鍍膜后硅片缺陷檢測(cè)分選設(shè)備的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型屬于太陽(yáng)能電池片生產(chǎn)領(lǐng)域，具體涉及鍍膜后硅片缺陷檢測(cè)分選設(shè)備。
【背景技術(shù)】
[0002]太陽(yáng)能電池是光能轉(zhuǎn)換為電能的核心載體，鍍膜后硅片是太陽(yáng)能電池的主要來源。鍍膜質(zhì)量的好壞直接影響后續(xù)工藝中太陽(yáng)能電池片印刷的質(zhì)量，決定著整個(gè)太陽(yáng)能系統(tǒng)的效率和性能。因此，對(duì)鍍膜后硅片進(jìn)行缺陷檢測(cè)和分選是必須的。但由于石墨舟、外界環(huán)境、人工操作等因素的影響，鍍膜后硅片會(huì)出現(xiàn)發(fā)黃片、均勻紅片、發(fā)白片、污漬片、碎片等不同類別的硅片。
[0003]現(xiàn)有的技術(shù)中基本是通過人工目測(cè)檢測(cè)和分選，不僅效率低，而且容易發(fā)生漏檢、漏分、錯(cuò)分現(xiàn)象。
【實(shí)用新型內(nèi)容】
[0004]發(fā)明目的:本實(shí)用新型的目的在于提供鍍膜后硅片缺陷檢測(cè)分選設(shè)備，能高效、穩(wěn)定、快速地對(duì)鍍膜后硅片進(jìn)行缺陷檢測(cè)和分選。
[0005]技術(shù)方案:為實(shí)現(xiàn)上述發(fā)明目的，本實(shí)用新型采用如下技術(shù)方案:
[0006]鍍膜后硅片缺陷檢測(cè)分選設(shè)備，包括傳送帶，所述的傳送帶依次貫穿設(shè)置在下料機(jī)械裝置和暗箱的下方，再經(jīng)第一單軸機(jī)械臂和第二單軸機(jī)械臂的下方穿過直至與合格硅片傳送裝置相連接，所述的傳送帶設(shè)置在金屬橫梁上，金屬橫梁固定在機(jī)柜上；在所述的下料機(jī)械裝置內(nèi)設(shè)有用于放置鍍膜后硅片的花籃；所述的暗箱通過支架設(shè)置在機(jī)柜上，在所述的暗箱內(nèi)的頂部設(shè)有配合使用的工業(yè)相機(jī)和鏡頭，在鏡頭的下方設(shè)有圓頂光源，在所述的暗箱正下方放置傳送帶的金屬橫梁上鑲嵌設(shè)置白色背景板，在白色背景板上設(shè)有光電傳感器。
[0007]所述的傳送帶從暗箱底部的支架上穿過，傳送帶的上表面貼緊暗箱的底部。
[0008]所述的合格硅片傳送裝置與硅片收集盒相連。
[0009]所述的傳送帶為白色無標(biāo)識(shí)的傳送帶。
[0010]在所述的第一單軸機(jī)械臂和第二單軸機(jī)械臂上均分別設(shè)有兩個(gè)雙向吸盤。
[0011]有益效果:與現(xiàn)有技術(shù)相比，本實(shí)用新型的鍍膜后硅片缺陷檢測(cè)分選設(shè)備，可以對(duì)鍍膜后硅片進(jìn)行實(shí)時(shí)、在線、穩(wěn)定、高效、快速的缺陷檢測(cè)和分選，且生產(chǎn)線無需停頓，對(duì)硅片非接觸式，無損耗；不僅結(jié)構(gòu)緊湊，易于保養(yǎng)和維護(hù)，而且實(shí)現(xiàn)了對(duì)均勻紅片的回收利用，降低了生產(chǎn)成本，具備很好的實(shí)用性。
【附圖說明】
[0012]圖1是鍍膜后硅片缺陷檢測(cè)分選設(shè)備的主視圖；
[0013]圖2為嵌有光電傳感器的白色背景板俯視圖。
【具體實(shí)施方式】
[0014]以下結(jié)合附圖和【具體實(shí)施方式】對(duì)本實(shí)用新型做進(jìn)一步的說明。
[0015]如圖1?2所示，鍍膜后硅片缺陷檢測(cè)分選設(shè)備，包括傳送帶15，傳送帶15依次貫穿設(shè)置在下料機(jī)械裝置I和暗箱3的下方，再經(jīng)第一單軸機(jī)械臂6和第二單軸機(jī)械臂7的下方直至與合格硅片傳送裝置8相連接，傳送帶15設(shè)置在金屬橫梁上，金屬橫梁固定在機(jī)柜10上；在下料機(jī)械裝置I內(nèi)設(shè)有用于放置鍍膜后硅片14的花籃2，待檢的鍍膜后硅片14經(jīng)花籃2流出后直接落在傳送帶15上。
[0016]暗箱3通過支架設(shè)置在機(jī)柜10上，暗箱3和支架可以是一體式的結(jié)構(gòu)也可以是分體式的結(jié)構(gòu)，分體結(jié)構(gòu)更有利于暗箱3內(nèi)部部件的保養(yǎng)和維護(hù)。在暗箱3內(nèi)的頂部設(shè)有配合使用的工業(yè)相機(jī)11和鏡頭12，在鏡頭12的下方設(shè)有圓頂光源13，在暗箱3正下方放置傳送帶15的金屬橫梁上鑲嵌設(shè)置白色背景板4，在白色背景板4上設(shè)有光電傳感器16。傳送帶15從暗箱3底部的支架上穿過，傳送帶15的上表面貼近暗箱3的底部。
[0017]在第一單軸機(jī)械臂6和第二單軸機(jī)械臂7上均分別設(shè)有兩個(gè)雙向吸盤，吸盤用于分選鍍膜后硅片。其中，第一單軸機(jī)械臂6將廢棄不合格品挑選出，第二單軸機(jī)械臂7將均勻紅片挑選出，分選后送入指定硅片盒。合格硅片傳送裝置8與硅片收集盒9相連，分選后合格的硅片經(jīng)傳送帶15流入硅片收集盒9中。
[0018]在機(jī)柜10的頂部設(shè)有配合暗箱3和機(jī)柜10使用的工控機(jī)5。下料機(jī)械裝置I通過氣缸驅(qū)動(dòng)。
[0019]傳送帶15沒有任何標(biāo)識(shí)，傳送帶15為白色，使得鍍膜后硅片14能好的被識(shí)別，為娃片的分選做準(zhǔn)備。
[0020]工作過程:鍍膜后硅片14依次從由機(jī)柜10及氣缸調(diào)度的下料機(jī)械裝置I中的花籃2流出，當(dāng)其在白色傳送帶15上流動(dòng)到暗箱3內(nèi)部、工業(yè)相機(jī)11下方、白色背景板4上方時(shí)，遮擋住光電傳感器16，通過工控機(jī)5觸發(fā)工業(yè)相機(jī)11和鏡頭12采集圖像，同時(shí)傳遞給機(jī)柜10，機(jī)柜10控制第一單軸機(jī)械臂6和第二單軸機(jī)械臂7進(jìn)行相應(yīng)的機(jī)械動(dòng)作，將廢棄不合格品由機(jī)械臂6挑選出、將均勻紅片由機(jī)械臂7挑選出后續(xù)回收利用，而合格品則全部經(jīng)合格硅片傳送裝置8流送到硅片收集盒9中。
[0021]本實(shí)用新型的鍍膜后硅片缺陷檢測(cè)和分選設(shè)備可以快速、穩(wěn)定、可靠地檢測(cè)鍍膜后硅片的缺陷，并將硅片分類篩選，分為合格品類、廢棄不合格品類、均勻紅片類，合格品類直接由合格硅片傳送裝置傳輸?shù)焦杵占兄?，廢棄不合格品類和均勻紅片類分別由第一單軸機(jī)械臂6和第二單軸機(jī)械臂7的兩個(gè)吸盤實(shí)時(shí)吸入指定硅片盒。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.鍍膜后硅片缺陷檢測(cè)分選設(shè)備，其特征在于:包括傳送帶(15)，該傳送帶(15)依次貫穿設(shè)置在下料機(jī)械裝置(I)和暗箱(3)的下方，再經(jīng)第一單軸機(jī)械臂(6)和第二單軸機(jī)械臂(7)的下方穿過直至與合格硅片傳送裝置(8)相連接，所述的傳送帶(15)設(shè)置在金屬橫梁上，金屬橫梁固定在機(jī)柜(10)上；在所述的下料機(jī)械裝置(I)內(nèi)設(shè)有用于放置鍍膜后硅片(14)的花籃(2);所述的暗箱(3)通過支架設(shè)置在機(jī)柜(10)上，在所述的暗箱(3)內(nèi)的頂部設(shè)有配合使用的工業(yè)相機(jī)(11)和鏡頭(12)，在鏡頭(12)的下方設(shè)有圓頂光源(13)，在所述的暗箱(3)正下方放置傳送帶(15)的金屬橫梁上鑲嵌設(shè)置白色背景板(4)，在白色背景板(4)上設(shè)有光電傳感器(16);其中，在所述的機(jī)柜(10)的頂部設(shè)有配合暗箱(3)和機(jī)柜(10)使用的工控機(jī)(5) ο2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的鍍膜后硅片缺陷檢測(cè)分選設(shè)備，其特征在于:所述的傳送帶(15)從暗箱(3)底部的支架上穿過，傳送帶(15)的上表面貼近暗箱(3)的底部。3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的鍍膜后硅片缺陷檢測(cè)分選設(shè)備，其特征在于:所述的合格硅片傳送裝置(8)與硅片收集盒(9)相連。4.根據(jù)權(quán)利要求1?3中任意一項(xiàng)所述的鍍膜后硅片缺陷檢測(cè)分選設(shè)備，其特征在于:所述的傳送帶(15)為白色無標(biāo)識(shí)的傳送帶(15)。5.根據(jù)權(quán)利要求1?3中任意一項(xiàng)所述的鍍膜后硅片缺陷檢測(cè)分選設(shè)備，其特征在于:在所述的第一單軸機(jī)械臂(6)和第二單軸機(jī)械臂(7)上均分別設(shè)有兩個(gè)雙向吸盤。
【專利摘要】本實(shí)用新型公開了鍍膜后硅片缺陷檢測(cè)分選設(shè)備，屬于太陽(yáng)能電池片生產(chǎn)領(lǐng)域，包括傳送帶，傳送帶依次貫穿設(shè)置在下料機(jī)械裝置和暗箱的下方，再經(jīng)第一單軸機(jī)械臂和第二單軸機(jī)械臂的下方穿過直至與合格硅片傳送裝置相連接，傳送帶設(shè)置在金屬橫梁上；暗箱通過支架設(shè)置在機(jī)柜上，在暗箱內(nèi)的頂部設(shè)有配合使用的工業(yè)相機(jī)和鏡頭，在鏡頭的下方設(shè)有圓頂光源，在暗箱正下方放置傳送帶的金屬橫梁上鑲嵌設(shè)置白色背景板，在白色背景板上設(shè)有光電傳感器。本實(shí)用新型的鍍膜后硅片缺陷檢測(cè)分選設(shè)備，可以對(duì)鍍膜后硅片進(jìn)行實(shí)時(shí)、在線、穩(wěn)定、高效、快速的缺陷檢測(cè)和分選，且生產(chǎn)線無需停頓，對(duì)硅片非接觸式，實(shí)現(xiàn)了對(duì)均勻紅片的回收利用，具備很好的實(shí)用性。
【IPC分類】B07C5/38, B07C5/36, B07C5/34
【公開號(hào)】CN204866575
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201520427485
【發(fā)明人】孫智權(quán), 童鋼, 趙不賄, 張千, 周奇
【申請(qǐng)人】鎮(zhèn)江蘇儀德科技有限公司
【公開日】2015年12月16日
【申請(qǐng)日】2015年6月19日