一種可控硅簡(jiǎn)易檢測(cè)板的制作方法
【專利摘要】本申請(qǐng)涉及可控硅檢測(cè)【技術(shù)領(lǐng)域】，特別涉及一種可控硅簡(jiǎn)易檢測(cè)板，包括檢測(cè)模塊和通路控制模塊，所述檢測(cè)模塊包括表頭M和與表頭串聯(lián)的電源E1，所述通路控制模塊包括翻轉(zhuǎn)電路和可分別用于連接待測(cè)可控硅接腳的A端子、B端子和C端子，所述翻轉(zhuǎn)電路包括常正輸出端和常負(fù)輸出端，所述B端子和翻轉(zhuǎn)電路的常正輸出端之間串接有開關(guān)支路，所述檢測(cè)模塊的兩個(gè)輸出端對(duì)應(yīng)與翻轉(zhuǎn)電路的兩個(gè)輸入端連接，所述翻轉(zhuǎn)電路的常正輸出端和A端子連接，所述翻轉(zhuǎn)電路的常負(fù)輸出端和C端子連接，本檢測(cè)板可以有效的對(duì)單向可控硅和雙向可控硅進(jìn)行檢測(cè)，檢測(cè)過(guò)程簡(jiǎn)單快捷，可靠性高。
【專利說(shuō)明】—種可控硅簡(jiǎn)易檢測(cè)板
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本申請(qǐng)涉及可控硅檢測(cè)【技術(shù)領(lǐng)域】，特別涉及一種可控硅簡(jiǎn)易檢測(cè)板。
【背景技術(shù)】
[0002]在電子、電器設(shè)備的生產(chǎn)和維修過(guò)程中，進(jìn)程需要使用到可控硅這一電子元件，自然也經(jīng)常會(huì)碰到需檢測(cè)可控硅(晶閘管)性能好壞的問(wèn)題?，F(xiàn)有技術(shù)中，檢測(cè)可控硅通常是采用“晶體管特性圖示儀”來(lái)檢測(cè)可控硅。但“圖示儀”價(jià)格昂貴，且體積笨重，不便攜帶，使用不便，一般生產(chǎn)和維修場(chǎng)合無(wú)此設(shè)備。
[0003]眾所周知，可控硅分為單向可控硅和雙向可控硅，單向可控硅具有單相導(dǎo)電性，但它與普通二極管是不一樣的是在它的陽(yáng)極(A)和陰極(K)之間加上正向電壓后它并不自動(dòng)導(dǎo)通，要使單硅導(dǎo)通，必須在它的控制極(G)加上一個(gè)正向觸發(fā)脈沖。因此，在沒有“晶體管特性圖示儀”的條件下對(duì)于單向可控硅的性能檢測(cè)至少必須包括以下幾個(gè)步驟:(1)，在單向可控硅的陽(yáng)極(A)和陰極(K)之間施加正向電壓，控制極不加觸發(fā)脈沖，判斷是否截止；
(2)控制極加觸發(fā)脈沖，檢測(cè)其是否導(dǎo)通；(3)觸發(fā)脈沖消失，檢測(cè)是否繼續(xù)導(dǎo)通；(4)施加反向電壓，判斷是否截止。一個(gè)單向可控硅必須經(jīng)過(guò)以上四個(gè)步驟的檢測(cè)才能判斷其性能的好壞。對(duì)于雙向可控硅，其基本性能與單向可控硅類型，只不過(guò)其具有雙向?qū)ǖ奶匦?，即沒有正負(fù)極之分，因此其檢測(cè)步驟除了以上的四個(gè)步驟外還需要重復(fù)步驟(2)至(4) 一遍?？梢?，對(duì)于可控硅的檢測(cè)過(guò)程步驟繁多。
[0004]而在現(xiàn)有技術(shù)中，如果沒有“晶體管特性圖示儀”，檢測(cè)者智只能手動(dòng)檢測(cè)，其必須將待檢測(cè)的可控硅連接到電源兩端，用測(cè)試表檢測(cè)是否導(dǎo)通，然后再用電源施加一個(gè)脈沖，然后再檢測(cè)是否導(dǎo)通，之后還需要將待測(cè)可控硅與電源反接后再檢測(cè)等等步驟，整個(gè)過(guò)程極為繁瑣，檢測(cè)效率低下，檢測(cè)過(guò)程容易出錯(cuò)。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]本申請(qǐng)的目的在于避免上述現(xiàn)有技術(shù)中的不足之處而提供一種結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，能在快速檢測(cè)出單相可控硅或雙向可控硅性能是否正常，便于生產(chǎn)和維修過(guò)程使用的可控硅簡(jiǎn)易檢測(cè)板。
[0006]本申請(qǐng)的目的通過(guò)以下技術(shù)方案實(shí)現(xiàn):
提供了一種可控硅簡(jiǎn)易檢測(cè)板，包括檢測(cè)模塊和通路控制模塊，所述檢測(cè)模塊包括表頭M和與表頭串聯(lián)的電源El，所述通路控制模塊包括翻轉(zhuǎn)電路、用于連接待測(cè)可控硅正極的A端子、用于連接待測(cè)可控硅負(fù)極的B端子和用于連接待測(cè)可控硅控制極的C端子，所述翻轉(zhuǎn)電路包括常正輸出端和常負(fù)輸出端，所述翻轉(zhuǎn)電路可調(diào)換所述常正輸出端和常負(fù)輸出端的極性，所述B端子經(jīng)過(guò)一個(gè)開關(guān)支路連接至翻轉(zhuǎn)電路的常正輸出端，所述檢測(cè)模塊的兩個(gè)輸出端對(duì)應(yīng)與翻轉(zhuǎn)電路的兩個(gè)輸入端連接，所述翻轉(zhuǎn)電路的常正輸出端和A端子連接，所述翻轉(zhuǎn)電路的常負(fù)輸出端和C端子連接。
[0007]其中，所述翻轉(zhuǎn)電路包括負(fù)電輸入端和正電輸入端，所述負(fù)電輸入端和常正輸出端之間串接有雙控開關(guān)K2，所述正電輸入端和常負(fù)輸出端之間串接有雙控開關(guān)K3，所述負(fù)電輸入端與常負(fù)輸出端連接，所述正電輸入端與第一輸出端連接。
[0008]其中，所述通路控制模塊還包括電源補(bǔ)充模塊，所述電源補(bǔ)充模塊可被短路的輔助電源Ε2，輔助電源Ε2受控與電源El串聯(lián)。
[0009]其中，所述翻轉(zhuǎn)電路的一個(gè)輸入端設(shè)置有D接線端子，另一個(gè)輸入端設(shè)置有E接線端子，通過(guò)D接線端子和E接線端子使得所述檢測(cè)模塊和通路控制模塊可分離式連接。
[0010]其中，所述開關(guān)支路包括串接于A端子和B端子之間的按鈕開關(guān)Κ1。
[0011]其中，所述檢測(cè)模塊為歐姆表。
[0012]本申請(qǐng)的有益效果:本發(fā)明提供一種可控硅簡(jiǎn)易檢測(cè)板，檢測(cè)時(shí)將待測(cè)可控硅的陽(yáng)極、控制極和陰極依次插設(shè)于本檢測(cè)板上的A端子、B端子和C端子，由于在翻轉(zhuǎn)電路無(wú)翻轉(zhuǎn)控制的情況下翻轉(zhuǎn)電路常正輸出端輸出高電平，常負(fù)輸出端輸出低電平，因此能實(shí)現(xiàn)在待測(cè)可控硅兩端增加電壓的目的，同時(shí)通過(guò)控制開關(guān)支路的通/斷，能夠控制待測(cè)可控硅控制極與高電平之間的通/斷，從而實(shí)現(xiàn)方便的對(duì)可控硅控制極施加正向脈沖的目的；進(jìn)一步，通過(guò)控制翻轉(zhuǎn)電路實(shí)現(xiàn)電極翻轉(zhuǎn)，即可實(shí)現(xiàn)在可控硅陽(yáng)極和陰極之間施加反向電壓的目的，可見，通過(guò)本檢測(cè)板能夠方便的對(duì)可控硅進(jìn)行檢測(cè)，檢測(cè)過(guò)程變得極為簡(jiǎn)潔可靠。此外，對(duì)于雙向可控硅則無(wú)需考慮正負(fù)極問(wèn)題，而本檢測(cè)板同樣能夠提供脈沖施加、電極翻轉(zhuǎn)等功能，同樣可以方便的進(jìn)行檢測(cè)。
【專利附圖】

【附圖說(shuō)明】
[0013]利用附圖對(duì)本申請(qǐng)作進(jìn)一步說(shuō)明，但附圖中的實(shí)施例不構(gòu)成對(duì)本申請(qǐng)的任何限制，對(duì)于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員，在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下，還可以根據(jù)以下附圖獲得其它的附圖。
[0014]圖1為本申請(qǐng)一種可控硅簡(jiǎn)易檢測(cè)板的電路結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0015]結(jié)合以下實(shí)施例對(duì)本申請(qǐng)作進(jìn)一步描述。
[0016]本申請(qǐng)一種可控硅簡(jiǎn)易檢測(cè)板的【具體實(shí)施方式】，如圖1所示，包括:檢測(cè)模塊I和通路控制模塊2，所述檢測(cè)模塊I包括串連的表頭M、l.5V電源El和電阻R0。
[0017]通路控制模塊2包括翻轉(zhuǎn)電路21，用于連接待測(cè)可控硅接腳的A端子、B端子和C端子，用于連接檢測(cè)模塊I的D端子和E端子。
[0018]翻轉(zhuǎn)電路21包括負(fù)電輸入端211、正電輸入端212、常正輸出端213和常負(fù)輸出端214。所述負(fù)電輸入端211與常負(fù)輸出端214連接，所述正電輸入端212與常正輸出端213連接，所述負(fù)電輸入端211和常正輸出端213之間串接有雙控開關(guān)Κ2，所述正電輸入端212和常負(fù)輸出端214之間串接有雙控開關(guān)Κ3。
[0019]本實(shí)施例中，雙控開關(guān)Κ2的常閉觸點(diǎn)連接負(fù)電輸入端211，雙控開關(guān)Κ2的常開觸點(diǎn)連接常正輸出端213，雙控開關(guān)Κ3的常閉觸點(diǎn)連接正電輸入端212，雙控開關(guān)Κ3的常開觸點(diǎn)連接常負(fù)輸出端214，當(dāng)然具體的連接方法可以靈活調(diào)整，例如將常閉觸點(diǎn)和常開觸點(diǎn)的連接端進(jìn)行交換也可實(shí)現(xiàn)，總之只要能夠?qū)崿F(xiàn)電極翻轉(zhuǎn)即可。本實(shí)施例中雙控開關(guān)Κ2和雙控開關(guān)Κ3為聯(lián)動(dòng)的按鈕開關(guān)，當(dāng)然根據(jù)具體的需要還可以采用其他類型開關(guān)。[0020]本實(shí)施例中，常正輸出端213和A端子連接，常負(fù)輸出端214和C端子連接，負(fù)電輸入端211和D端子連接，正電輸入端212和E端子連接。A端子和B端子之間連接有開關(guān)支路，該開關(guān)支路由處于常開狀態(tài)的按鈕開關(guān)Kl構(gòu)成。
[0021]使用時(shí)，將檢測(cè)模塊I的正極輸出端11 (根據(jù)電源El的正負(fù)極確定)插接至E端子，將檢測(cè)模塊I的負(fù)極輸出端12插接到D端子。
[0022]對(duì)于單向可控硅Ql (以下簡(jiǎn)稱單硅)，(I)將待測(cè)單硅Ql的三個(gè)電極A (陽(yáng)極)、G(控制極)、K (陰極)分別接到A端子、B端子和C端子，此時(shí)單硅Ql兩端被施加了正向電壓，如果表頭M無(wú)指示，表明單硅Ql在僅有正向電壓而無(wú)正向觸發(fā)電壓條件下未導(dǎo)通，可進(jìn)行下一步；(2)當(dāng)按下開關(guān)Κ1，B端子獲得高電平，單硅Ql的G極被施加正向觸發(fā)電壓，如果表頭有指示，表明在有正向電壓且有正向觸發(fā)電壓條件下能夠?qū)?，可進(jìn)行下一步；(3)放開開關(guān)Κ1，單硅Ql的G極上的正向觸發(fā)電壓消失，如果表頭指示不變，表明單硅Ql在正向觸發(fā)電壓消失的條件下能繼續(xù)維持導(dǎo)通，可進(jìn)行下一步；(4)按下開關(guān)Κ2和開關(guān)Κ3，A端子由高電平變?yōu)榈碗娖?，C端子由低電平變?yōu)楦唠娖?，單硅Ql的A極和K極間被加上反向電壓，此時(shí)如果表頭指示降為零，表明單硅Ql在被施加反向電壓后能夠順利從導(dǎo)通變?yōu)樽钄?，被測(cè)單硅Ql性能正常；若未能順利完成以上步驟，則說(shuō)明單硅Ql性能異常。
[0023]對(duì)于雙向可控硅(以下簡(jiǎn)稱雙硅)，其基本原理與單向可控硅一致，只不過(guò)其不具有A極和K極，僅具有Τ2極、G極和Tl極，其中G極同為控制極，Τ2極和Tl極無(wú)正負(fù)之分，檢測(cè)時(shí)可將待測(cè)雙硅Q2的G極插接到B端子，Τ2極和Tl極插接到A端子和C端子，之后依次按照以上步驟執(zhí)行，完成后再重復(fù)(2)至(4)即可。在此不再贅述。
[0024]綜上可知，本檢測(cè)板可以有效的對(duì)單向可控硅和雙向可控硅進(jìn)行檢測(cè)，檢測(cè)過(guò)程簡(jiǎn)單快捷，可靠性高。此外，由于本檢測(cè)板提供了一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)化的檢測(cè)過(guò)程，且檢測(cè)過(guò)程無(wú)需對(duì)可控硅做過(guò)多操作，因此在生產(chǎn)過(guò)程中還可以配合自動(dòng)化儀器實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化檢測(cè)，檢測(cè)者只需件將待測(cè)可控硅插設(shè)與相應(yīng)端子上即可，由設(shè)備自動(dòng)依照程序控制開關(guān)Κ1、開關(guān)Κ2和開關(guān)Κ3并檢測(cè)表頭的顯示情況即可自動(dòng)得到檢測(cè)結(jié)果，可以有效的提高檢測(cè)效率。
[0025]進(jìn)一步的，通路控制模塊2還包括電源補(bǔ)充模塊22，所述電源補(bǔ)充模塊22包括連接于翻轉(zhuǎn)電路21的負(fù)電輸入端211的雙控開關(guān)Κ4(也可連接于正電輸入端212)，所述雙控開關(guān)Κ4的常開觸點(diǎn)和常閉觸點(diǎn)之間跨接有輔助電源Ε2，所述輔助電源Ε2受控開關(guān)Κ4控制與電源El串聯(lián)。在通常情況下整個(gè)檢測(cè)過(guò)程可直接檢測(cè)模塊I的電源El提高供電，但是在對(duì)于一些大功率可控硅時(shí)，可以按下雙控開關(guān)Κ4，此時(shí)輔助電源Ε2即串聯(lián)至電源El上，從而得到較大電壓的電源以檢測(cè)大功率可控硅。
[0026]觀察可知，本檢測(cè)板中檢測(cè)模塊I電路與現(xiàn)有的歐姆表的電路是一致的，因此在實(shí)際使用過(guò)程中可以直接將歐姆表的兩個(gè)表筆直接插接到D端子和E端子上進(jìn)行使用。為此，本實(shí)施例中檢測(cè)模塊I和通路控制模塊2采用可分離連接的設(shè)計(jì)方式，當(dāng)然根據(jù)具體需要也可以將兩者直接集合在同一電路板上。
[0027]最后應(yīng)當(dāng)說(shuō)明的是，以上實(shí)施例僅用以說(shuō)明本申請(qǐng)的技術(shù)方案，而非對(duì)本申請(qǐng)保護(hù)范圍的限制，盡管參照較佳實(shí)施例對(duì)本申請(qǐng)作了詳細(xì)地說(shuō)明，本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解，可以對(duì)本申請(qǐng)的技術(shù)方案進(jìn)行修改或者等同替換，而不脫離本申請(qǐng)技術(shù)方案的實(shí)質(zhì)和范圍。
【權(quán)利要求】
1.一種可控硅簡(jiǎn)易檢測(cè)板，其特征在于，包括檢測(cè)模塊和通路控制模塊，所述檢測(cè)模塊包括表頭M和與表頭串聯(lián)的電源E1，所述通路控制模塊包括翻轉(zhuǎn)電路、用于連接待測(cè)可控硅正極的A端子、用于連接待測(cè)可控硅負(fù)極的B端子和用于連接待測(cè)可控硅控制極的C端子，所述翻轉(zhuǎn)電路包括常正輸出端和常負(fù)輸出端，所述翻轉(zhuǎn)電路可調(diào)換所述常正輸出端和常負(fù)輸出端的極性，所述B端子經(jīng)過(guò)一個(gè)開關(guān)支路連接至翻轉(zhuǎn)電路的常正輸出端，所述檢測(cè)模塊的兩個(gè)輸出端對(duì)應(yīng)與翻轉(zhuǎn)電路的兩個(gè)輸入端連接，所述翻轉(zhuǎn)電路的常正輸出端和A端子連接，所述翻轉(zhuǎn)電路的常負(fù)輸出端和C端子連接。
2.如權(quán)利要求1所述的一種可控硅簡(jiǎn)易檢測(cè)板，其特征在于，所述翻轉(zhuǎn)電路包括負(fù)電輸入端和正電輸入端，所述負(fù)電輸入端和常正輸出端之間串接有雙控開關(guān)K2,所述正電輸入端和常負(fù)輸出端之間串接有雙控開關(guān)K3，所述負(fù)電輸入端與常負(fù)輸出端連接，所述正電輸入端與第一輸出端連接。
3.如權(quán)利要求1所述的一種可控硅簡(jiǎn)易檢測(cè)板，其特征在于所述通路控制模塊還包括電源補(bǔ)充模塊，所述電源補(bǔ)充模塊包括可被短路的輔助電源E2，輔助電源E2受控與電源El串聯(lián)。
4.如權(quán)利要求1所述的一種可控硅簡(jiǎn)易檢測(cè)板，其特征在于，所述翻轉(zhuǎn)電路的一個(gè)輸入端設(shè)置有D接線端子，另一個(gè)輸入端設(shè)置有E接線端子，通過(guò)D接線端子和E接線端子使得所述檢測(cè)模塊和通路控制模塊可分離式連接。
5.如權(quán)利要求1所述的一種可控硅簡(jiǎn)易檢測(cè)板，其特征在于，所述開關(guān)支路包括串接于A端子和B端子之間的按鈕開關(guān)Kl。
6.如權(quán)利要求1所述的一種可控硅簡(jiǎn)易檢測(cè)板，其特征在于，所述檢測(cè)模塊為歐姆表。
【文檔編號(hào)】G01R31/26GK103529374SQ201310520740
【公開日】2014年1月22日 申請(qǐng)日期:2013年10月29日 優(yōu)先權(quán)日:2013年10月29日
【發(fā)明者】李正中, 顏榮 申請(qǐng)人:東莞市大忠電子有限公司