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一種動(dòng)態(tài)電阻測(cè)試設(shè)備的制作方法

文檔序號(hào):5974817閱讀:238來(lái)源:國(guó)知局
專利名稱:一種動(dòng)態(tài)電阻測(cè)試設(shè)備的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及一種測(cè)試設(shè)備,尤其是涉及一種動(dòng)態(tài)電阻測(cè)試設(shè)備。
背景技術(shù)
根據(jù)相關(guān)規(guī)定,導(dǎo)電回路電阻 測(cè)試是斷路器必備的定期試驗(yàn)項(xiàng)目,以檢測(cè)斷路器主觸頭間的接觸狀況。按照相關(guān)規(guī)定,導(dǎo)電回路電阻測(cè)試采用直流壓降法進(jìn)行,試驗(yàn)電流不小于100A。一般情況下,現(xiàn)場(chǎng)使用100 600A的試驗(yàn)儀器進(jìn)行導(dǎo)電回路電阻測(cè)試,受到容量的限制,現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行導(dǎo)電回路電阻測(cè)試的儀器試驗(yàn)電流一般都在1000A以下。但從本文前節(jié)的試驗(yàn)結(jié)果可看出,1000A以下的試驗(yàn)電流往往無(wú)法準(zhǔn)確檢測(cè)到運(yùn)行狀態(tài)時(shí)斷路器觸頭的接觸狀況。因此當(dāng)用普通儀器進(jìn)行GCB導(dǎo)電回路電阻測(cè)試所得結(jié)果偏大時(shí),不應(yīng)直接判斷GCB觸頭接觸不良,應(yīng)加大試驗(yàn)電流進(jìn)行測(cè)試。當(dāng)隨著試驗(yàn)電流的增加,及通流時(shí)間的增長(zhǎng),GCB導(dǎo)電回路電阻測(cè)試結(jié)果不再變化時(shí),可認(rèn)為得到了 GCB運(yùn)行工況下的導(dǎo)電回路電阻值。大電流導(dǎo)電回路電阻測(cè)試可以采取兩種方式直接用更大的直流電流進(jìn)行測(cè)試,需能提供幾千乃至上萬(wàn)安培的測(cè)試儀器;先對(duì)GCB滅弧室通過較大的交流電流,通流一段時(shí)間后,再用普通儀器進(jìn)行導(dǎo)電回路電阻測(cè)試。如使用第二種方法,根據(jù)桐柏蓄能公司GCB在實(shí)驗(yàn)室中的大電流試驗(yàn)結(jié)果,須使用至少3500A的交流電流通過GCB—段時(shí)間后,才能得到理想的導(dǎo)電回路電阻測(cè)試結(jié)果,根據(jù)具體情況的不同,所需試驗(yàn)電流和通流時(shí)間會(huì)有所變化。對(duì)于第一種方法,初步推斷可得到與第二種方法近似的效果,但由于目前試驗(yàn)儀器還在研制中,暫時(shí)無(wú)具體的試驗(yàn)數(shù)據(jù)。GCB是一種罐式SF6斷路器,它包括主觸頭和弧觸頭。一般情況下,主觸頭采用銅鍍銀的材料,電阻很小,而弧觸頭采用鎢合金的材料,與主觸頭相比電阻較大,但其耐高溫。運(yùn)行時(shí),GCB處于合閘狀態(tài),主觸頭和弧觸頭處于并聯(lián)狀態(tài),主觸頭的電阻遠(yuǎn)遠(yuǎn)小于弧觸頭的電阻,當(dāng)GCB分閘操作時(shí),主觸頭首先分開,經(jīng)過一段時(shí)間后(幾個(gè)毫秒)后,弧觸頭再分開,在這段時(shí)間內(nèi),電流從主觸頭上轉(zhuǎn)移到弧觸頭上,利用弧觸頭的耐高溫性能,由弧觸頭經(jīng)燃弧、息弧過程,分?jǐn)嚯娏?。由于每次開斷都由弧觸頭通過燃弧、息弧過程分?jǐn)嚯娏?,造成了?duì)弧觸頭材料的燒蝕,雖然弧觸頭采用了鎢合金這種耐高溫?zé)g的材料,但這種燒蝕還是存在的,造成了弧觸頭逐漸變短,主、弧觸頭分離時(shí)間間隔也相應(yīng)逐步變短,當(dāng)這個(gè)間隔時(shí)間減少到一定程度后,在分閘過程中,將不足以在主觸頭分開后,使電流轉(zhuǎn)移到弧觸頭上,這時(shí)將直接在主觸頭上燃弧,由于主觸頭采用的是電阻率小的銅鍍銀材料,不耐高溫,因此將被燃弧過程中產(chǎn)生的高溫?zé)龤В斐稍O(shè)備事故。要保證在主、弧觸頭分離時(shí)間間隔減小的某一安全值前對(duì)GCB滅弧室進(jìn)行大修。我們所要檢測(cè)的GCB電氣壽命也就是檢測(cè)弧觸頭的燒蝕程度,這可以通過某種測(cè)試方法,檢測(cè)主觸頭分離和弧觸頭分離的時(shí)間間隔來(lái)實(shí)現(xiàn)
實(shí)用新型內(nèi)容
[0006]本實(shí)用新型的目的就是為了克服上述現(xiàn)有技術(shù)存在的缺陷而提供一種裝置簡(jiǎn)單、電流要求不高、測(cè)量準(zhǔn)確的動(dòng)態(tài)電阻測(cè)試設(shè)備。本實(shí)用新型的目的可以通過以下技術(shù)方案來(lái)實(shí)現(xiàn)一種動(dòng)態(tài)電阻測(cè)試設(shè)備,包括開關(guān)測(cè)試儀、斷路器及控制柜,所述的開關(guān)測(cè)試儀包括電源裝置、測(cè)試裝置及控制裝置,所述的斷路器兩端通過電流線與電源裝置連接,通過電壓測(cè)試線與測(cè)試裝置連接,所述的控制裝置與控制柜連接。所述的斷路器為一種罐式SF6斷路器,設(shè)有主觸頭和弧觸頭。所述的控制柜設(shè)有電源正極及電源負(fù)極。所述的控制裝置通過導(dǎo)線與控制柜的電源正極連接,分別通過合閘線圈及跳閘線圈與控制柜的電源負(fù)極并聯(lián)連接。與現(xiàn)有技術(shù)相比,本實(shí)用新型裝置簡(jiǎn)單、電流要求不高、測(cè)量準(zhǔn)確。

圖I為本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施方式
以下結(jié)合附圖和具體實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型進(jìn)行詳細(xì)說(shuō)明。實(shí)施例一種動(dòng)態(tài)電阻測(cè)試設(shè)備,其結(jié)構(gòu)如圖I所示,包括開關(guān)測(cè)試儀、斷路器4及控制柜5,開關(guān)測(cè)試儀包括電源裝置I、測(cè)試裝置2及控制裝置3,斷路器4兩端通過電流線與電源裝置I連接,通過電壓測(cè)試線與測(cè)試裝置2連接,控制裝置3與控制柜5連接。斷路器4為一種罐式SF6斷路器,設(shè)有主觸頭和弧觸頭??刂乒?設(shè)有電源正極6及電源負(fù)極7??刂蒲b置3通過導(dǎo)線與控制柜5的電源正極6連接,分別通過合閘線圈及跳閘線圈與控制柜5的電源負(fù)極7并聯(lián)連接。在斷路器4合閘時(shí),對(duì)其通以一定的直流電阻,然后對(duì)斷路器4進(jìn)行分閘操作,在整個(gè)過程中,測(cè)試回路電阻的變化情況,通過電阻的變化曲線,可得到主觸頭、弧觸頭分離時(shí)間間隔,與該時(shí)間間隔的限值比較,可得到斷路器4所剩的電氣壽命。
權(quán)利要求1.一種動(dòng)態(tài)電阻測(cè)試設(shè)備,其特征在于,設(shè)備包括開關(guān)測(cè)試儀、斷路器及控制柜,所述的開關(guān)測(cè)試儀包括電源裝置、測(cè)試裝置及控制裝置,所述的斷路器兩端通過電流線與電源裝置連接,通過電壓測(cè)試線與測(cè)試裝置連接,所述的控制裝置與控制柜連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的一種動(dòng)態(tài)電阻測(cè)試設(shè)備,其特征在于,所述的斷路器為一種罐式SF6斷路器,設(shè)有主觸頭和弧觸頭。
3.根據(jù)權(quán)利要求I所述的一種動(dòng)態(tài)電阻測(cè)試設(shè)備,其特征在于,所述的控制柜設(shè)有電源正極及電源負(fù)極。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種動(dòng)態(tài)電阻測(cè)試設(shè)備,其特征在于,所述的控制裝置通過導(dǎo)線與控制柜的電源正極連接,分別通過合閘線圈及跳閘線圈與控制柜的電源負(fù)極并聯(lián)連接。
專利摘要本實(shí)用新型涉及一種動(dòng)態(tài)電阻測(cè)試設(shè)備,包括開關(guān)測(cè)試儀、斷路器及控制柜,開關(guān)測(cè)試儀包括電源裝置、測(cè)試裝置及控制裝置,斷路器兩端通過電流線與電源裝置連接,通過電壓測(cè)試線與測(cè)試裝置連接,控制裝置通過導(dǎo)線與控制柜的電源正極連接,分別通過合閘線圈及跳閘線圈與控制柜的電源負(fù)極并聯(lián)連接。與現(xiàn)有技術(shù)相比,本實(shí)用新型具有裝置簡(jiǎn)單、電流要求不高、測(cè)量準(zhǔn)確等優(yōu)點(diǎn)。
文檔編號(hào)G01R31/327GK202502159SQ201220123760
公開日2012年10月24日 申請(qǐng)日期2012年3月28日 優(yōu)先權(quán)日2012年3月28日
發(fā)明者徐光昶, 徐鵬, 陳洪崗 申請(qǐng)人:上海市電力公司, 華東電力試驗(yàn)研究院有限公司
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