專利名稱：校核盤缺陷管理區(qū)信息的方法和進(jìn)行校核的測(cè)試設(shè)備的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及可以將信息記錄在可記錄可再現(xiàn)盤上和從該可記錄和可再現(xiàn)盤上再現(xiàn)信息的設(shè)備，尤其涉及校核盤記錄再現(xiàn)設(shè)備正常生成或更新盤缺陷管理區(qū)(DMA)信息的方法，和進(jìn)行校核的測(cè)試設(shè)備。
可記錄和可再現(xiàn)盤是一種利用諸如激光束之類的光束將信息記錄在上面和從上面讀取信息的光盤，例如，數(shù)字多功能盤隨機(jī)存取存儲(chǔ)器(DVD-RAM)。DVD-RAM是一種可重寫(xiě)盤。根據(jù)“關(guān)于可重寫(xiě)盤第1部分物理規(guī)范第2.0版本的DVD規(guī)范”，DVD-RAM在盤的每一面上包括四個(gè)管理其上缺陷的DMA，即，DMA1、DMA2、DMA3和DMA4。
如

圖1所示，DMA1和DMA2位于靠近盤的內(nèi)徑的導(dǎo)入?yún)^(qū)，和DMA3和DMA4位于靠近盤的外徑的導(dǎo)出區(qū)。每個(gè)DMA后面跟隨著一個(gè)保留扇區(qū)。
在DMA中存儲(chǔ)著盤定義結(jié)構(gòu)(DDS)、主要缺陷列表(PDL)和次要缺陷列表(SDL)。DDS包括關(guān)于盤的格式結(jié)構(gòu)的信息，例如，盤認(rèn)證標(biāo)志、DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器和每個(gè)區(qū)的開(kāi)始邏輯扇區(qū)號(hào)。PDL包括關(guān)于在盤初始化期間在盤上檢測(cè)到的所有有缺陷扇區(qū)的信息。SDL包括關(guān)于在盤正在使用的同時(shí)發(fā)生的有缺陷塊(糾錯(cuò)碼(ECC)塊)中每個(gè)第一扇區(qū)的扇區(qū)號(hào)的信息、在用于替換有缺陷塊的備用塊中每個(gè)第一扇區(qū)的扇區(qū)號(hào)的信息、和關(guān)于備用區(qū)的信息。
包括在DMA中的一些信息可以直接讀取和使用。另一方面，DMA包括隨盤上缺陷的位置和數(shù)量而改變的信息。另外，一些信息，例如，每條區(qū)的開(kāi)始扇區(qū)號(hào)的位置信息或邏輯扇區(qū)號(hào)0的位置信息，可以通過(guò)進(jìn)行根據(jù)寄存在DMA中的缺陷信息的算法獲得。
在盤的每一面上存在四個(gè)DMA是為了防止由于DMA信息中的錯(cuò)誤引起的錯(cuò)誤的缺陷管理。由于這樣的DMA信息與物理數(shù)據(jù)扇區(qū)密切相關(guān)，因此，當(dāng)不正確地寫(xiě)入或讀取DMA信息時(shí)，諸如可移動(dòng)光盤之類的記錄介質(zhì)可能與兩種不同的盤記錄和再現(xiàn)設(shè)備不兼容。
這是因?yàn)椋?dāng)盤記錄和再現(xiàn)設(shè)備(例如，DVD-RAM記錄和再現(xiàn)設(shè)備)的記錄和再現(xiàn)結(jié)構(gòu)被劃分成文件系統(tǒng)層，使主計(jì)算機(jī)與記錄和再現(xiàn)設(shè)備相連接的主接口層、用于記錄和再現(xiàn)物理信號(hào)的物理盤記錄和再現(xiàn)設(shè)備(或盤驅(qū)動(dòng)單元)層、和記錄介質(zhì)層時(shí)，在物理盤記錄和再現(xiàn)設(shè)備層和它的下一層進(jìn)行DMA信息的寫(xiě)和讀。
在實(shí)際的文件系統(tǒng)中，要記錄和再現(xiàn)的用戶信息只根據(jù)邏輯扇區(qū)號(hào)發(fā)送到盤記錄和再現(xiàn)設(shè)備，盤記錄和再現(xiàn)設(shè)備將邏輯扇區(qū)號(hào)轉(zhuǎn)換成物理扇區(qū)號(hào)以記錄或再現(xiàn)用戶信息。在這種情況中，使用DMA信息。這樣，當(dāng)在給定的盤記錄和再現(xiàn)設(shè)備中錯(cuò)誤地讀取或?qū)懭隓MA信息時(shí)，就不能在另一臺(tái)記錄和再現(xiàn)設(shè)備中正確地讀取或?qū)懭霐?shù)據(jù)。
因此，需要一種校核盤記錄和再現(xiàn)設(shè)備正確地讀取記錄在盤上的DMA信息和將DMA信息正確地記錄在盤上以生成或更新DMA信息的方法。
為了解決上述問(wèn)題，本發(fā)明的第一個(gè)目的是提供一種校核當(dāng)盤記錄和再現(xiàn)設(shè)備進(jìn)行包括清除缺陷列表在內(nèi)沒(méi)有認(rèn)證的重新初始化時(shí)，正常生成或更新缺陷管理區(qū)(DMA)信息的方法。
本發(fā)明的第二個(gè)目的是提供一種校核當(dāng)盤記錄和再現(xiàn)設(shè)備進(jìn)行包括清除缺陷列表在內(nèi)而沒(méi)有認(rèn)證的重新初始化時(shí)，是否正常生成或更新利用空白盤和使每種類型的缺陷信息都包括在主要缺陷列表中那樣構(gòu)成的測(cè)試基準(zhǔn)DMA鏡像文件，產(chǎn)生的盤的DMA信息的方法。
本發(fā)明的第三個(gè)目的是提供一種校核當(dāng)盤記錄和再現(xiàn)設(shè)備進(jìn)行包括清除缺陷列表在內(nèi)沒(méi)有認(rèn)證的重新初始化時(shí)，正常生成或更新缺陷管理區(qū)(DMA)信息的測(cè)試設(shè)備。
本發(fā)明的其它目的和優(yōu)點(diǎn)部分體現(xiàn)在下述的說(shuō)明書(shū)中，部分可以從說(shuō)明書(shū)中明顯看出，或可以從本發(fā)明的具體實(shí)踐中得知。
為了實(shí)現(xiàn)本發(fā)明的上述和其它目的，本發(fā)明提供了校核將信息記錄在帶有DMA信息的盤上或從帶有DMA信息的盤上再現(xiàn)信息的記錄和再現(xiàn)設(shè)備的DMA信息生成和更新功能的方法。該方法包括在利用含有測(cè)試基準(zhǔn)信息的測(cè)試盤的記錄和再現(xiàn)設(shè)備中進(jìn)行包括清除存在于測(cè)試盤上的DMA中的預(yù)定缺陷列表在內(nèi)的重新初始化，從重新初始化后生成的缺陷管理區(qū)信息中生成測(cè)試信息，并將從測(cè)試基準(zhǔn)信息中預(yù)期的基準(zhǔn)信息與測(cè)試信息進(jìn)行比較和提供關(guān)于測(cè)試信息的校核結(jié)果。
為了實(shí)現(xiàn)本發(fā)明的上述和其它目的，本發(fā)明還提供了測(cè)試將信息記錄在帶有DMA信息的盤上或從帶有DMA信息的盤上再現(xiàn)信息的記錄和再現(xiàn)設(shè)備的DMA信息生成和更新功能的設(shè)備。該設(shè)備包括測(cè)試盤，含有測(cè)試基準(zhǔn)信息；基準(zhǔn)驅(qū)動(dòng)器，利用測(cè)試盤從記錄和再現(xiàn)設(shè)備進(jìn)行包括清除存在于測(cè)試盤上的DMA中的預(yù)定缺陷列表在內(nèi)的重新初始化之后測(cè)試盤的DMA上生成測(cè)試信息；和校核器，將從測(cè)試基準(zhǔn)信息中預(yù)期的基準(zhǔn)信息與測(cè)試信息進(jìn)行比較并提供校核測(cè)試信息的結(jié)果。
通過(guò)結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例進(jìn)行詳細(xì)描述，本發(fā)明的上述目的和優(yōu)點(diǎn)將更加清楚。在附圖中圖1顯示了可重寫(xiě)盤的示意性結(jié)構(gòu)；圖2是顯示根據(jù)本發(fā)明的測(cè)試設(shè)備的功能的方塊圖；圖3顯示C-2盤的缺陷結(jié)構(gòu)的示例；圖4A至4D是圖2的校核器進(jìn)行校核的詳細(xì)校驗(yàn)列表的示例；圖5是顯示在重新初始化之前C-2盤的缺陷管理區(qū)(DMA)中主要缺陷列表(PDL)和次要缺陷列表(SDL)分別與在重新初始化之后C-2盤的DMA中PDL和SDL之間的相互關(guān)系的方塊圖；圖6是根據(jù)本發(fā)明的校核方法的流程圖；和圖7是圖2所示的待測(cè)試驅(qū)動(dòng)器的方塊圖。
現(xiàn)在開(kāi)始詳細(xì)說(shuō)明本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例，這些示例顯示在附圖中，其中自始至終相同的標(biāo)號(hào)表示相同的部件。下面參照附圖描述這些實(shí)施例以便說(shuō)明本發(fā)明。
參照?qǐng)D2，測(cè)試設(shè)備包括C-1盤201、缺陷管理區(qū)(DMA)鏡像文件提供器203、基準(zhǔn)驅(qū)動(dòng)器205、C-2盤207、待測(cè)試驅(qū)動(dòng)器209、C-2′盤211、C-2′盤DMA鏡像文件213和校核器215。
C-1盤201是測(cè)試盤，為了測(cè)試可以將信息記錄在諸如數(shù)字多功能盤隨機(jī)存取存儲(chǔ)器(DVD-RAM)之類的可寫(xiě)盤上或從中再現(xiàn)信息的盤驅(qū)動(dòng)器，有意在測(cè)試盤上制成一些物理缺陷，并且這樣的測(cè)試盤基本上是沒(méi)有記錄在上面的空白盤。只要在C-1盤201上沒(méi)有記錄“信息”，和只存在“有意缺陷”，就可以認(rèn)為C-1盤201是空白的。因此，當(dāng)測(cè)試盤驅(qū)動(dòng)器時(shí)，C-1盤201上的物理缺陷用作已知信息。另外，將C-1盤設(shè)計(jì)成滿足相變記錄DVD-RAM的條件，在“可重寫(xiě)盤第2.0版本的DVD規(guī)范”中規(guī)定這種DVD-RAM具有4.7千兆字節(jié)(GB)的容量。
DMA鏡像文件提供器203提供DMA鏡像文件，該DMA鏡像文件是包括如圖1所示的盤定義結(jié)構(gòu)(DDS)信息、主要缺陷列表(PDL)信息和次要缺陷列表(SDL)信息，并滿足輔助備用區(qū)(SSA)沒(méi)有填滿這個(gè)條件的測(cè)試基準(zhǔn)信息。
具體地說(shuō)，DMA鏡像文件提供器203提供使所有類型的缺陷包括在PDL中那樣構(gòu)成的測(cè)試基準(zhǔn)DMA鏡像文件。換言之，測(cè)試基準(zhǔn)DMA鏡像文件包括PDL，該P(yáng)DL包括含有在由盤制造商確定的缺陷扇區(qū)的信息的P-列表、含有在盤的認(rèn)證期間檢測(cè)到的缺陷扇區(qū)的信息的G1-列表、和含有沒(méi)有認(rèn)證移到SDL的缺陷扇區(qū)的信息的G2-列表。SSA是用于線性替換在盤正在使用中的同時(shí)發(fā)生的缺陷的備用區(qū)。SSA是在初始化期間或之后另外分配的。
為了提高測(cè)試效率，當(dāng)待測(cè)試驅(qū)動(dòng)器209進(jìn)行重新初始化時(shí)提供測(cè)試基準(zhǔn)DMA鏡像文件，它包括關(guān)于位于最有可能發(fā)生錯(cuò)誤的特定位置上的缺陷的信息。換言之，為了滿足由“關(guān)于可重寫(xiě)盤第1部分物理規(guī)范第2.0版本的DVD規(guī)范”建議的、一種算法的所有情況，將測(cè)試基準(zhǔn)DMA鏡像文件構(gòu)造成包括關(guān)于集中在位于假定第一邏輯扇區(qū)所處位置上的物理扇區(qū)附近的缺陷的信息，如圖3所示。
此外，測(cè)試基準(zhǔn)DMA鏡像文件的特征在于，將每個(gè)區(qū)的第一和最后扇區(qū)當(dāng)作有錯(cuò)誤的扇區(qū)來(lái)對(duì)待，并將有缺陷的扇區(qū)設(shè)置成使每個(gè)區(qū)中的可用扇區(qū)總數(shù)不是16的倍數(shù)。鏡像文件含有與實(shí)際文件相同的內(nèi)容，但位于與實(shí)際文件的物理位置不同的位置上。
基準(zhǔn)驅(qū)動(dòng)器205是修改的測(cè)試驅(qū)動(dòng)器，用于測(cè)試能夠?qū)⑿畔⒂涗浽诒P上或從盤上再現(xiàn)信息的設(shè)備。當(dāng)將C-1盤201裝載到基準(zhǔn)驅(qū)動(dòng)器205中和DMA鏡像文件提供器203提供測(cè)試基準(zhǔn)DMA鏡像文件時(shí)，基準(zhǔn)驅(qū)動(dòng)器205將測(cè)試基準(zhǔn)DMA鏡像文件記錄在C-1盤201上以形成C-2盤207。將測(cè)試基準(zhǔn)DMA鏡像文件與C-1盤201上的物理缺陷無(wú)關(guān)地記錄到C-1盤201上。這樣，C-2盤207包括在關(guān)于測(cè)試的基準(zhǔn)缺陷狀態(tài)與C-1盤201上的物理缺陷無(wú)關(guān)的假設(shè)下作出的測(cè)試基準(zhǔn)DMA信息，因此，記錄在C-2盤207上的DMA信息是用戶已知的信息。C-2盤被設(shè)計(jì)成滿足相變記錄DVD-RAM的條件，在“可重寫(xiě)盤第2.0版本的DVD規(guī)范”中規(guī)定這種DVD-RAM具有4.7千兆字節(jié)(GB)的容量。
當(dāng)包括清除G2-列表和SDL在內(nèi)而沒(méi)有認(rèn)證地重新初始化的C-2′盤211被裝載到基準(zhǔn)驅(qū)動(dòng)器205中時(shí)，基準(zhǔn)驅(qū)動(dòng)器205直接讀取記錄在C-2′盤211上的DMA信息，并根據(jù)作為測(cè)試信息的DMA信息輸出C-2′盤DMA鏡像文件213。測(cè)試信息可以是C-2′盤DMA鏡像文件213的一部分。例如，這部分可以是與圖4A所示的那一部分相對(duì)應(yīng)的信息。
待測(cè)試驅(qū)動(dòng)器209是可以將信息記錄在可重寫(xiě)盤上或從可重寫(xiě)盤上再現(xiàn)信息的盤記錄和再現(xiàn)設(shè)備。當(dāng)將C-2盤207裝載到待測(cè)試驅(qū)動(dòng)器209中時(shí)，待測(cè)試驅(qū)動(dòng)器209進(jìn)行包括清除在DMA的PDL中的G2-列表和SDL中的缺陷信息在內(nèi)而沒(méi)有認(rèn)證的重新初始化。
當(dāng)待測(cè)試驅(qū)動(dòng)器209正常地進(jìn)行重新初始化時(shí)，生成或更新C-2′盤211上的DMA以便從C-2盤207上的DMA擦除G2-列表和SDL。C-2′盤211通過(guò)在待測(cè)試驅(qū)動(dòng)器209中對(duì)C-2盤207進(jìn)行重新初始化生成，并被設(shè)計(jì)成滿足相變記錄DVD-RAM的條件，在“可重寫(xiě)盤第2.0版本的DVD規(guī)范”中規(guī)定這種DVD-RAM具有4.7千兆字節(jié)(GB)的容量。將C-2′盤211裝載到基準(zhǔn)驅(qū)動(dòng)器205中，因此，測(cè)試信息按如上所述那樣輸出。
將來(lái)自基準(zhǔn)驅(qū)動(dòng)器205的測(cè)試信息提供給校核器215。在提供測(cè)試信息時(shí)，基準(zhǔn)驅(qū)動(dòng)器205可以直接將測(cè)試信息提供給校核器215。
校核器215利用待測(cè)試驅(qū)動(dòng)器209正常進(jìn)行包括清除G2-列表和SDL在內(nèi)而沒(méi)有認(rèn)證的重新初始化時(shí)所得的關(guān)于DMA的預(yù)期基準(zhǔn)信息(預(yù)期值)，校核C-2′盤DMA鏡像文件213。預(yù)期基準(zhǔn)信息可以由校核器215根據(jù)DMA鏡像文件提供器提供的測(cè)試基準(zhǔn)DMA鏡像文件和包含在預(yù)先提供的C-1盤201中的物理缺陷信息來(lái)設(shè)置?；蛘撸鐖D4A至4D所示，可以預(yù)先準(zhǔn)備好并使用DMA信息表。
圖4A顯示用于DMA校核的校核器215可以包括的校驗(yàn)列表。該列表的校驗(yàn)項(xiàng)包括DMA1至DMA4的錯(cuò)誤狀況、在DDS1至DDS4中和在SDL1至SDL4中的DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器和在SDL1至SDL4中的SDL更新計(jì)數(shù)器、和DMA1至DMA4的內(nèi)容。
DMA的錯(cuò)誤狀況項(xiàng)是關(guān)于校驗(yàn)錯(cuò)誤是否存在于DMA中的，其中的兩個(gè)位于導(dǎo)入?yún)^(qū)中和其中的兩個(gè)位于導(dǎo)出區(qū)中。不可糾正的錯(cuò)誤一定不能存在于DMA1、DMA2、DMA3和DMA4四個(gè)DMA的任何一個(gè)中。如果在DMA的任何一個(gè)中檢測(cè)到任何不可糾正的錯(cuò)誤，則輸出測(cè)試結(jié)果以通知用戶待測(cè)試驅(qū)動(dòng)器209在生成或更新C-2盤207的DMA時(shí)失敗了。當(dāng)DMA的生成和更新以失敗告終時(shí)，用戶需要利用另一個(gè)測(cè)試盤從頭重新開(kāi)始測(cè)試。
為了根據(jù)重新初始化校核DDS/PDL和SDL更新計(jì)數(shù)器，因?yàn)楫?dāng)更新或重寫(xiě)DDS/PDL時(shí)每個(gè)DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器的值都遞增1，所以要校驗(yàn)值“ M+k”以找出值“M”是否是以前的值和值“k”是否是“1”，值“M+k”表示在四個(gè)DDS，即DDS1、DDS2、DDS3和DDS4中和在四個(gè)SDL，即SDL1、SDL2、SDL3和SDL4中DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器的值?！耙郧暗闹怠笔侵复郎y(cè)試驅(qū)動(dòng)器209進(jìn)行包括清除缺陷列表在內(nèi)不進(jìn)行認(rèn)證的重新初始化之前“M”的值。還要校驗(yàn)在四個(gè)DMA，即DMA1、DMA2、DMA3和DMA4中的八個(gè)DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器的值是否相同。
因?yàn)楫?dāng)更新或重寫(xiě)SDL時(shí)每個(gè)SDL更新計(jì)數(shù)器的值都遞增1，所以要校驗(yàn)值“N+k”以找出值“N”是否是以前的值和值“k”是否是“1”，值“N+k”表示在四個(gè)SDL，即SDL1、SDL2、SDL3和SDL4中SDL更新計(jì)數(shù)器的值?！耙郧暗闹怠笔侵复郎y(cè)試驅(qū)動(dòng)器209進(jìn)行清除缺陷列表在內(nèi)不進(jìn)行認(rèn)證的重新初始化之前“N”的值。還要校驗(yàn)四個(gè)SDL更新計(jì)數(shù)器的值是否相同。
另外，還要校驗(yàn)四個(gè)DMA，即DMA1、DMA2、DMA3和DMA4的內(nèi)容是否相同。
圖4B顯示用于DDS校核的校核器215可以包括的校驗(yàn)列表。該列表的校驗(yàn)項(xiàng)包括DDS標(biāo)識(shí)符、盤認(rèn)證標(biāo)志、DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器、組數(shù)、區(qū)數(shù)、主要備用區(qū)的位置、第一邏輯扇區(qū)號(hào)(LSN0)的位置、和關(guān)于每個(gè)區(qū)的開(kāi)始LSN等。
校驗(yàn)DDS標(biāo)識(shí)符是否是“0A0Ah”。校驗(yàn)在盤認(rèn)證標(biāo)志的一個(gè)字節(jié)中的、表示正在進(jìn)行中/沒(méi)有正在進(jìn)行中的位位置b7的值是否是“0b”。如果位位置b7的值是“0b”，那么這表示已經(jīng)完成格式化。如果位位置b7的值是“1b”，那么這表示正在進(jìn)行格式化。因此，當(dāng)位位置b7的值是“1b”時(shí)，校核器215確定格式化已經(jīng)失敗(fail)了。另外，要校驗(yàn)在盤認(rèn)證標(biāo)志中保留的位位置b6至b2是否都是“0b”，和校驗(yàn)表示用戶認(rèn)證標(biāo)志的位位置b1的值是否是“1b”。還要校驗(yàn)表示盤制造商認(rèn)證標(biāo)志的位位置b0的值是否是“1b”。
為了校核相應(yīng)的DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器，校驗(yàn)表示DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器值的值M是否是以前的值，和校驗(yàn)表示代表測(cè)試之前和之后DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器“M”中的差值的DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器增量的值k是否是“1”。還要校驗(yàn)組數(shù)的值是否是表示組數(shù)是1的“0001h”，和區(qū)數(shù)的值是否是表示區(qū)數(shù)是35的“0023h”。
并且，校驗(yàn)在主要備用區(qū)中的第一扇區(qū)號(hào)是否是“031000h”，和校驗(yàn)在主要備用區(qū)中的最后扇區(qū)號(hào)是否是“0341FFh”。校驗(yàn)LSN0的位置和關(guān)于每個(gè)區(qū)開(kāi)始LSN，即第2區(qū)Zone1至第35區(qū)Zone34的開(kāi)始LSN是否是根據(jù)寄存在PDL中的缺陷數(shù)確定的。寄存在PDL中的缺陷涵蓋了C-1盤201上的物理缺陷和寄存在DMA鏡像文件提供器203提供的測(cè)試基準(zhǔn)DMA鏡像文件的PDL中的缺陷。
校驗(yàn)DDS結(jié)構(gòu)中其余保留區(qū)(字節(jié)位置396至2047)是否都是“00h”。
如圖4C所示，用于校核PDL結(jié)構(gòu)的校驗(yàn)項(xiàng)包括PDL標(biāo)識(shí)符、PDL中的入口數(shù)、PDL入口的完整性和未用區(qū)。
校驗(yàn)PDL標(biāo)識(shí)符是否是“0001h”。PDL中的入口數(shù)是C-1盤201上的物理缺陷數(shù)和寄存在DMA鏡像文件提供器203提供的測(cè)試基準(zhǔn)DMA鏡像文件的PDL中的缺陷數(shù)之和。對(duì)于每個(gè)PDL入口的完整性校核，要校驗(yàn)入口的類型和缺陷扇區(qū)號(hào)。校驗(yàn)PDL入口類型是否含有表示存在于C-2盤207上的已知P-列表的“00b”和表示在用戶認(rèn)證期間檢測(cè)的缺陷扇區(qū)的G1-列表的“10b”。校核PDL入口類型不含有表示由于SDL轉(zhuǎn)換生成的G2-列表的“11b”。
按如上所述校驗(yàn)PDL中的入口類型是因?yàn)椋鐖D5所示，C-2′盤211上新PDL530中的P_列表531和G1_列表533保持了C-2盤207上舊PDL510中的P_列表511和G1_列表513，但包含在舊PDL510中的G2_列表515中的缺陷信息被處理掉了。
另外，校驗(yàn)PDL中的缺陷區(qū)號(hào)是否按升序?qū)懭?，和校?yàn)PDL中的未用區(qū)是否被設(shè)置成“FFh”。
如圖4D所示，用于校核SDL結(jié)構(gòu)的校驗(yàn)項(xiàng)包括SDL標(biāo)識(shí)符、SDL更新計(jì)數(shù)器、次要備用區(qū)(SSA)的開(kāi)始扇區(qū)號(hào)、總邏輯扇區(qū)數(shù)、DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器、備用區(qū)填滿標(biāo)志、SDL中的入口數(shù)、SDL入口的完整性、未用區(qū)、和保留區(qū)等。
校驗(yàn)SDL標(biāo)識(shí)符是否是“0002h”。為了校核相應(yīng)SDL更新計(jì)數(shù)器，先校驗(yàn)表示SDL更新計(jì)數(shù)器值的值N是否是以前的值，和校驗(yàn)表示SDL更新計(jì)數(shù)器增量的值k是否是“1”。為了校核相應(yīng)DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器的項(xiàng)，先校驗(yàn)表示DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器值的值M是否是以前的值，和校驗(yàn)表示DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器增量的值k是否是“1”。
校驗(yàn)備用區(qū)填滿標(biāo)志是否表示次要備用區(qū)沒(méi)有填滿，和校驗(yàn)SDL中的入口數(shù)是否被設(shè)置成“00h”,“00h”是通常表示什么也沒(méi)有的值。并且，因?yàn)镾DL的總使用區(qū)是已知的，所以如果SDL中的入口數(shù)得到了校驗(yàn)，那么就可以確定SDL的未用區(qū)的大小。因此，校驗(yàn)C-2′盤DMA鏡像文件213的未用區(qū)的大小是否等于SDL的未用區(qū)的大小，根據(jù)SDL中的入口數(shù)，此SDL的未用區(qū)的大小是已知的，還要校驗(yàn)未用區(qū)是否被設(shè)置成“FFh”。此外，校驗(yàn)所有保留區(qū)的預(yù)期值是否是“00h”。這是因?yàn)楫?dāng)待測(cè)試驅(qū)動(dòng)器209正常進(jìn)行包括清除SDL在內(nèi)不進(jìn)行認(rèn)證的重新初始化時(shí)，寄存在C-2盤207上的舊SDL520中的缺陷信息全部處理掉了，如圖5所示。
校核器215校核通過(guò)將如圖4A至4D所示那樣設(shè)置的基準(zhǔn)信息與包含在C-2′盤DMA鏡像文件213中的信息相比較，校核待測(cè)試驅(qū)動(dòng)器209在進(jìn)行包括清除SDL在內(nèi)而沒(méi)有認(rèn)證的重新初始化期間是否正常生成或更新C-2盤207的DMA。
輸出校核的結(jié)果作為在進(jìn)行包括清除G2-列表和SDL在內(nèi)不進(jìn)行認(rèn)證的重新初始化的模式中測(cè)試待測(cè)試驅(qū)動(dòng)器209的結(jié)果。G2-列表包括在沒(méi)有認(rèn)證的重新初始化期間從SDL轉(zhuǎn)移的信息，而SDL包括在沒(méi)有認(rèn)證的重新初始化期間為SDL生成的缺陷信息?？梢詫⑿：说慕Y(jié)果顯示出來(lái)供用戶觀看。為此，本發(fā)明可以包括顯示單元。因此，可以通知用戶待測(cè)試驅(qū)動(dòng)器209是否從盤中正常讀取DMA信息和在進(jìn)行包括清除G2-列表和SDL沒(méi)有認(rèn)證的重新初始化的模式中生成或更新DMA。
圖6是根據(jù)本發(fā)明的校核方法的流程圖。在步驟601，通過(guò)將具有圖2所述條件的測(cè)試基準(zhǔn)DMA鏡像文件記錄在具有圖2所述條件的空白C-1盤201上生成C-2盤207。
接著，在步驟602，將C-2盤207裝載到待測(cè)試驅(qū)動(dòng)器209中，并在C-2盤207上進(jìn)行重新初始化。在重新初始化期間，缺陷列表被處理掉，和C-2盤207沒(méi)有被充分認(rèn)證。處理掉的缺陷列表是包含在PDL中的G2-列表和SDL。
在步驟603，從C-2′盤211中讀取DMA信息文件，并根據(jù)該DMA信息生成C-2′盤DMA鏡像文件213。在步驟604校核C-2′盤DMA鏡像文件213。校核是以與圖2所述的校核器215所進(jìn)行的相同的方式，利用預(yù)期基準(zhǔn)信息(或預(yù)期值)進(jìn)行的。換句話來(lái)說(shuō)，校核寄存在PDL的G2-列表中的缺陷信息和寄存在PDL的SDL中的缺陷信息是否全部處理掉。在完成校核之后，在步驟605輸出校核的結(jié)果以便用戶能夠以上述的重新初始化模式估計(jì)待測(cè)試驅(qū)動(dòng)器209的DMA生成或更新功能。
圖7顯示了待測(cè)試驅(qū)動(dòng)器110含有發(fā)光的光源22、將來(lái)自光源的光聚焦在盤D上的聚焦部件24、和控制光源22的控制器26。如上所述的校核處理試圖校核控制器26的適當(dāng)操作。
如上所述，本發(fā)明在給定的盤記錄和再現(xiàn)設(shè)備中，對(duì)利用沒(méi)有信息記錄在上面的空白盤和適合于包括所有類型的缺陷信息的測(cè)試環(huán)境的測(cè)試基準(zhǔn)DMA鏡像文件生成的C-2盤，進(jìn)行包括清除諸如G2-列表和SDL之類的缺陷列表沒(méi)有認(rèn)證的重新初始化。此后，對(duì)盤上的DMA加以校核以測(cè)試相應(yīng)的盤記錄和再現(xiàn)設(shè)備，從而使用戶在短的時(shí)間間隔內(nèi)校核盤記錄和再現(xiàn)設(shè)備的DMA生成或更新功能。另外，根據(jù)本發(fā)明，用戶可以利用測(cè)試基準(zhǔn)DMA鏡像文件和空白盤自己生產(chǎn)包括所有類型的缺陷信息的C-2盤，從而不需要制造商生產(chǎn)和提供用于如上所述的測(cè)試的C-2盤，降低了成本。用戶可以利用基準(zhǔn)驅(qū)動(dòng)器205、DMA鏡像文件203、和C-1盤201生產(chǎn)C-2盤。
盡管已經(jīng)對(duì)本發(fā)明的幾個(gè)優(yōu)選實(shí)施例作了圖示和描述，但本領(lǐng)域普通技術(shù)人員應(yīng)該明白，可以對(duì)這些實(shí)施例加以改動(dòng)而不偏離本發(fā)明的原理和精神，本發(fā)明的范圍由所附權(quán)利要求和它們的等效物來(lái)限定。
權(quán)利要求
1．一種校核將信息記錄在帶有DMA信息的盤上或從帶有DMA信息的盤上再現(xiàn)信息的記錄和再現(xiàn)設(shè)備的DMA信息生成和更新功能的方法，該方法包括在利用含有測(cè)試基準(zhǔn)信息的測(cè)試盤的記錄和再現(xiàn)設(shè)備中進(jìn)行包括清除存在于測(cè)試盤上的DMA中的預(yù)定缺陷列表在內(nèi)的重新初始化，并從重新初始化后生成的DMA信息中生成測(cè)試信息；和將從測(cè)試基準(zhǔn)信息中預(yù)期的基準(zhǔn)信息與測(cè)試信息進(jìn)行比較以提供測(cè)試信息的校核結(jié)果。
2．根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中，進(jìn)行重新初始化包括對(duì)測(cè)試盤進(jìn)行沒(méi)有認(rèn)證的重新初始化。
3．根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中，在進(jìn)行重新初始化過(guò)程中的測(cè)試基準(zhǔn)信息是鏡像文件。
4．根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中，在進(jìn)行重新初始化過(guò)程中的測(cè)試基準(zhǔn)信息是使數(shù)個(gè)缺陷包括在主要缺陷列表(PDL)中那樣構(gòu)成的DMA鏡像文件。
5．根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法，其中，進(jìn)行重新初始化包括執(zhí)行具有從測(cè)試盤上的DMA清除預(yù)定缺陷表包括消除G2-列表和次要缺陷列表(SDL)的重新初始化。
6．根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法，其中，測(cè)試信息是鏡像文件。
7．根據(jù)權(quán)利要求6所述的方法，其中，相比較包括校驗(yàn)G2-列表和SDL是否存在于測(cè)試信息中。
8．根據(jù)權(quán)利要求7所述的方法，其中，相比較包括檢驗(yàn)在測(cè)試信息中是否保持包括在測(cè)試基準(zhǔn)信息中的P-列表和G1-列表。
9．根據(jù)權(quán)利要求6所述的方法，其中，相比較包括校核測(cè)試信息中DMA的結(jié)構(gòu)；校核測(cè)試信息的盤定義結(jié)構(gòu)(DDS)；校核測(cè)試信息的主要缺陷列表(PDL)；和校核測(cè)試信息的次要缺陷列表(SDL)。
10．根據(jù)權(quán)利要求9所述的方法，其中，校核DMA結(jié)構(gòu)包括校驗(yàn)DMA錯(cuò)誤狀況、DDS/PDL和SDL更新計(jì)數(shù)器和DMA的內(nèi)容。
11．根據(jù)權(quán)利要求10所述的方法，其中校驗(yàn)DMA的錯(cuò)誤狀況包括校驗(yàn)錯(cuò)誤是否存在于四個(gè)DMA的任何一個(gè)中，這四個(gè)DMA是寫(xiě)入測(cè)試盤上的四個(gè)位置中的DMA，其中的兩個(gè)位于測(cè)試盤上的導(dǎo)入?yún)^(qū)中和其中的兩個(gè)位于測(cè)試盤上的導(dǎo)出區(qū)中；校驗(yàn)DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器包括校驗(yàn)在四個(gè)DDS中和在四個(gè)SDL中的DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器的值是否是“以前的值”，校驗(yàn)代表進(jìn)行包括清除存在于測(cè)試盤上的DMA中的預(yù)定缺陷列表在內(nèi)的重新初始化之前和之后在DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器中的差值的DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器增量是否是“1”，和校驗(yàn)DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器的值是否相同；校驗(yàn)SDL更新計(jì)數(shù)器包括校驗(yàn)在四個(gè)SDL中的SDL更新計(jì)數(shù)器的值是否是“以前的值”，校驗(yàn)代表進(jìn)行包括清除存在于測(cè)試盤上的DMA中的預(yù)定缺陷列表在內(nèi)的重新初始化之前和之后在SDL更新計(jì)數(shù)器中的差值的SDL更新計(jì)數(shù)器增量是否是“1”，和校驗(yàn)SDL更新計(jì)數(shù)器的值是否相同；和校驗(yàn)DMA的內(nèi)容包括校驗(yàn)四個(gè)DMA的內(nèi)容是否相同。
12．根據(jù)權(quán)利要求9所述的方法，其中，校驗(yàn)DDS包括校驗(yàn)DDS標(biāo)識(shí)符、盤認(rèn)證標(biāo)志、DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器、組數(shù)、區(qū)數(shù)、主要備用區(qū)的位置、第一邏輯扇區(qū)號(hào)的位置、和關(guān)于每個(gè)區(qū)的開(kāi)始邏輯扇區(qū)號(hào)。
13．根據(jù)權(quán)利要求12所述的方法，其中校驗(yàn)DDS標(biāo)識(shí)符包括校驗(yàn)DDS標(biāo)識(shí)符是否是預(yù)定值；校驗(yàn)盤認(rèn)證標(biāo)志包括校驗(yàn)在盤認(rèn)證標(biāo)志中表示正在進(jìn)行中的位的值是否是“0b”，和校驗(yàn)表示盤制造商認(rèn)證的位的值和表示用戶認(rèn)證的位的值是否是“1b”；校驗(yàn)DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器包括校驗(yàn)DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器值是否是“以前的值”，和校驗(yàn)代表進(jìn)行包括清除存在于測(cè)試盤上的DMA中的預(yù)定缺陷列表在內(nèi)的重新初始化之前和之后在DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器中的差值的DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器增量是否是“1”；校驗(yàn)組數(shù)包括校驗(yàn)組數(shù)是否是預(yù)定數(shù)；校驗(yàn)區(qū)數(shù)包括校驗(yàn)區(qū)數(shù)是否是預(yù)定數(shù)；校驗(yàn)第一邏輯扇區(qū)號(hào)包括校驗(yàn)主要備用區(qū)的第一和最后扇區(qū)號(hào)是否分別是預(yù)定扇區(qū)號(hào)；校驗(yàn)第一邏輯扇區(qū)號(hào)包括校驗(yàn)第一邏輯扇區(qū)號(hào)的位置是否是根據(jù)寄存在PDL中的缺陷數(shù)確定的；和校驗(yàn)開(kāi)始邏輯扇區(qū)號(hào)包括校驗(yàn)關(guān)于每個(gè)區(qū)的開(kāi)始邏輯扇區(qū)號(hào)是否是根據(jù)寄存在PDL中的缺陷數(shù)確定的。
14．根據(jù)權(quán)利要求9所述的方法，其中，校驗(yàn)PDL結(jié)構(gòu)包括校驗(yàn)PDL標(biāo)識(shí)符、PDL中入口數(shù)、和PDL入口的完整性。
15．根據(jù)權(quán)利要求14所述的方法，其中校驗(yàn)PDL標(biāo)識(shí)符包括校驗(yàn)PDL標(biāo)識(shí)符是否是預(yù)定值；校驗(yàn)入口數(shù)包括校驗(yàn)PDL中的入口數(shù)是否與寄存在PDL中的缺陷數(shù)相同；和校驗(yàn)PDL入口的完整性包括校驗(yàn)PDL入口的完整性是否包括P-列表和G1-列表而不包括G2-列表。
16．根據(jù)權(quán)利要求9所述的方法，其中校驗(yàn)SDL結(jié)構(gòu)包括校驗(yàn)SDL標(biāo)識(shí)符、SDL更新計(jì)數(shù)器、次要備用區(qū)(SSA)的開(kāi)始扇區(qū)號(hào)、總邏輯扇區(qū)數(shù)、DDL/PDL更新計(jì)數(shù)器、備用區(qū)填滿標(biāo)志、SDL中的入口數(shù)、SDL入口的完整性、未用區(qū)、和保留區(qū)。
17．根據(jù)權(quán)利要求16所述的方法，其中校驗(yàn)SDL標(biāo)識(shí)符包括校驗(yàn)SDL標(biāo)識(shí)符是否是預(yù)定值；校驗(yàn)SDL更新計(jì)數(shù)器包括校驗(yàn)SDL更新計(jì)數(shù)器值是否是“以前的值”，和校驗(yàn)代表進(jìn)行包括清除存在于測(cè)試盤上的DMA中的預(yù)定缺陷列表在內(nèi)的重新初始化之前和之后在SDL更新計(jì)數(shù)器中的差值的SDL更新計(jì)數(shù)器增量是否是“1”；校驗(yàn)DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器包括校驗(yàn)DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器值是否是“以前的值”，和校驗(yàn)代表進(jìn)行包括清除存在于測(cè)試盤上的DMA中的預(yù)定缺陷列表在內(nèi)的重新初始化之前和之后在DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器中的差值的DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器增量是否是“1”；校驗(yàn)SSA中的開(kāi)始扇區(qū)號(hào)和總邏輯扇區(qū)數(shù)包括校驗(yàn)SSA的開(kāi)始扇區(qū)號(hào)和總邏輯扇區(qū)數(shù)是否是根據(jù)由用戶指定的SSA的大小適當(dāng)設(shè)置的；校驗(yàn)備用區(qū)填滿標(biāo)志、SDL中的入口數(shù)、和SDL入口的完整性包括校驗(yàn)備用區(qū)填滿標(biāo)志是否表示SSA不是填滿的，SDL中的入口數(shù)是否被設(shè)置成表示沒(méi)有入口存在的“00h”，和在SDL入口上是否沒(méi)有信息存在；和校驗(yàn)未用區(qū)和保留區(qū)包括校驗(yàn)SDL的未用區(qū)的大小和未用區(qū)是否是預(yù)定值，和保留區(qū)是否是預(yù)定值。
18．根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中，測(cè)試盤包括關(guān)于滿足進(jìn)行重新初始化時(shí)容易發(fā)生錯(cuò)誤的條件的位置的缺陷信息。
19．根據(jù)權(quán)利要求18所述的方法，其中，測(cè)試盤是使每個(gè)區(qū)的第一和最后扇區(qū)被作為有錯(cuò)誤扇區(qū)對(duì)待和在每個(gè)區(qū)中的總可用扇區(qū)數(shù)不是16的倍數(shù)那樣構(gòu)成的。
20．根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，進(jìn)一步包括將測(cè)試基準(zhǔn)信息記錄在空白盤上以生成測(cè)試盤。
21．根據(jù)權(quán)利要求20所述的方法，其中，測(cè)試基準(zhǔn)信息與空白盤的物理?xiàng)l件無(wú)關(guān)地記錄在空白盤上。
22．一種測(cè)試將信息記錄在帶有DMA信息的盤上或從帶有DMA信息的盤上再現(xiàn)信息的記錄和再現(xiàn)設(shè)備的DMA信息生成和更新功能的設(shè)備，該設(shè)備包括基準(zhǔn)驅(qū)動(dòng)器，從在記錄和再現(xiàn)設(shè)備進(jìn)行包括清除存在于測(cè)試盤上的DMA中的預(yù)定缺陷列表在內(nèi)的重新初始化之后，含有測(cè)試基準(zhǔn)信息和物理缺陷的測(cè)試盤的DMA中生成測(cè)試信息；和校核器，將從測(cè)試基準(zhǔn)信息中預(yù)期的基準(zhǔn)信息與測(cè)試信息進(jìn)行比較以提供校核測(cè)試信息的結(jié)果。
23．根據(jù)權(quán)利要求22所述的設(shè)備，其中，基準(zhǔn)驅(qū)動(dòng)器從對(duì)其進(jìn)行沒(méi)有認(rèn)證的重新初始化的測(cè)試盤中生成測(cè)試信息。
24．根據(jù)權(quán)利要求22所述的設(shè)備，其中，測(cè)試基準(zhǔn)信息是鏡像文件。
25．根據(jù)權(quán)利要求22所述的設(shè)備，其中，測(cè)試基準(zhǔn)信息是包括數(shù)種類型缺陷列表的DMA鏡像文件。
26．根據(jù)權(quán)利要求25所述的設(shè)備，其中，記錄和再現(xiàn)設(shè)備進(jìn)行包括清除預(yù)定缺陷列表在內(nèi)的重新初始化，由記錄和再現(xiàn)設(shè)備清除的預(yù)定缺陷列表包括G2-列表和次要缺陷列表(SDL)。
27．根據(jù)權(quán)利要求26所述的設(shè)備，其中，測(cè)試信息是鏡像文件。
28．根據(jù)權(quán)利要求27所述的設(shè)備，其中，校核器校驗(yàn)G2-列表和SDL是否存在于測(cè)試信息中。
29．根據(jù)權(quán)利要求28所述的設(shè)備，其中，校核器校驗(yàn)在測(cè)試信息中是否保持包括在測(cè)試基準(zhǔn)信息中的P-列表和G1-列表。
30．根據(jù)權(quán)利要求27所述的設(shè)備，其中，校核器校核均在測(cè)試信息中的DMA結(jié)構(gòu)、盤定義結(jié)構(gòu)(DDS)、主要缺陷列表(PDL)結(jié)構(gòu)和次要缺陷列表(SDL)結(jié)構(gòu)。
31．根據(jù)權(quán)利要求30所述的設(shè)備，其中，校核器通過(guò)校驗(yàn)DMA錯(cuò)誤狀況、DDS/PDL和SDL更新計(jì)數(shù)器和DMA的內(nèi)容校核DMA結(jié)構(gòu)。
32．根據(jù)權(quán)利要求31所述的設(shè)備，其中，校核器校驗(yàn)錯(cuò)誤是否存在于四個(gè)DMA的任何一個(gè)中，這四個(gè)DMA是寫(xiě)入測(cè)試盤上的四個(gè)位置中的DMA，其中的兩個(gè)位于測(cè)試盤上的導(dǎo)入?yún)^(qū)中和其中的兩個(gè)位于測(cè)試盤上的導(dǎo)出區(qū)中，在四個(gè)DDS中和在四個(gè)SDL中的DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器的值是否是“以前的值”，代表進(jìn)行包括清除存在于測(cè)試盤上的DMA中的預(yù)定缺陷列表在內(nèi)的重新初始化之前和之后在DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器中的差值的DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器增量是否是“1”,DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器的值是否相同，在四個(gè)SDL中的SDL更新計(jì)數(shù)器的值是否是“以前的值”，代表進(jìn)行包括清除存在于測(cè)試盤上的DMA中的預(yù)定缺陷列表在內(nèi)的重新初始化之前和之后在SDL更新計(jì)數(shù)器中的差值的SDL更新計(jì)數(shù)器增量是否是“1”,SDL更新計(jì)數(shù)器的值是否相同，和四個(gè)DMA的內(nèi)容是否相同。
33．根據(jù)權(quán)利要求30所述的設(shè)備，其中，校核器通過(guò)校驗(yàn)DDS標(biāo)識(shí)符、盤認(rèn)證標(biāo)志、DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器、組數(shù)、區(qū)數(shù)、主要備用區(qū)的位置、第一邏輯扇區(qū)號(hào)的位置、和關(guān)于每個(gè)區(qū)的開(kāi)始邏輯扇區(qū)號(hào)校核DDS。
34．根據(jù)權(quán)利要求33所述的設(shè)備，其中，校核器校驗(yàn)DDS標(biāo)識(shí)符是否是預(yù)定值，校驗(yàn)在盤認(rèn)證標(biāo)志中表示正在進(jìn)行中的位的值是否是“0b”，表示盤制造商認(rèn)證的位的值和表示用戶認(rèn)證的位的值是否是“1b”,DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器值是否是“以前的值”和代表進(jìn)行包括清除存在于測(cè)試盤上的DMA中的預(yù)定缺陷列表在內(nèi)的重新初始化之前和之后在DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器中的差值的DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器增量是否是“1”，校驗(yàn)組數(shù)、區(qū)數(shù)、和主要備用區(qū)的第一和最后扇區(qū)號(hào)，和校驗(yàn)第一邏輯扇區(qū)號(hào)的位置是否是根據(jù)寄存在PDL中的缺陷數(shù)確定的和校驗(yàn)關(guān)于每個(gè)區(qū)的開(kāi)始邏輯扇區(qū)號(hào)是否是根據(jù)寄存在PDL中的缺陷數(shù)確定的。
35．根據(jù)權(quán)利要求30所述的設(shè)備，其中，校核器通過(guò)校驗(yàn)PDL標(biāo)識(shí)符、PDL中入口數(shù)、和PDL入口的完整性校驗(yàn)PDL結(jié)構(gòu)。
36．根據(jù)權(quán)利要求35所述的設(shè)備，其中，校核器校驗(yàn)PDL標(biāo)識(shí)符和校驗(yàn)PDL中的入口數(shù)是否與寄存在PDL中的缺陷數(shù)相同和校驗(yàn)PDL入口的完整性是否包括P-列表和G1-列表而不包括G2-列表。
37．根據(jù)權(quán)利要求30所述的設(shè)備，其中，校核器通過(guò)校驗(yàn)SDL標(biāo)識(shí)符、SDL更新計(jì)數(shù)器、次要備用區(qū)(SSA)的開(kāi)始扇區(qū)號(hào)、總邏輯扇區(qū)數(shù)、DDL/PDL更新計(jì)數(shù)器、備用區(qū)填滿標(biāo)志、SDL中的入口數(shù)、SDL入口的完整性、未用區(qū)、和保留區(qū)校驗(yàn)SDL結(jié)構(gòu)。
38．根據(jù)權(quán)利要求37所述的設(shè)備，其中，校核器校驗(yàn)SDL標(biāo)識(shí)符和校驗(yàn)SDL更新計(jì)數(shù)器值是否是“以前的值”，SDL更新計(jì)數(shù)器的增量是否是“1”，DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器值是否是“以前的值”，代表進(jìn)行包括清除存在于測(cè)試盤上的DMA中的預(yù)定缺陷列表在內(nèi)的重新初始化之前和之后在DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器中的差值的DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器增量是否是“1”,SSA的開(kāi)始扇區(qū)號(hào)和總邏輯扇區(qū)數(shù)是否是根據(jù)由用戶指定的SSA的大小適當(dāng)設(shè)置的，備用區(qū)填滿標(biāo)志是否表示SSA不是填滿的，SDL中的入口數(shù)是否被設(shè)置成表示沒(méi)有入口存在的“00h”，在SDL入口上是否沒(méi)有信息存在，SDL的未用區(qū)的大小和未用區(qū)是否是預(yù)定值，和保留區(qū)是否是預(yù)定值。
39．根據(jù)權(quán)利要求22所述的設(shè)備，其中，測(cè)試盤包括關(guān)于滿足進(jìn)行重新初始化時(shí)容易發(fā)生錯(cuò)誤的條件的位置的缺陷信息。
40．根據(jù)權(quán)利要求22所述的設(shè)備，其中，基準(zhǔn)驅(qū)動(dòng)器將測(cè)試基準(zhǔn)信息記錄在空白盤上以生成測(cè)試盤。
41．根據(jù)權(quán)利要求40所述的設(shè)備，其中，基準(zhǔn)驅(qū)動(dòng)器將測(cè)試基準(zhǔn)信息與空白盤的物理?xiàng)l件無(wú)關(guān)地記錄在空白盤上。
42．一種校核在將信息記錄在帶有DMA信息的光盤上或從帶有DMA信息的光盤上再現(xiàn)信息的記錄和再現(xiàn)設(shè)備中是否適當(dāng)?shù)厣珊透氯毕莨芾韰^(qū)(DMA)信息的方法，該方法包括根據(jù)包括清除存在于測(cè)試盤上的缺陷列表在內(nèi)的重新初始化設(shè)置測(cè)試基準(zhǔn)根據(jù)包括清除存在于測(cè)試盤上的缺陷列表在內(nèi)的重新初始化，從由記錄和再現(xiàn)設(shè)備生成或更新的DMA信息生成測(cè)試信息；和執(zhí)行利用測(cè)試基準(zhǔn)校核測(cè)試信息的測(cè)試。
43．根據(jù)權(quán)利要求42所述的方法，其中，測(cè)試信息是DMA鏡像文件。
44．根據(jù)權(quán)利要求42所述的方法，其中，測(cè)試信息是直接從測(cè)試盤上的DMA區(qū)中讀取的。
45．根據(jù)權(quán)利要求42所述的方法，其中，生成測(cè)試信息包括記錄DMA的預(yù)定內(nèi)容和選擇其中輔助備用區(qū)沒(méi)有填滿的DMA鏡像文件。
46．根據(jù)權(quán)利要求45所述的方法，進(jìn)一步包括通過(guò)在空白盤上制作已知物理缺陷獲得第一測(cè)試盤；和通過(guò)在第一測(cè)試盤中記錄DMA的預(yù)定內(nèi)容，和在第一測(cè)試盤中記錄表示輔助備用區(qū)沒(méi)有填滿的DMA鏡像文件獲得第二測(cè)試盤，和在生成測(cè)試信息的過(guò)程中使用第二測(cè)試盤。
47．根據(jù)權(quán)利要求46所述的方法，其中執(zhí)行測(cè)試包括進(jìn)行帶有清除缺陷列表的重新初始化，校驗(yàn)第二測(cè)試盤的DMA信息是否遵從預(yù)定的DMA結(jié)構(gòu)，校驗(yàn)是否保持P-列表和G1-列表，校驗(yàn)是否清除了G2-列表和次要缺陷列表(SDL)，和校驗(yàn)第二測(cè)試盤的每個(gè)區(qū)的開(kāi)始邏輯扇區(qū)號(hào)。
48．一種校核在將信息記錄在帶有DMA信息的光盤上或從帶有DMA信息的光盤上再現(xiàn)信息的記錄和再現(xiàn)設(shè)備中是否適當(dāng)?shù)厣珊透氯毕莨芾韰^(qū)(DMA)信息的方法，該方法包括根據(jù)包括清除存在于測(cè)試盤上的缺陷列表在內(nèi)的重新初始化的測(cè)試模式，從由記錄和再現(xiàn)設(shè)備生成或更新的DMA信息生成測(cè)試信息；和利用用于校核DMA信息的測(cè)試基準(zhǔn)校核測(cè)試信息。
49．根據(jù)權(quán)利要求42所述的方法，其中，測(cè)試信息是DMA鏡像文件。
50．一種測(cè)試將信息記錄在帶有缺陷管理區(qū)(DMA)信息可記錄和可再現(xiàn)光盤上或從該光盤上再現(xiàn)信息的記錄和再現(xiàn)設(shè)備以校驗(yàn)是否適當(dāng)?shù)厣珊透氯毕莨芾韰^(qū)(DMA)信息的設(shè)備，該設(shè)備包括修改的驅(qū)動(dòng)器單元，從記錄和再現(xiàn)設(shè)備進(jìn)行與包括清除存在于測(cè)試盤上的缺陷列表在內(nèi)的重新初始化相對(duì)應(yīng)的、包括清除存在于含有DMA鏡像文件的測(cè)試盤上的缺陷列表在內(nèi)的重新初始化之后獲得的測(cè)試盤的生成或更新的DMA信息中生成測(cè)試信息；和校核器，將測(cè)試信息與對(duì)應(yīng)于包括清除存在于測(cè)試盤上的缺陷列表在內(nèi)的重新初始化的預(yù)定測(cè)試信息相比較以校核測(cè)試結(jié)果。
51．根據(jù)權(quán)利要求50所述的設(shè)備，其中，測(cè)試信息是DMA鏡像文件。
52．根據(jù)權(quán)利要求50所述的設(shè)備，其中，修改的驅(qū)動(dòng)器單元從測(cè)試盤上的DMA區(qū)讀取測(cè)試信息并將測(cè)試信息提供給校核器。
53．根據(jù)權(quán)利要求52所述的設(shè)備，其中，測(cè)試盤是將DMA的預(yù)定內(nèi)容記錄在在空白盤上形成已知物理缺陷和輔助備用區(qū)沒(méi)有填滿的DMA鏡像文件記錄在上面的第一測(cè)試盤中獲得的第二測(cè)試盤。
54．根據(jù)權(quán)利要求53所述的設(shè)備，其中，記錄和再現(xiàn)設(shè)備進(jìn)行包括清除存在于測(cè)試盤上的缺陷列表在內(nèi)的重新初始化，和校核器校驗(yàn)第二測(cè)試盤的DMA信息是否遵從預(yù)定的DMA結(jié)構(gòu)，校驗(yàn)是否保持P-列表和G1-列表，校驗(yàn)是否清除了G2-列表和次要缺陷列表(SDL)，和校驗(yàn)第二測(cè)試盤的每個(gè)區(qū)的開(kāi)始邏輯扇區(qū)號(hào)。
55．一種校核記錄和再現(xiàn)設(shè)備是否適當(dāng)?shù)刈x取和處理缺陷管理區(qū)(DMA)信息的方法，該方法包括利用記錄和再現(xiàn)設(shè)備進(jìn)行包括清除存在于包含預(yù)定缺陷信息的測(cè)試盤上的缺陷列表在內(nèi)的重新初始化以生成測(cè)試信息；和將測(cè)試信息與基準(zhǔn)測(cè)試信息相比較以確定記錄和再現(xiàn)設(shè)備的校核。
56．根據(jù)權(quán)利要求55所述的方法，進(jìn)一步包括在空白盤中的預(yù)定位置上制作已知物理缺陷，以產(chǎn)生第一測(cè)試盤；通過(guò)將DMA的預(yù)定內(nèi)容記錄在第一測(cè)試盤中，和將表示輔助備用區(qū)沒(méi)有填滿的鏡像文件記錄在第一測(cè)試盤中獲得第二測(cè)試盤；讓記錄和再現(xiàn)設(shè)備進(jìn)行包括清除存在于第二測(cè)試盤上的缺陷列表在內(nèi)的重新初始化，以生成帶有DMA信息的第二測(cè)試盤；和利用基準(zhǔn)驅(qū)動(dòng)器從帶有DMA信息的第二測(cè)試盤中只讀取DMA信息，產(chǎn)生測(cè)試DMA鏡像文件作為測(cè)試信息；其中，基準(zhǔn)測(cè)試信息是基準(zhǔn)DMA鏡像文件。
57．根據(jù)權(quán)利要求56所述的方法，其中，相比較包括校驗(yàn)第二測(cè)試盤的DMA信息是否遵從預(yù)定的DMA結(jié)構(gòu)，校驗(yàn)是否保持P-列表和G1-列表，校驗(yàn)是否清除了G2-列表和次要缺陷列表(SDL)，和校驗(yàn)第二測(cè)試盤的每個(gè)區(qū)的開(kāi)始邏輯扇區(qū)號(hào)。
58．一種校核記錄和再現(xiàn)設(shè)備是否適當(dāng)?shù)亟庾g和處理缺陷信息的方法，該方法包括準(zhǔn)備含有已知物理缺陷和測(cè)試基準(zhǔn)DMA鏡像文件的測(cè)試盤；根據(jù)讓記錄和再現(xiàn)設(shè)備進(jìn)行包括清除存在于測(cè)試盤上的缺陷列表在內(nèi)的重新初始化生成測(cè)試信息；和根據(jù)測(cè)試信息實(shí)施校核測(cè)試。
59．根據(jù)權(quán)利要求58所述的方法，其中，測(cè)試基準(zhǔn)DMA鏡像文件包括關(guān)于集中在第一邏輯扇區(qū)應(yīng)該在的位置處的物理扇區(qū)附近的缺陷的信息。
60．根據(jù)權(quán)利要求59所述的方法，其中，測(cè)試基準(zhǔn)DMA鏡像文件包括被作為有錯(cuò)誤扇區(qū)對(duì)待的每個(gè)區(qū)的第一和最后扇區(qū)，和有缺陷扇區(qū)是使每個(gè)區(qū)中可用扇區(qū)總數(shù)不是16的倍數(shù)那樣設(shè)置的。
61．一種校核記錄和再現(xiàn)設(shè)備是否適當(dāng)?shù)刈x取和處理缺陷管理區(qū)(DMA)信息的方法，該方法包括利用記錄和再現(xiàn)設(shè)備進(jìn)行包括清除存在于含有已知物理缺陷和測(cè)試基準(zhǔn)DMA鏡像文件的測(cè)試盤上的缺陷列表在內(nèi)的重新初始化以生成DMA信息；從生成的DMA信息中生成測(cè)試信息；和將測(cè)試信息與基準(zhǔn)測(cè)試信息相比較以確定記錄和再現(xiàn)設(shè)備的校核。
62．根據(jù)權(quán)利要求61所述的方法，其中，測(cè)試基準(zhǔn)DMA鏡像文件包括關(guān)于集中在第一邏輯扇區(qū)應(yīng)該在的位置處的物理扇區(qū)附近的缺陷的信息。
63．根據(jù)權(quán)利要求62所述的方法，其中，測(cè)試基準(zhǔn)DMA鏡像文件包括被作為有錯(cuò)誤扇區(qū)對(duì)待的每個(gè)區(qū)的第一和最后扇區(qū)，和有缺陷扇區(qū)是使每個(gè)區(qū)中可用扇區(qū)總數(shù)不是16的倍數(shù)那樣設(shè)置的。
64．根據(jù)權(quán)利要求59所述的方法，其中，相比較包括校驗(yàn)構(gòu)成測(cè)試信息的DMA的結(jié)構(gòu)、DMA的盤定義結(jié)構(gòu)(DDS)、DMA主要缺陷列表(PDL)結(jié)構(gòu)和次要缺陷列表(SDL)結(jié)構(gòu)。
65．由記錄和再現(xiàn)設(shè)備利用下列過(guò)程適當(dāng)生成的DMA信息利用記錄和再現(xiàn)設(shè)備進(jìn)行包括清除存在于含有已知物理缺陷和測(cè)試基準(zhǔn)DMA鏡像文件的測(cè)試盤上的缺陷列表在內(nèi)的重新初始化以生成DMA信息；從生成的DMA信息中生成測(cè)試信息；和將測(cè)試信息與基準(zhǔn)測(cè)試信息相比較以確定記錄和再現(xiàn)設(shè)備的校核。
66．根據(jù)權(quán)利要求65所述的DMA信息，其中，測(cè)試基準(zhǔn)DMA鏡像文件包括關(guān)于集中在第一邏輯扇區(qū)應(yīng)該在的位置處的物理扇區(qū)附近的缺陷的信息。
67．根據(jù)權(quán)利要求66所述的DMA信息，其中，測(cè)試基準(zhǔn)DMA鏡像文件包括被作為有錯(cuò)誤扇區(qū)對(duì)待的每個(gè)區(qū)的第一和最后扇區(qū)，和有缺陷扇區(qū)是使每個(gè)區(qū)中可用扇區(qū)總數(shù)不是16的倍數(shù)那樣設(shè)置的。
68．根據(jù)權(quán)利要求65所述的DMA信息，其中，相比較包括校驗(yàn)構(gòu)成測(cè)試信息的DMA的結(jié)構(gòu)、DMA的盤定義結(jié)構(gòu)(DDS)、DMA主要缺陷列表(PDL)結(jié)構(gòu)和次要缺陷列表(SDL)結(jié)構(gòu)。
69．一種根據(jù)下列過(guò)程校核的記錄和再現(xiàn)設(shè)備利用該記錄和再現(xiàn)設(shè)備進(jìn)行包括清除存在于含有已知物理缺陷和測(cè)試基準(zhǔn)DMA鏡像文件的測(cè)試盤上的缺陷列表在內(nèi)的重新初始化以生成DMA信息；從生成的DMA信息中生成測(cè)試信息；和將測(cè)試信息與基準(zhǔn)測(cè)試信息相比較以確定記錄和再現(xiàn)設(shè)備的校核。
70．根據(jù)權(quán)利要求69所述的記錄和再現(xiàn)設(shè)備，其中，測(cè)試基準(zhǔn)DMA鏡像文件包括關(guān)于集中在第一邏輯扇區(qū)應(yīng)該在的位置處的物理扇區(qū)附近的缺陷的信息。
71．根據(jù)權(quán)利要求70所述的記錄和再現(xiàn)設(shè)備，其中，測(cè)試基準(zhǔn)DMA鏡像文件包括被作為有錯(cuò)誤扇區(qū)對(duì)待的每個(gè)區(qū)的第一和最后扇區(qū)，和有缺陷扇區(qū)是使每個(gè)區(qū)中可用扇區(qū)總數(shù)不是16的倍數(shù)那樣設(shè)置的。
72．根據(jù)權(quán)利要求69所述的記錄和再現(xiàn)設(shè)備，其中，相比較包括校驗(yàn)構(gòu)成測(cè)試信息的DMA的結(jié)構(gòu)、DMA的盤定義結(jié)構(gòu)(DDS)、DMA主要缺陷列表(PDL)結(jié)構(gòu)和次要缺陷列表(SDL)結(jié)構(gòu)。
73．一種根據(jù)下列過(guò)程校核的記錄和再現(xiàn)設(shè)備利用該記錄和再現(xiàn)設(shè)備進(jìn)行包括清除存在于含有已知物理缺陷和測(cè)試基準(zhǔn)DMA鏡像文件的測(cè)試盤上的缺陷列表在內(nèi)的重新初始化以生成DMA信息；和將測(cè)試信息與基準(zhǔn)測(cè)試信息相比較以確定記錄和再現(xiàn)設(shè)備的校核。
74．根據(jù)權(quán)利要求73所述的記錄和再現(xiàn)設(shè)備，其中，測(cè)試基準(zhǔn)DMA鏡像文件包括關(guān)于集中在第一邏輯扇區(qū)應(yīng)該在的位置處的物理扇區(qū)附近的缺陷的信息。
75．根據(jù)權(quán)利要求74所述的記錄和再現(xiàn)設(shè)備，其中，測(cè)試基準(zhǔn)DMA鏡像文件包括被作為有錯(cuò)誤扇區(qū)對(duì)待的每個(gè)區(qū)的第一和最后扇區(qū)，和有缺陷扇區(qū)是使每個(gè)區(qū)中可用扇區(qū)總數(shù)不是16的倍數(shù)那樣設(shè)置的。
76．根據(jù)權(quán)利要求73所述的記錄和再現(xiàn)設(shè)備，其中，相比較包括校驗(yàn)構(gòu)成測(cè)試信息的DMA的結(jié)構(gòu)、DMA的盤定義結(jié)構(gòu)(DDS)、DMA主要缺陷列表(PDL)結(jié)構(gòu)和次要缺陷列表(SDL)結(jié)構(gòu)。
77．一種測(cè)試將信息記錄在帶有缺陷管理區(qū)信息的可記錄可再現(xiàn)光盤上或從帶有缺陷管理區(qū)信息的可記錄可再現(xiàn)光盤上再現(xiàn)信息的記錄和再現(xiàn)設(shè)備以校驗(yàn)是否適當(dāng)?shù)厣蒁MA信息的設(shè)備，該設(shè)備包括修改的驅(qū)動(dòng)器，根據(jù)由再現(xiàn)裝置利用記錄和再現(xiàn)設(shè)備進(jìn)行包括清除存在于含有已知物理缺陷和測(cè)試基準(zhǔn)DMA鏡像文件的測(cè)試盤上的缺陷列表在內(nèi)的重新初始化以生成DMA信息生成的測(cè)試盤的DMA信息，生成測(cè)試信息；和校核器，將測(cè)試信息與基準(zhǔn)測(cè)試信息相比較以確定記錄和再現(xiàn)設(shè)備的校核。
78．根據(jù)權(quán)利要求77所述的設(shè)備，其中，修改的驅(qū)動(dòng)器從帶有DMA信息的測(cè)試盤中只讀取DMA信息，生成DMA鏡像文件作為測(cè)試信息；其中，基準(zhǔn)測(cè)試信息是基準(zhǔn)DMA鏡像文件。
79．根據(jù)權(quán)利要求77所述的設(shè)備，其中，修改的驅(qū)動(dòng)器通過(guò)將DMA的預(yù)定內(nèi)容記錄在含有已知物理缺陷的第一測(cè)試盤上，和將表示輔助備用區(qū)沒(méi)有填滿的測(cè)試基準(zhǔn)DMA鏡像文件記錄在該第一測(cè)試盤中生成第二測(cè)試盤；記錄和再現(xiàn)設(shè)備進(jìn)行包括清除存在于第二測(cè)試盤上的缺陷列表在內(nèi)的重新初始化，生成帶有DMA信息的第二測(cè)試盤；和修改的驅(qū)動(dòng)器從帶有DMA信息的第二測(cè)試盤中只讀取DMA信息，生成測(cè)試DMA鏡像文件作為測(cè)試信息；其中，基準(zhǔn)測(cè)試信息是基準(zhǔn)DMA鏡像文件。
80．根據(jù)權(quán)利要求79所述的設(shè)備，其中，記錄和再現(xiàn)設(shè)備進(jìn)行包括清除存在于第二測(cè)試盤上的缺陷列表在內(nèi)的重新初始化，和校核器校驗(yàn)第二測(cè)試盤的DMA信息是否遵從預(yù)定的DMA結(jié)構(gòu)，校驗(yàn)是否保持P-列表和G1-列表，校驗(yàn)是否清除了G2-列表和次要缺陷列表(SDL)，和校驗(yàn)第二測(cè)試盤的每個(gè)區(qū)的開(kāi)始邏輯扇區(qū)號(hào)。
81．根據(jù)權(quán)利要求77所述的設(shè)備，其中，校核器通過(guò)校驗(yàn)構(gòu)成測(cè)試信息的DMA的結(jié)構(gòu)、DMA的盤定義結(jié)構(gòu)(DDS)、DMA主要缺陷列表(PDL)結(jié)構(gòu)和次要缺陷列表(SDL)結(jié)構(gòu)比較測(cè)試信息和基準(zhǔn)測(cè)試信息。
82．根據(jù)權(quán)利要求77所述的設(shè)備，其中，測(cè)試基準(zhǔn)DMA鏡像文件包括關(guān)于集中在第一邏輯扇區(qū)應(yīng)該在的位置處的物理扇區(qū)附近的缺陷的信息。
83．根據(jù)權(quán)利要求82所述的設(shè)備，其中，測(cè)試基準(zhǔn)DMA鏡像文件包括被作為有錯(cuò)誤扇區(qū)對(duì)待的每個(gè)區(qū)的第一和最后扇區(qū)，和有缺陷扇區(qū)是使每個(gè)區(qū)中可用扇區(qū)總數(shù)不是16的倍數(shù)那樣設(shè)置的。
84．根據(jù)權(quán)利要求50所述的設(shè)備，進(jìn)一步包括DMA鏡像文件提供器，用于將基準(zhǔn)文件提供給校核器使其比較測(cè)試信息和基準(zhǔn)測(cè)試信息。
85．根據(jù)權(quán)利要求68所述的設(shè)備，進(jìn)一步包括DMA鏡像文件提供器，用于將基準(zhǔn)測(cè)試信息提供給校核器使其比較DMA鏡像文件和基準(zhǔn)DMA鏡像文件。
86．一種制造順從性記錄和再現(xiàn)設(shè)備的方法，該方法包括制造更新和生成缺陷管理區(qū)(DMA)信息的不認(rèn)證記錄和再現(xiàn)設(shè)備；和校核不認(rèn)證記錄和再現(xiàn)設(shè)備是否遵從一種標(biāo)準(zhǔn)，所述校核包括利用記錄和再現(xiàn)設(shè)備進(jìn)行包括清除存在于包含預(yù)定缺陷信息和測(cè)試基準(zhǔn)DMA信息的測(cè)試盤上的缺陷列表在內(nèi)的重新初始化以生成測(cè)試信息，和將測(cè)試信息與基準(zhǔn)測(cè)試信息相比較以確定記錄和再現(xiàn)設(shè)備的校核，和表示不認(rèn)證記錄和再現(xiàn)設(shè)備遵從該標(biāo)準(zhǔn)的校核。
87．根據(jù)權(quán)利要求86所述的方法，其中，相比較包括校驗(yàn)構(gòu)成測(cè)試信息的DMA的結(jié)構(gòu)、DMA的盤定義結(jié)構(gòu)(DDS)、DMA主要缺陷列表(PDL)結(jié)構(gòu)和次要缺陷列表(SDL)結(jié)構(gòu)。
88．一種用于針對(duì)光盤記錄和再現(xiàn)信息的盤記錄和再現(xiàn)設(shè)備，該設(shè)備包括發(fā)射光的光源；將光聚焦在光盤上以記錄和再現(xiàn)信息的聚焦部件；和控制所述光源的控制器，所述控制器通過(guò)下列過(guò)程得到校核以更新和生成缺陷管理區(qū)(DMA)信息利用記錄和再現(xiàn)設(shè)備進(jìn)行包括清除存在于包含預(yù)定缺陷信息和測(cè)試基準(zhǔn)DMA信息的測(cè)試盤上的缺陷列表在內(nèi)的重新初始化以生成測(cè)試信息，和將測(cè)試信息與基準(zhǔn)測(cè)試信息相比較以確定記錄和再現(xiàn)設(shè)備的校核。
89．根據(jù)權(quán)利要求88所述的盤記錄和再現(xiàn)設(shè)備，其中，相比較包括校驗(yàn)構(gòu)成測(cè)試信息的DMA的結(jié)構(gòu)、DMA的盤定義結(jié)構(gòu)(DDS)、DMA主要缺陷列表(PDL)結(jié)構(gòu)和次要缺陷列表(SDL)結(jié)構(gòu)。
90．一種用于針對(duì)光盤記錄和再現(xiàn)信息的盤記錄和再現(xiàn)設(shè)備，該設(shè)備包括發(fā)射光的光源；將光聚焦在光盤上以記錄和再現(xiàn)信息的聚焦部件；和控制所述光源的控制器，在進(jìn)行包括對(duì)光盤予以認(rèn)證在內(nèi)的重新初始化之后更新和生成缺陷管理區(qū)信息，以便該缺陷管理區(qū)信息遵從一種標(biāo)準(zhǔn)。
91．根據(jù)權(quán)利要求90所述的盤記錄和再現(xiàn)設(shè)備，其中，控制器校驗(yàn)構(gòu)成測(cè)試信息的DMA的結(jié)構(gòu)、DMA的盤定義結(jié)構(gòu)(DDS)、DMA主要缺陷列表(PDL)結(jié)構(gòu)和次要缺陷列表(SDL)結(jié)構(gòu)。
92．根據(jù)權(quán)利要求13所述的方法，其中校核DDS進(jìn)一步包括校核其余的保留區(qū)是否具有預(yù)定值。
93．根據(jù)權(quán)利要求15所述的方法，其中校核PDL進(jìn)一步包括校核未用區(qū)是否具有預(yù)定值。
94．根據(jù)權(quán)利要求50所述的設(shè)備，其中，DMA鏡像文件包括帶有關(guān)于盤制造商定義的有缺陷扇區(qū)的信息的P-列表、帶有關(guān)于在測(cè)試盤認(rèn)證期間檢測(cè)到的有缺陷扇區(qū)的信息的G1-列表、和帶有關(guān)于沒(méi)有認(rèn)證移到SDL的有缺陷扇區(qū)的信息的G2-列表。
95．根據(jù)權(quán)利要求58所述的方法，其中，測(cè)試基準(zhǔn)DMA鏡像文件包括帶有關(guān)于盤制造商定義的有缺陷扇區(qū)的信息的P-列表、帶有關(guān)于在測(cè)試盤認(rèn)證期間檢測(cè)到的有缺陷扇區(qū)的信息的G1-列表、和帶有關(guān)于沒(méi)有認(rèn)證移到SDL的有缺陷扇區(qū)的信息的G2-列表。
96．根據(jù)權(quán)利要求65所述的DMA信息，其中，測(cè)試基準(zhǔn)DMA鏡像文件包括帶有關(guān)于盤制造商定義的有缺陷扇區(qū)的信息的P-列表、帶有關(guān)于在測(cè)試盤認(rèn)證期間檢測(cè)到的有缺陷扇區(qū)的信息的G1-列表、和帶有關(guān)于沒(méi)有認(rèn)證移到SDL的有缺陷扇區(qū)的信息的G2-列表。
97．根據(jù)權(quán)利要求69所述的記錄和再現(xiàn)設(shè)備，其中，測(cè)試基準(zhǔn)DMA鏡像文件包括帶有關(guān)于盤制造商定義的有缺陷扇區(qū)的信息的P-列表、帶有關(guān)于在測(cè)試盤認(rèn)證期間檢測(cè)到的有缺陷扇區(qū)的信息的G1-列表、和帶有關(guān)于沒(méi)有認(rèn)證地移到SDL的有缺陷扇區(qū)的信息的G2-列表。
98．根據(jù)權(quán)利要求73所述的記錄和再現(xiàn)設(shè)備，其中，測(cè)試基準(zhǔn)DMA鏡像文件包括帶有關(guān)于盤制造商定義的有缺陷扇區(qū)的信息的P-列表、帶有關(guān)于在測(cè)試盤認(rèn)證期間檢測(cè)到的有缺陷扇區(qū)的信息的G1-列表、和帶有關(guān)于沒(méi)有認(rèn)證移到SDL的有缺陷扇區(qū)的信息的G2-列表。
99．根據(jù)權(quán)利要求77所述的設(shè)備，其中，測(cè)試基準(zhǔn)DMA鏡像文件包括帶有關(guān)于盤制造商定義的有缺陷扇區(qū)的信息的P-列表、帶有關(guān)于在測(cè)試盤認(rèn)證期間檢測(cè)到的有缺陷扇區(qū)的信息的G1-列表、和帶有關(guān)于沒(méi)有認(rèn)證地移到SDL的有缺陷扇區(qū)的信息的G2-列表。
100．根據(jù)權(quán)利要求42所述的方法，其中生成測(cè)試信息包括根據(jù)包括清除存在于測(cè)試盤上的缺陷列表在內(nèi)的重新初始化生成測(cè)試信息；和校核包括校核寄存在主要缺陷列表(PDL)的G2-列表中的缺陷信息和寄存在次要缺陷列表(SDL)中的缺陷信息是否在包括清除缺陷列表在內(nèi)的重新初始化之后被處理掉。
101．根據(jù)權(quán)利要求50所述的記錄和再現(xiàn)設(shè)備，其中，記錄和再現(xiàn)設(shè)備進(jìn)行包括清除缺陷列表在內(nèi)的重新初始化，和校核器校核寄存在主要缺陷列表(PDL)的G2-列表中的缺陷信息和寄存在次要缺陷列表(SDL)中的缺陷信息是否在包括清除缺陷列表在內(nèi)的重新初始化之后被處理掉了。
102．根據(jù)權(quán)利要求65所述的DMA信息，其中進(jìn)行重新初始化包括進(jìn)行包括清除缺陷列表在內(nèi)的重新初始化；和校核包括校核寄存在主要缺陷列表(PDL)的G2-列表中的缺陷信息和寄存在次要缺陷列表(SDL)中的缺陷信息是否在包括清除缺陷列表在內(nèi)的重新初始化之后被處理掉了。
103．根據(jù)權(quán)利要求86所述的信息，其中進(jìn)行重新初始化包括進(jìn)行包括清除缺陷列表在內(nèi)的重新初始化；和校核包括校核寄存在主要缺陷列表(PDL)的G2-列表中的缺陷信息和寄存在次要缺陷列表(SDL)中的缺陷信息是否在包括清除缺陷列表在內(nèi)的重新初始化之后被處理掉了。
104．根據(jù)權(quán)利要求42所述的方法，其中，包括清除缺陷列表在內(nèi)的重新初始化是沒(méi)有認(rèn)證地進(jìn)行的。
105．根據(jù)權(quán)利要求50所述的記錄和再現(xiàn)設(shè)備，其中，包括清除缺陷列表在內(nèi)的重新初始化是沒(méi)有認(rèn)證地進(jìn)行的。
106．根據(jù)權(quán)利要求65所述的DMA信息，其中，包括清除缺陷列表在內(nèi)的重新初始化是沒(méi)有認(rèn)證地進(jìn)行的。
107．根據(jù)權(quán)利要求86所述的方法，其中，包括清除缺陷列表在內(nèi)的重新初始化是沒(méi)有認(rèn)證地進(jìn)行的。
全文摘要
一種校核當(dāng)盤記錄和再現(xiàn)設(shè)備進(jìn)行清除存在于測(cè)試盤上的缺陷管理區(qū)中的預(yù)定缺陷列表而沒(méi)有認(rèn)證的重新初始化時(shí)正常生成或更新DMA信息的方法測(cè)試設(shè)備。包括:在利用含有測(cè)試基準(zhǔn)信息的測(cè)試盤的記錄和再現(xiàn)設(shè)備中進(jìn)行清除存在于測(cè)試盤上的DMA中的預(yù)定缺陷列表的重初始化,并從重初始化后生成的DMA信息生成測(cè)試信息;將從測(cè)試基準(zhǔn)信息中預(yù)期的基準(zhǔn)信息與測(cè)試信息比較提供測(cè)試信息校核結(jié)果。因此用戶可短時(shí)間內(nèi)校核給定盤記錄和再現(xiàn)設(shè)備在重初始化模式中正確生成或更新DMA信息。
文檔編號(hào)G11B20/10GK1321976SQ01116269
公開(kāi)日2001年11月14日 申請(qǐng)日期2001年4月9日 優(yōu)先權(quán)日2000年4月8日
發(fā)明者高禎完, 鄭鉉權(quán) 申請(qǐng)人:三星電子株式會(huì)社