氮?dú)饣驓鍤?,肉眼觀察包套所有焊縫是否存在漏氣的情況,采用這種包套檢漏方法,一是靈敏度低,人眼觀察誤差大,操作難度大;二是不能有效地檢出包套材質(zhì)存在的微小缺陷;三是需要充入氣體的壓力大。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]鑒于目前裝粉包套檢漏裝置檢測效率低、靈敏度不足等問題,為加強(qiáng)包套檢漏水平、排除生產(chǎn)隱患以及降低工藝成本,本發(fā)明提供了一種裝粉包套檢漏裝置,在真空環(huán)境下對充滿一定壓力氦氣的包套進(jìn)行嚴(yán)格的密封性檢測,該裝置簡單易操作,并且利用氦質(zhì)譜檢漏儀對氦氣的高檢測靈敏度極大地保證了包套氣密性檢測的高靈敏度和成功率,這會大大減少包套在熱等靜壓中出現(xiàn)未壓實(shí)現(xiàn)象。
[0006]本發(fā)明的裝粉包套檢漏裝置是將氦質(zhì)譜檢漏儀與裝有充滿氦氣的包套的真空工作室相連,利用氦質(zhì)譜檢漏儀的高氦氣檢測靈敏度,檢測包套的氣密性,從而判定包套是否存在漏點(diǎn)。在真空密閉環(huán)境下利用氦質(zhì)譜檢漏儀對裝粉包套的氣密性進(jìn)行檢測的裝置,可降低裝粉包套在熱等靜壓過程中因微漏而導(dǎo)致的未壓實(shí)風(fēng)險,減少經(jīng)濟(jì)損失。
[0007]本實(shí)用新型采用的技術(shù)方案為:
[0008]—種裝粉包套檢漏裝置,包括:一托架、一真空工作室、一機(jī)械栗、一高壓氦氣瓶以及一氦質(zhì)譜檢漏儀,托架設(shè)置于真空工作室中,高壓氦氣瓶與連通管通過第一閥門連接;真空工作室與機(jī)械栗和氦質(zhì)譜檢漏儀相連,氦質(zhì)譜檢漏儀與真空工作室通過第三閥門連接。
[0009]真空工作室內(nèi)的托架上放置包套,包套通過連通管與高壓氦氣瓶相連,連通管與包套通過KF密封閥相連。
[0010]包套置于真空工作室前,應(yīng)先向包套內(nèi)部充入氦氣后關(guān)閉KF密封閥。
[0011]真空工作室與機(jī)械栗通過焊接方式連接。
[0012]本發(fā)明的裝粉包套檢漏裝置可準(zhǔn)確、有效地檢測出包套是否存在氣密性問題,避免金屬粉末在熱等靜壓過程中因包套漏氣導(dǎo)致未壓實(shí),防止包套和金屬粉末報廢,從而減少經(jīng)濟(jì)損失。
[0013]本發(fā)明的其他特征和優(yōu)點(diǎn)將在隨后的說明書中闡述,并且,部分的從說明書中變得顯而易見,或者通過實(shí)施本發(fā)明而了解。本發(fā)明的目的和其他優(yōu)點(diǎn)可通過在所寫的說明書、權(quán)利要求書、以及附圖中所特別指出的結(jié)構(gòu)來實(shí)現(xiàn)和獲得。
【附圖說明】
[0014]附圖僅用于示出具體實(shí)施例的目的,而并不認(rèn)為是對本發(fā)明的限制,在整個附圖中,相同的參考符號表不相同的部件。
[0015]圖1是本發(fā)明的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0016]圖中1.第一壓力表;2.第一閥門;3.氦氣瓶;4.連通管;5.第二閥門;6.真空工作室;7.裝粉包套;8.KF密封閥;9.托架;10.第二壓力表;11.第三閥門;12.氦質(zhì)譜檢漏儀;13.機(jī)械栗。
【具體實(shí)施方式】
[0017]下面結(jié)合附圖來具體描述本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例,其中,附圖構(gòu)成本申請一部分,并與本發(fā)明的實(shí)施例一起用于闡釋本發(fā)明的原理。
[0018]如圖1中所示,氦氣瓶3、連通管4和裝粉包套7相連,包套7置于真空工作室6的托架9上,構(gòu)成一通道,氦氣瓶3與連通管4通過第一閥門2連接,用于控制氣體流量,連通管4與包套7通過KF密封閥8相連,以保證此處不漏氣,同時能承受一定的真空度和壓力;真空工作室6與機(jī)械栗13和氦質(zhì)譜檢漏儀12相連,構(gòu)成二通道,真空工作室6與機(jī)械栗13相連的通道,由焊接方式連接,氦質(zhì)譜檢漏儀12與真空工作室6通過第三閥門11連接。
[0019]本發(fā)明的裝粉包套檢漏裝置工作時,先向包套7內(nèi)部充入氦氣后密封,關(guān)閉KF密封閥8,把包套7置于真空工作室6,與氦氣瓶3通過連通管4相連,最后關(guān)閉真空工作室6 ο打開機(jī)械栗13,開始抽真空,待真空工作室6壓力達(dá)到一定壓力時,關(guān)掉機(jī)械栗13。打開氦氣瓶3和連通管4處的第一閥門2給包套7充入氦氣,在規(guī)定時間內(nèi)氦氣瓶3上的第一壓力表I達(dá)到一定壓力時,停止充氣關(guān)閉第一閥門2、第二閥門5。隨后打開連接氦質(zhì)譜檢漏儀12的第三閥門11,靜置一段時間,如果氦質(zhì)譜檢漏儀12發(fā)出報警,說明包套7存在氣密性問題,如果沒有發(fā)出報警,說明包套7完好,可以使用。
[0020]綜上所述,本發(fā)明實(shí)施例提供了一種裝粉包套檢漏裝置在真空密閉環(huán)境下利用氦質(zhì)譜檢漏儀對裝粉包套的氣密性進(jìn)行檢測的裝置。可降低裝粉包套在熱等靜壓過程中因微漏而導(dǎo)致的未壓實(shí)風(fēng)險,減少經(jīng)濟(jì)損失。
[0021]以上所述,僅為本發(fā)明較佳的【具體實(shí)施方式】,但本發(fā)明的保護(hù)范圍并不局限于此,任何熟悉本技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員在本發(fā)明揭露的技術(shù)范圍內(nèi),可輕易想到的變化或替換,都應(yīng)涵蓋在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種裝粉包套檢漏裝置,包括:一托架、一真空工作室、一機(jī)械栗、一高壓氦氣瓶以及一氦質(zhì)譜檢漏儀,其特征在于, 所述托架設(shè)置于真空工作室中,所述高壓氦氣瓶與連通管通過第一閥門連接;所述真空工作室與所述機(jī)械栗和所述氦質(zhì)譜檢漏儀相連,所述氦質(zhì)譜檢漏儀與所述真空工作室通過第三閥門連接。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝粉包套檢漏裝置,其特征在于,所述真空工作室內(nèi)的所述托架上放置包套,所述包套通過連通管與所述高壓氦氣瓶相連,連通管與所述包套通過KF密封閥相連。3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的裝粉包套檢漏裝置,其特征在于,所述包套置于所述真空工作室前,應(yīng)先向所述包套內(nèi)部充入氦氣后關(guān)閉所述KF密封閥。4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝粉包套檢漏裝置,其特征在于,所述真空工作室與機(jī)械栗通過焊接方式連接。
【專利摘要】一種裝粉包套檢漏裝置。將氦質(zhì)譜檢漏儀與裝有充滿氦氣的包套的真空工作室相連,利用氦質(zhì)譜檢漏儀的高氦氣檢測靈敏度,氦質(zhì)譜檢漏儀與真空工作室通過接頭連接,用于檢測機(jī)械泵所抽氣體中是否存在氦氣,檢測包套的氣密性,從而判定包套是否完好,滿足使用要求。本發(fā)明裝粉包套檢漏裝置大幅提高了包套檢測的效率、靈敏度和準(zhǔn)確性,大大降低了因包套氣密性而導(dǎo)致包套在熱等靜壓時未壓實(shí)的風(fēng)險,防止了包套和金屬粉末報廢,從而極大地減少了經(jīng)濟(jì)損失。
【IPC分類】G01M3/20
【公開號】CN205352639
【申請?zhí)枴緾N201521127903
【發(fā)明人】韓壽波, 劉明東, 黃虎豹, 閆軍樓, 梁嘯, 劉彬, 朱曉蕾, 孫志坤
【申請人】北京鋼研高納科技股份有限公司
【公開日】2016年6月29日
【申請日】2015年12月29日
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