一種測(cè)試方法及檢測(cè)終端的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及電子技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種測(cè)試方法及檢測(cè)終端。
【背景技術(shù)】
[0002]隨著互聯(lián)網(wǎng)的快速發(fā)展以及終端的迅速普及，終端的功能日益完善，終端給用戶帶來的便利也日益增多。例如，用戶可以利用終端訪問外部網(wǎng)絡(luò)數(shù)據(jù)資源、拍照以及與好友進(jìn)行通信聯(lián)系等等。在實(shí)際生產(chǎn)中，為了保證用戶可以正常使用終端的各項(xiàng)功能，在將其發(fā)售至市場(chǎng)之前，應(yīng)對(duì)終端的各項(xiàng)功能進(jìn)行測(cè)試。
[0003]目前，在對(duì)待測(cè)終端進(jìn)行功能測(cè)試時(shí)，應(yīng)先將待測(cè)終端放置帶有耦合單向測(cè)試天線的屏蔽箱中，再將待測(cè)終端在該屏蔽箱中慢慢移動(dòng)，以尋找到耦合單向天線中每一根天線都能接收到待測(cè)終端發(fā)射的射頻信號(hào)的位置，并在該位置上對(duì)待測(cè)終端進(jìn)行功能測(cè)試。由于在測(cè)試前需要反復(fù)移動(dòng)待測(cè)終端，方可找到上述位置，從而降低了測(cè)試終端功能的效率。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]本發(fā)明實(shí)施例提供了一種測(cè)試方法及檢測(cè)終端，能夠提高測(cè)試終端功能的效率。
[0005]第一方面，本發(fā)明實(shí)施例公開了一種測(cè)試方法，包括:
[0006]檢測(cè)終端檢測(cè)是否接收到針對(duì)待測(cè)終端的測(cè)試啟動(dòng)指令，所述測(cè)試啟動(dòng)指令包括待測(cè)功能的標(biāo)識(shí)，所述待測(cè)終端放置于帶有耦合球面天線陣列的屏蔽箱中；
[0007]若所述檢測(cè)終端接收到所述測(cè)試啟動(dòng)指令，所述檢測(cè)終端根據(jù)所述待測(cè)功能的標(biāo)識(shí)從預(yù)設(shè)天線集合中選取用于測(cè)試所述待測(cè)功能的測(cè)試天線的標(biāo)識(shí)，并根據(jù)所述測(cè)試天線的標(biāo)識(shí)獲取所述屏蔽箱中所述測(cè)試天線對(duì)所述待測(cè)終端的所述待測(cè)功能的測(cè)試參數(shù)；
[0008]所述檢測(cè)終端檢測(cè)所述測(cè)試參數(shù)與預(yù)設(shè)的與所述待測(cè)功能對(duì)應(yīng)的正常參數(shù)是否匹配，若匹配，則所述待測(cè)終端的所述待測(cè)功能正常。
[0009]結(jié)合第一方面的實(shí)現(xiàn)方式，在第一方面的第一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，所述測(cè)試參數(shù)包括射頻信號(hào)強(qiáng)度，所述檢測(cè)終端檢測(cè)所述測(cè)試參數(shù)與預(yù)設(shè)的與所述待測(cè)功能對(duì)應(yīng)的正常參數(shù)是否匹配，包括:
[0010]所述檢測(cè)終端檢測(cè)所述射頻信號(hào)強(qiáng)度是否超過預(yù)設(shè)的與所述待測(cè)功能對(duì)應(yīng)的信號(hào)強(qiáng)度閾值，若超過，則所述測(cè)試參數(shù)與所述正常參數(shù)匹配。
[0011 ] 結(jié)合第一方面的實(shí)現(xiàn)方式或者第一方面的第一種可能的實(shí)現(xiàn)方式，在第一方面的第二種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，所述檢測(cè)終端檢測(cè)是否接收到針對(duì)待測(cè)終端的測(cè)試啟動(dòng)指令之前，所述方法還包括:
[0012]所述檢測(cè)終端獲取所述屏蔽箱中每根天線接收參考終端的所述待測(cè)功能對(duì)應(yīng)的天線發(fā)送的射頻信號(hào)的射頻信號(hào)強(qiáng)度，所述參考終端放置在所述屏蔽箱，且所述參考終端的所述待測(cè)功能正常；
[0013]所述檢測(cè)終端在所述屏蔽箱的耦合球面天線陣列中選擇所述射頻信號(hào)強(qiáng)度最大的天線作為在所述屏蔽箱中用于測(cè)試所述待測(cè)功能的測(cè)試天線；
[0014]所述檢測(cè)終端將所述用于測(cè)試所述待測(cè)功能的測(cè)試天線的標(biāo)識(shí)和所述待測(cè)功能的標(biāo)識(shí)綁定存儲(chǔ)至預(yù)設(shè)天線集合中。
[0015]結(jié)合第一方面的第二種可能的實(shí)現(xiàn)方式，在第一方面的第三種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，所述檢測(cè)終端接收到所述測(cè)試啟動(dòng)指令之后，所述檢測(cè)終端根據(jù)所述待測(cè)功能的標(biāo)識(shí)從預(yù)設(shè)天線集合中選取用于測(cè)試所述待測(cè)功能的測(cè)試天線的標(biāo)識(shí)之前，所述方法還包括:
[0016]所述檢測(cè)終端檢測(cè)所述待測(cè)終端是否處于所述屏蔽箱中用于測(cè)試功能的預(yù)設(shè)位置，若是，則執(zhí)行步驟根據(jù)所述待測(cè)功能的標(biāo)識(shí)從預(yù)設(shè)天線集合中選擇用于測(cè)試所述待測(cè)功能的測(cè)試天線的標(biāo)識(shí)。
[0017]結(jié)合第一方面的第三種可能的實(shí)現(xiàn)方式，在第一方面的第四種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，所述耦合球面天線陣列的立體結(jié)構(gòu)為半橢球型結(jié)構(gòu)。
[0018]第二方面，本發(fā)明實(shí)施例還公開了一種檢測(cè)終端，包括:
[0019]檢測(cè)單元，用于檢測(cè)是否接收到針對(duì)待測(cè)終端的測(cè)試啟動(dòng)指令，所述測(cè)試啟動(dòng)指令包括待測(cè)功能的標(biāo)識(shí)，所述待測(cè)終端放置于帶有耦合球面天線陣列的屏蔽箱中；
[0020]選取單元，用于若接收到所述測(cè)試啟動(dòng)指令，根據(jù)所述待測(cè)功能的標(biāo)識(shí)從預(yù)設(shè)天線集合中選取用于測(cè)試所述待測(cè)功能的測(cè)試天線的標(biāo)識(shí)；
[0021]獲取單元，用于根據(jù)所述測(cè)試天線的標(biāo)識(shí)獲取所述屏蔽箱中所述測(cè)試天線對(duì)所述待測(cè)終端的所述待測(cè)功能的測(cè)試參數(shù)；
[0022]所述檢測(cè)單元，還用于檢測(cè)所述測(cè)試參數(shù)與預(yù)設(shè)的與所述待測(cè)功能對(duì)應(yīng)的正常參數(shù)是否匹配，若匹配，則所述待測(cè)終端的所述待測(cè)功能正常。
[0023]結(jié)合第二方面的檢測(cè)終端，在第二方面的第一種可能的檢測(cè)終端中，所述測(cè)試參數(shù)包括射頻信號(hào)強(qiáng)度，所述檢測(cè)單元具體用于檢測(cè)所述射頻信號(hào)強(qiáng)度是否超過預(yù)設(shè)的與所述待測(cè)功能對(duì)應(yīng)的信號(hào)強(qiáng)度閾值，若超過，則所述測(cè)試參數(shù)與所述正常參數(shù)匹配。
[0024]結(jié)合第二方面的檢測(cè)終端或者第二方面的第一種可能的檢測(cè)終端，在第二方面的第二種可能的檢測(cè)終端中，所述獲取單元還用于在所述檢測(cè)單元檢測(cè)是否接收到針對(duì)待測(cè)終端的測(cè)試啟動(dòng)指令之前，獲取所述屏蔽箱中每根天線接收參考終端的所述待測(cè)功能對(duì)應(yīng)的天線發(fā)送的射頻信號(hào)的射頻信號(hào)強(qiáng)度，所述參考終端放置在所述屏蔽箱，且所述參考終端的所述待測(cè)功能正常；
[0025]所述檢測(cè)終端還包括:
[0026]選擇單元，用于在所述屏蔽箱的耦合球面天線陣列中選擇所述射頻信號(hào)強(qiáng)度最大的天線作為在所述屏蔽箱中用于測(cè)試所述待測(cè)功能的測(cè)試天線；
[0027]存儲(chǔ)單元，用于將所述用于測(cè)試所述待測(cè)功能的測(cè)試天線的標(biāo)識(shí)和所述待測(cè)功能的標(biāo)識(shí)綁定存儲(chǔ)至預(yù)設(shè)天線集合中。
[0028]結(jié)合第二方面的第二種可能的檢測(cè)終端，在第二方面的第三種可能的檢測(cè)終端中，所述檢測(cè)單元還用于在接收到所述測(cè)試啟動(dòng)指令之后，所述選取單元根據(jù)所述待測(cè)功能的標(biāo)識(shí)從預(yù)設(shè)天線集合中選取用于測(cè)試所述待測(cè)功能的測(cè)試天線的標(biāo)識(shí)之前，檢測(cè)所述待測(cè)終端是否處于所述屏蔽箱中用于測(cè)試功能的預(yù)設(shè)位置；
[0029]所述選擇單元用于若所述檢測(cè)單元檢測(cè)所述待測(cè)終端處于所述屏蔽箱中用于測(cè)試功能的預(yù)設(shè)位置，根據(jù)所述待測(cè)功能的標(biāo)識(shí)從預(yù)設(shè)天線集合中選擇用于測(cè)試所述待測(cè)功能的測(cè)試天線的標(biāo)識(shí)。
[0030]結(jié)合第二方面的第三種可能的檢測(cè)終端，在第二方面的第四種可能的檢測(cè)終端中，所述耦合球面天線陣列的立體結(jié)構(gòu)為半橢球型結(jié)構(gòu)。
[0031]本發(fā)明實(shí)施例中，在檢測(cè)終端接收到測(cè)試啟動(dòng)指令之后，檢測(cè)終端根據(jù)待測(cè)功能的標(biāo)識(shí)從預(yù)設(shè)天線集合中選擇用于測(cè)試待測(cè)功能的測(cè)試天線的標(biāo)識(shí)，并根據(jù)測(cè)試天線的標(biāo)識(shí)獲取屏蔽箱中測(cè)試天線對(duì)待測(cè)終端的待測(cè)功能的測(cè)試參數(shù)；檢測(cè)終端檢測(cè)測(cè)試參數(shù)與預(yù)設(shè)的與待測(cè)功能對(duì)應(yīng)的正常參數(shù)是否匹配，若匹配，則待測(cè)終端的待測(cè)功能正常。在本發(fā)明實(shí)施例中，當(dāng)需要測(cè)試終端的功能時(shí)，無需用戶反復(fù)移動(dòng)終端，以尋找最佳位置，而只需要檢測(cè)獲取到的屏蔽箱中測(cè)試天線對(duì)待測(cè)終端的待測(cè)功能的測(cè)試參數(shù)是否匹配，匹配，則待測(cè)終端的待測(cè)功能正常，不匹配，則待測(cè)終端述待測(cè)功能不正常。由此可見，實(shí)施本發(fā)明實(shí)施例，能夠提高測(cè)試終端功能的效率。
【附圖說明】
[0032]為了更清楚地說明本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案，下面將對(duì)實(shí)施例中所需要使用的附圖作簡(jiǎn)單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖是本發(fā)明的一些實(shí)施例，對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
[0033]圖1是本發(fā)明實(shí)施例公開的一種用于實(shí)施測(cè)試方法的系統(tǒng)結(jié)構(gòu)圖；
[0034]圖2是本發(fā)明實(shí)施例公開的一種測(cè)試方法的流程示意圖；
[0035]圖3是本發(fā)明實(shí)施例公開的另一種測(cè)試方法的流程示意圖；
[0036]圖4是本發(fā)明實(shí)施例公開的一種檢測(cè)終端的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0037]圖5是本發(fā)明實(shí)施例公開的另一種檢測(cè)終端的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0038]圖6是本發(fā)明實(shí)施例公開的又一種檢測(cè)終端的結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0039]下面將結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例中的附圖，對(duì)本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例是本發(fā)明一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例?；诒景l(fā)明中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。
[0040]本發(fā)明實(shí)施例提供了一種測(cè)