技術編號：39725799
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明涉及一種用于沖擊試驗的低溫腔室，更具體地，本發(fā)明涉及一種能夠使用冷卻介質在短時間內(nèi)將用于沖擊試驗的試樣冷卻到所需溫度的低溫腔室。背景技術、通常，用于沖擊試驗的低溫腔室包括被測設備(dut)以及用于在其中測試該設備的系統(tǒng)，并操作這些設備和系統(tǒng)以對被測設備(dut)進行高速測試。、韓國專利公開號--公開了一種用于制備沖擊試樣的腔室。在常規(guī)腔室的情況下，在測試件(即試樣)的溫度通過汽化液氮冷卻試樣而降低并且達到目標溫度時，進行沖擊試驗。然而，在常規(guī)系統(tǒng)中，試樣的冷卻...
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