技術(shù)編號：9667226
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及容錯(cuò)處理器結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，尤其涉及一種容軟錯(cuò)誤的粗粒度可重構(gòu)陣列。背景技術(shù)軟錯(cuò)誤(Soft Error)指集成電路由于粒子福射等原因造成的電路存儲(chǔ)信息發(fā)生隨機(jī)翻轉(zhuǎn)的現(xiàn)象。在地面環(huán)境下，粒子輻射主要來源于封裝材料中的鈾和釷的放射性同位素殘留、高能宇宙射線帶來的中子輻射、集成電路磷硼硅酸鹽玻璃材料中的硼10同位素等；在大氣層外則還包括太陽風(fēng)帶來的大量帶電粒子。軟錯(cuò)誤雖然不會(huì)直接造成集成電路的硬損傷，但它會(huì)嚴(yán)重影響電路的正常運(yùn)行并造成數(shù)據(jù)的損壞。有研究指出，...
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