一種可濾除毛刺的跳沿檢測(cè)方法及裝置制造方法
【專利摘要】本發(fā)明適用于集成電路信號(hào)處理【技術(shù)領(lǐng)域】，提供了一種可濾除毛刺的跳沿檢測(cè)方法及裝置，所述方法包括：根據(jù)跳沿的類型和跳沿的時(shí)序，主控制器通過(guò)序列配置寄存器設(shè)置用于采樣的跳沿序列；采樣時(shí)鐘以預(yù)設(shè)頻率采樣接口數(shù)據(jù)；通過(guò)位移存儲(chǔ)器存儲(chǔ)所述接口數(shù)據(jù)，其中，所述接口數(shù)據(jù)從移位寄存器的左端進(jìn)入，每進(jìn)來(lái)一位接口數(shù)據(jù)同時(shí)移位寄存器右移一位；比較寄存器設(shè)置序列配置寄存器和移位寄存器的比較位數(shù)，比較移位寄存器中左起的給定位數(shù)據(jù)和序列配置寄存器中跳沿序列中相應(yīng)的比特位數(shù)據(jù)是否相等，如果兩者相等，則顯示為有效的跳沿，本發(fā)明，實(shí)現(xiàn)了同時(shí)完成檢測(cè)跳沿和濾除毛刺。
【專利說(shuō)明】一種可濾除毛刺的跳沿檢測(cè)方法及裝置
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明屬于集成電路信號(hào)處理【技術(shù)領(lǐng)域】，尤其涉及一種可濾除毛刺的跳沿檢測(cè)方法及裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]跳沿檢測(cè)廣泛用于各種傳輸協(xié)議中，用來(lái)作為信號(hào)的啟動(dòng)標(biāo)識(shí)、完成標(biāo)識(shí)、休眠喚醒信號(hào)等。因此，對(duì)接口信號(hào)的上跳沿和下跳沿的檢測(cè)，成為很多電子設(shè)備所需功能。隨著電子設(shè)備向便攜式和小型化發(fā)展，設(shè)備主板中高密度的器件布局使得噪聲在電路設(shè)計(jì)中變成主要問(wèn)題之一，而噪聲和干擾容易導(dǎo)致芯片接口信號(hào)產(chǎn)生毛刺。所謂毛刺就是小于定義最小時(shí)間的信號(hào)跳變，采樣到毛刺信號(hào)將引起電路或者系統(tǒng)錯(cuò)誤的反應(yīng)，造成系統(tǒng)不穩(wěn)或者失效。
[0003]一方面，現(xiàn)有對(duì)信號(hào)傳輸中的毛刺濾除電路由與非門、或非門、反相器、延時(shí)器件鏈及與RS觸發(fā)器構(gòu)成，其結(jié)構(gòu)比較復(fù)雜，在不影響占空比的前提下，對(duì)時(shí)鐘管腳上的高頻毛刺進(jìn)行過(guò)濾，實(shí)際芯片電路中，延時(shí)單元延時(shí)一般為納秒級(jí)，而RC濾波電路所采用的電阻和電容量級(jí)是千歐級(jí)和皮法級(jí)，其時(shí)間常數(shù)為納秒級(jí)別，因此，只能過(guò)濾納秒級(jí)的毛刺，如果有微秒級(jí)的毛刺，則需要考慮其他方法。
[0004]另一方面，中國(guó)發(fā)明專利CN200910107495.7 一種消除信號(hào)毛刺的方法，其公開(kāi)了I)設(shè)置有效和無(wú)效電平計(jì)數(shù)門限值；2)加減計(jì)數(shù)器接收待消除毛刺的信號(hào)并開(kāi)始計(jì)數(shù):在每個(gè)時(shí)鐘的上升沿到達(dá)時(shí)，若信號(hào)為有效電平，則將當(dāng)前的計(jì)數(shù)值加1，反之則減I ;且計(jì)數(shù)值在達(dá)到有效/無(wú)效電平計(jì)數(shù)門限值后不再增加/減少；同時(shí)，信號(hào)輸出電路根據(jù)計(jì)數(shù)值輸出無(wú)毛刺的信號(hào):在每個(gè)時(shí)鐘的上升沿到達(dá)時(shí)，若計(jì)數(shù)值為有效/無(wú)效電平計(jì)數(shù)門限值，則輸出有效/無(wú)效電平；若計(jì)數(shù)值介于有效和無(wú)效電平計(jì)數(shù)門限值之間，則保持與前一時(shí)鐘的輸出相同。
[0005]綜上所述，現(xiàn)有技術(shù)主要是針對(duì)信號(hào)傳輸中的毛刺濾除，電路較為復(fù)雜，而對(duì)需要進(jìn)行跳沿檢測(cè)的情況來(lái)說(shuō)，除跳沿檢測(cè)電路外，還需要增加上述濾除毛刺電路，實(shí)現(xiàn)成本較高，另外，跳沿的時(shí)序要求不同，需要濾除的毛刺寬度也會(huì)不同，而現(xiàn)有技術(shù)設(shè)計(jì)一旦固定，濾除毛刺的寬度是相對(duì)固定的，適應(yīng)性有所不足。
【發(fā)明內(nèi)容】
[0006]本發(fā)明實(shí)施例提供了一種可濾除毛刺的跳沿檢測(cè)方法及裝置，旨在解決現(xiàn)有技術(shù)毛刺濾除電路較為復(fù)雜，濾除毛刺的寬度是相對(duì)固定的，適應(yīng)性有所不足，其在需要進(jìn)行跳沿檢測(cè)時(shí)，必須同時(shí)設(shè)置跳沿檢測(cè)電路和濾除毛刺電路，實(shí)現(xiàn)成本高的問(wèn)題。
[0007]一方面，提供一種可濾除毛刺的跳沿檢測(cè)方法，所述方法包括:
[0008]根據(jù)跳沿的類型和跳沿的時(shí)序，主控制器通過(guò)序列配置寄存器設(shè)置用于采樣的跳沿序列；
[0009]采樣時(shí)鐘以預(yù)設(shè)頻率采樣接口數(shù)據(jù)；
[0010]通過(guò)位移存儲(chǔ)器存儲(chǔ)所述接口數(shù)據(jù)，其中，所述接口數(shù)據(jù)從移位寄存器的左端進(jìn)入，每進(jìn)來(lái)一位接口數(shù)據(jù)同時(shí)移位寄存器右移一位；
[0011]比較寄存器設(shè)置序列配置寄存器和移位寄存器的比較位數(shù)，比較移位寄存器中左起的給定位數(shù)據(jù)和序列配置寄存器中跳沿序列中相應(yīng)的比特位數(shù)據(jù)是否相等，如果兩者相等，則顯不為有效的跳沿。
[0012]另一方面，提供一種可濾除毛刺的跳沿檢測(cè)裝置，所述裝置包括:
[0013]序列配置單元，用于根據(jù)跳沿的類型和跳沿的時(shí)序，主控制器通過(guò)序列配置寄存器設(shè)置用于采樣的跳沿序列；
[0014]數(shù)據(jù)采樣單元，用于采樣時(shí)鐘以預(yù)設(shè)頻率采樣接口數(shù)據(jù)；
[0015]數(shù)據(jù)儲(chǔ)存單元，用于通過(guò)位移存儲(chǔ)器存儲(chǔ)所述接口數(shù)據(jù)，其中，所述接口數(shù)據(jù)從移位寄存器的左端進(jìn)入，每進(jìn)來(lái)一位接口數(shù)據(jù)同時(shí)移位寄存器右移一位；
[0016]數(shù)據(jù)檢測(cè)單元，用于比較寄存器設(shè)置序列配置寄存器和移位寄存器的比較位數(shù)，比較移位寄存器中左起的給定位數(shù)據(jù)和序列配置寄存器中跳沿序列中相應(yīng)的比特位數(shù)據(jù)是否相等，如果兩者相等，則顯示為有效的跳沿。
[0017]在本發(fā)明實(shí)施例，根據(jù)跳沿的類型和跳沿的時(shí)序，主控制器通過(guò)序列配置寄存器設(shè)置用于采樣的跳沿序列；采樣時(shí)鐘以預(yù)設(shè)頻率采樣接口數(shù)據(jù)；通過(guò)位移存儲(chǔ)器存儲(chǔ)所述接口數(shù)據(jù)，其中，所述接口數(shù)據(jù)從移位寄存器的左端進(jìn)入，每進(jìn)來(lái)一位接口數(shù)據(jù)同時(shí)移位寄存器右移一位；比較寄存器設(shè)置序列配置寄存器和移位寄存器的比較位數(shù)，比較移位寄存器中左起的給定位數(shù)據(jù)和序列配置寄存器中跳沿序列中相應(yīng)的比特位數(shù)據(jù)是否相等，如果兩者相等，則顯示為有效的跳沿，本發(fā)明，將濾除毛刺電路和跳沿檢測(cè)電路結(jié)合在一起，檢測(cè)跳沿的同時(shí)完成濾除毛刺，電路簡(jiǎn)單，易于實(shí)現(xiàn)，同時(shí)，通過(guò)配置上述裝置可方便的實(shí)現(xiàn)上跳沿和下跳沿的檢測(cè)，濾除毛刺的寬度可配置，可滿足不同的應(yīng)用場(chǎng)景。
【專利附圖】
【附圖說(shuō)明】
[0018]圖1是本發(fā)明實(shí)施例一提供的可濾除毛刺的跳沿檢測(cè)方法的實(shí)現(xiàn)流程圖；
[0019]圖2是本發(fā)明實(shí)施例一提供的可濾除毛刺的跳沿檢測(cè)方法的操作示意圖；
[0020]圖3是本發(fā)明實(shí)施例一提供的數(shù)據(jù)同步示意圖；
[0021]圖4是本發(fā)明實(shí)施例一提供的檢測(cè)序列示意圖；
[0022]圖5是本發(fā)明實(shí)施例二提供的可濾除毛刺的跳沿檢測(cè)裝置的具體結(jié)構(gòu)框圖。
【具體實(shí)施方式】
[0023]為了使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案及優(yōu)點(diǎn)更加清楚明白，以下結(jié)合附圖及實(shí)施例，對(duì)本發(fā)明進(jìn)行進(jìn)一步詳細(xì)說(shuō)明。應(yīng)當(dāng)理解，此處所描述的具體實(shí)施例僅僅用以解釋本發(fā)明，并不用于限定本發(fā)明。
[0024]以下結(jié)合具體實(shí)施例對(duì)本發(fā)明的實(shí)現(xiàn)進(jìn)行詳細(xì)描述:
[0025]實(shí)施例一
[0026]圖1示出了本發(fā)明實(shí)施例一提供的可濾除毛刺的跳沿檢測(cè)方法的實(shí)現(xiàn)流程，詳述如下:
[0027]在步驟SlOl中，根據(jù)跳沿的類型和跳沿的時(shí)序，主控制器通過(guò)序列配置寄存器設(shè)置用于采樣的跳沿序列。
[0028]在本實(shí)施例中，所述主控制器通過(guò)數(shù)據(jù)總線來(lái)配置和修改序列配置寄存器的用于采樣的跳沿序列，所述序列配置寄存器的長(zhǎng)度為第一數(shù)據(jù)長(zhǎng)度，所述第一數(shù)據(jù)長(zhǎng)度大于一個(gè)預(yù)設(shè)跳沿時(shí)序中所有高電平采樣點(diǎn)數(shù)和所有低電平采樣點(diǎn)數(shù)之和，其中，對(duì)上跳沿、下跳沿檢測(cè)需要不同的配置，而濾除毛刺的寬度需要根據(jù)采樣時(shí)鐘來(lái)估算設(shè)置。其中，序列配置寄存器的配置方法如下:
[0029](I)高電平對(duì)應(yīng)寄存器內(nèi)數(shù)據(jù)“1”，低電平對(duì)應(yīng)寄存器內(nèi)數(shù)據(jù)“O”；
[0030](2)根據(jù)跳沿的時(shí)序要求來(lái)估算高電平和低電平的采樣數(shù)，例如，假設(shè)某個(gè)跳沿要求高電平時(shí)間為大于H，持續(xù)低電平時(shí)間大于L，采樣時(shí)鐘頻率為Mf，則可計(jì)算出高電平的采樣點(diǎn)數(shù)至少為HMf，低電平采樣點(diǎn)數(shù)目至少為L(zhǎng)Mf ；
[0031](3)下跳沿變化是信號(hào)電平從高跳變到低，對(duì)應(yīng)寄存器內(nèi)的值從左起始端開(kāi)始應(yīng)該是LMf個(gè)0，然后緊接著HMf個(gè)I ;
[0032](4)上跳沿變化是信號(hào)電平從低跳變到高，對(duì)應(yīng)寄存器內(nèi)的值從左起始端開(kāi)始應(yīng)該是HMf個(gè)I，然后緊接著LMf個(gè)O ;
[0033]在步驟S102中，采樣時(shí)鐘以預(yù)設(shè)頻率采樣接口數(shù)據(jù)。
[0034]在本實(shí)施例中，所述預(yù)設(shè)頻率為輸入數(shù)據(jù)頻率的M倍，所述M為大于等于4并小于等于10的整數(shù)。采樣時(shí)鐘產(chǎn)生采樣所需時(shí)鐘，假設(shè)待檢測(cè)信號(hào)頻率為f.，采樣時(shí)鐘的預(yù)設(shè)頻率需要是輸入信號(hào)頻率的M倍，其為Mf，考慮奈奎斯特采樣定律，一般實(shí)際應(yīng)用中保證采樣頻率為信號(hào)最高頻率的5?10倍。優(yōu)選的，預(yù)設(shè)頻率M為大于4的整數(shù)，才可以保證采樣的充分性，具體的，序列配置寄存器為S位，要求HMf+LMf ( S，當(dāng)高電平和低電平的時(shí)間參數(shù)H和L給定后，采樣時(shí)鐘的預(yù)設(shè)頻率倍數(shù)要求MS S/(Hf+Lf)。另外，實(shí)際應(yīng)用中在移位寄存器的個(gè)數(shù)N給定后，M的值也不能過(guò)大，以免送入移位寄存器的值溢出。
[0035]作為一個(gè)優(yōu)選方案，在步驟S103之前還包括采樣時(shí)鐘同步接口數(shù)據(jù)，具體的，在采樣時(shí)鐘的上沿或者下沿，將采樣的所述接口數(shù)據(jù)依次輸入第一級(jí)D觸發(fā)器和第二級(jí)D觸發(fā)器消除所述接口數(shù)據(jù)的亞穩(wěn)態(tài)，具體過(guò)程如圖3所示。
[0036]在步驟S103中，通過(guò)位移存儲(chǔ)器存儲(chǔ)所述接口數(shù)據(jù)，其中，所述接口數(shù)據(jù)從移位寄存器的左端進(jìn)入，每進(jìn)來(lái)一位接口數(shù)據(jù)同時(shí)移位寄存器右移一位。
[0037]在本實(shí)施例中，通過(guò)N位位移存儲(chǔ)器存儲(chǔ)所述接口數(shù)據(jù)，所述N大于等于第一數(shù)據(jù)長(zhǎng)度。移位寄存器由N個(gè)寄存器組成，每次啟動(dòng)比較之前，寄存器的值將全部清零，開(kāi)始檢測(cè)時(shí)，數(shù)據(jù)從移位寄存器左端輸入，經(jīng)過(guò)每拍時(shí)鐘后，數(shù)據(jù)依次右移動(dòng)一位。第一數(shù)據(jù)長(zhǎng)度不能超過(guò)移位寄存器的最大深度，在實(shí)施方法中，N (N ^ S)位寄存器可以保證滿足上述要求。
[0038]在步驟S104中，比較寄存器設(shè)置序列配置寄存器和移位寄存器的比較位數(shù)，比較移位寄存器中左起的給定位數(shù)據(jù)和序列配置寄存器中跳沿序列中相應(yīng)的比特位數(shù)據(jù)是否相等，如果兩者相等，則顯示為有效的跳沿。
[0039]在本實(shí)施例中，所述比較位數(shù)大于等于濾除毛刺的寬度，其由主控制器進(jìn)行設(shè)置。比較寄存器可以根據(jù)主控制器設(shè)置的比較位數(shù)，比較序列配置寄存器中左起相應(yīng)的設(shè)置值和移位寄存器中左起對(duì)應(yīng)位數(shù)據(jù)，當(dāng)移位寄存器里面的數(shù)據(jù)和比較器內(nèi)的預(yù)置數(shù)據(jù)完全相同時(shí)，則顯示為有效的跳沿。另外一個(gè)優(yōu)選方案是，如果移位寄存器中左起的給定位數(shù)據(jù)和序列配置寄存器中跳沿序列中相應(yīng)的比特位數(shù)據(jù)不相等，則將移位寄存器中所述給定位數(shù)據(jù)濾除。
[0040]如圖4示出了一種具體通過(guò)本方法進(jìn)行跳沿檢測(cè)的具體示例，其中，待檢測(cè)信號(hào)相應(yīng)的時(shí)鐘頻率為f，周期為T，取M為8，即以8倍頻作為采樣時(shí)鐘；設(shè)定移位寄存器的N為8，序列配置寄存器的S也為8，需要檢測(cè)下跳沿，其中跳沿的高電平持續(xù)時(shí)間大于0.4T，低電平持續(xù)時(shí)間大于0.4T，根據(jù)上述方法描述，比較位數(shù)寄存器的值設(shè)置為6，序列配置寄存器的值設(shè)置為000111XX，其中XX標(biāo)識(shí)O或者I中任意值均可，待檢測(cè)數(shù)據(jù)從端口持續(xù)輸入時(shí)候，即可自動(dòng)完成下跳沿檢測(cè)，具體過(guò)程如下:
[0041](I)第一拍采樣，下跳沿附近的高電平Dl被采樣，首先輸入到移位寄存器最左端；
[0042](2)第二拍采樣，高電平D2被采樣到寄存器最左端，同時(shí)Dl被移位到移位寄存器的左起第二位；
[0043](3)第三拍采樣，高電平D3被采樣到移位寄存器最左端，高電平D2移動(dòng)到左起第二位，高電平Dl移動(dòng)到左起第三位；
[0044](4)第四拍采樣，低電平D4被采樣到移位寄存器最左端，高電平D3移動(dòng)到左起第二位，高電平D2移動(dòng)到左起第三位，高電平Dl移動(dòng)到左起第四位；
[0045](5)第五拍采樣，低電平D5被采樣到移位寄存器最左端，低電平D4移動(dòng)到左起第二位，高電平D3移動(dòng)到左起第三位，高電平D2移動(dòng)到左起第四位，高電平Dl移動(dòng)到左起第五位；
[0046](6)第六拍采樣，低電平D6被采樣到移位寄存器最左端，低電平D5移動(dòng)到左起第二位，低電平D4移動(dòng)到左起第三位，高電平D3移動(dòng)到左起第四位，高電平D2移動(dòng)到左起第五位，高電平Dl移動(dòng)到左起第六位。此時(shí)，移位寄存器的值和比較器內(nèi)的預(yù)置數(shù)據(jù)等，即可判斷下跳沿有效。
[0047]當(dāng)待檢測(cè)數(shù)據(jù)有毛刺時(shí)，如圖4所示，毛刺的持續(xù)時(shí)間小于0.4T，即采樣時(shí)鐘無(wú)法采樣到足夠的低電平0，如圖4中的D10、D11、D12，因此移位寄存器里的值不能與序列配置寄存器的預(yù)置的值相匹配，則這兩個(gè)毛刺將被過(guò)濾掉。
[0048]本實(shí)施例，將濾毛刺電路和跳沿檢測(cè)電路結(jié)合在一起，檢測(cè)跳沿的同時(shí)完成濾除毛刺，電路簡(jiǎn)單，易于實(shí)現(xiàn)，另外，通過(guò)配置可方便的實(shí)現(xiàn)上跳沿和下跳沿的檢測(cè)，濾除毛刺的寬度可配置，可滿足不同的應(yīng)用場(chǎng)景。
[0049]實(shí)施例二
[0050]圖5示出了本發(fā)明實(shí)施例二提供的可濾除毛刺的跳沿檢測(cè)裝置的具體結(jié)構(gòu)框圖，為了便于說(shuō)明，僅示出了與本發(fā)明實(shí)施例相關(guān)的部分。在本實(shí)施例中，該可濾除毛刺的跳沿檢測(cè)裝置包括:。
[0051]其中，序列配置單元51，用于根據(jù)跳沿的類型和跳沿的時(shí)序，主控制器通過(guò)序列配置寄存器設(shè)置用于采樣的跳沿序列；
[0052]數(shù)據(jù)采樣單元52，用于采樣時(shí)鐘以預(yù)設(shè)頻率采樣接口數(shù)據(jù)；
[0053]數(shù)據(jù)儲(chǔ)存單元53，用于通過(guò)位移存儲(chǔ)器存儲(chǔ)所述接口數(shù)據(jù)，其中，所述接口數(shù)據(jù)從移位寄存器的左端進(jìn)入，每進(jìn)來(lái)一位接口數(shù)據(jù)同時(shí)移位寄存器右移一位；
[0054]數(shù)據(jù)檢測(cè)單元54，用于比較寄存器設(shè)置序列配置寄存器和移位寄存器的比較位數(shù)，比較移位寄存器中左起的給定位數(shù)據(jù)和序列配置寄存器中跳沿序列中相應(yīng)的比特位數(shù)據(jù)是否相等，如果兩者相等，則顯示為有效的跳沿。
[0055]進(jìn)一步地,所述裝置還包括:
[0056]毛刺濾除單元55，用于如果移位寄存器中左起的給定位數(shù)據(jù)和序列配置寄存器中跳沿序列中相應(yīng)的比特位數(shù)據(jù)不相等，則將移位寄存器中所述給定位數(shù)據(jù)濾除。
[0057]進(jìn)一步地，所述裝置還包括:
[0058]數(shù)據(jù)同步單元56，用于采樣時(shí)鐘同步接口數(shù)據(jù)。
[0059]具體的，所述數(shù)據(jù)同步單元具體用于在采樣時(shí)鐘的上沿或者下沿，將采樣的所述接口數(shù)據(jù)依次輸入第一級(jí)D觸發(fā)器和第二級(jí)D觸發(fā)器消除所述接口數(shù)據(jù)的亞穩(wěn)態(tài)。
[0060]進(jìn)一步地，所述比較位數(shù)大于等于濾除毛刺的寬度，其由主控制器進(jìn)行設(shè)置。
[0061]本發(fā)明實(shí)施例提供的可濾除毛刺的跳沿檢測(cè)裝置可以應(yīng)用在前述對(duì)應(yīng)的方法實(shí)施例一中，詳情參見(jiàn)上述實(shí)施例一的描述，在此不再贅述。
[0062]值得注意的是，上述裝置實(shí)施例中，所包括的各個(gè)單元只是按照功能邏輯進(jìn)行劃分的，但并不局限于上述的劃分，只要能夠?qū)崿F(xiàn)相應(yīng)的功能即可；另外，各功能單元的具體名稱也只是為了便于相互區(qū)分，并不用于限制本發(fā)明的保護(hù)范圍。
[0063]另外，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員可以理解實(shí)現(xiàn)上述各實(shí)施例方法中的全部或部分步驟是可以通過(guò)程序來(lái)指令相關(guān)的硬件來(lái)完成，相應(yīng)的程序可以存儲(chǔ)于一計(jì)算機(jī)可讀取存儲(chǔ)介質(zhì)中，所述的存儲(chǔ)介質(zhì)，如R0M/RAM、磁盤或光盤等。
[0064]以上所述僅為本發(fā)明的較佳實(shí)施例而已，并不用以限制本發(fā)明，凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi)所作的任何修改、等同替換和改進(jìn)等，均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。
【權(quán)利要求】
1.一種可濾除毛刺的跳沿檢測(cè)方法，其特征在于，所述方法包括: 根據(jù)跳沿的類型和跳沿的時(shí)序，主控制器通過(guò)序列配置寄存器設(shè)置用于采樣的跳沿序列； 采樣時(shí)鐘以預(yù)設(shè)頻率采樣接口數(shù)據(jù)； 通過(guò)位移存儲(chǔ)器存儲(chǔ)所述接口數(shù)據(jù)，其中，所述接口數(shù)據(jù)從移位寄存器的左端進(jìn)入，每進(jìn)來(lái)一位接口數(shù)據(jù)同時(shí)移位寄存器右移一位； 比較寄存器設(shè)置序列配置寄存器和移位寄存器的比較位數(shù)，比較移位寄存器中左起的給定位數(shù)據(jù)和序列配置寄存器中跳沿序列中相應(yīng)的比特位數(shù)據(jù)是否相等，如果兩者相等，則顯示為有效的跳沿。
2.如權(quán)利要求1所述的可濾除毛刺的跳沿檢測(cè)方法，其特征在于，所述比較移位寄存器中左起的給定位數(shù)據(jù)和序列配置寄存器中跳沿序列中相應(yīng)的比特位數(shù)據(jù)是否相等之后還包括: 如果移位寄存器中左起的給定位數(shù)據(jù)和序列配置寄存器中跳沿序列中相應(yīng)的比特位數(shù)據(jù)不相等，則將移位寄存器中所述給定位數(shù)據(jù)濾除。
3.如權(quán)利要求1所述的可濾除毛刺的跳沿檢測(cè)方法，其特征在于，所述采樣時(shí)鐘以預(yù)設(shè)頻率采樣接口數(shù)據(jù)之后還包括: 采樣時(shí)鐘同步接口數(shù)據(jù)。
4.如權(quán)利要求3所述的可濾除毛刺的跳沿檢測(cè)方法，其特征在于，所述采樣時(shí)鐘同步接口數(shù)據(jù)具體為: 在采樣時(shí)鐘的上沿或者下沿，將采樣的所述接口數(shù)據(jù)依次輸入第一級(jí)D觸發(fā)器和第二級(jí)D觸發(fā)器消除所述接口數(shù)據(jù)的亞穩(wěn)態(tài)。
5.如權(quán)利要求1所述的可濾除毛刺的跳沿檢測(cè)方法，其特征在于，所述比較位數(shù)大于等于濾除毛刺的寬度，其由主控制器進(jìn)行設(shè)置。
6.一種可濾除毛刺的跳沿檢測(cè)裝置，其特征在于，所述裝置包括: 序列配置單元，用于根據(jù)跳沿的類型和跳沿的時(shí)序，主控制器通過(guò)序列配置寄存器設(shè)置用于采樣的跳沿序列； 數(shù)據(jù)采樣單元，用于采樣時(shí)鐘以預(yù)設(shè)頻率采樣接口數(shù)據(jù)； 數(shù)據(jù)儲(chǔ)存單元，用于通過(guò)位移存儲(chǔ)器存儲(chǔ)所述接口數(shù)據(jù)，其中，所述接口數(shù)據(jù)從移位寄存器的左端進(jìn)入，每進(jìn)來(lái)一位接口數(shù)據(jù)同時(shí)移位寄存器右移一位； 數(shù)據(jù)檢測(cè)單元，用于比較寄存器設(shè)置序列配置寄存器和移位寄存器的比較位數(shù)，比較移位寄存器中左起的給定位數(shù)據(jù)和序列配置寄存器中跳沿序列中相應(yīng)的比特位數(shù)據(jù)是否相等，如果兩者相等，則顯示為有效的跳沿。
7.如權(quán)利要求6所述的可濾除毛刺的跳沿檢測(cè)裝置，其特征在于，所述裝置還包括: 毛刺濾除單元，用于如果移位寄存器中左起的給定位數(shù)據(jù)和序列配置寄存器中跳沿序列中相應(yīng)的比特位數(shù)據(jù)不相等，則將移位寄存器中所述給定位數(shù)據(jù)濾除。
8.如權(quán)利要求6所述的可濾除毛刺的跳沿檢測(cè)裝置，其特征在于，所述裝置還包括: 數(shù)據(jù)同步單元，用于采樣時(shí)鐘同步接口數(shù)據(jù)。
9.如權(quán)利要求8所述的可濾除毛刺的跳沿檢測(cè)裝置，其特征在于，所述數(shù)據(jù)同步單元具體用于在采樣時(shí)鐘的上沿或者下沿，將采樣的所述接口數(shù)據(jù)依次輸入第一級(jí)D觸發(fā)器和第二級(jí)D觸發(fā)器消除所述接口數(shù)據(jù)的亞穩(wěn)態(tài)。
10.如權(quán)利要求6所述的可濾除毛刺的跳沿檢測(cè)裝置，其特征在于，所述比較位數(shù)大于等于濾除毛刺的寬度，其由主控制器進(jìn)行設(shè)置。
【文檔編號(hào)】H03K5/01GK104467753SQ201410708825
【公開(kāi)日】2015年3月25日 申請(qǐng)日期:2014年11月28日 優(yōu)先權(quán)日:2014年11月28日
【發(fā)明者】陳毅成, 彭穎, 張明宇 申請(qǐng)人:深圳中科訊聯(lián)科技有限公司