專利名稱：二次電池的劣化狀態(tài)判定系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及二次電池的劣化狀態(tài)判定系統(tǒng)，更具體而言，本發(fā)明涉及判定備用電 源中使用的二次電池的劣化狀態(tài)的系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
目前，不間斷電源裝置(UPS)等的備用的電源采用鎳氫電池、鋰離子電池、鉛蓄電 池等的二次電池，在發(fā)生停電等的意外的情況時，通過來自二次電池的放電能量，使計算機 等運行。上述這樣的備用電源即使在意外的情況下，仍必須向計算機等進行供電，從維護 檢修的觀點來說，了解二次電池的適當(dāng)?shù)母鼡Q時間是重要的，期望正確地檢測其劣化狀態(tài)。但是，關(guān)于二次電池的劣化，已知溫度、放電容量、放電深度、經(jīng)過時間、放電次數(shù) 等的多種原因關(guān)系復(fù)雜，還已知正確地檢測二次電池的劣化狀態(tài)是困難的。作為判定二次電池的壽命的裝置，例如專利文獻1所記載的電池壽命判定裝置已 被提出方案。在該專利文獻1所記載的電池壽命判定裝置中，根據(jù)施加于二次電池的負荷電力 和環(huán)境溫度，對期待壽命值進行運算。另外，對二次電池的放電次數(shù)進行測定，根據(jù)已測定 的放電次數(shù)，對第一壽命降低量進行運算。此外，根據(jù)二次電池的充放電時、停止時的平均 溫度，從設(shè)置二次電池起的經(jīng)過時間，和上述環(huán)境溫度，對第二壽命降低量進行運算。進而， 根據(jù)上述期待壽命值，對上述第一壽命降低量和上述第二壽命降低量進行減法運算，對殘 余壽命進行運算。上述第一壽命降低量L1和第二壽命降低量L2通過下述式求出L1 = aXln(bXN)+cL2 = dXDX2(T『T0/10)另外，N表示放電次數(shù)，D表示經(jīng)過時間，Tm表示按照一定的時間感覺測定的充放 電時或停止時的二次電池溫度的平均值，TO表示期待壽命算出時的環(huán)境溫度，a、b、c、d表
示常數(shù)。 專利文獻1 日本特開2007-263952號文獻

發(fā)明內(nèi)容
直至數(shù)年前，不間斷電源裝置多用于設(shè)置在所謂的機房(server room)這樣的穩(wěn) 定的溫度環(huán)境中的計算機，也沒有必要假定在嚴酷的環(huán)境中的使用。但是，伴隨著計算機一 般性地使用，也對數(shù)據(jù)的保護、連續(xù)運轉(zhuǎn)的必要性提出了要求，伴隨著備用電源的必要性為 人們所普遍認知以及廣泛地使用，其已使用在多種多樣的環(huán)境中。在上述專利文獻1中，測定環(huán)境溫度、放電次數(shù)、平均溫度、經(jīng)過時間，根據(jù)該已測 定的數(shù)據(jù)，計算出殘余壽命值，但是，在不間斷電源裝置廣泛普遍地使用時，還具有用于高 溫環(huán)境中的情況，也具有在嚴酷的設(shè)置環(huán)境中預(yù)計的劣化值和實際的劣化狀態(tài)發(fā)生較大的偏差的情況。本發(fā)明的目的在于針對相關(guān)的問題，提供一種即使在多種多樣的環(huán)境中，仍能夠 判定劣化狀態(tài)的二次電池的劣化狀態(tài)判定系統(tǒng)。本發(fā)明的二次電池的劣化狀態(tài)判定系統(tǒng)的特征在于，包括 運行信息測定機構(gòu)，測定由二次電池的溫度，從制造年月日或從設(shè)置起的經(jīng)過時 間、放電深度、放電容量中的至少2個以上構(gòu)成的二次電池的運行信息；劣化值運算機構(gòu)， 對與通過上述運行信息測定機構(gòu)測定的2個以上的測定值分別對應(yīng)的上述二次電池的劣 化值，根據(jù)該測定值進行運算；劣化累積運算值存儲機構(gòu)，存儲劣化累積運算值，該劣化累 積運算值為針對由上述劣化值運算機構(gòu)運算的劣化值、對每個該劣化值進行累積運算而得 到；主累積運算值選擇機構(gòu)，將通過上述劣化累積運算值存儲機構(gòu)累積運算的2個以上的 劣化累積運算值中最大的劣化累積運算值選擇為主累積運算值；和綜合劣化值運算機構(gòu)， 根據(jù)通過上述劣化累積運算值選擇機構(gòu)選擇的主累積運算值，和與沒有被選擇為該主累積 運算值的劣化累積運算值相對應(yīng)的劣化值，計算綜合劣化值。于是，根據(jù)二次電池的多個運行信息，分別存儲劣化累積運算值，將其中最大的劣 化累積運算值作為主累積運算值。即，能夠?qū)⒘踊淖畲蟮脑虻臄?shù)據(jù)反映到劣化狀態(tài)的 判定中。進而，關(guān)于其它的劣化原因，也反映到劣化狀態(tài)的判定中，因此，能夠判定更加正確 的劣化狀態(tài)。另外，上述綜合劣化值運算機構(gòu)也可以對上述主累積運算值和與沒有作為該主累 積運算值選擇的劣化累積運算值相對應(yīng)的劣化值進行加法運算。此外，還可以包括數(shù)據(jù)表存儲機構(gòu)，該數(shù)據(jù)表存儲機構(gòu)存儲使通過上述運行信息 測定機構(gòu)測定的測定值和上述二次電池的劣化值相對應(yīng)的數(shù)據(jù)表，上述劣化值運算機構(gòu)根 據(jù)存儲于上述數(shù)據(jù)表存儲機構(gòu)中的數(shù)據(jù)表來對劣化值進行運算。另外，上述二次電池也可為鎳氫電池、鋰離子二次電池、鎳鎘二次電池中的任意一 個。另外，上述二次電池也可以收納于計算機的外殼內(nèi)或控制裝置內(nèi)。發(fā)明的效果如以上這樣本發(fā)明的二次電池的劣化狀態(tài)判定系統(tǒng)根據(jù)二次電池的多個運行信 息，分別存儲劣化累積運算值，將其中的最大的劣化累積運算值作為主累積運算值。即，能 夠?qū)⒘踊淖畲蟮脑虻臄?shù)據(jù)反映在劣化狀態(tài)的判定中。進而，關(guān)于其它的劣化原因，也反 映在劣化狀態(tài)的判定中，因此，與根據(jù)1個測定數(shù)據(jù)判定劣化狀態(tài)時相比較，能夠正確地判 定劣化狀態(tài)。另外，由于并非根據(jù)多個測定值單純進行運算，而是選擇對劣化影響最大的主累 積運算值的數(shù)據(jù)，因此能夠?qū)?yīng)于二次電池的各種運行環(huán)境，判定劣化狀態(tài)。此外，將沒有選擇為主累積運算值的劣化值的總值與主累積運算值相加，求出綜 合劣化值，因此，還將沒有選擇為主累積運算值的劣化原因反映在劣化狀態(tài)的判定中。而且，由于具有數(shù)據(jù)表，因此不必具有進行高度運算處理的運算部，能夠形成低價 格的劣化狀態(tài)判定系統(tǒng)。而且，選擇鎳氫電池，或鋰離子二次電池，或鎳鎘二次電池作為二次電池的情況 下，與鉛蓄電池相比較，為更環(huán)保的備用電源。
另外，由于二次電池設(shè)置在計算機的外殼內(nèi)、控制裝置內(nèi)，因此不必設(shè)置備用電源 的設(shè)置空間。另外，在計算機的外殼內(nèi)這樣的溫度、放電頻率等為多樣的環(huán)境中，也將劣化 累積運算值高的值作為主累積運算值，判定劣化狀態(tài)，因此，能夠?qū)?yīng)于設(shè)置環(huán)境、使用狀 態(tài)，適當(dāng)?shù)嘏卸ā?br>

圖1為設(shè)置于計算機的外殼內(nèi)的備用電源的說明圖；圖2為二次電池的劣化狀態(tài)判定系統(tǒng)的方框圖；圖3為二次電池的劣化狀態(tài)的判定的說明圖。符號說明標(biāo)號1表示外殼；標(biāo)號2表示控制裝置；標(biāo)號3表示二次電池；標(biāo)號4表示劣化狀態(tài)判定系統(tǒng)；標(biāo)號5表示運行信息測定機構(gòu)；標(biāo)號5a表示溫度測定部；標(biāo)號5b表示經(jīng)過時間測定部；標(biāo)號5c表示放電深度測定部；標(biāo)號5d表示放電容量測定部；標(biāo)號6表示數(shù)據(jù)表存儲機構(gòu)；標(biāo)號7表示劣化值運算機構(gòu)；標(biāo)號7a表示溫度劣化值運算部；標(biāo)號7b表示經(jīng)過時間劣化值運算部；標(biāo)號7c表示放電深度劣化值運算部；標(biāo)號7d表示放電容量劣化值運算部；標(biāo)號8表示劣化累積運算值存儲機構(gòu)；標(biāo)號8a表示溫度劣化累積運算值存儲部；標(biāo)號8b表示經(jīng)過時間劣化累積運算值存儲部；標(biāo)號8c表示放電深度劣化累積運算值存儲部；標(biāo)號8d表示放電容量劣化值存儲部；標(biāo)號9表示主累積運算值選擇機構(gòu)；標(biāo)號10表示綜合劣化值運算機構(gòu)；標(biāo)號11表示劣化狀態(tài)判定機構(gòu)；標(biāo)號12表示劣化狀態(tài)通知機構(gòu)；標(biāo)號13表示顯示部；標(biāo)號14表示各劣化累積運算值；標(biāo)號14a表示溫度劣化累積運算值；標(biāo)號14b表示經(jīng)過時間劣化累積運算值；標(biāo)號14c表示放電深度劣化累積運算值；
標(biāo)號14d表示放電容量劣化累積運算值；標(biāo)號15表示劣化值；標(biāo)號15a表示溫度劣化值；標(biāo)號15b表示經(jīng)過時間劣化值；標(biāo)號15c表示放電深度劣化值；標(biāo)號15d表示放電容量劣化值；標(biāo)號16表示主累積運算值；標(biāo)號17表示副劣化值；標(biāo)號18表示綜合劣化值；標(biāo)號19表示判定基準(zhǔn)；標(biāo)號20表示電源裝置；標(biāo)號21表示通信部；標(biāo)號22表示揚聲器；標(biāo)號C表示計算機。
具體實施例方式本發(fā)明的二次電池的劣化狀態(tài)判定系統(tǒng)如圖1所示的那樣，在計算機C的外殼1 內(nèi)，包括具有二次電池3的控制裝置2，在顯示部13顯示充電狀態(tài)13b、13c，劣化狀態(tài)(殘 余壽命狀體)13a。對于控制裝置2，在控制裝置2的殼體內(nèi)部，具有二次電池3。二次電池3能夠通 過來自計算機C的電源裝置20的電力充電，并且在停電時，對電源裝置20進行放電，用作 備用電源。二次電池3為鎳氫電池，從環(huán)境問題等的方面來說，與鉛蓄電池相比較，其具有更 加環(huán)保的優(yōu)點。作為二次電池3，雖然采用了鎳氫電池，但是也可以采用鋰離子二次電池、鎳 鎘二次電池，以及各種二次電池。在圖1中，在計算機C的外殼1內(nèi)，設(shè)置二次電池3，因此，不必新設(shè)置作為不間斷 電源裝置的設(shè)置空間。另一方面，也可在獨立于外殼1的裝置內(nèi)，設(shè)置二次電池3，避免計算機C內(nèi)部的發(fā) 熱的影響，減少二次電池3的由溫度引起的劣化。二次電池的劣化狀態(tài)判定系統(tǒng)4如圖2所示，包括運行信息測定機構(gòu)5 ；數(shù)據(jù)表存 儲機構(gòu)6 ；劣化值運算機構(gòu)7 ；劣化累積運算值存儲機構(gòu)8 ；主累積運算值選擇機構(gòu)9 ；綜合 劣化值運算機構(gòu)10 ；劣化狀態(tài)判定機構(gòu)11 ；劣化狀態(tài)通知機構(gòu)12。上述運行信息測定機構(gòu)5測定由二次電池3的溫度、從制造年月日起的經(jīng)過時間、 放電深度、放電容量等構(gòu)成的二次電池3的運行信息。運行信息測定機構(gòu)5包括測定目前的二次電池的溫度的溫度測定部5a ；測定從二 次電池3的制造年月日起的經(jīng)過時間的經(jīng)過時間測定部5b ；測定二次電池3的放電深度的 放電深度測定部5c ；測定二次電池3的放電容量的放電容量測定部5d。經(jīng)過時間測定部5b根據(jù)存儲于二次電池3中的制造年月日信息，測定經(jīng)過時間，但是，也可測定從將二次電池3設(shè)定在控制裝置2中的時間起的經(jīng)過時間。
在本實施例中，對溫度、經(jīng)過時間、放電深度、放電容量這4個運行信息進行測定， 但是，測定2個以上的運行信息即可。此外，所測定的運行信息越多，越能夠提高劣化狀態(tài) 的判定精度。上述數(shù)據(jù)表存儲機構(gòu)6存儲使通過上述運行信息測定機構(gòu)5測定的測定值和劣化 值相對應(yīng)的數(shù)據(jù)表。該數(shù)據(jù)表由溫度數(shù)據(jù)表、經(jīng)過時間數(shù)據(jù)表、放電深度數(shù)據(jù)表、放電容量 數(shù)據(jù)表構(gòu)成。上述劣化值運算機構(gòu)7由溫度劣化值運算部7a、經(jīng)過時間劣化值運算部7b、放電 深度劣化值運算部7c、放電容量劣化值運算部7d構(gòu)成，輸入由上述運行信息測定機構(gòu)5的 各測定部5a、5b、5c、5d測定的溫度、經(jīng)過時間、放電深度、放電容量的測定信號時，針對每 個該測定值，分別計算溫度劣化值、經(jīng)過時間劣化值、放電深度劣化值、放電容量劣化值。 在具有上述數(shù)據(jù)表存儲機構(gòu)6時，根據(jù)各數(shù)據(jù)表，計算劣化值，但是，也可預(yù)先存 儲根據(jù)測定值計算劣化值的運算式，根據(jù)該運算式計算劣化值。通過設(shè)置上述數(shù)據(jù)表，不必設(shè)置進行高度運算處理的運算部，能夠構(gòu)成低價格的 劣化狀態(tài)判定系統(tǒng)。上述劣化累積運算值存儲機構(gòu)8由溫度劣化累積運算值存儲部8a、經(jīng)過時間劣化 累積運算值存儲部8b、放電深度劣化累積運算值存儲部Sc、放電容量劣化累積運算值存儲 部8d構(gòu)成，對由上述劣化值運算機構(gòu)7的各劣化值運算部7a、7b、7c、7d運算的劣化值，針 對每個劣化值累積計算并存儲。上述主累積運算值選擇機構(gòu)9將存儲于上述劣化累積運算值存儲機構(gòu)8中的劣化 累積運算值中的值最大的劣化累積運算值作為主累積運算值而選擇。另外，使沒有選擇為 主累積運算值的累積運算值為副累積運算值。上述綜合劣化值運算機構(gòu)10根據(jù)由上述主累積運算值選擇機構(gòu)9選擇的主累 積運算值，和與沒有選擇為主累積運算值的其它的累積運算值(在下面稱為“副累積運算 值”)相對應(yīng)的劣化值(在下面稱為“副劣化值”)，計算綜合劣化值。作為綜合劣化值的運算的一個例子，在圖3中如后述的那樣，能夠舉出對上述主 累積運算值和副劣化值的全部進行加法運算的方式。上述劣化狀態(tài)判定機構(gòu)11根據(jù)由上述綜合劣化值運算機構(gòu)10計算的綜合劣化 值，和預(yù)先設(shè)定的判定基準(zhǔn)，判定目前的劣化狀態(tài)。另外，也可以在顯示部13顯示由上述運 行信息測定機構(gòu)5測定的各運行信息。上述劣化狀態(tài)通知機構(gòu)12也可以通知上述劣化狀態(tài)判定機構(gòu)11的判定結(jié)果，在 顯示部13顯示判定結(jié)果，由揚聲器22發(fā)出警告聲音等，或從通信部21，向外部發(fā)送警告信 號等的各種信號。接著，根據(jù)圖2和圖3，對二次電池3的劣化狀態(tài)的判定的具體例進行說明。首先，運行信息測定機構(gòu)5的各測定部5a 5d對溫度、經(jīng)過時間、放電深度、放電 容量進行測定。已測定的數(shù)據(jù)通過劣化值運算機構(gòu)7的各劣化值運算部7a 7d,計算溫度 劣化值15a、經(jīng)過時間劣化值15b、放電深度劣化值15c、放電容量劣化值15d。在圖3中說 明了溫度劣化值15a計算為“24”，經(jīng)過時間劣化值15b計算為“52”，放電深度劣化值15c 計算為“41”，放電容量劣化值15d計算為“22”的情況。進而，劣化累積運算值存儲機構(gòu)對各劣化值15a 15d累積運算，分別存儲溫度劣化累積運算值14a、經(jīng)過時間劣化累積運算值14b、放電深度劣化累積運算值14c、放電容量 劣化累積運算值14d。在圖3中，溫度劣化累積運算值14a存儲為“01234567”，經(jīng)過時間劣 化累積運算值14b存儲為“05234567”，放電深度劣化累積運算值14c存儲為“08234567”， 放電容量劣化累積運算值14d存儲為“02234567”。對于各劣化累積運算值14，每次劣化值 15被計算出，對被計算出的劣化值15進行加法運算。于是，主累積運算值選擇機構(gòu)9將存儲于各劣化累積運算值存儲部8a 8d的劣 化累積運算值中的數(shù)值最大的劣化累積運算值選擇為主累積運算值。在圖3中，由于放電 深度劣化累積運算值14c的累積運算值最大，因此該放電深度劣化累積運算值14c成為主 累積運算值，其它的溫度劣化累積運算值14a、經(jīng)過時間劣化累積運算值14b、放電容量劣 化累積運算值14d成為副劣化值。選擇主累積運算值時，綜合劣化值運算機構(gòu)10選擇與上述副累積運算值相對應(yīng) 的劣化值，將其與上述主累積運算值相加。在圖3中，分別選擇溫度劣化值15a的“24”、經(jīng) 過時間劣化值15b的“52”、放電容量劣化值15d的“22”，求得副劣化值17的“98”，將該副 劣化值17與主累積運算值14c的“08234567”相加，求得綜合劣化值18 “8234665”。接著，由劣化狀態(tài)判定機構(gòu)11，根據(jù)上述綜合劣化值18和預(yù)先設(shè)定的判定基準(zhǔn)， 判定目前的劣化狀態(tài)。作為判定的方式，也可以如圖3所示的那樣，預(yù)先存儲單個或多個判 定基準(zhǔn)19 (19a、19b、19c)，對該判定基準(zhǔn)19和綜合劣化值18進行比較，判定是否超過判定 基準(zhǔn)19。然后，劣化狀態(tài)通知機構(gòu)12在顯示部13顯示劣化狀態(tài)判定機構(gòu)11的判定結(jié)果。 對于劣化狀態(tài)的顯示，也可以僅顯示計算出的綜合劣化值，但是，設(shè)置對二次電池3的期待 壽命進行運算的期待壽命運算部，對二次電池3的期待壽命值進行運算，如圖1所示的顯示 部13c那樣，將期待壽命值換算為時間進行顯示。此外，也可以通過上述劣化狀態(tài)判定機構(gòu)11，在綜合劣化值超過各判定基準(zhǔn)19的 情況下，點亮熄滅顯示部13的照明，或從揚聲器22發(fā)出警告聲音，或從通信部21向外部進 行通信輸出警告信號，通知二次電池3的更換時間迫近的情況。在上述例子中，放電深度劣化累積運算值14c的值最大，將該劣化累積運算值選 擇為主累積運算值，但是，對于其它的溫度劣化累積運算值14a、經(jīng)過時間劣化累積運算值 14b、放電容量劣化累積運算值14d來說也是同樣的。如此，通過從二次電池3的多個劣化因素中選擇對劣化影響最大的因素，確定劣 化的主要因素。即，在圖3中，捕捉到放電深度造成的劣化為第一劣化因素，對劣化狀態(tài)進 行判斷。例如，即使幾乎不放電，在長時間地設(shè)置在高溫環(huán)境中時，溫度劣化累積運算值 14a的數(shù)值高于其它的累積運算值14b、14c、14d。此時，能夠?qū)⒃摐囟攘踊鄯e運算值14a 作為主累積運算值，較大地反映在劣化判定中。進而，對與副累積運算值相對應(yīng)的劣化值進行加法運算，求得副劣化值17，根據(jù)該 副劣化值17和主累積運算值16求得綜合劣化值18，因此，其它的劣化因素的影響也能夠反 映在劣化判定中。特別是，在二次電池3設(shè)置于計算機的外殼內(nèi)時，不必設(shè)置備用電源的設(shè)置空間。 另外，即使位于計算機的外殼內(nèi)這樣的溫度、放電頻率等為多樣的環(huán)境中，也將劣化累積運
8算值最高的作為主累積運算值判定劣化狀態(tài)， 因此能夠?qū)?yīng)于設(shè)置環(huán)境、使用狀態(tài)而適當(dāng) 地判定。 此外，僅對與副累積運算值相對應(yīng)的劣化值的全部進行了加法運算，但是，也可分 別乘以按照副累積運算值的順序位次而預(yù)先設(shè)定的系數(shù)，求得副劣化值17。
權(quán)利要求
一種二次電池的劣化狀態(tài)判定系統(tǒng)，其特征在于，包括運行信息測定機構(gòu)，測定由所述二次電池的溫度，從制造年月日或從設(shè)置起的經(jīng)過時間、放電深度、放電容量中的至少2個以上構(gòu)成的二次電池的運行信息；劣化值運算機構(gòu)，對與通過所述運行信息測定機構(gòu)測定的2個以上的測定值分別對應(yīng)的所述二次電池的劣化值，根據(jù)該測定值進行運算；劣化累積運算值存儲機構(gòu)，存儲劣化累積運算值，該劣化累積運算值為針對由所述劣化值運算機構(gòu)運算的劣化值、對每個該劣化值進行累積運算而得到；主累積運算值選擇機構(gòu)，將通過所述劣化累積運算值存儲機構(gòu)累積運算的2個以上的劣化累積運算值中最大的劣化累積運算值選擇為主累積運算值；和綜合劣化值運算機構(gòu)，根據(jù)通過所述劣化累積運算值選擇機構(gòu)選擇的主累積運算值，和與沒有被選擇為該主累積運算值的劣化累積運算值相對應(yīng)的劣化值，計算綜合劣化值。
2.如權(quán)利要求1所述的二次電池的劣化狀態(tài)判定系統(tǒng)，其特征在于所述綜合劣化值運算機構(gòu)對所述主累積運算值和與沒有被選擇為該主累積運算值的 劣化累積運算值相對應(yīng)的劣化值進行加法運算。
3.如權(quán)利要求1或2所述的二次電池的劣化狀態(tài)判定系統(tǒng)，其特征在于，包括數(shù)據(jù)表存儲機構(gòu)，存儲使通過所述運行信息測定機構(gòu)測定的測定值和所述二次電池的 劣化值相對應(yīng)的數(shù)據(jù)表，所述劣化值運算機構(gòu)根據(jù)存儲于所述數(shù)據(jù)表存儲機構(gòu)中的數(shù)據(jù)表來對劣化值進行運算。
4.如權(quán)利要求1 3中的任一項所述的二次電池的劣化狀態(tài)判定系統(tǒng)，其特征在于 所述二次電池為鎳氫電池、鋰離子二次電池、鎳鎘二次電池中的任一個。
5.如權(quán)利要求1 4中的任一項所述的二次電池的劣化狀態(tài)判定系統(tǒng)，其特征在于 所述二次電池收納于計算機的外殼內(nèi)或控制裝置內(nèi)。
全文摘要
本發(fā)明的目的在于提供一種即使在多種多樣的環(huán)境中，仍能夠判定劣化狀態(tài)的二次電池的劣化狀態(tài)判定系統(tǒng)。該系統(tǒng)包括運行信息測定機構(gòu)(5)，其測定二次電池(3)的溫度、經(jīng)過時間、放電深度和放電容量等的二次電池(3)的運行信息；劣化值運算機構(gòu)(7)，對與各測定值對應(yīng)的二次電池的劣化值(15)，根據(jù)該測定值進行運算；劣化累積運算值存儲機構(gòu)(8)，存儲針對每個計算出的劣化值(15)進行累積運算得到的劣化累積運算值(14)；主累積運算值選擇機構(gòu)(9)，從劣化累積運算值(14)中將最大的劣化累積運算值(14)選擇為主累積運算值(16)；和綜合劣化值運算機構(gòu)(10)，根據(jù)選擇的主累積運算值(16)，和與沒有被選擇為該主累積運算值(16)的劣化累積運算值(14)相對應(yīng)的劣化值(15)，計算綜合劣化值(18)。
文檔編號H01M10/48GK101874210SQ20088011792
公開日2010年10月27日 申請日期2008年11月26日 優(yōu)先權(quán)日2007年11月26日
發(fā)明者今西行喜, 北村真一 申請人:株式會社尼普龍