技術(shù)編號:12649039
提示:您尚未登錄,請點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ,登陸完成后,請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本實(shí)用新型涉及機(jī)械、工件檢測領(lǐng)域,具體為一種磁粉檢測裝置。背景技術(shù)探測金屬材料或部件內(nèi)部的裂紋或缺陷,常用的探傷方法有:X光射線探傷、超聲波探傷、磁粉探傷、滲透探傷、渦流探傷、γ射線探傷等方法。物理探傷就是不產(chǎn)生化學(xué)變化的情況下進(jìn)行無損探傷。通常情況下,磁粉探傷利用工件缺陷處的漏磁場與磁粉的相互作用,它利用了鋼鐵制品表面和近表面缺陷(如裂紋,夾渣,發(fā)紋等)磁導(dǎo)率和鋼鐵磁導(dǎo)率的差異,磁化后這些材料不連續(xù)處的磁場將發(fā)生畸變,形成部分磁通泄漏處工件表面產(chǎn)生了漏磁場,從而吸引磁粉形成缺陷處的磁粉堆積——...
注意:該技術(shù)已申請專利,請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權(quán)人授權(quán)前,僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識儲備,不適合論文引用。