電子裝置測試系統(tǒng)及方法
【專利摘要】一種電子裝置測試系統(tǒng)，包括：輸出模塊，用于在電子裝置不連接顯示器且顯卡的一個輸出端口與測試治具相連接時，輸出預定電壓至所述電子裝置；計算模塊，用于計算顯卡的電流值；分析模塊，用于獲取預定時間段內(nèi)的顯卡的電流值，并確定獲取的電流值在多個預設電流段的分布數(shù)據(jù)；及判斷模塊，用于在所確定的分布數(shù)據(jù)與預設參考數(shù)據(jù)在誤差范圍內(nèi)一致時，確定所述電子裝置正常運行，或在不一致時，確定所述電子裝置發(fā)生異常。本發(fā)明還提供一種電子裝置測試方法。利用本發(fā)明可在不連接顯示器的條件下完成對電子裝置的測試。
【專利說明】電子裝置測試系統(tǒng)及方法

【技術領域】
[0001] 本發(fā)明涉及測試技術，尤其涉及一種對電子裝置進行測試的系統(tǒng)及方法。

【背景技術】
[0002] 在對電子裝置(例如，計算機、服務器、工作站等）進行老化測試時，通常是不將該 電子裝置與顯示器進行連接的。然而，若不連接顯示器，顯卡等設備不會進行輸出，則無法 使得顯示系統(tǒng)工作在預定功率下，從而影響顯示系統(tǒng)的測試結(jié)果。
[0003] 此外，在不連接顯示器的狀況下還會無法及時對測試出現(xiàn)的可恢復的異常進行識 別與解決。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0004] 鑒于以上內(nèi)容，有必要提供一種電子裝置測試系統(tǒng)及方法，可在不連接電子裝置 與顯示器的條件下，完成對電子裝置的測試。
[0005] -種電子裝置測試方法，所述電子裝置包括顯卡和存儲裝置，所述存儲裝置存儲 了所述電子裝置與顯示器連接時在預定電壓輸出下所述顯示器在預定時間段內(nèi)的電流分 布數(shù)據(jù)，將所述分布數(shù)據(jù)作為參考數(shù)據(jù)，該方法包括：在所述電子裝置不連接顯示器時，將 所述顯卡的一個輸出端口與測試治具相連接；輸出所述預定電壓至所述電子裝置；計算所 述顯卡的電流值；獲取預定時間段內(nèi)的所述顯卡的電流值；確定所獲取的電流值在多個預 設電流段的分布數(shù)據(jù)；判斷所確定的分布數(shù)據(jù)是否與所述參考數(shù)據(jù)在誤差范圍內(nèi)一致；及 在所確定的分布數(shù)據(jù)與所述參考數(shù)據(jù)在誤差范圍內(nèi)一致時，確定所述電子裝置正常運行； 或在所確定的分布數(shù)據(jù)與所述參考數(shù)據(jù)在誤差范圍內(nèi)不一致時，確定所述電子裝置發(fā)生異 堂 巾。
[0006] -種電子裝置測試系統(tǒng)，所述電子裝置包括顯卡和存儲裝置，所述存儲裝置存儲 了所述電子裝置與顯示器連接時在預定電壓輸出下所述顯示器在預定時間段內(nèi)的電流分 布數(shù)據(jù)，將所述分布數(shù)據(jù)作為參考數(shù)據(jù)，該系統(tǒng)包括：輸出模塊，用于在所述電子裝置不連 接顯示器且所述顯卡的一個輸出端口與測試治具相連接時，輸出所述預定電壓至所述電子 裝置；計算模塊，用于計算所述顯卡的電流值；分析模塊，用于獲取預定時間段內(nèi)的所述顯 卡的電流值，并確定所獲取的電流值在多個預設電流段的分布數(shù)據(jù)；及判斷模塊，用于在所 確定的分布數(shù)據(jù)與所述參考數(shù)據(jù)在誤差范圍內(nèi)一致時，確定所述電子裝置正常運行，或在 所確定的分布數(shù)據(jù)與所述參考數(shù)據(jù)在誤差范圍內(nèi)不一致時，確定所述電子裝置發(fā)生異常。
[0007] 相較于現(xiàn)有技術，所述的電子裝置測試系統(tǒng)及方法，可以使得電子裝置內(nèi)的顯示 系統(tǒng)(例如，顯卡等顯示設備）模擬所述電子裝置連接顯示器的條件，從而在不連接電子裝 置與顯示器的條件下，便可根據(jù)顯卡的電流數(shù)據(jù)判斷所述電子裝置是否運行正常，以完成 對電子裝置的測試。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0008] 圖1是本發(fā)明電子裝置測試系統(tǒng)的較佳實施方式的第一測試環(huán)境示意圖。
[0009] 圖2是本發(fā)明電子裝置測試系統(tǒng)的較佳實施方式的第二測試環(huán)境示意圖。
[0010] 圖3是本發(fā)明電子裝置測試系統(tǒng)的較佳實施方式的功能模塊圖。
[0011] 圖4是本發(fā)明電子裝置測試系統(tǒng)的較佳實施方式的電流值示意圖。
[0012] 圖5是本發(fā)明電子裝置測試方法的較佳實施方式的參考數(shù)據(jù)設置流程圖。
[0013] 圖6是本發(fā)明電子裝置測試方法的較佳實施方式的流程圖。
[0014] 主要元件符號說明

【權利要求】
1. 一種電子裝置測試方法，所述電子裝置包括顯卡和存儲裝置，其特征在于，所述存儲 裝置存儲了所述電子裝置與顯示器連接時在預定電壓輸出下所述顯示器在預定時間段內(nèi) 的電流分布數(shù)據(jù)，將所述分布數(shù)據(jù)作為參考數(shù)據(jù)，該方法包括： 在所述電子裝置不連接顯示器時，將所述顯卡的一個輸出端口與測試治具相連接； 輸出所述預定電壓至所述電子裝置； 計算所述顯卡的電流值； 獲取預定時間段內(nèi)的所述顯卡的電流值； 確定所獲取的電流值在多個預設電流段的分布數(shù)據(jù)； 判斷所確定的分布數(shù)據(jù)是否與所述參考數(shù)據(jù)在誤差范圍內(nèi)一致；及 在所確定的分布數(shù)據(jù)與所述參考數(shù)據(jù)在誤差范圍內(nèi)一致時，確定所述電子裝置正常運 行；或 在所確定的分布數(shù)據(jù)與所述參考數(shù)據(jù)在誤差范圍內(nèi)不一致時，確定所述電子裝置發(fā)生 異常。
2. 如權利要求1所述的電子裝置測試方法，其特征在于，所述的參考數(shù)據(jù)通過如下步 驟獲?。?連接所述電子裝置與顯示器，輸出所述預定電壓至所述電子裝置； 計算所述顯示器在預定時間段內(nèi)的電流值； 確定所述顯示器的電流值在所述多個電流段的分布數(shù)據(jù)； 將所述分布數(shù)據(jù)設置為參考數(shù)據(jù)；及 斷開所述顯示器與所述電子裝置的連接。
3. 如權利要求1或2所述的電子裝置測試方法，其特征在于，所述的計算所述顯卡的電 流值的步驟包括： 從電源管理總線讀取所述電子裝置的總電流；及 將所述總電流減去所述電子裝置中其余元件的電流以確定所述顯卡的電流。
4. 如權利要求1或2所述的電子裝置測試方法，其特征在于，在所確定的分布數(shù)據(jù)與所 述參考數(shù)據(jù)在誤差范圍內(nèi)不一致時，該方法還包括： 在所獲取的電流值小于或等于第一閥值時，確定所述電子裝置在測試過程中發(fā)生過死 機事件； 在所獲取的電流值處于預設區(qū)間時，確定所述電子裝置在測試過程中發(fā)生過花屏事 件； 在所獲取的電流值達到零后再次變化時，確定所述電子裝置在測試過程中發(fā)生過重啟 事件；或 在所獲取的電流值達到零后不再變化時，確定所述電子裝置停止運行。
5. 如權利要求1或2所述的電子裝置測試方法，其特征在于，所述的測試治具是顯卡回 路。
6. -種電子裝置測試系統(tǒng)，所述電子裝置包括顯卡和存儲裝置，其特征在于，所述存儲 裝置存儲了所述電子裝置與顯示器連接時在預定電壓輸出下所述顯示器在預定時間段內(nèi) 的電流分布數(shù)據(jù)，將所述分布數(shù)據(jù)作為參考數(shù)據(jù)，該系統(tǒng)包括： 輸出模塊，用于在所述電子裝置不連接顯示器且所述顯卡的一個輸出端口與測試治具 相連接時，輸出所述預定電壓至所述電子裝置； 計算模塊，用于計算所述顯卡的電流值； 分析模塊，用于獲取預定時間段內(nèi)的所述顯卡的電流值，并確定所獲取的電流值在多 個預設電流段的分布數(shù)據(jù)；及 判斷模塊，用于在所確定的分布數(shù)據(jù)與所述參考數(shù)據(jù)在誤差范圍內(nèi)一致時，確定所述 電子裝置正常運行，或在所確定的分布數(shù)據(jù)與所述參考數(shù)據(jù)在誤差范圍內(nèi)不一致時，確定 所述電子裝置發(fā)生異常。
7. 如權利要求6所述的電子裝置測試系統(tǒng)，其特征在于，所述的參考數(shù)據(jù)通過如下方 式獲?。?所述的輸出模塊在所述電子裝置與顯示器連接時，輸出所述預定電壓至所述電子裝 置； 所述的計算模塊計算所述顯示器在預定時間段內(nèi)的電流值； 所述的分析模塊確定所述顯示器的電流值在所述多個電流段的分布數(shù)據(jù)，并將所述分 布數(shù)據(jù)設置為參考數(shù)據(jù)。
8. 如權利要求6或7所述的電子裝置測試系統(tǒng)，其特征在于，所述的計算模塊從電源管 理總線讀取所述電子裝置的總電流，并將所述總電流減去所述電子裝置中其余元件的電流 以確定所述顯卡的電流。
9. 如權利要求6或7所述的電子裝置測試系統(tǒng)，其特征在于，在所確定的分布數(shù)據(jù)與所 述參考數(shù)據(jù)在誤差范圍內(nèi)不一致時，所述的判斷模塊還用于： 在所獲取的電流值小于或等于第一閥值時，確定所述電子裝置在測試過程中發(fā)生過死 機事件； 在所獲取的電流值處于預設區(qū)間時，確定所述電子裝置在測試過程中發(fā)生過花屏事 件； 在所獲取的電流值達到零后再次變化時，確定所述電子裝置在測試過程中發(fā)生過重啟 事件；或 在所獲取的電流值達到零后不再變化時，確定所述電子裝置停止運行。
10. 如權利要求6或7所述的電子裝置測試系統(tǒng)，其特征在于，所述的測試治具是顯卡 回路。
【文檔編號】G01R31/00GK104111384SQ201310135250
【公開日】2014年10月22日 申請日期:2013年4月18日 優(yōu)先權日:2013年4月18日
【發(fā)明者】王光建 申請人:鴻富錦精密工業(yè)（深圳）有限公司, 鴻海精密工業(yè)股份有限公司