專利名稱：一種比較反射式光電接近開關(guān)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種比較反射式光電接近開關(guān)。
背景技術(shù)：
目前，傳統(tǒng)的直接反射式光電接近開關(guān)是把發(fā)射器和接收器構(gòu)成一體，發(fā)射器發(fā)射的光線直接照射到被檢測物體上，根據(jù)反射情況進(jìn)行檢測。雖然其技術(shù)較為成熟，但由于其結(jié)構(gòu)限制，它有以下缺陷容易受溫度、粉塵、背景光等因素的影響，使得檢測距離時(shí)檢測不準(zhǔn)確，比如，麻將機(jī)，使用時(shí)間過長后，積有灰塵，使得檢測距離時(shí)不準(zhǔn)確，從而發(fā)生洗牌時(shí)牌被卡住等現(xiàn)象。
發(fā)明內(nèi)容針對上述現(xiàn)有技術(shù)，本實(shí)用新型提供了一種比較反射式光電接近開關(guān)。本實(shí)用新型是通過以下技術(shù)方案實(shí)現(xiàn)的一種比較反射式光電接近開關(guān)，包括開關(guān)管T、比較器、檢測發(fā)射器VD1和檢測接收器VT1,其中，開關(guān)管T與比較器連接，檢測發(fā)射器VD1與檢測接收器VT1構(gòu)成一體，檢測接收器VT1與比較器連接；還包括定位反射板、定位發(fā)射器VD2和定位接收器VT2，定位發(fā)射器VD2 與定位接收器VTdQ成一體，定位接收器VT2與比較器連接，定位反射板與定位發(fā)射器卩仏相配合。工作原理為當(dāng)被檢測物體到檢測接收器VT1的距離L1大于定位反射板到定位接收器VT2的距離L2時(shí)，則有V1 > V2,比較器輸出低電平，開關(guān)管T截止。當(dāng)L1小于L2時(shí)，則有V1 < V2,比較器輸出高電平，開關(guān)管T導(dǎo)通。本實(shí)用新型與現(xiàn)有技術(shù)相比較，由于增加了一個(gè)用于定位的發(fā)射器/接收器，以及把兩接收器(VI\、VT2)接成差分形式，并且置于相同的環(huán)境中，因此，可以自動(dòng)消除溫度、 粉塵、背景光等因素造成的干擾，從而保證檢測距離不發(fā)生改變。本實(shí)用新型檢測距離是通過調(diào)整定位反射板距離L2來確定的，因此，可實(shí)現(xiàn)無觸點(diǎn)調(diào)整，這樣比傳統(tǒng)的通過調(diào)整電位器的方法更加直觀、可靠，而且成本低廉。本實(shí)用新型的比較反射式光電接近開關(guān)可以用于限位、定位檢測、自動(dòng)計(jì)數(shù)、測量轉(zhuǎn)速、自動(dòng)保護(hù)等方面，比如麻將機(jī)。可以預(yù)計(jì)，在機(jī)械制造、機(jī)床制造等方面將有著廣泛的應(yīng)用。

圖1為本實(shí)用新型的使用狀態(tài)參考圖；圖2為本實(shí)用新型的電路圖。其中，1、比較器；2、定位反射板；3、被檢測物體。
具體實(shí)施方式
[0013]
以下結(jié)合附圖對本實(shí)用新型作進(jìn)一步的說明。一種比較反射式光電接近開關(guān)，包括開關(guān)管T、比較器1、檢測發(fā)射器VD1和檢測接收器VT1,其中，開關(guān)管T與比較器1連接，檢測發(fā)射器VD1與檢測接收器VT1構(gòu)成一體，檢測接收器VT1與比較器連接；如圖1、圖2所示，還包括定位反射板2、定位發(fā)射器VD2和定位接收器VT2,定位發(fā)射器VD2與定位接收器VT2構(gòu)成一體，定位接收器VT2與比較器1連接，定位反射板2與定位發(fā)射器VD2相配合。工作原理為當(dāng)被檢測物體3到檢測接收器VT1的距離L1大于定位反射板3到定位接收器VT2的距離L2時(shí)，則有V1 > V2,比較器1輸出低電平，開關(guān)管T截止。當(dāng)L1小于L2 時(shí)，則有V1 < V2,比較器1輸出高電平，開關(guān)管T導(dǎo)通。本實(shí)用新型與現(xiàn)有技術(shù)相比較，由于增加了一個(gè)用于定位的發(fā)射器/接收器，以及把兩接收器(VTpVT2)接成差分形式，并且置于相同的環(huán)境中，因此，可以自動(dòng)消除溫度、 粉塵、背景光等因素造成的干擾，從而保證檢測距離不發(fā)生改變。本實(shí)用新型檢測距離是通過調(diào)整定位反射板距離L2來確定的，因此，可實(shí)現(xiàn)無觸點(diǎn)調(diào)整，這樣比傳統(tǒng)的通過調(diào)整電位器的方法更加可靠，而且成本低廉。
權(quán)利要求1. 一種比較反射式光電接近開關(guān)，包括開關(guān)管T、比較器、檢測發(fā)射器VD1和檢測接收器VT1,其中，開關(guān)管T與比較器連接，檢測發(fā)射器VD1與檢測接收器VT1連接構(gòu)成一體，檢測接收器VT1與比較器連接，其特征在于還包括定位反射板、定位發(fā)射器VD2和定位接收器 VT2,定位發(fā)射器VD2與定位接收器VT2連接構(gòu)成一體，定位接收器VT2與比較器連接，定位反射板與定位發(fā)射器VD2相配合。
專利摘要本實(shí)用新型公開了一種比較反射式光電接近開關(guān)，包括開關(guān)管T、比較器、檢測發(fā)射器VD1和檢測接收器VT1，其中，開關(guān)管T與比較器連接，檢測發(fā)射器VD1與檢測接收器VT1構(gòu)成一體，檢測接收器VT1與比較器連接；還包括定位反射板、定位發(fā)射器VD2和定位接收器VT2，定位發(fā)射器VD2與定位接收器VT2構(gòu)成一體，定位接收器VT2與比較器連接，定位反射板與定位發(fā)射器VD2相配合。工作原理為當(dāng)被檢測物體到檢測接收器VT1的距離L1大于定位反射板到定位接收器VT2的距離L2時(shí)，則有V1＞V2，比較器輸出低電平，開關(guān)管T截止。當(dāng)L1小于L2時(shí)，則有V1＜V2，比較器輸出高電平，開關(guān)管T導(dǎo)通。本實(shí)用新型可實(shí)現(xiàn)無觸點(diǎn)調(diào)整，比傳統(tǒng)的通過調(diào)整電位器的方法更加直觀、可靠，而且成本低廉。
文檔編號H03K17/945GK202121564SQ20112024579
公開日2012年1月18日 申請日期2011年7月13日 優(yōu)先權(quán)日2011年7月13日
發(fā)明者劉克敬, 孫文健, 孫曉明, 楊英波, 魏欣冰 申請人:山東大學(xué)