專利名稱：擺錘沖擊試驗(yàn)機(jī)低溫試樣碼盤(pán)裝樣裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種試樣碼盤(pán)裝樣裝置，特別涉及一種擺錘沖擊試驗(yàn)機(jī)低溫試驗(yàn)時(shí)機(jī) 械手自動(dòng)上樣系統(tǒng)中試樣碼盤(pán)裝樣裝置。
背景技術(shù)：
傳統(tǒng)的擺錘沖擊試驗(yàn)機(jī)做低溫試驗(yàn)時(shí)，通常采用手工送樣方法，即用試樣夾鉗從 低溫箱內(nèi)取出低溫試樣，放入沖擊砧座上，然后進(jìn)行沖擊過(guò)程。這種方法對(duì)于成批試驗(yàn)時(shí)的 缺點(diǎn)是1.勞動(dòng)強(qiáng)度大；2.短距離接觸低溫環(huán)境容易造成凍傷手指現(xiàn)象；3.在放試樣于砧 座時(shí)萬(wàn)一擺錘失控從高處落下砸傷手指；4.手工取試樣送到砧座對(duì)中放試樣再開(kāi)始沖擊 試樣，即試樣從離開(kāi)低溫箱到完成試樣沖擊，所花時(shí)間難以保證國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)所規(guī)定的時(shí)間限 度。隨著科學(xué)技術(shù)的飛速發(fā)展，目前，在擺錘沖擊試驗(yàn)機(jī)做低溫試驗(yàn)裝樣時(shí)，急切需要 一種新的解決方案來(lái)代替人工送樣方式，從而解決上述勞動(dòng)強(qiáng)度大以及造成凍傷手指現(xiàn)象 等問(wèn)題。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明要解決的技術(shù)問(wèn)題是提供一種擺錘沖擊試驗(yàn)機(jī)低溫試樣碼盤(pán)裝樣裝置，該 擺錘沖擊試驗(yàn)機(jī)低溫試樣碼盤(pán)裝樣裝置解決了人工送樣勞動(dòng)強(qiáng)度大以及造成凍傷手指現(xiàn) 象等問(wèn)題。為解決上述技術(shù)問(wèn)題，所述的擺錘沖擊試驗(yàn)機(jī)低溫試樣碼盤(pán)裝樣裝置，其特征在 于主要由與外設(shè)驅(qū)動(dòng)裝置連接并隨之作圓周運(yùn)動(dòng)的圓盤(pán)裝置3和設(shè)置在該圓盤(pán)裝置3上 端并隨之轉(zhuǎn)動(dòng)的試樣碼盤(pán)4組成，所述圓盤(pán)裝置3上設(shè)有多個(gè)試樣碼盤(pán)定位銷(xiāo)1，試樣碼盤(pán) 4通過(guò)該試樣碼盤(pán)定位銷(xiāo)1固定在圓盤(pán)裝置3上；在試樣碼盤(pán)4上等間距開(kāi)設(shè)有多個(gè)凹槽 口，在每個(gè)凹槽口內(nèi)設(shè)有當(dāng)標(biāo)準(zhǔn)試樣5嵌入凹槽口時(shí)能準(zhǔn)確定位的試樣缺口定位銷(xiāo)6，在試 樣碼盤(pán)4上還設(shè)有兩個(gè)用于移動(dòng)和安放試樣碼盤(pán)4的碼盤(pán)提鉤7。所述圓盤(pán)裝置3為一圓盤(pán)，所述試樣碼盤(pán)4為一四分之一圓環(huán)，在所述圓盤(pán)裝置3 的上端邊緣上放置有四個(gè)所述試樣碼盤(pán)4。在所述圓盤(pán)裝置3上設(shè)有號(hào)碼柱2，該號(hào)碼柱2的放置位置與所述試樣碼盤(pán)4上放 置所述標(biāo)準(zhǔn)試樣5的凹槽口的位置相對(duì)應(yīng)。所述試樣碼盤(pán)定位銷(xiāo)1為圓錐形。所述碼盤(pán)提鉤7由金屬材料制成，在碼盤(pán)提鉤7的下端設(shè)有螺紋，在所述試樣碼盤(pán) 4上設(shè)有與該螺紋相匹配的螺紋孔。本發(fā)明提供一種擺錘沖擊試驗(yàn)機(jī)低溫試樣碼盤(pán)裝樣裝置，由于整個(gè)過(guò)程快速、準(zhǔn) 確、方便，與現(xiàn)有技術(shù)相比，具有以下優(yōu)點(diǎn)1.加快了低溫試驗(yàn)的速度，提高了工作效率；2.方便了操作者進(jìn)行低溫裝樣形式，從而避免了凍傷手指的情況，提高了安全系數(shù)。


圖1為本發(fā)明擺錘沖擊試驗(yàn)機(jī)低溫試樣碼盤(pán)裝樣裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。圖2為本發(fā)明擺錘沖擊試驗(yàn)機(jī)低溫試樣碼盤(pán)裝樣裝置的試樣碼盤(pán)的俯視結(jié)構(gòu)示 意圖。圖3為本發(fā)明擺錘沖擊試驗(yàn)機(jī)低溫試樣碼盤(pán)裝樣裝置的試樣碼盤(pán)的左視結(jié)構(gòu)示 意圖。圖中1.試樣碼盤(pán)定位銷(xiāo)，2.號(hào)碼柱，3.圓盤(pán)裝置，4.試樣碼盤(pán)，5.標(biāo)準(zhǔn)試樣， 6.試樣缺口定位銷(xiāo)，7.碼盤(pán)提鉤。
具體實(shí)施例方式下面結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步說(shuō)明
如圖1、圖2及圖3所示的擺錘沖擊試驗(yàn)機(jī)低溫試樣碼盤(pán)裝樣裝置，主要由與外設(shè) 驅(qū)動(dòng)裝置連接并隨之作圓周運(yùn)動(dòng)的圓盤(pán)裝置3和設(shè)置在該圓盤(pán)裝置3上端并隨之轉(zhuǎn)動(dòng)的試 樣碼盤(pán)4組成，所述圓盤(pán)裝置3上設(shè)有多個(gè)試樣碼盤(pán)定位銷(xiāo)1，試樣碼盤(pán)4通過(guò)該試樣碼盤(pán) 定位銷(xiāo)1固定在圓盤(pán)裝置3上；在試樣碼盤(pán)4上等間距開(kāi)設(shè)有多個(gè)凹槽口，在每個(gè)凹槽口內(nèi) 設(shè)有當(dāng)標(biāo)準(zhǔn)試樣5嵌入凹槽口時(shí)能準(zhǔn)確定位的試樣缺口定位銷(xiāo)6，在試樣碼盤(pán)4上還設(shè)有兩 個(gè)用于移動(dòng)和安放試樣碼盤(pán)4的碼盤(pán)提鉤7。所述圓盤(pán)裝置3為一圓盤(pán)，所述試樣碼盤(pán)4為一四分之一圓環(huán)，在所述圓盤(pán)裝置3 的上端邊緣上放置有四個(gè)所述試樣碼盤(pán)4。在所述圓盤(pán)裝置3上設(shè)有號(hào)碼柱2，該號(hào)碼柱2的放置位置與所述試樣碼盤(pán)4上放 置所述標(biāo)準(zhǔn)試樣5的凹槽口的位置相對(duì)應(yīng)。所述試樣碼盤(pán)定位銷(xiāo)1為圓錐形。所述碼盤(pán)提鉤7由金屬材料制成，在碼盤(pán)提鉤7的下端設(shè)有螺紋，在所述試樣碼盤(pán) 4上設(shè)有與該螺紋相匹配的螺紋孔。所述試樣碼盤(pán)定位銷(xiāo)1為金屬材料，圓錐形，有若干個(gè)，安裝于圓盤(pán)裝置上同一圓 周等間距位置。所述的號(hào)碼柱2為金屬材料，在其上端面刻有1 60阿拉伯?dāng)?shù)字，安裝于圓盤(pán)裝 置上同一圓周等間距位置。實(shí)施本發(fā)明擺錘沖擊試驗(yàn)機(jī)低溫試樣碼盤(pán)裝樣裝置的方法，具體操作如下步驟1 將標(biāo)準(zhǔn)試樣5若干個(gè)，先后放入試樣碼盤(pán)4上的凹槽口內(nèi)并且將標(biāo)準(zhǔn)試樣 5的缺口卡住試樣缺口定位銷(xiāo)6，即為缺口定位。步驟2 將兩個(gè)碼盤(pán)提鉤7下端螺紋分別旋入試樣碼盤(pán)4上的對(duì)應(yīng)螺孔內(nèi)，然后手 提兩個(gè)碼盤(pán)提鉤連同排好在試樣碼盤(pán)4上的若干個(gè)標(biāo)準(zhǔn)試樣5，放入低溫箱內(nèi)的圓盤(pán)裝置3 上對(duì)應(yīng)有兩個(gè)試樣碼盤(pán)定位銷(xiāo)孔中。步驟3 此試樣碼盤(pán)4裝樣完成。將兩個(gè)碼盤(pán)提鉤7旋出試樣碼盤(pán)4的螺孔，移出 低溫箱。步驟4:重復(fù)步驟1 3。
本發(fā)明提供一種擺錘沖擊試驗(yàn)機(jī)低溫試樣碼盤(pán)裝樣裝置，由于整個(gè)過(guò)程快速、準(zhǔn) 確、方便，與現(xiàn)有技術(shù)相比，具有以下優(yōu)點(diǎn)1.加快了低溫試驗(yàn)的速度，提高了工作效率；2.方便了操作者進(jìn)行低溫裝樣形式，從而避免了凍傷手指的情況，提高了安全系數(shù)。
權(quán)利要求
一種擺錘沖擊試驗(yàn)機(jī)低溫試樣碼盤(pán)裝樣裝置，其特征在于主要由與外設(shè)驅(qū)動(dòng)裝置連接并隨之作圓周運(yùn)動(dòng)的圓盤(pán)裝置(3)和設(shè)置在該圓盤(pán)裝置(3)上端并隨之轉(zhuǎn)動(dòng)的試樣碼盤(pán)(4)組成，所述圓盤(pán)裝置(3)上設(shè)有多個(gè)試樣碼盤(pán)定位銷(xiāo)(1)，試樣碼盤(pán)(4)通過(guò)該試樣碼盤(pán)定位銷(xiāo)(1)固定在圓盤(pán)裝置(3)上；在試樣碼盤(pán)(4)上等間距開(kāi)設(shè)有多個(gè)凹槽口，在每個(gè)凹槽口內(nèi)設(shè)有當(dāng)標(biāo)準(zhǔn)試樣(5)嵌入凹槽口時(shí)能準(zhǔn)確定位的試樣缺口定位銷(xiāo)(6)，在試樣碼盤(pán)(4)上還設(shè)有兩個(gè)用于移動(dòng)和安放試樣碼盤(pán)(4)的碼盤(pán)提鉤(7)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的擺錘沖擊試驗(yàn)機(jī)低溫試樣碼盤(pán)裝樣裝置，其特征在于所述 圓盤(pán)裝置(3)為一圓盤(pán)，所述試樣碼盤(pán)(4)為一四分之一圓環(huán)，在所述圓盤(pán)裝置(3)的上端 邊緣上放置有四個(gè)所述試樣碼盤(pán)(4)。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的擺錘沖擊試驗(yàn)機(jī)低溫試樣碼盤(pán)裝樣裝置，其特征在于在所 述圓盤(pán)裝置(3)上設(shè)有號(hào)碼柱(2)，該號(hào)碼柱(2)的放置位置與所述試樣碼盤(pán)(4)上放置所 述標(biāo)準(zhǔn)試樣(5)的凹槽口的位置相對(duì)應(yīng)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的擺錘沖擊試驗(yàn)機(jī)低溫試樣碼盤(pán)裝樣裝置，其特征在于所述 試樣碼盤(pán)定位銷(xiāo)(1)為圓錐形。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的擺錘沖擊試驗(yàn)機(jī)低溫試樣碼盤(pán)裝樣裝置，其特征在于所述 碼盤(pán)提鉤(7)由金屬材料制成，在碼盤(pán)提鉤(7)的下端設(shè)有螺紋，在所述試樣碼盤(pán)(4)上設(shè) 有與該螺紋相匹配的螺紋孔。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種試樣碼盤(pán)裝樣裝置，特別涉及一種擺錘沖擊試驗(yàn)機(jī)低溫試驗(yàn)時(shí)機(jī)械手自動(dòng)上樣系統(tǒng)中試樣碼盤(pán)裝樣裝置，主要由與外設(shè)驅(qū)動(dòng)裝置連接并隨之作圓周運(yùn)動(dòng)的圓盤(pán)裝置和設(shè)置在該圓盤(pán)裝置上端并隨之轉(zhuǎn)動(dòng)的試樣碼盤(pán)組成，所述圓盤(pán)裝置上設(shè)有多個(gè)試樣碼盤(pán)定位銷(xiāo)，試樣碼盤(pán)通過(guò)該試樣碼盤(pán)定位銷(xiāo)固定在圓盤(pán)裝置上；在試樣碼盤(pán)上等間距開(kāi)設(shè)有多個(gè)凹槽口，在每個(gè)凹槽口內(nèi)設(shè)有當(dāng)標(biāo)準(zhǔn)試樣嵌入凹槽口時(shí)能準(zhǔn)確定位的試樣缺口定位銷(xiāo)，在試樣碼盤(pán)上還設(shè)有兩個(gè)用于移動(dòng)和安放試樣碼盤(pán)的碼盤(pán)提鉤。與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明解決了人工送樣勞動(dòng)強(qiáng)度大以及造成凍傷手指現(xiàn)象等問(wèn)題。
文檔編號(hào)G01N3/02GK101936845SQ20091005418
公開(kāi)日2011年1月5日 申請(qǐng)日期2009年6月30日 優(yōu)先權(quán)日2009年6月30日
發(fā)明者盧長(zhǎng)城, 錢(qián)進(jìn)軍 申請(qǐng)人:上海華龍測(cè)試儀器有限公司