專利名稱：隱藏帶測試模式的圖像傳感器中的缺陷像素的方法和設(shè)備的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種隱藏具有測試模式的圖像傳感器中的有缺陷像素的方法和設(shè)備。
背景技術(shù)：
通常，圖像傳感器是一種包含CCD或CMOS的半導(dǎo)體裝置，并且是一種用于輸入視覺信息的非常重要的裝置。該圖像傳感器能被用于攝錄機(jī)，數(shù)碼相機(jī)，掃描儀及其他圖像再現(xiàn)系統(tǒng)。
所述圖像信息能被描述為光信息，并且能通過其發(fā)光度和顏色區(qū)別圖像信息。圖像傳感器是一種把信息轉(zhuǎn)換為電信號的裝置，更具體地，它把模擬電信號轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號來完成數(shù)字化圖像處理。
所以說，圖像傳感器具有在二維結(jié)構(gòu)中的多個像素，并且每一像素依照其亮度將其光轉(zhuǎn)換為電信號。通過測量其電信號，能夠定義每一像素的光量并且像素單元的圖像能通過該定義值而形成。
在這種情況，每一像素的操作類似于太陽能電池的操作。即，光越亮，聚積的電荷越多，并且光強(qiáng)通過測量固定時間內(nèi)積累的電荷來定義。
圖1是一個實(shí)際物體和傳感器中的圖像的示意圖，有實(shí)際物體101，傳感器芯片102，像素區(qū)域103及傳感器的像素區(qū)域中的實(shí)際物體的圖像104。
關(guān)于這一點(diǎn)，圖中像素區(qū)域中像素越多，就越能更好的表示該實(shí)際物體。
圖像傳感器能夠定義為兩種類型，一種是黑白的，另一種是彩色的。在彩色圖像傳感器的情況中，RGB(紅，綠，藍(lán))彩色濾光器用于每一個像素上，并響應(yīng)相應(yīng)的顏色。在設(shè)置彩色濾光器的幾種方法中，有代表性的一種稱為“拜耳(Bayer)格式”。


通常，所述圖像傳感器的每一像素只能顯示一種顏色。然而，為了顯示一個圖像，所有的像素應(yīng)該有RGB的所有信息。插補(bǔ)技術(shù)用于產(chǎn)生那些不可得的信息。通過使用插補(bǔ)技術(shù)，表1內(nèi)中心偏左、3x3框中B1像素中的RGB數(shù)值的數(shù)學(xué)構(gòu)成式在下面給出。
R＝(R1+R2+R4+R5)/4G＝(G1+G4+G5+G7)/4B＝B1通過使用上述構(gòu)成式，可以確定像素B1中的R、G、B。
另外一個例子，表1內(nèi)中心偏右、3x3框中G6像素中的RGB數(shù)值的數(shù)學(xué)構(gòu)成式被確定為[數(shù)學(xué)構(gòu)成式2]R＝(R3+R6)/2G＝G6B＝(B2+B3)/2通常，在制作處理的一些前提下，能夠找到像素的反常操作。因?yàn)樵撓袼貨]有正確響應(yīng)所述光線，當(dāng)使用輸出值重組圖像時它看起來會與眾不同。
該像素看來比實(shí)際物體更亮或更暗。該像素被稱為缺陷像素。
另外，看來更亮的缺陷像素被稱為“白色像素”，看來更暗的缺陷像素被稱為“黑色像素”。有缺陷像素的這些傳感器是不能出售的。
所述圖像傳感器中像素數(shù)量越多則價格越高，然而，產(chǎn)生有缺陷像素的可能性增高了。
事實(shí)上，圖像傳感器中缺陷像素是影響成品(yield)的最重要的因素。根據(jù)該情況，如果有缺陷像素的產(chǎn)品能被出售，這是很有益的。
為實(shí)現(xiàn)這些，上述有缺陷像素隱藏(DPC)方法是很有用的。該方法用于隱藏物理缺陷像素。DPC的基本原理與插補(bǔ)技術(shù)相同。
所以說，如果用于顯示的像素是一個有缺陷的像素，則它利用其周圍正常像素的值并且替換該值。


可以得到表2中B2的RGB值，通過R＝(R2+R3+R5+R6)/4，B＝B2，G＝(G2+G5+G6+G8)/4獲得正常像素B2。
如果B2是一個缺陷像素，藍(lán)色值看起來與實(shí)際顏色不同。如果B＝(B1+B3)/2能夠被B＝B2替換，顏色會更自然一些。
所述方法是DPC插補(bǔ)方法。另一種方法中，它能被替換為B＝B1，這是DPC替換方法。
為描述DPC插補(bǔ)方法，可參照如下所示的表3。


在表3中，G5像素的綠色值變?yōu)镚＝G5。如果G5像素是有缺陷的，它能夠變?yōu)镚＝(G1+G2+G7+G8)。關(guān)于這一點(diǎn)，簡單的情況，使用DPC替換方法將其替換為G＝G4。
在上述DPC方法中，插補(bǔ)隱藏能產(chǎn)生比替換隱藏更自然的顯示，然而，卻需要更多的硬件。
將參照圖2a-圖2c描述實(shí)現(xiàn)DPC方法的現(xiàn)有技術(shù)。
圖2a-圖2c是現(xiàn)有圖像傳感器的缺陷像素隱藏的示意圖，并且以攝像機(jī)為例說明。圖2a是圖像傳感器的缺陷像素隱藏的整體圖。圖2b是圖2a中傳感模塊210的細(xì)節(jié)圖，圖2c是圖2a中圖像隱藏單元220的細(xì)節(jié)圖。
根據(jù)圖2a，現(xiàn)有技術(shù)的圖像傳感器中缺陷像素隱藏設(shè)備包括傳感模塊210、圖像隱藏單元220、用于存儲缺陷像素位置信息的EPROM存儲單元240以及控制單元230。
圖像隱藏單元220是使用插補(bǔ)操作處理的傳感模塊210中的傳感器傳輸?shù)膱D像數(shù)據(jù)的電路，并且DPC電路必須包括于其中，因?yàn)镈PC應(yīng)在插補(bǔ)之前處理。
圖2c是圖像隱藏單元220的細(xì)節(jié)圖，其包括用于處理正常像素的插補(bǔ)的插補(bǔ)處理器221；用于處理缺陷像素的插補(bǔ)的插補(bǔ)處理器222；用于處理當(dāng)前像素位置信息的當(dāng)前像素位置的當(dāng)前像素位置檢測器223；用于記錄缺陷像素位置信息的記錄器224；用于比較當(dāng)前像素位置和缺陷像素位置的比較器225；用于根據(jù)比較裝置的結(jié)果進(jìn)行DPC處理的DPC處理器226；用于驅(qū)動DPC處理裝置的DPC驅(qū)動器227；用于根據(jù)DPC處理裝置的結(jié)果對于正?；蛴腥毕菹袼氐牟逖a(bǔ)處理裝置的輸出結(jié)果進(jìn)行選擇的選擇器228以及用于處理圖像幀的而不是DPC功能的其它(separate)功能的處理器229。
另外，控制單元230分析并處理來自圖像隱藏單元220的數(shù)據(jù)并且對傳感模塊210和圖像隱藏單元220進(jìn)行編程。
而且，EPROM存儲單元240存儲傳感模塊210的傳感器像素區(qū)域中的缺陷像素的位置信息。當(dāng)攝像機(jī)工作在正常操作模式下時，控制單元230把存儲于存儲單元240的缺陷像素的位置信息記錄在用于圖像隱藏單元220中缺陷像素位置的記錄器224中。
現(xiàn)有技術(shù)的圖像傳感器中的缺陷像素隱藏設(shè)備使用如下方法。
首先，下面是找出缺陷像素的編程方法。
傳感模塊210中傳感器的曝光度(exposure)已經(jīng)給出，并且在適當(dāng)?shù)墓饩€下獲取白色的邊。控制單元230分析找出在這次獲取中相對其它像素比較暗的像素，并視為黑色像素，并且記住其在像素區(qū)域103中的位置。
傳感器中的曝光度和光線設(shè)置為適當(dāng)值并且獲取黑色背景。
控制單元230分析找出在這次獲取中相對其它像素比較亮的像素，并視為白色像素，并且記住其在像素區(qū)域103中的位置。
白色像素及黑色像素的位置信息被存儲于存儲單元240。
接著，下面是通過使用存儲在存儲單元240中的缺陷像素的位置操作實(shí)際DPC的方法。
當(dāng)電壓加到攝像機(jī)上時，控制單元230讀出存儲單元240中的缺陷像素位置并把它寫入圖像隱藏單元220的缺陷像素位置的記錄器224中，并驅(qū)動DPC驅(qū)動器227。
這之后，一旦插補(bǔ)被處理，則比較當(dāng)前像素位置的當(dāng)前像素位置檢測器223中的值及記錄缺陷像素的位置信息的記錄器224中的值。如果上述值相同，則選擇器228選擇在插補(bǔ)處理器222中處理的值并把該值送到控制單元230來隱藏圖像傳感器中的缺陷像素。
在操作實(shí)際DPC的方法中，記住在存儲單元240中的缺陷像素的位置，把其載入記錄器224(ASIC寄存器)中，然后如果檢測到缺陷像素位置則隱藏并傳輸該數(shù)據(jù)。從存儲單元240中讀取數(shù)據(jù)并且將其裝入記錄器224(ASIC寄存器)的原因是由于存儲單元240的操作時間中速度慢而不能使用位置數(shù)據(jù)完成該直接DPC方法。
然而，此方法必找到缺陷像素的位置。為了完成該方法，所述綜合時間必須是常數(shù)并且必須找到缺陷像素。
但是現(xiàn)有的直接DPC方法存在如下問題。
需要復(fù)雜的處理，例如用于存儲缺陷像素的位置的EPROM、用于找到在傳感器的每一個暴光中以及獲取背境中的缺陷像素位置的檢測、以及把缺陷位置存儲于EPROM的處理。
另外，該方法不能隱藏移動的缺陷像素。

發(fā)明內(nèi)容
因此，本發(fā)明的一個目的是提供一種隱藏具有測試模式的圖像傳感器中的有缺陷像素的方法和設(shè)備。本發(fā)明既不需要外部存儲裝置，也不需要每次測試中用于缺陷像素的程序。另外，本發(fā)明提供存儲介質(zhì)，用于從編程的計算機(jī)中讀出來以隱藏圖像傳感器的移動缺陷像素。
依照本發(fā)明的一個方面，提供了一種圖像傳感設(shè)備，包括傳感模塊，用于從一物體獲取一圖像，其中傳感模塊包括多個像素及一個用于檢測像素缺陷的光源，對于測試模式可控制該光源的關(guān)斷；控制裝置，用于決定是否存在來自使用光源的傳感模塊的圖像幀中的任何缺陷像素，以及用于存儲關(guān)于缺陷像素的位置；以及圖像隱藏裝置，將檢測到的缺陷像素的位置與物體的圖像幀的位置進(jìn)行比較，并且隱藏所檢測到的缺陷像素。
依照本發(fā)明的另一個方面，提供了一種圖像傳感器中缺陷像素的隱藏方法，包括下列步驟搜索白色像素，并且為測試模式臨時存儲所述白色像素的位置；搜索黑色像素，并且臨時存儲所述黑色像素的位置；存儲作為缺陷像素的黑色和白色像素的位置并且為測試模式接收來自物體的圖像；把與來自物體的圖像的相關(guān)的像素的位置與缺陷像素的位置比較并且通過插補(bǔ)把缺陷像素合成為一圖像。
依照本發(fā)明的另一個方面，還提供了一種圖像傳感器中缺陷像素的隱藏方法，包括下列步驟存儲在白色像素測試模式下產(chǎn)生的一第一圖像幀；存儲在黑色像素測試模式下產(chǎn)生的一第二圖像幀；確定在第一和第二幀中是否存在任何黑色和白色像素，如果存在任何黑色和白色像素則把這些黑色和白色像素臨時存儲，把所述黑色和白色像素的位置作為缺陷像素位置記錄并接收來自物體的圖像；把與來自物體的圖像的相關(guān)的像素的位置與缺陷像素的位置比較，并且通過插補(bǔ)為缺陷像素合成一圖像。


圖1是實(shí)際物體及本發(fā)明的傳感器上的圖像的示意圖。
圖2a到2c是現(xiàn)有的圖像傳感器的缺陷像素隱藏及以攝影機(jī)為例的示意圖。
圖3是隱藏具有測試模式的圖像傳感器中的缺陷像素的設(shè)備圖。
圖4a是隱藏具有測試模式的圖像傳感器中的缺陷像素的設(shè)備中的傳感模塊的細(xì)節(jié)圖。
圖4b是隱藏具有測試模式的圖像傳感器中的缺陷像素的設(shè)備中的圖像隱藏單元的細(xì)節(jié)圖。
圖4c是隱藏具有測試模式的圖像傳感器中的缺陷像素的設(shè)備中的控制單元的細(xì)節(jié)圖。
圖5是本發(fā)明的隱藏圖像傳感器的缺陷像素的方法的流程圖。
圖6a是白色像素的決定方法的詳細(xì)流程圖。
圖6b是黑色像素的決定方法的詳細(xì)流程圖。
圖6c是隱藏圖像傳感器的缺陷像素的方法中正常操作模式的方法的詳細(xì)流程圖及其程序的詳細(xì)描述。
具體實(shí)施例方式
在下文中，將依照附圖詳細(xì)說明根據(jù)本發(fā)明的圖像傳感器。
本發(fā)明的隱藏缺陷像素的設(shè)備具有一搜索缺陷像素的內(nèi)部裝置所以可以人工找到缺陷像素。
將隨后介紹的隱藏圖像傳感器的缺陷像素的設(shè)備能被用于攝錄機(jī)，數(shù)字?jǐn)z像機(jī)及掃描儀。但是可通過內(nèi)置于數(shù)字?jǐn)z像機(jī)中的圖像傳感器來描述本發(fā)明。
圖3是隱藏具有測試模式的圖像傳感器中的缺陷像素的設(shè)備的例子。而且，圖4a是隱藏圖像傳感器中的缺陷像素的設(shè)備中的傳感模塊的細(xì)節(jié)圖并對圖3中傳感模塊310的內(nèi)部結(jié)構(gòu)進(jìn)行了詳細(xì)描述。而且，圖4b是隱藏圖像傳感器中的缺陷像素的設(shè)備中的圖像隱藏單元320的細(xì)節(jié)圖并對圖像隱藏單元320的內(nèi)部結(jié)構(gòu)進(jìn)行了詳細(xì)描述。圖4c是隱藏具有測試模式的圖像傳感器中的缺陷像素的設(shè)備中的控制單元的細(xì)節(jié)圖并對控制單元330的內(nèi)部結(jié)構(gòu)進(jìn)行了詳細(xì)描述。
如圖3所示，根據(jù)本發(fā)明圖像傳感器包括傳感模塊310、圖像隱藏單元320以及控制單元330。
舉例說明，如圖4所示，傳感模塊310包括鏡頭固定器311、鏡頭312、光源313、圖像傳感器包314、圖像傳感器電路小板315以及PCB板316。與圖2b中的傳感模塊210相比，本發(fā)明還包括一光源。
因此，本發(fā)明中具有隱藏圖像傳感器的缺陷像素的設(shè)備的所述傳感模塊310，其包括一臨近圖4a中示出的傳感器的小光源。該光源313在搜索缺陷像素的測試模式期間開啟，在正常操作模式期間關(guān)閉。
在正常操作模式期間，該光源313位于遠(yuǎn)離光傳輸?shù)界R頭的路線的地方，因?yàn)樵摴庠?13不應(yīng)當(dāng)干擾圖像獲取處理。
在圖4a中，所述圖像隱藏單元320包括第一插補(bǔ)處理器321，用于正常像素的插補(bǔ)處理；第二插補(bǔ)處理器322，用于缺陷像素的插補(bǔ)處理；當(dāng)前像素位置檢測器323，用于管理當(dāng)前像素位置的信息；記錄器324，用于記錄缺陷像素的位置信息；比較器325，用于比較當(dāng)前像素位置及缺陷像素位置；DPC處理器326，用于響應(yīng)來自比較器的結(jié)果執(zhí)行DPC處理；DPC驅(qū)動器327，用于驅(qū)動DPC處理器326；選擇器328，用于把在正常操作模式中的第一插補(bǔ)處理器321或第二插補(bǔ)處理器322的輸出進(jìn)行選擇地輸出并為測試模式接收來自傳感模塊310的圖像幀；處理器329，用于處理圖像幀的各個功能而不是DPC功能；以及選擇控制器341，用于控制選擇器328來響應(yīng)來自控制單元330的指示測試或正常模式的控制信號。
在圖4b中，在測試模式中，來自傳感模塊310的圖像幀在經(jīng)由圖像隱藏單元320傳輸?shù)娇刂茊卧?30。然而，來自傳感模塊310的圖像幀能夠不經(jīng)由圖像隱藏單元320直接傳輸?shù)娇刂茊卧?30。
在圖4c中，控制單元330可以是計算機(jī)系統(tǒng)或微控制器來控制和處理來自傳感模塊310和圖像隱藏單元320的數(shù)據(jù)。
控制單元330包括圖像幀存儲器333，用于存儲來自傳感模塊310中傳感器的圖像幀；缺陷像素檢測器332，用于檢測缺陷像素并存儲檢測程序；臨時存儲器334，用于存儲從缺陷像素檢測器332檢測到的缺陷像素的位置信息；以及圖像控制器331，用于控制缺陷像素檢測器332，圖像幀存儲器333，臨時存儲器334及圖像隱藏單元320之間的信息。
圖5是本發(fā)明中隱藏圖像傳感器的缺陷像素的方法的流程圖。
為了隱藏在圖像傳感器中的缺陷像素，在510步，將電源供給缺陷像素隱藏設(shè)備。
然后，在520步，控制單元330中的圖像控制器331將攝像模式設(shè)置為測試模式以檢測白色像素并存儲用于缺陷像素的臨時存儲器334中的白色像素的位置信息。
即，把傳感器的曝光度減到最小并禁止圖像隱藏單元320中的插補(bǔ)功能及DPC功能。
如果圖像控制器設(shè)置為測試模式，圖像控制單元331讀出傳感模塊310中傳感器的圖像幀并且將其存儲于圖像幀存儲器333。缺陷像素檢測器332讀出存儲于圖像幀存儲器333中的像素單元的圖像數(shù)據(jù)，決定像素的狀態(tài)并且如果該像素為一缺陷像素的話把該像素的位置存儲于用于缺陷像素的臨時存儲器334。
對圖像幀存儲器333中的每一像素反復(fù)運(yùn)行檢測程序。
檢測程序之后，在530步，控制單元330中的圖像控制器331設(shè)置攝像模式為測試模式以檢測黑色像素并在用于缺陷像素的臨時存儲器334中存儲黑色像素的位置信息。即，把傳感器的曝光度設(shè)置為一適當(dāng)值，通過開啟光源讀出傳感器中的圖像幀并且在把圖像幀存儲于圖像幀存儲器333中后關(guān)閉光源。
關(guān)閉光源之后，缺陷像素檢測器332讀出存儲于圖像幀存儲器333中的像素單元中的圖像數(shù)據(jù)，決定像素的狀態(tài)并且如果該像素為一缺陷像素的話把該像素的位置存儲于用于缺陷像素的臨時存儲器334。
對圖像幀存儲器333中的每一像素反復(fù)運(yùn)行檢測程序。
上述步驟520和530結(jié)束后，在540步，圖像控制器331從用于缺陷像素的臨時存儲器334中讀出位置信息，將其記錄在用于記錄缺陷像素的位置信息的記錄器324中，并且在550步把數(shù)字?jǐn)z像機(jī)的系統(tǒng)模式設(shè)置為正常操作模式。即，啟動DPC功能及插補(bǔ)功能并且通過傳感模塊310中的傳感器傳輸所述圖像。
在正常操作模式中的數(shù)字?jǐn)z影機(jī)系統(tǒng)根據(jù)圖像隱藏單元320中DPC電路進(jìn)行正常操作。在比較當(dāng)前像素檢測器323中的當(dāng)前像素的位置信息和記錄器324中的缺陷像素的位置信息之后，如果檢測到相同的像素，則使用從用于缺陷像素的插補(bǔ)處理器322中的輸出。如果沒有，在560步通過使用用于正常像素的插補(bǔ)處理器321的輸出合成所述圖像。
如圖5所示，當(dāng)在510步電源加到數(shù)字?jǐn)z影機(jī)系統(tǒng)上時，在521步將攝影機(jī)模式設(shè)置為測試模式來搜索白色像素。
控制單元330進(jìn)行編程以把傳感模塊310中傳感器的曝光度最小化并且禁止圖像隱藏320單元中的插補(bǔ)功能及DPC功能。
在測試模式中，在522步傳感模塊310中傳感器的一個幀被讀出并且被存入圖像幀存儲器333。
當(dāng)圖像幀被存儲時，缺陷像素檢測器322檢查存儲在圖像幀存儲器333中的每一像素并且如果該像素比其它像素亮則把該白色像素的位置存儲入用于缺陷像素的臨時存儲器334中。
為了確定所述白色像素，將它與其它像素的全部幀平均值或其它像素值進(jìn)行比較。下表給出每個像素值。
表4


首先，與全部幀平均值的比較的方法是如果G5＞A*V，A是所述全部幀平均值，則假定該G5像素為缺陷像素。
其次，比較其它像素值的方法是檢測G5像素是否是G5＞V*(G1+R2+G2+B1+B2+G7+R5+G8)/8。
另一種方法，它與緊臨一像素的另外兩個像素比較。對于G5它可以通過核對G5＞V*(B1+B2)/2來完成。
另外一種更簡單的方法，它僅與臨近一像素的另外一個像素比較。如果G5＞V*B1則上述G5像素作為缺陷像素。
在決定了其是否是缺陷像素之后，將每一白色像素的位置信息存入臨時存儲器334。
圖6b是圖5的540步中所述黑色像素的決定方法的詳細(xì)流程圖。
首先，531步將攝影模式設(shè)置為測試模式來搜索黑色像素。
開啟光源并且設(shè)置綜合時間。在532步，圖像的一個原始數(shù)據(jù)圖像幀被從傳感模塊310中的傳感器中讀出，并存儲在圖像幀存儲器333，并且533步關(guān)閉光源。
在535步，圖像控制器331檢查存入圖像幀存儲器333的每一像素，并且如果所述像素比其它像素暗時，存儲缺陷像素的位置信息。
為了確定黑色像素，它與其它像素的全部幀平均值或其它像素值相比較。下表給出每個像素值。
表5


首先，與全部幀平均值的比較的方法是如果G5＜A*V，A是全部幀平均值，則假定所述G5像素為缺陷像素。
接著，與其它像素值比較的方法是檢測G5像素是否是G5＜V*(G1+R2+G2+B1+B2+G7+R5+G8)/8。
另一種方法，它與緊臨一像素的另外兩個像素比較。對于G5它可以通過核對G5＜V*(B1+B2)/2來完成。
另外一種更簡單的方法，它僅與臨近一像素的另外一個像素比較。如果G5＜V*B1則G5像素為缺陷像素。
在決定了其是否是缺陷像素之后，將每一白色像素的位置信息存入臨時存儲器334。
圖6c是說明圖像傳感器的缺陷像素隱藏的正常操作模式的方法的詳細(xì)流程圖，其是圖5中560步的正常操作模式步驟的詳細(xì)描述。
在正常操作模式中，讀出傳感模塊310中的傳感器中的像素的位置信息以及缺陷像素的位置信息并且與當(dāng)前像素位置的當(dāng)前像素位置檢測器323和用于記錄缺陷像素的位置信息的記錄器324中的位置信息進(jìn)行相互比較。
比較之后，在562步如果當(dāng)前像素的位置與任一缺陷像素相同，則一像素成為缺陷像素，并且用于缺陷像素的插補(bǔ)處理器322產(chǎn)生結(jié)果。
在562步如果當(dāng)前像素的位置與任一缺陷像素都不相同，則一像素成為正常像素并且用于正常像素的插補(bǔ)處理器321產(chǎn)生結(jié)果。
使用上述步驟的結(jié)果，圖像合成之后通過數(shù)字?jǐn)z像機(jī)系統(tǒng)的輸出單元顯示該圖像。
本發(fā)明不需要例如EPROM的外部存儲器。另外，不需要復(fù)雜處理，例如，用于搜索在傳感器的每一次曝光和捕獲環(huán)境中的缺陷像素的位置的測試。
本發(fā)明適用于移動缺陷像素。
對本發(fā)明已進(jìn)行了足夠詳細(xì)的描述。對本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來說，各種修改是顯而易見的。這些顯而易見的修改應(yīng)視為包括在隨后的權(quán)利要求中。
權(quán)利要求
1.一種圖像傳感設(shè)備，包括傳感模塊，用于從一物體獲取一圖像，其中傳感模塊包括多個像素及一個用于檢測像素缺陷的光源，根據(jù)測試模式控制該光源的關(guān)斷；控制裝置，用于決定是否存在從使用光源的傳感模塊接收的圖像幀中的任何缺陷像素，并用于存儲關(guān)于缺陷像素的位置；以及圖像隱藏裝置，將檢測到的缺陷像素的位置與所述物體的圖像幀的位置相比較，并且隱藏所檢測到的缺陷像素。
2.如權(quán)利要求1所述的設(shè)備，其中所述像素中的光源是用來從所述物體中獲得一附帶的光通路。
3.如權(quán)利要求1所述的設(shè)備，其中所述光源的亮度與沒有產(chǎn)生圖像的物體的實(shí)際圖像相同，其對所述光源導(dǎo)致的檢測圖像有影響。
4.如權(quán)利要求1所述的設(shè)備，其中所述控制裝置包括圖像幀存儲裝置，用于存儲一從傳感模塊接收的圖像幀；缺陷像素檢測裝置，用于存儲及執(zhí)行一程序來檢測所存儲的圖像幀中的缺陷像素，其中所述程序以基本逐幀地在一幀上執(zhí)行；臨時存儲裝置，用于存儲所述缺陷像素的位置；以及圖像控制裝置，用于控制所述圖像幀存儲裝置，缺陷像素檢測裝置，臨時存儲裝置，傳感模塊及圖像隱藏裝置。
5.如權(quán)利要求4所述的設(shè)備，其中所述圖像隱藏裝置包括第一插補(bǔ)處理裝置，用于執(zhí)行正常像素的插補(bǔ)處理；第二插補(bǔ)處理裝置，用于執(zhí)行缺陷像素的插補(bǔ)處理；位置檢測裝置，用于管理當(dāng)前像素的位置；記錄裝置，用于把缺陷像素的位置從臨時存儲器中讀出并且記錄缺陷像素的位置；比較裝置，用于比較當(dāng)前像素位置及缺陷像素位置；DPC處理裝置，用于響應(yīng)來自比較裝置的結(jié)果以隱藏圖像；選擇裝置，用于響應(yīng)來自DPC處理裝置的結(jié)果選擇第一插補(bǔ)處理裝置和第二插補(bǔ)處理裝置的輸出。
6.一種圖像傳感器中缺陷像素的隱藏方法，包括下列步驟a)搜索白色像素，并且為測試模式臨時存儲所述白色像素的位置；b)搜索黑色像素，并且臨時存儲所述黑色像素的位置；c)存儲作為缺陷像素的黑色和白色像素的位置，并且為測試模式接收來自物體的圖像；d)把與來自物體的圖像相關(guān)的像素的位置與缺陷像素的位置比較，并且通過插補(bǔ)為缺陷像素合成一圖像。
7.如權(quán)利要求6所述的方法，其中步驟a)包括下列步驟a1)通過關(guān)閉光源設(shè)置測試模式來檢測所述白色像素；a2)存儲在所述測試模式下輸入的圖像幀；以及a3)將圖像幀的每一所選擇的像素與所述圖像幀中的所有像素的平均值進(jìn)行比較或者將所述圖像幀的每一像素與其它相鄰像素進(jìn)行比較，并且如果所述像素的亮度高于預(yù)定值則把為白色像素的所選擇像素的位置存儲。
8.如權(quán)利要求6所述的方法，其中步驟b)包括下列步驟b1)通過開啟光源設(shè)置測試模式來檢測所述黑色像素；b2)存儲在所述測試模式下輸入的圖像幀；b3)關(guān)閉所述光源；以及b4)將圖像幀的每一所選擇的像素與所述圖像幀中的所有像素的平均值進(jìn)行比較或者將所述圖像幀的每一像素與其它相鄰像素進(jìn)行比較，并且如果所述被比較的像素的亮度低于預(yù)定值，則把為黑色像素的所選擇像素的位置存儲。
9.如權(quán)利要求7所述的方法，其中步驟a3)包括步驟將每一像素與8個臨近像素或2個臨近像素的平均值或者臨近像素中的一個進(jìn)行比較。
10.如權(quán)利要求8所述的方法，其中步驟b4)還包括步驟將每一像素與8個臨近像素或2個臨近像素的平均值或者臨近像素中的一個進(jìn)行比較。
11.一種圖像傳感器中缺陷像素的隱藏方法，包括下列步驟a)存儲在白色像素測試模式下產(chǎn)生的一第一圖像幀；b)存儲在黑色像素測試模式下產(chǎn)生的一第二圖像幀；c)決定在第一和第二幀中是否存在任何黑色和白色像素，如果存在任何黑色和白色像素則把這些黑色和白色像素的位置臨時存儲，把所述黑色和白色像素的位置作為缺陷像素位置記錄，并接收來自物體的圖像；以及d)把與來自物體的圖像相關(guān)的像素的位置與缺陷像素的位置進(jìn)行比較并且通過插補(bǔ)為缺陷像素合成一圖像。
12.如權(quán)利要求11所述的方法，其中步驟a)是通過將圖像傳感器的曝光度減到最小來執(zhí)行。
13.如權(quán)利要求11所述的方法，其中步驟b)包括下列步驟b1)通過開啟光源設(shè)置測試模式來檢測所述黑色像素；b2)存儲在光源開啟時產(chǎn)生的圖像幀；以及b3)關(guān)閉所述光源。
14.如權(quán)利要求11所述的方法，其中步驟c)包括下列步驟c1)將圖像幀的每一所選擇的像素與所述第一圖像幀中的所有像素的平均值進(jìn)行比較或者將所述圖像幀的每一像素和其它相鄰像素進(jìn)行比較，并且如果所述像素的亮度高于預(yù)定值則把為缺陷像素的所選擇像素的位置臨時存儲；c2)將圖像幀的每一所選擇的像素與所述第二圖像幀中的所有像素的平均值進(jìn)行比較或者將所述圖像幀的每一像素與其它相鄰像素進(jìn)行比較，并且如果所述被比較的像素的亮度低于預(yù)定值則把為缺陷像素的所選擇像素的位置臨時存儲；c3)對所述缺陷像素的位置進(jìn)行記錄并且接收來自上述物體的圖像。
15.如權(quán)利要求14所述的方法，其中步驟c1)和c2)還包括步驟將每一像素與8個臨近像素或2個臨近像素的平均值，或者臨近像素中的一個進(jìn)行比較。
16.如權(quán)利要求11所述的方法，其中步驟d)包括下列步驟d1)將與來自所述物體的圖像相關(guān)的像素的位置與所述白色和黑色像素的位置進(jìn)行比較；d2)如果至少有一像素與所述白色和黑色像素有相同的位置，則執(zhí)行一用于所述缺陷像素的插補(bǔ)；以及d3)如果不存在至少一像素與所述白色和黑色像素有相同的位置，則執(zhí)行一用于與所述物體的圖像相關(guān)的像素的插補(bǔ)。
17.一種包含程序代碼的計算機(jī)可讀介質(zhì)，該程序代碼用于實(shí)現(xiàn)以下功能a)搜索白色像素，并且為測試模式臨時存儲所述白色像素的位置；b)搜索黑色像素，并且臨時存儲所述黑色像素的位置；c)存儲作為缺陷像素的黑色和白色像素的位置，并且為測試模式接收來自物體的圖像；以及d)把與來自物體的圖像相關(guān)的像素的位置與缺陷像素的位置進(jìn)行比較，并且通過插補(bǔ)為缺陷像素合成一圖像。
18.如權(quán)利要求17所述包含程序代碼的計算機(jī)可讀介質(zhì)，該程序代碼還用于實(shí)現(xiàn)以下功能a)存儲在白色像素測試模式下產(chǎn)生的一第一圖像幀；b)存儲在黑色像素測試模式下產(chǎn)生的一第二圖像幀；c)決定在第一和第二幀中是否存在任何黑色和白色像素，如果存在任何黑色和白色像素，則把這些黑色和白色像素位置臨時存儲，把所述黑色和白色像素的位置作為缺陷像素位置記錄，并接收來自物體的圖像；d)把與來自物體的圖像相關(guān)的像素的位置與缺陷像素的位置比較，并且通過插補(bǔ)為缺陷像素合成一圖像。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種隱藏具有測試模式的圖像傳感器中的有缺陷像素的方法和設(shè)備。根據(jù)本發(fā)明的圖像傳感設(shè)備,包括:傳感模塊,用于從一物體獲取一圖像,其中傳感模塊包括多個像素及一個用于檢測像素缺陷的光源,該光源根據(jù)測試模式控制其關(guān)斷;控制裝置,用于決定是否存在從使用光源的傳感模塊接收的圖像幀中的任何缺陷像素,并用于存儲關(guān)于缺陷像素的位置;以及圖像隱藏單元,將檢測到的缺陷像素的位置與所述物體的圖像幀的位置相比較,并且隱藏所檢測到的缺陷像素。
文檔編號H04N5/335GK1356820SQ0114240
公開日2002年7月3日 申請日期2001年10月25日 優(yōu)先權(quán)日2000年10月25日
發(fā)明者金顯殷 申請人:金顯殷, 海力士半導(dǎo)體有限公司