一種腐蝕檢測裝置及方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明涉及電子技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種腐蝕檢測裝置及方法。
【背景技術(shù)】
[0002] 眾所周知，環(huán)境對各種電子設(shè)備的腐蝕無處不在，當(dāng)電子設(shè)備因?yàn)槭艿江h(huán)境腐蝕 出現(xiàn)大面積故障時，會給用戶帶來很大的損失。因此，檢測環(huán)境對電子設(shè)備的腐蝕情況，并 根據(jù)電子設(shè)備被腐蝕的情況對電子設(shè)備進(jìn)行維護(hù)保養(yǎng)是保證電子設(shè)備長期穩(wěn)定運(yùn)行的關(guān) 鍵。
[0003]目前常采用的對電子設(shè)備進(jìn)行腐蝕檢測的方案為：
[0004] 基于印刷板上表面金屬抽樣腐蝕檢測方法，將金屬樣品固定到印刷板上，隨著設(shè) 備在環(huán)境中運(yùn)行一段時間后，取出金屬樣品；對金屬樣品表面的銹蝕區(qū)進(jìn)行著色；采用電 子設(shè)備檢測金屬樣品上硫化程度，從而判斷環(huán)境的腐蝕程度。
[0005] 這種腐蝕檢測方案存在以下缺陷：不能自動化確定環(huán)境的腐蝕情況，需要通過人 工取樣才能判斷環(huán)境的腐蝕情況。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0006] 本發(fā)明提供一種腐蝕檢測裝置及方法，用于解決現(xiàn)有技術(shù)不能自動化確定環(huán)境的 腐蝕情況，需要通過人工取樣才能判斷環(huán)境的腐蝕情況的問題。
[0007] -種腐蝕檢測裝置，安裝于電子設(shè)備的不同位置，包括：
[0008] 腐蝕檢測模塊、復(fù)雜可編程邏輯器件CPLD模塊以及硫化模塊，所述腐蝕檢測模塊 與所述CPLD模塊和所述硫化模塊連接；其中，
[0009] 所述腐蝕檢測模塊檢測到所述硫化模塊被腐蝕時，向所述CPLD模塊發(fā)送所述硫 化模塊被腐蝕的電信號；
[0010] 所述CPLD模塊根據(jù)所述腐蝕檢測模塊發(fā)送的所述電信號生成相應(yīng)的比特串，并 將所述比特串發(fā)送給中央處理器CPU，以使所述CPU根據(jù)所述比特串確定被腐蝕的腐蝕檢 測裝置在所述電子設(shè)備中的位置。
[0011] 所述裝置中，所述硫化模塊包括暴露在環(huán)境中且無腐蝕防護(hù)能力的金屬線。
[0012] 本發(fā)明實(shí)施例中的金屬線可以為鐵線、鋁線等金屬線，當(dāng)環(huán)境的腐蝕情況較嚴(yán)重 時，可盡早發(fā)現(xiàn)環(huán)境的腐蝕情況，以盡早對電子設(shè)備進(jìn)行維護(hù)。
[0013] 所述裝置中，所述腐蝕檢測模塊具體包括：
[0014] 第一開關(guān)電路、第二開關(guān)電路，所述第一開關(guān)電路與所述第二開關(guān)電路連接，所述 第二開關(guān)電路與所述CPLD模塊連接，所述金屬線的一端與所述第一開關(guān)電路連接，所述金 屬線的另一端接地，所述腐蝕檢測模塊檢測到所述金屬線被腐蝕斷開時，所述第一開關(guān)電 路中的第一開關(guān)斷開，所述第二開關(guān)電路中的第二開關(guān)導(dǎo)通。
[0015] 所述裝置中，所述第一開關(guān)電路具體包括：
[0016] 第一三極管、第一電阻、第二電阻，其中，所述第一三級管的基極與所述第一電阻 的一端連接，所述第一電阻的另一端外接第一電源的正極，所述第一三極管的發(fā)射極與所 述金屬線的一端連接，所述第一三級管的集電極與所述第二電阻的一端連接，所述第二電 阻另一端外接第二電源的正極，且所述第一三極管的集電極與所述第二開關(guān)電路連接，所 述金屬線的另一端接地，所述第一電源和第二電源的負(fù)極接地。
[0017] 所述裝置中，所述第二開關(guān)電路具體包括：
[0018] 第二三極管、第三電阻、第四電阻、第五電阻，其中，所述第二三級管的基極與所述 第三電阻的一端連接，所述第三電阻的另一端外接第一開關(guān)電路，所述第二三極管的發(fā)射 極接地，所述第二三極管的集電極與所述第四電阻的一端連接，所述第四電阻的另一端外 接第三電源的正極，所述第二三級管的集電極通過所述第五電阻與所述CPLD模塊連接。
[0019] 所述裝置中，所述第二開關(guān)電路還包括：
[0020] 第六電阻、第一二極管，所述第二三級管的集電極通過所述第六電阻與所述二級 管的正極連接，所述第一二極管的負(fù)極外接第四電源的正極。
[0021] 本發(fā)明實(shí)施例中，當(dāng)所述無腐蝕防護(hù)能力的金屬線被腐蝕斷開時，第二三極管的 集電極的電平由高跳變?yōu)榈?，此時第一二極管D點(diǎn)亮，從而提示現(xiàn)場維護(hù)人員電子設(shè)備上 的被腐蝕的腐蝕檢測裝置的在電子設(shè)備中的位置，以便現(xiàn)場維護(hù)人員能夠迅速找到該被腐 蝕的腐蝕檢測裝置。
[0022] 所述裝置中，所述金屬線為銅線。
[0023] 所述裝置中，所述硫化模塊還包括印刷電路板PCB，所述銅線以由細(xì)到粗的蛇形走 線方式布局在所述PCB上。
[0024] 本發(fā)明實(shí)施例中，銅線由細(xì)到粗設(shè)計可表示不同的腐蝕程度，通過觀察銅線被腐 蝕斷開的位置，可在一定程度上判斷該腐蝕檢測裝置所處環(huán)境的腐蝕情況，其中，銅線越粗 的部分越不容易被腐蝕斷開，越細(xì)的部分越容易被腐蝕斷開。蛇形走線的方式可節(jié)省PCB 電路板，減小PCB電路板的面積
[0025] 當(dāng)所述電子設(shè)備為機(jī)架式交換機(jī)，所述腐蝕檢測裝置安裝在機(jī)架式交換機(jī)的每個 槽位上。
[0026] 進(jìn)一步地，所述機(jī)架式交換機(jī)的每個槽位包括出風(fēng)口、入風(fēng)口以及風(fēng)道盲區(qū)，所述 腐蝕檢測裝置分別安裝在所述出風(fēng)口、入風(fēng)口以及風(fēng)道盲區(qū)。
[0027] 本發(fā)明還提供一種腐蝕檢測方法，包括：
[0028] 接收腐蝕檢測裝置的復(fù)雜可編程邏輯器件CPLD模塊發(fā)送的比特串；
[0029] 確定所述比特串中的預(yù)設(shè)比特位的取值與默認(rèn)值不同時，確定所述腐蝕檢測裝置 被腐蝕；并根據(jù)預(yù)先設(shè)置的比特串與腐蝕檢測裝置在電子設(shè)備中的位置的對應(yīng)關(guān)系，確定 所述被腐蝕的腐蝕檢測裝置在所述電子設(shè)備中的位置。
[0030] 本發(fā)明實(shí)施例能夠自動化的獲知電子設(shè)備上被腐蝕的腐蝕檢測裝置的位置，從而 使運(yùn)維人員根據(jù)該位置的腐蝕情況對該電子設(shè)備進(jìn)行維護(hù)。
[0031] 所述方法中，所述電子設(shè)備為機(jī)架式交換機(jī)，所述腐蝕檢測裝置在所述電子設(shè)備 中的位置包括所述腐蝕檢測裝置在所述機(jī)架式交換機(jī)中的槽位信息。
[0032] 所述方法中，所述機(jī)架式交換機(jī)上的每個槽位的位置信息包括出風(fēng)口、入風(fēng)口和 風(fēng)道盲區(qū)，則所述腐蝕檢測裝置在所述電子設(shè)備中的位置還包括所述腐蝕檢測裝置在所述 每個槽位中的位置信息。
[0033] 利用本發(fā)明實(shí)施例提供的腐蝕檢測裝置及方法，具有以下有益效果：檢測裝置的 設(shè)計與CPLD模塊結(jié)合，不同的比特串代表腐蝕檢測裝置在電子設(shè)備中的不同位置信息，從 而能夠?qū)崿F(xiàn)自動化的進(jìn)行腐蝕檢測并能夠準(zhǔn)確的判斷被腐蝕的腐蝕檢測裝置在電子設(shè)備 中的位置，并且，獨(dú)立與軟件判斷腐蝕情況，不占用CPU資源，可靠穩(wěn)定性高。
【附圖說明】
[0034] 圖1為本發(fā)明實(shí)施例提供的腐蝕檢測裝置示意圖；
[0035] 圖2為本發(fā)明實(shí)施例提供的銅線在PCB電路板上的布線方式示意圖；
[0036] 圖3為本發(fā)明實(shí)施例提供的第一開關(guān)電路對應(yīng)的電路不意圖；
[0037] 圖4為本發(fā)明實(shí)施例提供的第二開關(guān)電路對應(yīng)的電路不意圖；
[0038] 圖5為本發(fā)明實(shí)施例提供的另一第二開關(guān)電路對應(yīng)的電路不意圖；
[0039] 圖6為本發(fā)明實(shí)施例提供的腐蝕檢測方法流程圖；
[0040] 圖7為本發(fā)明實(shí)施例提供的腐蝕檢測裝置對應(yīng)的電路圖；
[0041] 圖8為本發(fā)明實(shí)施例提供的腐蝕檢測裝置安裝在機(jī)架式交換機(jī)上的示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0042] 下面結(jié)合附圖和實(shí)施例對本發(fā)明提供的腐蝕檢測裝置及方法進(jìn)行更詳細(xì)地說明。
[0043] 如圖1所示，為本發(fā)明實(shí)施例提供的腐蝕檢測裝置，包括：
[0044] 腐蝕檢測模塊100、復(fù)雜可編程邏輯器件CPLD模塊200以及硫化模塊300,所述腐 蝕檢測模塊100與所述CPLD模塊200和所述硫化模塊300連接；其中，所述腐蝕檢測模塊 100檢測到所述硫化模塊300被腐蝕時，向所述CPLD模塊200發(fā)送所述硫化模塊300被腐 蝕的電信號；所述CPLD模塊200根據(jù)所述腐蝕檢測模塊100發(fā)送的