技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明涉及一種基于觸發(fā)器鏈的邏輯電路單粒子效應(yīng)測試方法。包括一下步驟：1】基于某個工藝節(jié)點設(shè)計多級數(shù)觸發(fā)器鏈；2】對觸發(fā)器鏈進(jìn)行版圖設(shè)計，再進(jìn)行版圖寄生參數(shù)提取；3】利用某個重離子LET值的輻射源進(jìn)行單粒子效應(yīng)實驗；4】通過時鐘信號得到觸發(fā)器主從鎖存器的單粒子翻轉(zhuǎn)截面比值∈；5】通過下列公式計算不同頻率下的觸發(fā)器單粒子翻轉(zhuǎn)的時間敏感因子TVF；6】通過步驟3】和步驟5】得到多級觸發(fā)器鏈中組合邏輯單元單粒子瞬態(tài)引起的軟錯誤截面；然后對實驗結(jié)果進(jìn)行線性擬合。本發(fā)明提供了一種準(zhǔn)確評估基于觸發(fā)器鏈的邏輯電路的單粒子效應(yīng)的測試方法。

技術(shù)研發(fā)人員：陳榮梅;陳偉;郭曉強(qiáng);丁李利;郭紅霞;趙雯;王園明;張鳳祁;羅尹虹;劉以農(nóng)
受保護(hù)的技術(shù)使用者：西北核技術(shù)研究所;清華大學(xué)
文檔號碼：201610793863
技術(shù)研發(fā)日：2016.08.31
技術(shù)公布日：2017.02.15