本發(fā)明涉及測試圖以及照相機制造裝置。

背景技術：

1、已知使用具有既定圖案的圖來調(diào)整光學系與拍攝元件的位置由此制造照相機的裝置(例如，專利文獻1)。

2、現(xiàn)有技術文獻

3、專利文獻

4、專利文獻1：日本特開2000-165623號公報

技術實現(xiàn)思路

1、發(fā)明要解決的問題

2、本發(fā)明的目的在于抑制對焦點位置的檢測精度的降低。

3、用于解決問題的方案

4、根據(jù)本發(fā)明的一方面，提供一種測試圖，其用于調(diào)整照相機，所述測試圖具備：

5、第一斜面，其具有放射光的圖案；

6、第二斜面，其具有放射光的圖案，并與所述第一斜面相鄰地配置；以及

7、遮光部，其設置于所述第一斜面與所述第二斜面之間，至少遮斷從所述第一斜面的所述圖案朝向所述第二斜面的光。

8、根據(jù)本發(fā)明的其它方面，提供一種測試圖，其用于調(diào)整照相機，所述測試圖具備：

9、三維塊，其具有斜面；

10、二維塊，其配置為與所述照相機的光軸正交，并具有放射光的二維圖案；以及

11、輔助遮光部，其設置于所述三維塊與所述二維塊之間，至少遮斷從所述二維圖案朝向所述三維塊的所述斜面的光。

12、根據(jù)本發(fā)明的其它方面，提供一種測試圖，其用于調(diào)整照相機，所述測試圖具備：

13、外側塊，其配置于與所述照相機的視野的中央遠離的位置；

14、近鄰塊，其與所述外側塊相鄰；以及

15、遮光部，其在所述外側塊與所述近鄰塊之間遮斷光，

16、所述外側塊具有：

17、頂點，其在偏靠所述中央側的位置被設置于既定的高度；以及

18、第一斜面，其至少從所述頂點起傾斜，并具有放射光的圖案，

19、所述外側塊配置為在所述照相機拍攝時所述頂點位于所述外側塊的中心，

20、所述近鄰塊至少具有第二斜面，所述第二斜面具有放射光的圖案并與所述第一斜面相鄰地配置，

21、所述遮光部設置于所述第一斜面與所述第二斜面之間，并設置為至少遮斷從所述外側塊的所述第一斜面朝向所述近鄰塊的所述第二斜面的光。

22、根據(jù)本發(fā)明的其它方面，提供一種照相機制造裝置，具有：

23、圖支承部，其支承既定的測試圖；

24、照相機支承部，其將具有光學系和拍攝元件的照相機的至少一部分支承于能夠拍攝所述測試圖的位置；

25、圖像分析部，其對拍攝所述測試圖而成的圖像進行分析，來檢測所述照相機的焦點位置；以及

26、照相機調(diào)整機構，其基于所述照相機的所述焦點位置，來調(diào)整所述光學系與所述拍攝元件的相對位置，

27、所述測試圖具備：

28、第一斜面，其具有放射光的圖案；

29、第二斜面，其具有放射光的圖案，并與所述第一斜面相鄰地配置；以及

30、遮光部，其設置于所述第一斜面與所述第二斜面之間，至少遮斷從所述第一斜面的所述圖案朝向所述第二斜面的光。

31、根據(jù)本發(fā)明的其它方面，提供一種照相機制造裝置，具有：

32、圖支承部，其支承既定的測試圖；

33、照相機支承部，其將具有光學系和拍攝元件的照相機的至少一部分支承于能夠拍攝所述測試圖的位置；

34、圖像分析部，其對拍攝所述測試圖而成的圖像進行分析，來檢測所述照相機的焦點位置；以及

35、照相機調(diào)整機構，其基于所述照相機的所述焦點位置，來調(diào)整所述光學系與所述拍攝元件的相對位置，

36、所述測試圖具備：

37、三維塊，其具有斜面；

38、二維塊，其配置為與所述照相機的光軸正交，并具有放射光的二維圖案；以及

39、輔助遮光部，其設置于所述三維塊與所述二維塊之間，至少遮斷從所述二維圖案朝向所述三維塊的所述斜面的光。

40、根據(jù)本發(fā)明的其它方面，提供一種照相機制造裝置，具有：

41、圖支承部，其支承既定的測試圖；

42、照相機支承部，其將具有光學系和拍攝元件的照相機的至少一部分支承于能夠拍攝所述測試圖的位置；

43、圖像分析部，其對拍攝所述測試圖而成的圖像進行分析，來檢測所述照相機的焦點位置；以及

44、照相機調(diào)整機構，其基于所述照相機的所述焦點位置，來調(diào)整所述光學系與所述拍攝元件的相對位置，

45、所述測試圖具備：

46、外側塊，其配置在與所述照相機的視野的中央遠離的位置；

47、近鄰塊，其與所述外側塊相鄰；以及

48、遮光部，其在所述外側塊與所述近鄰塊之間遮斷光，

49、所述外側塊具有：

50、頂點，其在偏靠所述中央側的位置被設置于既定的高度；以及

51、第一斜面，其至少從所述頂點起傾斜，并具有放射光的圖案，

52、所述外側塊配置為在所述照相機拍攝時所述頂點位于所述外側塊的中心，

53、所述近鄰塊至少具有第二斜面，所述第二斜面具有放射光的圖案，并與所述第一斜面相鄰地配置，

54、所述遮光部設置于所述第一斜面與所述第二斜面之間，并設置為至少遮斷從所述外側塊的所述第一斜面朝向所述近鄰塊的所述第二斜面的光。

55、發(fā)明的效果

56、根據(jù)本發(fā)明，能夠抑制對焦點位置的檢測精度的降低。

技術特征：

1.一種測試圖，其用于調(diào)整照相機，所述測試圖具備：

2.根據(jù)權利要求1所述的測試圖，其特征在于，

3.根據(jù)權利要求1或2所述的測試圖，其特征在于，

4.根據(jù)權利要求1至3中的任一項所述的測試圖，其特征在于，

5.根據(jù)權利要求1至4中的任一項所述的測試圖，其特征在于，

6.根據(jù)權利要求1至5中的任一項所述的測試圖，其特征在于，具備：

7.一種測試圖，其用于調(diào)整照相機，所述測試圖具備：

8.根據(jù)權利要求1至5中的任一項所述的測試圖，其特征在于，具備：

9.一種測試圖，其用于調(diào)整照相機，所述測試圖具備：

10.一種照相機制造裝置，具有：

11.一種照相機制造裝置，具有：

12.一種照相機制造裝置，具有：

技術總結
抑制對焦點位置的檢測精度的降低。測試圖用于調(diào)整照相機，測試圖具備：第一斜面，其具有放射光的圖案；第二斜面，其具有放射光的圖案，并與第一斜面相鄰地配置；以及遮光部，其設置于第一斜面與第二斜面之間，至少遮斷從第一斜面的圖案朝向第二斜面的光。

技術研發(fā)人員：根岸真人
受保護的技術使用者：長川日本株式會社
技術研發(fā)日：
技術公布日：2024/10/21