本申請涉及固體硬盤生產(chǎn)設備，更具體地說，是涉及一種固態(tài)硬盤的測試板結構。

背景技術：

1、固態(tài)硬盤(solid?state?drive，ssd)因其強大的隨機讀寫能力，被廣泛應用于各領域。固態(tài)硬盤可以安裝于主機(host)上以作為主機的存儲介質，主機向固態(tài)硬盤下發(fā)數(shù)據(jù)，以使得固態(tài)硬盤將下發(fā)的數(shù)據(jù)寫入固態(tài)硬盤中進行存儲。固態(tài)硬盤的主要電路部分是硬盤板體以及外面的殼體。硬盤板體采用集成電路板的方式，當硬盤板體生產(chǎn)完成后，就需要及時進行功能檢測，是否可以進行正常的數(shù)據(jù)存儲。例如：為了驗證在異常情況下掉電保護功能的可靠性，通過測試工具來對固態(tài)硬盤進行成百上千次的頻繁上下電、熱插拔模擬操作。

2、現(xiàn)有的測試工具通常是采用測試電路板進行功能檢測，測試電路板上通常有臥式連接座，類似于計算機主板上的m2固態(tài)硬盤接口。使待檢測固態(tài)硬盤順著平行于測試電路板的方向插入到臥式連接座內，待檢測固態(tài)硬盤平行于測試電路板進行懸置，為提高安裝穩(wěn)定性，還需對待檢測固態(tài)硬盤的另一端進行固定，這樣導致測試過程中待檢測固態(tài)硬盤拆裝困難，影響測試效率。

3、因此，現(xiàn)有技術還有待于改進和發(fā)展。

技術實現(xiàn)思路

1、本申請的目的在于提供一種固態(tài)硬盤的測試板結構，解決了現(xiàn)有技術的待檢測固態(tài)硬盤在測試過程中拆裝困難、影響測試效率的問題。

2、為實現(xiàn)上述目的，本申請采用的技術方案是：

3、本申請?zhí)峁┮环N固態(tài)硬盤的測試板結構，用于連接并測試待檢測固態(tài)硬盤，其中測試板結構包括：測試電路板，測試電路板上設置有至少一個臥式連接座；

4、至少一個輔助電路板，至少一個輔助電路板上設置有對接金手指部，并通過對接金手指部可插拔連接在臥式連接座上；

5、立式連接座，立式連接座設置在輔助電路板背離測試電路板的表面上；

6、立式連接座用于可插拔連接帶檢測固態(tài)硬盤，以使待檢測固態(tài)硬盤立式置于測試電路板。

7、可選地，立式連接座包括：連接器，連接器設置在輔助電路板的表面上，且連接器背離輔助電路板的一側具有插接開口，插接開口用于插接待檢測固態(tài)硬盤；

8、導向殼，導向殼設置在插接開口的外側，并用于引導待檢測固態(tài)硬盤插接到連接器。

9、可選地，導向殼包括：殼體，殼體環(huán)繞設置在插接開口的外側，殼體具有導向口；

10、兩側的彈性片，彈性片對稱設置在殼體的內壁上；

11、兩側的彈性片通過待檢測固態(tài)硬盤的擠壓而產(chǎn)生朝向連接器的彈力，通過兩側的彈力而將待檢測固態(tài)硬盤朝向連接器擠壓。

12、可選地，測試電路板與輔助電路板之間設置有絕緣隔熱片。

13、可選地，絕緣隔熱片采用硬質絕緣隔板，硬質絕緣隔板具有預定厚度，硬質絕緣隔板固定在輔助電路板朝向測試電路板的表面上，硬質絕緣隔板抵靠測試電路板。

14、可選地，測試板結構還包括固定設置的下壓支撐件，下壓支撐件連接輔助電路板，并用于朝向測試電路板的方向推壓輔助電路板。

15、可選地，下壓支撐件包括：支撐架，支撐架凸出于測試電路板的表面；

16、彈性施力件，彈性施力件連接在支撐架上；

17、壓塊，壓塊活動設置在支撐架上，并連接彈性施力件；

18、壓塊通過彈性施力件的彈力而抵靠在輔助電路板的表面上。

19、可選地，立式連接座設置有多個，多個立式連接座沿輔助電路板的延伸方向并排間隔設置，多個立式連接座均通過對接金手指部而與測試電路板電連接。

20、可選地，多個立式連接座的型號不同，型號不同的立式連接座用于連接不同接口的待檢測固態(tài)硬盤。

21、可選地，立式連接座上設置有端部固定位，端部固定位與測試電路板相固定。

22、本申請?zhí)峁┑囊环N固態(tài)硬盤的測試板結構的有益效果至少在于：通過在測試電路板上設置輔助電路板，使輔助電路板通過對接金手指部插入到測試電路板上原有的臥式連接座上，從而使輔助電路板與測試電路板實現(xiàn)電連接，使輔助電路板上的立式連接座的功能與原有的臥式連接座的功能相同，立式連接座用于可插拔連接帶檢測固態(tài)硬盤，以使待檢測固態(tài)硬盤立式置于測試電路板。從而使原有平臥在測試電路板上的待檢測固態(tài)硬盤，改變?yōu)榱⑹讲褰拥姆绞?，立式插接的待檢測固態(tài)硬盤不僅方便插拔，而且避免了將長條形的待檢測固態(tài)硬盤在水平方向進行懸置，因此不需要在另一端進行固定就能實現(xiàn)穩(wěn)定固定。從而方便了測試人員進行裝卸，提高了測試效率。

技術特征：

1.一種固態(tài)硬盤的測試板結構，用于連接并測試待檢測固態(tài)硬盤，其特征在于，所述測試板結構包括：測試電路板，所述測試電路板上設置有至少一個臥式連接座；

2.如權利要求1所述的固態(tài)硬盤的測試板結構，其特征在于，所述立式連接座包括：連接器，所述連接器設置在所述輔助電路板的表面上，且所述連接器背離所述輔助電路板的一側具有插接開口，所述插接開口用于插接所述待檢測固態(tài)硬盤；

3.如權利要求2所述的固態(tài)硬盤的測試板結構，其特征在于，所述導向殼包括：殼體，所述殼體環(huán)繞設置在所述插接開口的外側，所述殼體具有導向口；

4.如權利要求1所述的固態(tài)硬盤的測試板結構，其特征在于，所述測試電路板與所述輔助電路板之間設置有絕緣隔熱片。

5.如權利要求4所述的固態(tài)硬盤的測試板結構，其特征在于，所述絕緣隔熱片采用硬質絕緣隔板，所述硬質絕緣隔板具有預定厚度，所述硬質絕緣隔板固定在所述輔助電路板朝向所述測試電路板的表面上，所述硬質絕緣隔板抵靠所述測試電路板。

6.如權利要求1所述的固態(tài)硬盤的測試板結構，其特征在于，測試板結構還包括固定設置的下壓支撐件，所述下壓支撐件連接所述輔助電路板，并用于朝向所述測試電路板的方向推壓所述輔助電路板。

7.如權利要求6所述的固態(tài)硬盤的測試板結構，其特征在于，所述下壓支撐件包括：支撐架，所述支撐架凸出于所述測試電路板的表面；

8.如權利要求1所述的固態(tài)硬盤的測試板結構，其特征在于，所述立式連接座設置有多個，多個所述立式連接座沿所述輔助電路板的延伸方向并排間隔設置，多個所述立式連接座均通過所述對接金手指部而與所述測試電路板電連接。

9.如權利要求8所述的固態(tài)硬盤的測試板結構，其特征在于，多個所述立式連接座的型號不同，型號不同的所述立式連接座用于連接不同接口的待檢測固態(tài)硬盤。

10.如權利要求1-9任一所述的固態(tài)硬盤的測試板結構，其特征在于，所述立式連接座上設置有端部固定位，所述端部固定位與所述測試電路板相固定。

技術總結
本申請?zhí)峁┮环N固態(tài)硬盤的測試板結構，用于連接并測試待檢測固態(tài)硬盤，其中測試板結構包括：測試電路板，測試電路板上設置有至少一個臥式連接座；至少一個輔助電路板，至少一個輔助電路板上設置有對接金手指部，并通過對接金手指部可插拔連接在臥式連接座上；立式連接座，立式連接座設置在輔助電路板背離測試電路板的表面上；立式連接座用于可插拔連接帶檢測固態(tài)硬盤，以使待檢測固態(tài)硬盤立式置于測試電路板。解決了現(xiàn)有技術的待檢測固態(tài)硬盤在測試過程中拆裝困難、影響測試效率的問題。

技術研發(fā)人員：韓蕊,朱建寶
受保護的技術使用者：力瑞信（深圳）科技有限公司
技術研發(fā)日：
技術公布日：2024/10/21