通過(guò)緩存不同徑向偏移處的信號(hào)樣本執(zhí)行重試操作的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)設(shè)備的制造方法
【專(zhuān)利摘要】本申請(qǐng)涉及通過(guò)緩存不同徑向偏移處的信號(hào)樣本執(zhí)行重試操作的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)設(shè)備。本申請(qǐng)公開(kāi)一種數(shù)據(jù)存儲(chǔ)設(shè)備，其包括在磁盤(pán)上方被致動(dòng)的磁頭。將磁頭定位在磁盤(pán)上方的第一徑向位置處，并且讀磁盤(pán)上的碼字的至少一部分以生成第一信號(hào)樣本。生成第一信號(hào)樣本的第一質(zhì)量度量。將磁頭定位在磁盤(pán)上方與第一徑向位置不同的第二徑向位置處，并且讀取碼字的至少一部分以生成第二信號(hào)樣本。生成第二信號(hào)樣本的第二質(zhì)量度量?；诘谝毁|(zhì)量度量和第二質(zhì)量度量，將第一信號(hào)樣本的第一子集與第二信號(hào)樣本的第二子集組合，以生成信號(hào)樣本組合集?；谛盘?hào)樣本組合集，嘗試對(duì)碼字進(jìn)行解碼。
【專(zhuān)利說(shuō)明】通過(guò)緩存不同徑向偏移處的信號(hào)樣本執(zhí)行重試操作的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)設(shè)備
相關(guān)申請(qǐng)的交叉參考
本申請(qǐng)要求2015年3月13日提交的臨時(shí)美國(guó)專(zhuān)利申請(qǐng)序列N0.62/133，105(代理卷號(hào)(Atty.Docket N0.)T8117.P)的優(yōu)先權(quán)，其全部公開(kāi)內(nèi)容通過(guò)引用并入在此。
【背景技術(shù)】
[0002]數(shù)據(jù)存儲(chǔ)設(shè)備諸如磁盤(pán)驅(qū)動(dòng)器包括磁盤(pán)和磁頭，所述磁頭連接到致動(dòng)器臂遠(yuǎn)端，所述致動(dòng)器臂通過(guò)音圈馬達(dá)(VCM)圍繞樞軸旋轉(zhuǎn)以將所述磁頭徑向定位在所述磁盤(pán)上方。磁盤(pán)包括用于記錄用戶數(shù)據(jù)扇區(qū)和伺服扇區(qū)的多個(gè)徑向間隔開(kāi)的同心磁道。伺服扇區(qū)包括磁頭定位信息(例如，磁道地址)，該磁頭定位信息由磁頭讀取并且由伺服控制系統(tǒng)處理以當(dāng)致動(dòng)器臂從磁道到磁道尋址時(shí)控制該致動(dòng)器臂。
圖1示出作為包括由圍繞每個(gè)伺服磁道的圓周記錄的伺服扇區(qū)6ο-6ν限定的若干伺服磁道4的現(xiàn)有技術(shù)磁盤(pán)格式2。每個(gè)伺服扇區(qū)G1包括用于存儲(chǔ)周期模式的前導(dǎo)碼(preamble)8，其允許讀取信號(hào)的適當(dāng)?shù)脑鲆嬲{(diào)節(jié)和定時(shí)同步；以及用于存儲(chǔ)用來(lái)將符號(hào)同步到伺服數(shù)據(jù)字段12的特殊模式的同步標(biāo)記10。伺服數(shù)據(jù)字段12存儲(chǔ)用來(lái)在尋道操作期間將磁頭定位在目標(biāo)數(shù)據(jù)磁道上方的粗略的磁頭定位信息，諸如伺服磁道地址。每個(gè)伺服扇區(qū)6i還包括伺服脈沖串組14(servo bursts)(例如，N個(gè)伺服脈沖串和Q個(gè)伺服脈沖串)，該伺服脈沖串組14相對(duì)于彼此并相對(duì)于伺服磁道中心線以預(yù)定的相位來(lái)記錄?；谙辔坏乃欧}沖串14提供精細(xì)的磁頭位置信息，用于在寫(xiě)/讀操作期間進(jìn)行中心線跟蹤的同時(shí)訪問(wèn)數(shù)據(jù)磁道。通過(guò)讀取伺服脈沖串14，位置誤差信號(hào)(PES)被生成，其中PES代表相對(duì)于目標(biāo)伺服磁道的中心線測(cè)量的磁頭的位置。伺服控制器處理PES以生成控制信號(hào)，該控制信號(hào)被應(yīng)用于磁頭致動(dòng)器(例如，音圈馬達(dá))，以便在減少PES的方向上在磁盤(pán)上方徑向致動(dòng)磁頭。
【附圖說(shuō)明】
圖1是現(xiàn)有技術(shù)磁盤(pán)格式，其包括由伺服扇區(qū)限定的多個(gè)伺服磁道。
圖2A是根據(jù)包括在磁盤(pán)上方被致動(dòng)的磁頭的一個(gè)實(shí)施例的磁盤(pán)驅(qū)動(dòng)器形式的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)裝置。
圖2B是根據(jù)一個(gè)實(shí)施例的流程圖，其中在多個(gè)徑向位置處讀取碼字，并且產(chǎn)生的信號(hào)樣本被合并以對(duì)碼字解碼。
圖3A圖示說(shuō)明一個(gè)實(shí)施例，其中碼字遠(yuǎn)離磁道被寫(xiě)入，導(dǎo)致在從單個(gè)徑向位置讀取時(shí)難以解碼。
圖3B圖示說(shuō)明當(dāng)在不同的徑向位置處讀取時(shí)在碼字的信號(hào)樣本上生成的質(zhì)量度量。
圖4A-圖4D圖示說(shuō)明一個(gè)實(shí)施例，其中在多個(gè)徑向位置處讀取碼字，并且在每個(gè)徑向位置處的最佳信號(hào)樣本子集被用于對(duì)碼字解碼。
圖5A根據(jù)一個(gè)實(shí)施例示出控制電路，其中基于格狀序列檢測(cè)器的分支度量生成質(zhì)量度量。 圖5B和圖5C根據(jù)一個(gè)實(shí)施例圖示說(shuō)明格狀序列檢測(cè)器的操作。
【具體實(shí)施方式】
圖2A示出根據(jù)包括在磁盤(pán)18上方被致動(dòng)的磁頭16的實(shí)施例的磁盤(pán)驅(qū)動(dòng)器形式的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)裝置。磁盤(pán)驅(qū)動(dòng)器還包括被配置以用于執(zhí)行圖2B的流程圖的控制電路20，其中磁頭被定位在磁盤(pán)上方的第一徑向位置處，并且讀取磁盤(pán)上的碼字的至少一部分以生成第一信號(hào)樣本(方框22)。生成第一信號(hào)樣本的第一質(zhì)量度量(方框24)。磁頭被定位在磁盤(pán)上方與第一徑向位置不同的第二徑向位置處，并且讀取碼字的至少一部分以生成第二信號(hào)樣本(方框26)。生成第二信號(hào)樣本的第二質(zhì)量度量(方框28)?；诘谝毁|(zhì)量度量和第二質(zhì)量度量，將第一信號(hào)樣本的第一子集與第二信號(hào)樣本的第二子集組合，以生成信號(hào)樣本組合集(方框30)?；谛盘?hào)樣本組合集，嘗試對(duì)碼字進(jìn)行解碼(方框32)。
在圖2A的實(shí)施例中，磁盤(pán)18包括限定多個(gè)伺服磁道36的多個(gè)伺服扇區(qū)34o-34n，其中相對(duì)于伺服磁道以相同或不同的徑向密度限定數(shù)據(jù)磁道?？刂齐娐?0處理從磁頭16發(fā)出的讀取信號(hào)38以解調(diào)伺服扇區(qū)34o-34n并且生成代表磁頭的實(shí)際位置和相對(duì)于目標(biāo)磁道的目標(biāo)位置之間的誤差的位置誤差信號(hào)(PES)。控制電路20中的伺服控制系統(tǒng)使用合適的補(bǔ)償濾波器對(duì)PES濾波以生成應(yīng)用于音圈馬達(dá)(VCM)42的控制信號(hào)40，該音圈馬達(dá)圍繞樞軸旋轉(zhuǎn)致動(dòng)器臂44，從而在在磁盤(pán)18上方以減少PES的方向徑向致動(dòng)磁頭16。伺服扇區(qū)34o-34n可以包括任何合適的磁頭位置信息，諸如用于粗略定位的磁道地址和用于精細(xì)定位的伺服脈沖串。伺服脈沖串可以包括任何合適的模式，諸如基于振幅的伺服模式或基于相位的伺服模式(圖1)。
在一個(gè)實(shí)施例中，在寫(xiě)入操作期間，控制電路20將寫(xiě)入數(shù)據(jù)編碼到被寫(xiě)入到磁盤(pán)18上的數(shù)據(jù)磁道的碼字中。可以采用任何合適的編碼技術(shù)，諸如合適的分組碼(例如，里德-所羅門(mén)(Reed-Solomon))或迭代碼(例如，低密度奇偶校驗(yàn)(LDPC))。當(dāng)碼字正被寫(xiě)入到磁盤(pán)18時(shí)，例如，由于振動(dòng)影響磁盤(pán)驅(qū)動(dòng)器，因此磁頭16可能偏離數(shù)據(jù)磁道的中心線。因此，碼字的至少一部分可能遠(yuǎn)離磁道太遠(yuǎn)被寫(xiě)入以至于在單個(gè)旋轉(zhuǎn)讀取操作(即，通過(guò)在單個(gè)徑向位置處讀取碼字)期間不能使碼字被成功地解碼。圖3A示出被寫(xiě)入到數(shù)據(jù)磁道的示例碼字，其中碼字包括多個(gè)區(qū)段(Segment)(在該示例中為14個(gè)區(qū)段)，其中每個(gè)區(qū)段包括任何合適的大小(例如，單個(gè)比特、字節(jié)，或若干字節(jié))。在圖3A的示例中，振動(dòng)影響磁盤(pán)驅(qū)動(dòng)器使得磁頭偏離數(shù)據(jù)磁道，從而造成第一五個(gè)區(qū)段逐漸更遠(yuǎn)離中心線被寫(xiě)入。最終，控制電路可以中止當(dāng)前的寫(xiě)入操作(在當(dāng)前的磁盤(pán)旋轉(zhuǎn)期間)，并且然后，稍后在振動(dòng)消失之后，完成碼字的剩余區(qū)段的寫(xiě)入。當(dāng)嘗試讀取圖3A中所示的碼字時(shí)，控制電路可以最初讀取數(shù)據(jù)磁道的中心線，并且嘗試對(duì)碼字進(jìn)行解碼。然而，在第一五個(gè)區(qū)段中的一個(gè)或多個(gè)上生成的信號(hào)樣本可能質(zhì)量太差，以至于不能使碼字被成功解碼。
當(dāng)碼字不可通過(guò)讀取數(shù)據(jù)磁道的中心線來(lái)恢復(fù)時(shí)，現(xiàn)有技術(shù)已經(jīng)嘗試通過(guò)在某一徑向偏移處重新讀取數(shù)據(jù)磁道來(lái)恢復(fù)碼字。參考圖3A的示例，現(xiàn)有技術(shù)可以嘗試通過(guò)朝向碼字的頂部的徑向偏移來(lái)重讀取碼字，使得在整個(gè)碼字上生成的信號(hào)樣本的平均質(zhì)量提高，由此增加成功解碼的機(jī)會(huì)。然而，在一些情況下，即使當(dāng)磁頭被定位在最佳徑向位置處時(shí)，信號(hào)樣本的平均質(zhì)量可能仍然還不足以使碼字可恢復(fù)。
圖3B圖示說(shuō)明當(dāng)磁頭相對(duì)于數(shù)據(jù)磁道的中心線被定位在不同的徑向位置處時(shí)針對(duì)圖3A中所示的碼字的每個(gè)區(qū)段(S卩，針對(duì)對(duì)應(yīng)于碼字的每個(gè)區(qū)段的(一個(gè)或多個(gè))信號(hào)樣本)生成的質(zhì)量度量。在該示例中，質(zhì)量度量的較低數(shù)字對(duì)應(yīng)于較好的質(zhì)量(質(zhì)量度量255代表最壞的質(zhì)量)。在該示例中，當(dāng)以+5的偏移，或者可能的話，以+10的偏移讀取碼字時(shí)，可以生成最佳平均質(zhì)量度量，但如果以這些偏移中的任一者讀取(即，使用以單個(gè)徑向偏移讀取的所有的信號(hào)樣本)，則碼字可能仍然是不可恢復(fù)的。因此，在一個(gè)實(shí)施例中，在多個(gè)徑向位置處讀取碼字，并且基于產(chǎn)生的質(zhì)量度量合并在每個(gè)徑向位置處產(chǎn)生的信號(hào)樣本的子集。信號(hào)樣本的組合集可以具有足夠高的質(zhì)量，使得能夠成功地對(duì)碼字進(jìn)行解碼。
圖4A-圖4D圖示說(shuō)明示例實(shí)施例，在該示例實(shí)施例中，通過(guò)在不同的徑向位置處讀取碼字來(lái)逐漸更新代表圖3A中所示的碼字的每個(gè)區(qū)段的(一個(gè)或多個(gè))信號(hào)樣本，直到信號(hào)樣本組合集允許碼字的成功解碼。圖4A示出當(dāng)磁頭被定位在數(shù)據(jù)磁道的中心線上方時(shí)在碼字的每個(gè)區(qū)段上生成的質(zhì)量度量。對(duì)應(yīng)于第一五個(gè)區(qū)段的質(zhì)量度量可能太差以至于不能成功解碼，所以磁頭被定位在+5的徑向偏移處以重新讀取碼字，如圖4B所示。在每個(gè)區(qū)段上生成的所得質(zhì)量度量與在圖4A中生成的質(zhì)量度量相比較。對(duì)應(yīng)于較好的可比性的質(zhì)量度量的(一個(gè)或多個(gè))信號(hào)樣本被用于替換先前生成的對(duì)應(yīng)的信號(hào)樣本。這由圖4B中所示的被重點(diǎn)突出的區(qū)段圖示說(shuō)明，其中對(duì)應(yīng)于區(qū)段1-區(qū)段5和區(qū)段8的(一個(gè)或多個(gè))信號(hào)樣本替換在先前的讀取操作期間生成的信號(hào)樣本。然后基于信號(hào)樣本組合集第二次嘗試對(duì)碼字進(jìn)行解碼。如果碼字仍然不可恢復(fù)，則通過(guò)在+10的徑向偏移處重新讀取碼字來(lái)重復(fù)該過(guò)程，如圖4C所示。對(duì)應(yīng)于較好的質(zhì)量度量的信號(hào)樣本替換先前存儲(chǔ)的信號(hào)樣本，并且進(jìn)行另一次嘗試以恢復(fù)碼字。如果碼字仍然不可恢復(fù)，則通過(guò)在+15的徑向偏移處重新讀取碼字來(lái)重復(fù)該過(guò)程，如圖4D所示。對(duì)應(yīng)于較好的質(zhì)量度量的信號(hào)樣本替換先前存儲(chǔ)的信號(hào)樣本，并且進(jìn)行另一次嘗試以恢復(fù)碼字。最終，信號(hào)樣本組合集可以達(dá)到足夠高的質(zhì)量以實(shí)現(xiàn)碼字的成功解碼。
在一個(gè)實(shí)施例中，在重新讀取操作期間，控制電路可以以遠(yuǎn)離數(shù)據(jù)磁道的中心線的任意方向調(diào)整磁頭的徑向偏移。然后，控制電路可以評(píng)估信號(hào)樣本的質(zhì)量度量以確定質(zhì)量度量是否改善。如果質(zhì)量度量劣化，則控制電路可以在繼續(xù)迭代之前反轉(zhuǎn)徑向偏移的方向。參考圖4A-圖4D的示例，控制電路最初可以朝向遠(yuǎn)離數(shù)據(jù)磁道的中心線的負(fù)方向(例如，在-5的徑向偏移處開(kāi)始)偏移磁頭。如圖3B所示，產(chǎn)生的質(zhì)量度量將變得比先前生成的質(zhì)量度量更差，并且因此在繼續(xù)進(jìn)行之前，控制電路可以反轉(zhuǎn)偏移的方向。
在一個(gè)實(shí)施例中，控制電路可以通過(guò)用正偏移和負(fù)偏移兩者讀取碼字來(lái)生成信號(hào)樣本組合集。參考圖3B的示例，控制電路可以首先用-5的偏移讀取碼字，并且然后替換對(duì)應(yīng)于區(qū)段9、區(qū)段11和區(qū)段14的(一個(gè)或多個(gè))信號(hào)樣本，這是由于質(zhì)量度量將從40改善到20。然后，控制電路可以在-10的偏移處讀取碼字以確定質(zhì)量度量對(duì)于任何區(qū)段沒(méi)有改善。然后，控制電路可以反轉(zhuǎn)偏移的方向以更新信號(hào)樣本組合集，如以上參考圖4A-圖4D所述。
當(dāng)從磁盤(pán)讀取碼字時(shí)，控制電路可以生成任何合適的度量。圖5A根據(jù)實(shí)施例示出控制電路，其中讀取信號(hào)38被采樣以生成信號(hào)樣本46。信號(hào)樣本46用均衡器濾波器48濾波，例如，均衡器濾波器48可以操作以將記錄通道的傳遞函數(shù)構(gòu)造為合適的部分響應(yīng)(PR)記錄通道(例如，PR4記錄通道)。對(duì)應(yīng)于碼字的均衡化信號(hào)樣本50被存儲(chǔ)在樣本緩存器52中并且由合適的格狀序列檢測(cè)器54(例如，維特比序列檢測(cè)器)進(jìn)行處理。在一個(gè)實(shí)施例中，格狀序列檢測(cè)器54可以提供有關(guān)記錄的數(shù)據(jù)的初步判決，以便于定時(shí)恢復(fù)和增益控制。在一個(gè)實(shí)施例中，格狀序列檢測(cè)器54也可以生成質(zhì)量度量56，諸如圖3B所示。
在碼字的初始讀取期間(例如，在數(shù)據(jù)磁道中心線處)，存儲(chǔ)在樣本緩存器52中的均衡化信號(hào)樣本50可以由合適的迭代解碼器58(諸如LDPC解碼器)處理，或者在另一個(gè)實(shí)施例中，其可以由與LDPC解碼器結(jié)合的軟輸出維特比算法(SOVA)檢測(cè)器處理。如果解碼失敗，則控制電路在徑向偏移處重新讀取碼字，并且格狀序列檢測(cè)器54生成信號(hào)樣本的質(zhì)量度量56。在方框58處，如上所述，當(dāng)對(duì)應(yīng)的質(zhì)量度量?jī)?yōu)于(exceed)先前生成的質(zhì)量度量時(shí)，控制電路替換樣本緩存器52中的信號(hào)樣本。存儲(chǔ)在樣本緩存器52中的信號(hào)樣本的更新的組合集再次由迭代解碼器58處理，并且該過(guò)程重復(fù)直到碼字是可恢復(fù)的(或被視為不可恢復(fù))。
圖5B示出與PR4目標(biāo)1-D2匹配的格狀序列檢測(cè)器的狀態(tài)轉(zhuǎn)換圖。連接在圖5B的PR4狀態(tài)轉(zhuǎn)換圖中的狀態(tài)的分支以y/x標(biāo)記，其中y代表記錄的二進(jìn)制數(shù)據(jù)(NRZ編碼的)，并且X代表對(duì)應(yīng)的期望的信號(hào)樣本。圖5C示出對(duì)應(yīng)于PR4狀態(tài)轉(zhuǎn)換圖的網(wǎng)格，其中在任何給定的狀態(tài)下，給定先前的均衡化信號(hào)樣本的序列，計(jì)算代表下一個(gè)記錄的比特是“O”或“I”的可能性的分支度量(例如，歐幾里得度量(EucIidean metric)) 0當(dāng)讀取信號(hào)中的比特被評(píng)估時(shí)，數(shù)個(gè)幸存者序列(survivor sequence)被跟蹤通過(guò)對(duì)應(yīng)的網(wǎng)格，其最終基于每個(gè)幸存者序列的積累的分支度量被合并成最有可能的數(shù)據(jù)序列。
在一個(gè)實(shí)施例中，針對(duì)記錄的序列的每個(gè)比特生成的分支度量可以代表圖3B的實(shí)施例中的質(zhì)量度量，使得在不同的徑向偏移處讀取碼字之后，存儲(chǔ)的信號(hào)樣本的序列以比特分辨率被更新。在另一個(gè)實(shí)施例中，為了降低計(jì)算內(nèi)存、時(shí)間和復(fù)雜性，例如，可以通過(guò)對(duì)針對(duì)數(shù)個(gè)比特中的每個(gè)比特生成的分支度量求平均來(lái)針對(duì)數(shù)個(gè)比特或數(shù)個(gè)字節(jié)生成質(zhì)量度量。SP，圖3B中所示的每個(gè)質(zhì)量度量可以在包括數(shù)個(gè)比特或字節(jié)塊的碼字的區(qū)段上生成。在又一個(gè)實(shí)施例中，控制電路可以調(diào)整質(zhì)量度量的分辨率，以便在大的(heroic)誤差恢復(fù)程序期間增大校正能力。例如，控制電路可以最初在相對(duì)大的字節(jié)塊上生成每個(gè)質(zhì)量度量。如果上述誤差恢復(fù)程序不能恢復(fù)碼字，則控制電路可以在增大質(zhì)量度量的分辨率之后重新執(zhí)行恢復(fù)程序(即，通過(guò)在更少數(shù)量的字節(jié)或比特上生成每個(gè)質(zhì)量度量)。
再次參考圖5A，在一個(gè)實(shí)施例中，格狀序列檢測(cè)器54可以諸如通過(guò)SOVA檢測(cè)器生成記錄的序列的每個(gè)比特的軟判決。由格狀檢測(cè)器54輸出的軟判決可以被存儲(chǔ)在樣本緩存器52中，并且由迭代解碼器56處理。在該實(shí)施例中，當(dāng)在不同的徑向位置處讀取碼字時(shí)，圖3B所示的質(zhì)量度量可以被用于更新樣本緩存器52中的軟判決。換句話說(shuō)，短語(yǔ)“信號(hào)樣本”在一個(gè)實(shí)施例中可能意味著讀取信號(hào)的實(shí)際信號(hào)樣本(或均衡化信號(hào)樣本)，而在另一個(gè)實(shí)施例中，該術(shù)語(yǔ)可能意味著可以由格狀檢測(cè)器54、迭代解碼器56或任何其他合適的軟判決檢測(cè)器/解碼器生成的軟判決(包括對(duì)數(shù)似然比)。
可以采用任何合適的控制電路來(lái)實(shí)施上述實(shí)施例中的流程圖，諸如任何合適的集成電路或電路。例如，控制電路可以被實(shí)施在讀取通道集成電路內(nèi)或者在與讀取通道分開(kāi)的部件(例如，磁盤(pán)控制器)中，或者上述某些操作可以由讀取通道執(zhí)行并且其他操作由磁盤(pán)控制器執(zhí)行。在一個(gè)實(shí)施例中，讀取通道和磁盤(pán)控制器被實(shí)施為獨(dú)立的集成電路，并且在可替換的實(shí)施例中，它們被制造到單個(gè)集成電路或片上系統(tǒng)(SOC)中。另外，控制電路可以包括被實(shí)施為獨(dú)立的集成電路、被集成到讀取通道或磁盤(pán)控制器電路中或被集成到SOC中的合適的前置放大器電路。
在一個(gè)實(shí)施例中，控制電路包括執(zhí)行指令的微處理器，該指令可操作以使得微處理器執(zhí)行本文所描述的流程圖。該指令可以被存儲(chǔ)在任何計(jì)算機(jī)可讀介質(zhì)中。在一個(gè)實(shí)施例中，它們可以被存儲(chǔ)在微處理器外部的非易失性半導(dǎo)體存儲(chǔ)器上或與微處理器一起集成在SOC中。在另一個(gè)實(shí)施例中，指令被存儲(chǔ)在磁盤(pán)上，并且在磁盤(pán)驅(qū)動(dòng)器上電時(shí)被讀取到易失性半導(dǎo)體存儲(chǔ)器中。在又一個(gè)實(shí)施例中，控制電路包括合適的邏輯電路，諸如狀態(tài)機(jī)電路。
在各種實(shí)施例中，磁盤(pán)驅(qū)動(dòng)器可以包括磁性磁盤(pán)驅(qū)動(dòng)器、光盤(pán)驅(qū)動(dòng)器等。另外，雖然上面的示例涉及磁盤(pán)驅(qū)動(dòng)器，但各種實(shí)施例并不局限于磁盤(pán)驅(qū)動(dòng)器，并且可以被應(yīng)用于其他數(shù)據(jù)存儲(chǔ)裝置和系統(tǒng)，諸如磁帶驅(qū)動(dòng)器、固態(tài)驅(qū)動(dòng)器、混合驅(qū)動(dòng)器等。另外，一些實(shí)施例可以包括諸如計(jì)算設(shè)備、數(shù)據(jù)服務(wù)器設(shè)備、媒體內(nèi)容存儲(chǔ)設(shè)備等的電子設(shè)備，該電子設(shè)備包含如上所述的存儲(chǔ)介質(zhì)和/或控制電路。
以上描述的各種特征和過(guò)程可以彼此獨(dú)立地使用，或可以按照各種方式被組合。全部可能的組合和子組合旨在落入本公開(kāi)的范圍內(nèi)。另外，特定方法、事件或過(guò)程方框可以在一些實(shí)施方式中被省略。在本文中描述的方法和過(guò)程也不限于任何具體順序，并且與其有關(guān)的方框或狀態(tài)可以按照其他適合的順序來(lái)執(zhí)行。例如，所描述的任務(wù)或事件可以按照不同于具體公開(kāi)的順序的順序執(zhí)行，或多個(gè)可以被組合到單個(gè)方框或狀態(tài)中。示例任務(wù)或事件可以順序地、并行地或按照一些其他方式執(zhí)行。任務(wù)或事件可以被添加到所公開(kāi)的示例性實(shí)施例中或從其中去除。在本文中描述的示例系統(tǒng)和部件可以與所描述的不同地進(jìn)行配置。例如，元件可以被添加到所公開(kāi)的示例性實(shí)施例、從其中去除或與其相比被重新布置。
盡管描述了特定示例性實(shí)施例，這些實(shí)施例僅通過(guò)示例呈現(xiàn)，而不旨在限制在本文中公開(kāi)的本發(fā)明的范圍。因而，在以上的描述中不存在任何描述旨在暗含任何具體特征、特性、步驟、模塊或塊是必須的或不可缺少的。事實(shí)上，在本文中描述的新穎方法和系統(tǒng)可以以各種其它形式來(lái)體現(xiàn);此外，可以對(duì)在本文中描述的方法和系統(tǒng)的形式進(jìn)行各種省略、替代和修改而不脫離在本文中所公開(kāi)的實(shí)施例的精神。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種數(shù)據(jù)存儲(chǔ)設(shè)備，其包含: 磁盤(pán)； 在所述磁盤(pán)上方被致動(dòng)的磁頭；以及 控制電路，所述控制電路經(jīng)配置以: 將所述磁頭定位在所述磁盤(pán)上方的第一徑向位置處，并且讀取所述磁盤(pán)上的碼字的至少一部分以生成第一信號(hào)樣本； 生成所述第一信號(hào)樣本的第一質(zhì)量度量； 將所述磁頭定位在所述磁盤(pán)上方不同于所述第一徑向位置的第二徑向位置處，并且讀取所述碼字的至少一部分以生成第二信號(hào)樣本； 生成所述第二信號(hào)樣本的第二質(zhì)量度量； 基于所述第一質(zhì)量度量和所述第二質(zhì)量度量將所述第一信號(hào)樣本的第一子集與所述第二信號(hào)樣本的第二子集組合，以生成信號(hào)樣本組合集;以及基于信號(hào)樣本的所述組合集，第一次嘗試解碼所述碼字。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)設(shè)備，其中當(dāng)所述第二質(zhì)量度量指示比所述第一質(zhì)量度量更好的質(zhì)量時(shí)，所述控制電路進(jìn)一步經(jīng)配置以使用對(duì)應(yīng)于所述第二質(zhì)量度量的所述第二信號(hào)樣本的至少一部分生成所述信號(hào)樣本組合集。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)設(shè)備，其中所述控制電路進(jìn)一步經(jīng)配置以: 將所述磁頭定位在所述磁盤(pán)上方不同于所述第一徑向位置和所述第二徑向位置的第三徑向位置處，并且讀取所述碼字的至少一部分以生成第三信號(hào)樣本； 生成所述第三信號(hào)樣本的第三質(zhì)量度量； 基于所述第三質(zhì)量度量，使用所述第三信號(hào)樣本來(lái)修改所述信號(hào)樣本組合集；以及 基于修改的信號(hào)樣本組合集，第二次嘗試解碼所述碼字。4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)設(shè)備，其中當(dāng)所述第三質(zhì)量度量指示比所述第一質(zhì)量度量和所述第二質(zhì)量度量更好的質(zhì)量時(shí)，所述控制電路進(jìn)一步經(jīng)配置以使用對(duì)應(yīng)于所述第三質(zhì)量度量的所述第三信號(hào)樣本的至少一部分修改所述信號(hào)樣本組合集。5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)設(shè)備，其中所述控制電路進(jìn)一步經(jīng)配置以: 在第一多個(gè)所述第一信號(hào)樣本上生成所述第一質(zhì)量度量；以及 在第二多個(gè)所述第二信號(hào)樣本上生成所述第二質(zhì)量度量。6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)設(shè)備，其中所述控制電路進(jìn)一步經(jīng)配置以: 基于所述第一信號(hào)樣本中的一個(gè)和期望的信號(hào)樣本之間的第一差值生成所述第一質(zhì)量度量;以及 基于所述第二信號(hào)樣本中的一個(gè)和期望的信號(hào)樣本之間的第二差值生成所述第二質(zhì)量度量。7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)設(shè)備，其中所述第一差值對(duì)應(yīng)于格狀序列檢測(cè)器的分支度量。8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)設(shè)備，其中所述控制電路進(jìn)一步經(jīng)配置以基于多個(gè)分支度量生成所述第一質(zhì)量度量，所述多個(gè)分支度量由所述格狀序列檢測(cè)器在多個(gè)所述第一信號(hào)樣本上生成。9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)設(shè)備，其中所述控制電路進(jìn)一步經(jīng)配置以: 基于所述第一信號(hào)樣本中的一個(gè)和期望的信號(hào)樣本之間的第一差值生成所述第一質(zhì)量度量;以及 基于所述第二信號(hào)樣本中的一個(gè)和期望的信號(hào)樣本之間的第二差值生成所述第二質(zhì)量度量。10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)設(shè)備，其中所述第一差值對(duì)應(yīng)于格狀序列檢測(cè)器的分支度量。11.一種操作數(shù)據(jù)存儲(chǔ)設(shè)備的方法，所述方法包括: 將磁頭定位在磁盤(pán)上方的第一徑向位置處，并且讀取所述磁盤(pán)上的碼字的至少一部分以生成第一信號(hào)樣本； 生成所述第一信號(hào)樣本的第一質(zhì)量度量； 將所述磁頭定位在所述磁盤(pán)上方不同于所述第一徑向位置的第二徑向位置處，并且讀取所述碼字的至少一部分以生成第二信號(hào)樣本； 生成所述第二信號(hào)樣本的第二質(zhì)量度量； 基于所述第一質(zhì)量度量和所述第二質(zhì)量度量，將所述第一信號(hào)樣本的第一子集與所述第二信號(hào)樣本的第二子集組合，以生成信號(hào)樣本組合集;以及基于所述信號(hào)樣本組合集，第一次嘗試解碼所述碼字。12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的方法，其中當(dāng)所述第二質(zhì)量度量指示比所述第一質(zhì)量度量更好的質(zhì)量時(shí)，其進(jìn)一步包括使用對(duì)應(yīng)于所述第二質(zhì)量度量的所述第二信號(hào)樣本的至少一部分生成所述信號(hào)樣本組合集。13.根據(jù)權(quán)利要求11所述的方法，其進(jìn)一步包括: 將所述磁頭定位在所述磁盤(pán)上方不同于所述第一徑向位置和所述第二徑向位置的第三徑向位置處，并且讀取所述碼字的至少一部分以生成第三信號(hào)樣本； 生成所述第三信號(hào)樣本的第三質(zhì)量度量； 基于所述第三質(zhì)量度量，使用所述第三信號(hào)樣本修改所述信號(hào)樣本組合集；以及 基于修改的信號(hào)樣本組合集，第二次嘗試解碼所述碼字。14.根據(jù)權(quán)利要求13所述的方法，其中當(dāng)所述第三質(zhì)量度量指示比所述第一質(zhì)量度量和所述第二質(zhì)量度量更好的質(zhì)量時(shí)，其進(jìn)一步包括使用對(duì)應(yīng)于所述第三質(zhì)量度量的所述第三信號(hào)樣本的至少一部分來(lái)修改所述信號(hào)樣本組合集。15.根據(jù)權(quán)利要求11所述的方法，其進(jìn)一步包括: 在第一多個(gè)所述第一信號(hào)樣本上生成所述第一質(zhì)量度量；以及 在第二多個(gè)所述第二信號(hào)樣本上生成所述第二質(zhì)量度量。16.根據(jù)權(quán)利要求15所述的方法，其進(jìn)一步包括: 基于所述第一信號(hào)樣本中的一個(gè)和期望的信號(hào)樣本之間的第一差值生成所述第一質(zhì)量度量;以及 基于所述第二信號(hào)樣本中的一個(gè)和期望的信號(hào)樣本之間的第二差值生成所述第二質(zhì)量度量。17.根據(jù)權(quán)利要求16所述的方法，其中所述第一差值對(duì)應(yīng)于格狀序列檢測(cè)器的分支度量。18.根據(jù)權(quán)利要求17所述的方法，其進(jìn)一步包括基于多個(gè)分支度量生成所述第一質(zhì)量度量，所述多個(gè)分支度量由所述格狀序列檢測(cè)器在多個(gè)所述第一信號(hào)樣本上生成。19.根據(jù)權(quán)利要求11所述的方法，其進(jìn)一步包括: 基于所述第一信號(hào)樣本中的一個(gè)和期望的信號(hào)樣本之間的第一差值生成所述第一質(zhì)量度量;以及 基于所述第二信號(hào)樣本中的一個(gè)和期望的信號(hào)樣本之間的第二差值生成所述第二質(zhì)量度量。20.根據(jù)權(quán)利要求19所述的方法，其中所述第一差值對(duì)應(yīng)于格狀序列檢測(cè)器的分支度量。
【文檔編號(hào)】G11B5/596GK105976839SQ201610139253
【公開(kāi)日】2016年9月28日
【申請(qǐng)日】2016年3月11日
【發(fā)明人】T·S·陳, T·H·班, D·E·伯頓
【申請(qǐng)人】西部數(shù)據(jù)技術(shù)公司