微波器件的測(cè)試裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及微波測(cè)量技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及一種微波器件的測(cè)試裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]微波測(cè)試儀器的連接線(xiàn)纜大多為同軸線(xiàn)，因此在設(shè)計(jì)微波器件時(shí)，一般將輸入輸出接口設(shè)計(jì)為同軸接口形式，以便于微波器件的測(cè)試。但是，在某些特殊的應(yīng)用場(chǎng)景下，微波器件的輸入輸出接口只能設(shè)計(jì)為微帶線(xiàn)接口，如微波隔離器、微波環(huán)形器等，而這種微波器件無(wú)法直接進(jìn)行測(cè)試?，F(xiàn)有技術(shù)采取的做法是，將這種微波器件裝入測(cè)試夾具中，通過(guò)金絲焊接的方式將微帶線(xiàn)接口引出到同軸連接器，從而進(jìn)行測(cè)試。但是，這種測(cè)試方法的存在以下缺點(diǎn):
[0003](I)測(cè)試夾具自身會(huì)引入一定的測(cè)試誤差，而且誤差會(huì)隨著頻率的升高而增大；
[0004](2)對(duì)于微波環(huán)形器等微波器件，由于器件之間的一致性較差，要求出廠時(shí)測(cè)量每個(gè)器件的微波S參數(shù)，然而，這類(lèi)器件往往批量生產(chǎn)，如果每個(gè)器件都通過(guò)測(cè)試夾具進(jìn)行測(cè)試的話(huà)，無(wú)疑會(huì)帶來(lái)巨大的工作量；
[0005](3)金絲焊接過(guò)程和裝配過(guò)程中會(huì)造成微波器件損傷。
[0006]因此，目前亟需一種能夠大批量測(cè)試輸入輸出接口為微帶線(xiàn)接口的微波器件的測(cè)試方式。
【實(shí)用新型內(nèi)容】
[0007]本實(shí)用新型主要解決的技術(shù)問(wèn)題是提供一種微波器件的測(cè)試裝置，能夠?qū)⑽⒉ㄆ骷奈Ь€(xiàn)接口轉(zhuǎn)換為同軸接口，并進(jìn)行大批量測(cè)試。
[0008]為解決上述技術(shù)問(wèn)題，本實(shí)用新型采用的一個(gè)技術(shù)方案是:提供一種微波器件的測(cè)試裝置，包括底座、彈性連接器、電路測(cè)試板以及與所述底座相配套的蓋板，所述底座上設(shè)有多個(gè)用于放置微波器件的容置槽，所述蓋板上設(shè)有多個(gè)與所述容置槽的位置對(duì)應(yīng)的通孔，所述彈性連接器設(shè)于所述通孔內(nèi)，所述蓋板的上表面設(shè)有覆蓋所有所述通孔的凹槽，所述電路測(cè)試板與所述凹槽適配并固定在所述凹槽內(nèi)，其中，當(dāng)所述蓋板與所述底座扣合時(shí)，所述彈性連接器的下端彈性壓接所述微波器件的微帶線(xiàn)接口，所述彈性連接器的上端彈性壓接所述電路測(cè)試板的同軸接口。
[0009]優(yōu)選地，所述彈性連接器包括毛紐扣、固定帽和介質(zhì)支撐體，所述毛紐扣具有彈性，所述固定帽包括帽部和與所述帽部連接的桿部，所述介質(zhì)支撐體設(shè)有相連通的上圓柱孔和下圓柱孔，所述上圓柱孔的孔徑大于所述下圓柱孔的孔徑，所述帽部位于所述上圓柱孔內(nèi)，所述桿部位于所述下圓柱孔內(nèi)，所述桿部伸出所述介質(zhì)支撐體并彈性壓接所述微波器件的微帶線(xiàn)接口，所述毛紐扣位于所述上圓柱孔內(nèi)，所述毛紐扣的一端抵接所述帽部，所述毛紐扣的另一端伸出所述介質(zhì)支撐體并彈性壓接所述電路測(cè)試板的同軸接口。
[0010]優(yōu)選地，所述毛紐扣呈螺旋狀，由表面鍍金的銅線(xiàn)編織而成。
[0011 ] 優(yōu)選地，所述介質(zhì)支撐體由聚四氟乙烯制成。
[0012]優(yōu)選地，所述固定帽由鋁或黃銅制成。
[0013]優(yōu)選地，所述底座上設(shè)有銷(xiāo)釘，所述蓋板上設(shè)有銷(xiāo)釘孔，所述蓋板與所述底座通過(guò)所述銷(xiāo)釘和所述銷(xiāo)釘孔扣合。
[0014]優(yōu)選地，所述底座和所述蓋板均由鋁制成。
[0015]優(yōu)選地，所述電路測(cè)試板的下表面設(shè)置所述同軸接口，所述電路測(cè)試板的上表面設(shè)置共面波導(dǎo)傳輸線(xiàn)。
[0016]優(yōu)選地，所述電路測(cè)試板由多層低溫共燒陶瓷制成。
[0017]優(yōu)選地，所述電路測(cè)試板粘接或焊接在所述凹槽內(nèi)。
[0018]區(qū)別于現(xiàn)有技術(shù)的情況，本實(shí)用新型的有益效果是:
[0019]1、彈性連接器屬于壓接式連接，無(wú)需與微波器件焊接，不會(huì)對(duì)微波器件造成損傷，測(cè)試裝置可重復(fù)使用；
[0020]2、可以一次性對(duì)微波器件進(jìn)行大批量測(cè)試，并且測(cè)試速度快；
[0021]3、可以通過(guò)去嵌消除測(cè)試裝置自身對(duì)微波器件的影響，測(cè)試精度高。
【附圖說(shuō)明】
[0022]圖1是本實(shí)用新型實(shí)施例微波器件的測(cè)試裝置的側(cè)視示意圖。
[0023]圖2是圖1所不測(cè)試裝置的底座的主視不意圖。
[0024]圖3是圖1所示測(cè)試裝置的A部分放大示意圖。
[0025]圖4是圖1所示測(cè)試裝置的彈性連接器的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0026]圖5是圖1所示測(cè)試裝置的電路測(cè)試板的一個(gè)表面的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0027]圖6是圖1所示測(cè)試裝置的電路測(cè)試板的另一個(gè)表面的結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0028]下面將結(jié)合本實(shí)用新型實(shí)施例中的附圖，對(duì)本實(shí)用新型實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例僅是本實(shí)用新型的一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例。基于本實(shí)用新型中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒(méi)有做出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都屬于本實(shí)用新型保護(hù)的范圍。
[0029]一并參見(jiàn)圖1至圖3，本實(shí)用新型的微波器件的測(cè)試裝置包括底座1、彈性連接器2、電路測(cè)試板3以及與底座I相配套的蓋板4。
[0030]底座I上設(shè)有多個(gè)用于放置微波器件的容置槽11，蓋板4上設(shè)有多個(gè)與容置槽11的位置對(duì)應(yīng)的通孔41，彈性連接器2設(shè)于通孔41內(nèi)，蓋板4的上表面設(shè)有覆蓋所有通孔41的凹槽(圖中未標(biāo)示)，電路測(cè)試板3與凹槽適配并固定在凹槽內(nèi)，其中，當(dāng)蓋板4與底座I扣合時(shí)，彈性連接器2的下端彈性壓接微波器件的微帶線(xiàn)接口，彈性連接器2的上端彈性壓接電路測(cè)試板3的同軸接口。
[0031]底盤(pán)I上的容置槽11的長(zhǎng)和寬約比微波器件的長(zhǎng)和寬大20 μ m，同時(shí)，為保證彈性連接器2與微波器件良好接觸，容置槽11的深度比微波器件的高度小約50 μ m。容置槽11數(shù)量可以根據(jù)微波器件的尺寸和測(cè)試探針臺(tái)的尺寸來(lái)確認(rèn)，例如，在一個(gè)應(yīng)用場(chǎng)景中，微波器件的尺寸為5x5mm2，測(cè)試探針臺(tái)為8寸的測(cè)試機(jī)臺(tái)，則容置槽11行列數(shù)均為10，即容置槽11的總數(shù)為100個(gè)，容置槽11之間的間距約為4.5mm，底盤(pán)I的尺寸約為100x100mm2。在本實(shí)施例中，為保證微波器件良好接地，底座I和蓋板4均由鋁制成。同時(shí)，為了保證底盤(pán)I和蓋板4能夠整齊扣合，在本實(shí)施例中，底座I上設(shè)有銷(xiāo)釘，蓋板4上設(shè)有銷(xiāo)釘孔，蓋板