電子元件檢測裝置及其治具的制作方法
【專利摘要】一種電子元件檢測裝置及其治具，所述的電子元件檢測裝置，適用于一待測電子元件的電性測試，待測電子元件具有多個導電接觸部，電子元件檢測裝置包含一測試電路板及一治具，測試電路板形成有多個焊接部，治具包括一絕緣本體、多根探針及一鎖接組件，絕緣本體形成有一用以供待測電子元件容置的容置槽，及多個與容置槽相連通的貫孔，各探針可移離地穿設(shè)于對應(yīng)的貫孔內(nèi)，各探針底端焊接于對應(yīng)的焊接部，各探針頂端抵接于對應(yīng)的導電接觸部，使各探針電連接于對應(yīng)的焊接部與對應(yīng)的導電接觸部之間，鎖接組件可拆卸地將絕緣本體鎖固于測試電路板上。
【專利說明】電子元件檢測裝置及其治具

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實用新型涉及一種電子元件檢測裝置及其治具，特別是涉及一種用以對待測電子元件進行電性測試的電子元件檢測裝置及其治具。

【背景技術(shù)】
[0002]目前例如為封裝組件的一電子元件通常是通過一測試插座電連接于一測試電路板，以對電子元件進行電性測試。測試插座通常包含一絕緣本體，及多根彈性探針，絕緣本體形成有多個穿孔，各探針穿設(shè)并固定于對應(yīng)的穿孔內(nèi)，各探針底端插置于測試電路板的一對應(yīng)的焊接孔內(nèi)，且各探針底端焊接于對應(yīng)的焊接孔。
[0003]當電子元件插置于測試插座的絕緣本體內(nèi)時，電子元件的各導電接腳會接觸于對應(yīng)的探針頂端，此時，電子元件通過探針電連接于測試電路板上。電子元件可經(jīng)由測試插座的探針電連接至測試電路板，以對電子元件進行電性測試。
[0004]由于各探針是穿設(shè)并固定于對應(yīng)的穿孔內(nèi)，因此，各探針無法單獨拆離絕緣本體。當絕緣本體變形而導致電子元件無法插置，或者是探針損壞而無法電性導通時，就必需將整個測試插座拆離測試電路板以進行更換，易造成使用成本的增加。再者，要將各探針由測試電路板上解焊的作業(yè)也十分困難且不便，故現(xiàn)有測試插座仍有進一步改善的空間。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]本實用新型的主要目的，在于提供一種電子元件檢測裝置，治具的絕緣本體及探針皆能單獨拆離測試電路板以進行更換的作業(yè)，借此，能有效地降低使用成本。
[0006]本實用新型的目的及解決【背景技術(shù)】問題是采用以下技術(shù)方案來實現(xiàn)的，依據(jù)本實用新型提出的電子元件檢測裝置，適用于一待測電子元件的電性測試，該待測電子元件具有多個導電接觸部。
[0007]該電子元件檢測裝置包含一測試電路板及一治具，該測試電路板形成有多個焊接部，該治具包括一絕緣本體、多根探針，及至少一鎖接組件，該絕緣本體，設(shè)置于該測試電路板上，該絕緣本體形成有一用以供該待測電子元件容置的容置槽，及多個與該容置槽相連通的貫孔，各該探針可移離地穿設(shè)于對應(yīng)的該貫孔內(nèi)，各該探針底端焊接于對應(yīng)的該焊接部，各該探針頂端抵接于對應(yīng)的該導電接觸部，使各該探針電連接于對應(yīng)的該焊接部與對應(yīng)的該導電接觸部之間，該鎖接組件可拆卸地將該絕緣本體鎖固于該測試電路板上。
[0008]各該探針具有一外徑，各該貫孔具有一大于該外徑的孔徑。
[0009]該測試電路板形成有兩個穿孔，該絕緣本體形成有兩個分別與兩穿孔相連通的通孔，該治具包括兩個鎖接組件，各該鎖接組件包含一螺栓及一螺帽，各該鎖接組件的該螺栓穿設(shè)于對應(yīng)的該通孔與對應(yīng)的該穿孔，且該螺栓螺接在抵接于該測試電路板一側(cè)的該螺帽。
[0010]本實用新型的目的及解決【背景技術(shù)】問題是采用以下技術(shù)方案來實現(xiàn)的，依據(jù)本實用新型提出的電子元件檢測裝置，適用于多個待測電子元件的電性測試，各該待測電子元件具有多個導電接觸部。
[0011]該電子元件檢測裝置包含一測試電路板及一治具，該測試電路板形成有多個焊接部，該治具包括一絕緣本體、多根探針，及至少一鎖接組件，該絕緣本體設(shè)置于該測試電路板上，該絕緣本體形成有多個分別用以供所述待測電子元件容置的容置槽，及多個安裝單元，各該安裝單元包含多個與對應(yīng)的該容置槽相連通的貫孔，各該探針可移離地穿設(shè)于對應(yīng)的該貫孔內(nèi)，各該探針底端焊接于對應(yīng)的該焊接部，各該探針頂端抵接于對應(yīng)的該導電接觸部，使各該探針電連接于對應(yīng)的該焊接部與對應(yīng)的該導電接觸部之間，該鎖接組件可拆卸地將該絕緣本體鎖固于該測試電路板上。
[0012]各該探針具有一外徑，各該貫孔具有一大于該外徑的孔徑。
[0013]該測試電路板形成有兩個穿孔，該絕緣本體形成有兩個分別與兩穿孔相連通的通孔，該治具包括兩個鎖接組件，各該鎖接組件包含一螺栓及一螺帽，各該鎖接組件的該螺栓穿設(shè)于對應(yīng)的該通孔與對應(yīng)的該穿孔，且該螺栓螺接在抵接于該測試電路板一側(cè)的該螺帽。
[0014]本實用新型的另一目的，在于提供一種治具，其絕緣本體及探針皆能單獨拆離測試電路板以進行更換的作業(yè)，借此，能有效地降低使用成本。
[0015]本實用新型的目的及解決【背景技術(shù)】問題是采用以下技術(shù)方案來實現(xiàn)的，依據(jù)本實用新型提出的治具，適于設(shè)置在一測試電路板上并可供一待測電子元件放置，該測試電路板形成有多個焊接部，該待測電子元件形成有多個導電接處部。
[0016]該治具包括一絕緣本體、多根探針，及至少一鎖接組件，該絕緣本體設(shè)置于該測試電路板上，該絕緣本體形成有一用以供該待測電子元件容置的容置槽，及多個與該容置槽相連通的貫孔，各該探針可移離地穿設(shè)于對應(yīng)的該貫孔內(nèi)，各該探針底端焊接于對應(yīng)的該焊接部，各該探針頂端抵接于對應(yīng)的該導電接觸部，使各該探針電連接于對應(yīng)的該焊接部與對應(yīng)的該導電接觸部之間，該鎖接組件可拆卸地將該絕緣本體鎖固于該測試電路板上。
[0017]各該探針具有一外徑，各該貫孔具有一大于該外徑的孔徑。
[0018]該測試電路板形成有兩個穿孔，該絕緣本體形成有兩個分別與兩穿孔相連通的通孔，該治具包括兩個鎖接組件，各該鎖接組件包含一螺栓及一螺帽，各該鎖接組件的該螺栓穿設(shè)于對應(yīng)的該通孔與對應(yīng)的該穿孔，且該螺栓螺接在抵接于該測試電路板一側(cè)的該螺帽。
[0019]本實用新型的有益效果在于:治具的絕緣本體及探針皆能單獨拆離測試電路板以進行更換的作業(yè)，因此，當絕緣本體及探針其中之一損壞時，可單獨更換損壞的組件而不需更換整個治具，借此，能有效地降低使用成本。再者，能方便且迅速地進行探針與測試電路板之間的解焊作業(yè)，借此，可提升拆卸的便利性及縮短拆卸的工時。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0020]圖1是本實用新型電子元件檢測裝置的一較佳實施例的立體圖，說明治具鎖固于測試電路板上，以及各待測電子元件容置于對應(yīng)的容置槽內(nèi)；
[0021]圖2是本實用新型電子元件檢測裝置的一較佳實施例的立體分解圖，說明待測電子元件、治具及測試電路板之間的組裝關(guān)系；
[0022]圖3是本實用新型電子元件檢測裝置的一較佳實施例的絕緣本體的局部俯視圖，說明安裝單元的貫孔與容置槽相連通；
[0023]圖4是本實用新型電子元件檢測裝置的一較佳實施例的剖視示意圖，說明各鎖接組件將絕緣本體鎖固于測試電路板上；
[0024]圖5是本實用新型電子元件檢測裝置的一較佳實施例的剖視示意圖，說明各探針穿設(shè)于對應(yīng)的貫孔內(nèi)，且各探針的套筒底端的凸部穿設(shè)于對應(yīng)的焊接部內(nèi)；及
[0025]圖6是本實用新型電子元件檢測裝置的一較佳實施例的剖視示意圖，說明各探針的上接觸件抵接于待測電子元件的對應(yīng)導電接觸部。

【具體實施方式】
[0026]下面結(jié)合附圖及實施例對本實用新型進行詳細說明。
[0027]參閱圖1及圖2，是本實用新型電子元件檢測裝置的一較佳實施例，該電子元件檢測裝置200適用于多個待測電子元件I的電性測試，各待測電子元件I可為封裝組件或其他類形的電子元件，各待測電子元件I具有一本體11，及多個導電接觸部12，本體11具有一底面111，所述導電接觸部12設(shè)置于底面111且彼此相間隔,本實施例的各導電接觸部12是以金屬墊為例作說明。
[0028]參閱圖2、圖3及圖4，電子元件檢測裝置200包含一測試電路板2，及一治具3。測試電路板2包括一上表面21，及一下表面22，測試電路板2形成有多個焊接部23，及兩個穿孔24。本實施例的各焊接部23為一貫穿上表面21與下表面22的焊接孔。兩穿孔24位于所述焊接部23相反側(cè)，各穿孔24貫穿上表面21與下表面22。
[0029]治具3包括一絕緣本體31、多根探針32，及兩個鎖接組件33。絕緣本體31是由例如為塑料的絕緣材質(zhì)所制成，絕緣本體31設(shè)置于該測試電路板2上，包含一呈矩形狀的承載座311，及兩個分別凸設(shè)于承載座311短邊的凸塊312。承載座311包括一頂面313，及一底面314，承載座311的頂面313凹陷形成多個容置槽315，所述容置槽315是沿著承載座311的長度延伸方向相間隔排列，所述容置槽315分別用以供所述待測電子元件I容置。
[0030]承載座311的底面314凹陷形成多個安裝單元316，各安裝單元316包含多個與對應(yīng)的容置槽315相連通的貫孔317，各貫孔317具有一孔徑Dl。各凸塊312形成有一通孔318，各凸塊312的通孔318與測試電路板2的對應(yīng)穿孔24相連通。
[0031]參閱圖4及圖5，各探針32包含一呈中空狀的套筒321、一設(shè)置于套筒321內(nèi)且凸伸出套筒321頂端的上接觸件322，及一設(shè)置于套筒321內(nèi)的彈簧323。套筒321、上接觸件322及彈簧323皆由金屬材質(zhì)所制成。彈簧323為一上下兩端分別抵接于上接觸件322與套筒321的壓縮彈簧。各探針32的套筒321具有一外徑D2，各貫孔317的孔徑Dl大于套筒321的外徑D2，借此，使得各探針32可移離地穿設(shè)于對應(yīng)的貫孔317內(nèi)。各探針32的上接觸件322用以抵接于待測電子元件I的對應(yīng)導電接觸部12，而各探針32的套筒321則用以焊接于對應(yīng)的焊接部23，借此，使得各探針32能電連接于對應(yīng)的焊接部23與對應(yīng)的導電接觸部12之間。
[0032]參閱圖2、圖4及圖5，各鎖接組件33可拆卸地將絕緣本體31鎖固于測試電路板2上。各鎖接組件33包含一螺栓331及一螺帽332，各鎖接組件33的螺栓331用以穿設(shè)于對應(yīng)的通孔318與對應(yīng)的穿孔24，且螺栓331螺接在抵接于測試電路板2的下表面22的螺帽332，借此，能將絕緣本體31鎖固于測試電路板2上。
[0033]參閱圖2、圖4、圖5及圖6，欲對各待測電子元件I進行電性測試時，首先，將絕緣本體31的兩通孔318分別與測試電路板2的兩穿孔24對齊，之后，將絕緣本體31置放于測試電路板2的上表面21。接著，將各鎖接組件33的螺栓331穿設(shè)于對應(yīng)的通孔318與對應(yīng)的穿孔24，使螺栓331螺接在抵接于測試電路板2的下表面22的螺帽332，此時，各鎖接組件33將絕緣本體31鎖固于測試電路板2上，且絕緣本體31的各貫孔317與對應(yīng)的焊接部23相連通。
[0034]接著，將各探針32經(jīng)由對應(yīng)的容置槽315穿設(shè)于對應(yīng)的貫孔317內(nèi)，當各探針32的套筒321底端抵接于測試電路板2的上表面21時，探針32便無法繼續(xù)下移，此時，各探針32的套筒321底端的一凸部324會穿設(shè)于對應(yīng)的焊接部23內(nèi)，而上接觸件322則穿伸至容置槽315內(nèi)。隨后，通過例如為點焊的焊接方式將各探針32的套筒321的凸部324焊接于對應(yīng)的焊接部23內(nèi)，使得各探針32能與測試電路板2電連接。
[0035]最后，依序?qū)⑺龃郎y電子元件I分別放置于絕緣本體31的所述容置槽315內(nèi)，使各待測電子元件I的各導電接觸部12抵接于對應(yīng)探針32的上接觸件322頂端。隨后，沿箭頭I方向?qū)⒏鞔郎y電子元件I的本體11往下壓，本體11及導電接觸部12下移過程中會帶動上接觸件322下移，上接觸件322下移時會壓縮彈簧323使其變形，借此，使得上接觸件322緊密地接觸于對應(yīng)的導電接觸部12，以確保兩者之間能保持良好的接觸狀態(tài)。此時，即可對各待測電子元件I進行電性測試。
[0036]當治具3的絕緣本體31變形損壞時，將各螺栓331與螺接在一起的螺帽332旋松并分離，接著，將絕緣本體31往上抬升一段距離，當各探針32與絕緣本體31的對應(yīng)貫孔317分離后，便可進行絕緣本體31的更換作業(yè)。另一方面，當探針32損壞而失去電性導通的功能時，可依照前述方式先將絕緣本體31拆離測試電路板2，隨后，再將損壞的探針32與測試電路板2之間進行解焊的作業(yè)，由于解焊過程中完全不會受到絕緣本體31的阻擋及妨礙，因此，能方便且迅速地進行解焊作業(yè)，借此，可提升拆卸的便利性及縮短拆卸的工時。
[0037]由于治具3的絕緣本體31及探針32皆能單獨拆離測試電路板2以進行更換的作業(yè)，因此，當絕緣本體31及探針32其中之一損壞時，可單獨更換損壞的組件而不需更換整個治具3，借此，能有效地降低使用成本。
[0038]需說明的是，在其他的實施方式中，絕緣本體31的容置槽315數(shù)量、安裝單元316數(shù)量、通孔318數(shù)量，以及鎖接組件33數(shù)量也可分別為一個，不以本實施例所公開的數(shù)量為限。
[0039]歸納上述,本實施例的電子元件檢測裝置200,由于治具3的絕緣本體31及探針32皆能單獨拆離測試電路板2以進行更換的作業(yè)，因此，當絕緣本體31及探針32其中之一損壞時，可單獨更換損壞的組件而不需更換整個治具3，借此，能有效地降低使用成本。再者，能方便且迅速地進行探針32與測試電路板2之間的解焊作業(yè)，借此，可提升拆卸的便利性及縮短拆卸的工時，確實能達到本實用新型所訴求的目的。
【權(quán)利要求】
1.一種電子元件檢測裝置，適用于一待測電子元件的電性測試，該待測電子元件具有多個導電接觸部；其特征在于: 該電子元件檢測裝置包含一測試電路板及一治具，該測試電路板形成有多個焊接部，該治具包括一絕緣本體、多根探針，及至少一鎖接組件，該絕緣本體，設(shè)置于該測試電路板上，該絕緣本體形成有一用以供該待測電子元件容置的容置槽，及多個與該容置槽相連通的貫孔，各該探針可移離地穿設(shè)于對應(yīng)的該貫孔內(nèi)，各該探針底端焊接于對應(yīng)的該焊接部，各該探針頂端抵接于對應(yīng)的該導電接觸部，使各該探針電連接于對應(yīng)的該焊接部與對應(yīng)的該導電接觸部之間，該鎖接組件可拆卸地將該絕緣本體鎖固于該測試電路板上。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子元件檢測裝置，其特征在于:各該探針具有一外徑，各該貫孔具有一大于該外徑的孔徑。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的電子元件檢測裝置，其特征在于:該測試電路板形成有兩個穿孔，該絕緣本體形成有兩個分別與兩穿孔相連通的通孔，該治具包括兩個鎖接組件，各該鎖接組件包含一螺栓及一螺帽，各該鎖接組件的該螺栓穿設(shè)于對應(yīng)的該通孔與對應(yīng)的該穿孔，且該螺栓螺接在抵接于該測試電路板一側(cè)的該螺帽。
4.一種電子元件檢測裝置，適用于多個待測電子元件的電性測試，各該待測電子元件具有多個導電接觸部；其特征在于: 該電子元件檢測裝置包含一測試電路板及一治具，該測試電路板形成有多個焊接部，該治具包括一絕緣本體、多根探針，及至少一鎖接組件，該絕緣本體設(shè)置于該測試電路板上，該絕緣本體形成有多個分別用以供所述待測電子元件容置的容置槽，及多個安裝單元，各該安裝單元包含多個與對應(yīng)的該容置槽相連通的貫孔，各該探針可移離地穿設(shè)于對應(yīng)的該貫孔內(nèi)，各該探針底端焊接于對應(yīng)的該焊接部，各該探針頂端抵接于對應(yīng)的該導電接觸部，使各該探針電連接于對應(yīng)的該焊接部與對應(yīng)的該導電接觸部之間，該鎖接組件可拆卸地將該絕緣本體鎖固于該測試電路板上。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的電子元件檢測裝置，其特征在于:各該探針具有一外徑，各該貫孔具有一大于該外徑的孔徑。
6.根據(jù)權(quán)利要求4或5所述的電子元件檢測裝置，其特征在于:該測試電路板形成有兩個穿孔，該絕緣本體形成有兩個分別與兩穿孔相連通的通孔，該治具包括兩個鎖接組件，各該鎖接組件包含一螺栓及一螺帽，各該鎖接組件的該螺栓穿設(shè)于對應(yīng)的該通孔與對應(yīng)的該穿孔，且該螺栓螺接在抵接于該測試電路板一側(cè)的該螺帽。
7.一種治具，適于設(shè)置在一測試電路板上并可供一待測電子元件放置，該測試電路板形成有多個焊接部，該待測電子元件形成有多個導電接處部；其特征在于: 該治具包括一絕緣本體、多根探針，及至少一鎖接組件，該絕緣本體設(shè)置于該測試電路板上，該絕緣本體形成有一用以供該待測電子元件容置的容置槽，及多個與該容置槽相連通的貫孔，各該探針可移離地穿設(shè)于對應(yīng)的該貫孔內(nèi)，各該探針底端焊接于對應(yīng)的該焊接部，各該探針頂端抵接于對應(yīng)的該導電接觸部，使各該探針電連接于對應(yīng)的該焊接部與對應(yīng)的該導電接觸部之間，該鎖接組件可拆卸地將該絕緣本體鎖固于該測試電路板上。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的治具，其特征在于:各該探針具有一外徑，各該貫孔具有一大于該外徑的孔徑。
9.根據(jù)權(quán)利要求7或8所述的治具，其特征在于:該測試電路板形成有兩個穿孔，該絕緣本體形成有兩個分別與兩穿孔相連通的通孔，該治具包括兩個鎖接組件，各該鎖接組件包含一螺栓及一螺帽，各該鎖接組件的該螺栓穿設(shè)于對應(yīng)的該通孔與對應(yīng)的該穿孔，且該螺栓螺接在抵接于該測試電路板一側(cè)的該螺帽。
【文檔編號】G01R31/00GK203949986SQ201420350320
【公開日】2014年11月19日 申請日期:2014年6月27日 優(yōu)先權(quán)日:2014年6月11日
【發(fā)明者】黃文榮, 溫漢威, 林承賢, 賴俊銘, 楊建成, 吳榮富, 宋勝泰 申請人:泰藝電子股份有限公司