一種圖像校正方法及裝置的制造方法

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一種圖像校正方法及裝置的制造方法
【專利摘要】本申請?zhí)峁┝艘环N圖像校正方法及裝置，圖像校正方法包括：對畸變指紋圖像中各個像素點的坐標進行透視變換，得到第一校正圖像；從第一校正圖像中選取出空白點；去除第一校正圖像中的空白點及空白點相關的像素點，得到第二校正圖像。在本申請中，縮短了校正時間，提高了校正效率。
【專利說明】
-種圖像校正方法及裝置
技術領域
[0001] 本申請設及圖像處理領域，特別設及一種圖像校正方法及裝置。
【背景技術】
[0002] 現今的指紋識別系統(tǒng)中的圖像采集模塊由光源、棱鏡、透鏡、圖像傳感器等組成，運種結構會導致圖像傳感器接收的指紋圖像有較大崎變。
[0003] 其中，對發(fā)生崎變的指紋圖像進行校正，傳統(tǒng)的解決方法是對物理成像建立數學模型，利用建立的數學模型對發(fā)生崎變的指紋圖像中的像素點進行位置還原，得到還原圖像，由于還原圖像中有些像素點沒有灰度值，因此再通過插值方法對沒有灰度值的像素點進行灰度重建，最終得到原始指紋。但是插值方法需要進行大量的計算，耗費時間，降低了校正效率。

【發(fā)明內容】

[0004] 為解決上述技術問題，本申請實施例提供一種圖像校正方法及裝置，W達到縮短校正時間，提高校正效率的目的，技術方案如下：
[0005] -種圖像校正方法，包括：
[0006] 對崎變指紋圖像中各個像素點的坐標進行透視變換，得到第一校正圖像；
[0007] 從所述第一校正圖像中選取出空白點，所述空白點為灰度值為零的像素點；
[000引去除所述第一校正圖像中的所述空白點及所述空白點相關的像素點，得到第二校正圖像。
[0009] 優(yōu)選的，去除所述第一校正圖像中的所述空白點及所述空白點相關的像素點的過程，包括：
[0010] 若所述空白點所屬行數為偶數行，則去除所述第一校正圖像中的全部偶數行的像素點及全部偶數列的像素點；
[0011] 若所述空白點所屬行數為奇數行，則去除所述第一校正圖像中的全部奇數行的像素點及全部奇數列的像素點。
[0012] 優(yōu)選的，所述對崎變指紋圖像中各個像素點的坐標進行透視變換的過程，包括：
[0013] 利用公式
y崎變指紋圖像中各個像素點的坐標進行透視變換；
[0014] 其中，所述X為所述崎變指紋圖像中某一個像素點的橫坐標，所述y為所述崎變指紋圖像中所述某一個像素點的縱坐標，所述X'為對所述崎變指紋圖像中某一個像素點的橫坐標進行透視變換后的橫坐標，所述y '為對所述崎變指紋圖中所述某一個像素點的縱坐標進行透視變換后的縱坐標，日11、日12、日13、日21、日22、日23、日31、日3沸日33為透視變換系數。
[0015] 優(yōu)選的，所述對崎變指紋圖像中各個像素點的坐標進行透視變換的過程，包括：
[0016] 利用公式：
巧崎變指紋圖像中各個像素點的坐標進行透視變換；
[0017] 其中，所述X為所述崎變指紋圖像中某一個像素點的橫坐標，所述y為所述崎變指紋圖像中所述某一個像素點的縱坐標，所述X'為對所述崎變指紋圖像中某一個像素點的橫坐標進行透視變換后的橫坐標，所述y '為對所述崎變指紋圖中所述某一個像素點的縱坐標進行透視變換后的縱坐標，ail、ai2、ai3、日22、日2沸日32為透視變換系數。
[0018] 優(yōu)選的，所述利用公式：計崎變指紋圖像中各個像素點的坐標進行透視變換的過程，包括：
[0019] 從第一映射表中獲取所述崎變指紋圖像中各個像素點的X對應的aiix的值，所述第一映射表包括多條不同的第一映射關系，所述第一映射關系為所述X與所述aiix的映射關系；
[0020] 從第二映射表中獲取所述崎變指紋圖像中各個像素點的y對應的a32y+l的值，所述第二映射表包括多條不同的第二映射關系，所述第二映射關系為所述y與所述a32y+l的映射關系；
[0021] 從第S映射表中獲取所述崎變指紋圖像中各個像素點的y對應的的值，所述第=映射表包括多條不同的第=映射關系，所述第=映射關系為所述7與所述^；|7^^ 的映射關系；
[0022] 從第四映射表中獲取所述崎變指紋圖像中各個像素點的y對應的的值，所述第四映射表包括多條不同的第四映射關系，所述第=映射關系為所述y與所述口一, +口，, 醜射關系；
[0023] 將各個所述aiix的值、各個所述a32y+l的值、各個所述的值和各個所述的值分別代入臟&式二
對采集到的崎變指紋圖像中的各個像素點的坐標進行透視變換。
[0024] 優(yōu)選的，所述ail、所述ai2、所述ai3、所述曰21、所述曰22、所述曰23、所述曰31、所述曰32和所述333的生成過程包括：
[0025] 對第一理想指紋圖像進行采樣，得到四個第一采樣點；
[0026] 對所述第一理想指紋圖像對應的崎變指紋圖像進行采樣，得到四個第二采樣點，所述第二采樣點為與所述第一采樣點對應的像素點；
[0027] 檐阿個所沐第一采樣點的坐標值和四個所述第二采樣點的坐標值代入公式一
計算出所述ail、所述曰12、所述ai3、所述曰21、所述曰22、所述曰23、所述曰31、所述332和所述333。
[0028] 優(yōu)選的，所述公式二
的生成過程，包括：
[0029] 根據opencv仿真結果，將所述日21賦值為0、將所述日31賦值為0和將所述日33賦值為1，則將公式-
[0030] 優(yōu)選的，所述ail、所述ai2、所述ai3、所述322、所述323和所述332的生成過程，包括：
[0031] 對第二理想指紋圖像進行采樣，得到四個第=采樣點；
[0032] 對所述第二理想指紋圖像對應的崎變指紋圖像進行采樣，得到四個第四采樣點，所述第四采樣點為與所述第=采樣點對應的像素點；
「nmil '心味第=采樣點的坐標值和四個所述第四采樣點的坐標值代入公式二 ,計算出所述au、所述ai2、所述ai3、所述322、所述323和所述曰32 ;
[0034] 對所述ail、所述曰12、所述曰13、所述曰22、所述曰23和所述曰32進行微調，得到微調后的日11、日12、日13、日22、日23芽P日32 O
[00巧]一種圖像校正裝置，包括：
[0036] 變換單元，用于對崎變指紋圖像中各個像素點的坐標進行透視變換，得到第一校正圖像；
[0037] 選取單元，用于從所述第一校正圖像中選取出空白點，所述空白點為灰度值為零的像素點；
[0038] 去除單元，用于去除所述第一校正圖像中的所述空白點及所述空白點相關的像素點，得到第二校正圖像。
[0039] 優(yōu)選的，所述去除單元包括：
[0040] 第一去除子單元，用于若所述空白點所屬行數為偶數行，則去除所述第一校正圖像中的全部偶數行的像素點及全部偶數列的像素點；
[0041 ]第二去除子單元，用于若所述空白點所屬行數為奇數行，則去除所述第一校正圖像中的全部奇數行的像素點及全部奇數列的像素點。
[0042] 優(yōu)選的，所述變換單元包括：
[0043] 第一變換子單元，用于利用公式
f崎變指紋圖像中各個像素點的坐標進行透視變換；
[0044] 其中，所述X為所述崎變指紋圖像中某一個像素點的橫坐標，所述y為所述崎變指紋圖像中所述某一個像素點的縱坐標，所述X'為對所述崎變指紋圖像中某一個像素點的橫坐標進行透視變換后的橫坐標，所述y '為對所述崎變指紋圖中所述某一個像素點的縱坐標進行透視變換后的縱坐標，日11、日12、日13、日21、日22、日23、日31、日3沸日33為透視變換系數。
[0045] 優(yōu)選的，所述變換單元包括：
[0046] 第二變換子單元，用于利用公式I >]崎變指紋圖像中各個像素點的坐標進行透視變換；
[0047] 其中，所述X為所述崎變指紋圖像中某一個像素點的橫坐標，所述y為所述崎變指紋圖像中所述某一個像素點的縱坐標，所述X'為對所述崎變指紋圖像中某一個像素點的橫坐標進行透視變換后的橫坐標，所述y '為對所述崎變指紋圖中所述某一個像素點的縱坐標進行透視變換后的縱坐標，日11、日12、日13、日22、日2沸日32為透視變換系數。
[004引優(yōu)選的，所述第二變換子單元包括：
[0049] 第一獲取子單元，用于從第一映射表中獲取所述崎變指紋圖像中各個像素點的X 對應的aiix的值，所述第一映射表包括多條不同的第一映射關系，所述第一映射關系為所述 X與所述aiix的映射關系；
[0050] 第二獲取子單元，用于從第二映射表中獲取所述崎變指紋圖像中各個像素點的y 對應的a32y+l的值，所述第二映射表包括多條不同的第二映射關系，所述第二映射關系為所述y與所述a32y+l的映射關系；
[0051] 第=獲取子單元，用于從第=映射表中獲取所述崎變指紋圖像中各個像素點的y 對應的'^^^;^^^的值，所述第=映射表包括多條不同的第=映射關系，所述第=映射關系十 I 為所述y與所述的映射關系；
[0052] 第四獲取子單元，用于從第四映射表中獲取所述崎變指紋圖像中各個像素點的y 對應的的值，所述第四映射表包括多條不同的第四映射關系，所述第=映射關系為所述y與所述的映射關系；
[0053]第S變換子單元，用于將各個所述aiix的值、各個所述a32y + l的值、各個所述 X，二。1片 +口12.V +口13 幻"V +口B 口,，V+fl，3 口3，>' + 1 的值和各個所述-3的值分別代入所述公式二對采集。32少卞丄沒32.V十, 口22.y十口23 到的崎變指紋圖像中的各個像素點的坐標進行透視變換。
[0化4] 優(yōu)選的，還包括：
[0055] 第一采樣單元，用于對第一理想指紋圖像進行采樣，得到四個第一采樣點；
[0056] 第二采樣單元，用于對所述第一理想指紋圖像對應的崎變指紋圖像進行采樣，得到四個第二采樣點，所述第二采樣點為與所述第一采樣點對應的像素點.
[0057] 第一計算單元，用于將四個所述第一采樣點的坐標值和四個所述第二采樣點的坐標值代入公式
計算出所述ail、所述曰12、所述曰13、所述曰21、所述曰22、所述曰23、所述曰31、所述曰32和所述曰33。
[0化引優(yōu)選的，還包括：
[0059] 轉換單元，用于根據opencv仿真結果，將所述日21賦值為0、將所述日31賦值為0和將所述333賦值為1，則將公式-。
[0060] 優(yōu)選的，還包括：
[0061] 第=采樣單元，用于對第二理想指紋圖像進行采樣，得到四個第=采樣點；
[0062] 第四采樣單元，用于對所述第二理想指紋圖像對應的崎變指紋圖像進行采樣，得到四個第四采樣點，所述第四采樣點為與所述第=采樣點對應的像素點；
[0063] 第二計算單元，用于將四個所述第=采樣點的坐標值和四個所述第四采樣點的坐標值代入公式
，計算出所述ail、所述曰12、所述曰13、所述曰22、所述曰23和所述曰32 ;
[0064] 微調單元，用于對所述ail、所述曰12、所述曰13、所述曰22、所述曰23和所述曰32進行微調，得到微調后的曰11、曰12、曰13、曰22、曰2沸曰32。
[0065] 與現有技術相比，本申請的有益效果為：
[0066] 在本申請中，首先對崎變指紋圖像中各個像素點的坐標進行透視變換，將崎變指紋圖像中的像素點還原至原始位置，得到第一校正圖像，然后從第一校正圖像中選取出空白點，并去除第一校正圖像中的空白點及空白點相關的像素點，得到第二校正圖像。由于去除空白點及空白點相關的像素點之后，第一校正圖像的大小得到縮小，但是圖像內容未改變，因此第二校正圖像能夠真實還原崎變指紋圖像，完成對崎變指紋圖像的校正。
[0067] 由于對空白點的處理是通過直接去除的方式，不需要進行大量計算，因此縮短了校正時間，提高了校正效率。
【附圖說明】
[0068] 為了更清楚地說明本申請實施例中的技術方案，下面將對實施例描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本申請的一些實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動性的前提下，還可W根據運些附圖獲得其他的附圖。
[0069] 圖1是本申請?zhí)峁┑膱D像校正方法的一種流程圖；
[0070] 圖2是本申請?zhí)峁┑膱D像校正方法的一種子流程圖；
[0071 ]圖3是本申請?zhí)峁┑膱D像校正方法的另一種子流程圖；
[0072] 圖4是本申請?zhí)峁┑膱D像校正方法的再一種子流程圖；
[0073] 圖5是本申請?zhí)峁┑膱D像校正的一種邏輯結構示意圖；
[0074] 圖6是本申請?zhí)峁┑牡诙儞Q子單元的一種邏輯結構示意圖。
【具體實施方式】
[0075] 下面將結合本申請實施例中的附圖，對本申請實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本申請一部分實施例，而不是全部的實施例?；?本申請中的實施例，本領域普通技術人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本申請保護的范圍。
[0076] 實施例一
[0077] 請參見圖1，其示出了本申請?zhí)峁┑膱D像校正方法的一種流程圖，可W包括W下步驟：
[0078] 步驟Sll:對崎變指紋圖像中各個像素點的坐標進行透視變換，得到第一校正圖像。
[0079] 在目前的指紋識別系統(tǒng)采集指紋圖像時，由于指紋識別系統(tǒng)的結構會導致采集到的指紋圖像與原始指紋圖像(即用戶輸入的指紋圖像)不同，因此指紋識別系統(tǒng)采集到的指紋圖像即崎變指紋圖像，因此需要對崎變指紋圖像進行校正，W得到原始指紋圖像。
[0080] 在本實施例中，對崎變指紋圖像中各個像素點的坐標進行透視變換，將崎變指紋圖像中的各個像素點還原至原始位置，得到第一校正圖像。第一校正圖像的像素點的位置與原始指紋圖像的像素點的位置相同。
[0081] 由于崎變指紋圖像是發(fā)生崎變的指紋圖像，崎變指紋圖像中有些像素點的灰度值已經發(fā)生崎變，變?yōu)榱悖覍ζ樽冎讣y圖像中各個像素點的坐標進行透視變換后，只是進行了像素點位置變換，因此第一校正圖像中有些像素點的灰度值為零，需要對第一校正圖像進行灰度值的重建。在本實施例中，對第一校正圖像進行灰度值的重建的過程請參見步驟 S12和步驟S13。
[0082] 步驟S12:從所述第一校正圖像中選取出空白點。
[0083] 在本實施例中，上述空白點為灰度值為零的像素點。
[0084] 步驟S13:去除所述第一校正圖像中的所述空白點及所述空白點相關的像素點，得到第二校正圖像。
[0085] 在本實施例中，通過去值的方法即去除所述第一校正圖像中的所述空白點及所述空白點相關的像素點，實現對第一校正圖像的灰度值的重建，重建得到的第二校正圖像是原始指紋圖像等比例縮小后的圖像。
[0086] 由于去除空白點及空白點相關的像素點之后，第一校正圖像的大小得到縮小，但是圖像內容未改變，只是損失了一些精度，沒有原始指紋圖像清晰，但不影響指紋圖像的識另IJ，因此第二校正圖像能夠真實還原崎變指紋圖像，完成對崎變指紋圖像的校正。
[0087] 在本申請中，首先對崎變指紋圖像中各個像素點的坐標進行透視變換，將崎變指紋圖像中的像素點還原至原始位置，得到第一校正圖像，然后從第一校正圖像中選取出空白點，并去除第一校正圖像中的空白點及空白點相關的像素點，得到第二校正圖像。由于去除空白點及空白點相關的像素點之后，第一校正圖像的大小得到縮小，但是圖像內容未改變，因此第二校正圖像能夠真實還原崎變指紋圖像，完成對崎變指紋圖像的校正。
[0088] 由于對空白點的處理是通過直接去除的方式，不需要進行大量計算，因此縮短了校正時間，提高了校正效率。
[0089] 在本實施例中，去除所述第一校正圖像中的所述空白點及所述空白點相關的像素點的過程，具體可W為：
[0090] 若所述空白點所屬行數為偶數行，則去除所述第一校正圖像中的全部偶數行的像素點及全部偶數列的像素點；
[0091] 若所述空白點所屬行數為奇數行，則去除所述第一校正圖像中的全部奇數行的像素點及全部奇數列的像素點。
[0092] 其中，去除所述第一校正圖像中的全部偶數行的像素點及全部偶數列的像素點之后，第二校正圖像的大小為原始指紋圖像大小的四分之一;去除所述第一校正圖像中的全部奇數行的像素點及全部奇數列的像素點之后，第二校正圖像的大小為原始指紋圖像大小的四分之一。
[0093] 當然，去除所述第一校正圖像中的所述空白點及所述空白點相關的像素點的過程，具體也可W為：
[0094] 每隔四行去除四行的像素點，W及每隔一列去除一列的像素點，但是要保證空白點全部在去除的像素點中。
[0095] 在本實施例中，對崎變指紋圖像中各個像素點的坐標進行透視變換的過程，具體可W為：
[0096] 利用公式一
巧崎變指紋圖像中各個像素點的坐標進行透視變換；
[0097] 其中，所述X為所述崎變指紋圖像中某一個像素點的橫坐標，所述y為所述崎變指紋圖像中所述某一個像素點的縱坐標，所述X'為對所述崎變指紋圖像中某一個像素點的橫坐標進行透視變換后的橫坐標，所述y '為對所述崎變指紋圖中所述某一個像素點的縱坐標進行透視變換后的縱坐標，日11、日12、日13、日21、日22、日23、日31、日3沸日33為透視變換系數。
[009引其中，日11、日12、日13、日21、日22、日23、日31、日32和日33的生成過程可W參見圖2，可W包括W下步驟：
[0099] 步驟S21:對第一理想指紋圖像進行采樣，得到四個第一采樣點。
[0100] 第一理想指紋圖像即未發(fā)生崎變的指紋圖像。
[0101] 步驟S22:對所述第一理想指紋圖像對應的崎變指紋圖像進行采樣，得到四個第二采樣點。
[0102] 所述第二采樣點為與所述第一采樣點對應的像素點。
[0103] 步驟S23:將四個所述第一采樣點的坐標值和四個所述第二采樣點的坐標值代入公式-
計算出所述ail、所述ai2、所述ai3、所述曰21、所述曰22、所述曰23、所述曰31、所述332和所述曰33。
[0104] 當然，在本實施例中，對崎變指紋圖像中各個像素點的坐標進行透視變換的過程，具體也可W為：
[01化]利用公式：
t崎變指紋圖像中各個像素點的坐標進行透視變換；
[0106] 其中，所述X為所述崎變指紋圖像中某一個像素點的橫坐標，所述y為所述崎變指紋圖像中所述某一個像素點的縱坐標，所述X'為對所述崎變指紋圖像中某一個像素點的橫坐標進行透視變換后的橫坐標，所述y '為對所述崎變指紋圖中所述某一個像素點的縱坐標進行透視變換后的縱坐標，日11、日12、日13、日22、日2沸日32為透視變換系數。
[0107] 其中，公式二
的生成過程，具體為:根據opencv仿真結果，將所口1片 +口心' +口 13 .乂一述曰21賦值為0、將所述日31賦值為O和將所述日33賦值為1，則將公式一 + + 轉戶_ 口21" 口口 V +幻23 ；?；?。心' +。巧 X, =。""口12 V +口U 換為公式二。 ,a-,. V +(7.. .y= -- ;7。V*+ 1
[0108] 在本實施例中，ail、所述ai2、所述ai3、所述322、所述323和所述332的生成過程具體可 W參見圖3,包括W下步驟：
[0109] 步驟S31:對第二理想指紋圖像進行采樣，得到四個第=采樣點。
[0110] 第二理想指紋圖像即未發(fā)生崎變的指紋圖像。
[0111] 步驟S32:對所述第二理想指紋圖像對應的崎變指紋圖像進行采樣，得到四個第四采樣點。
[0112] 所述第四采樣點為與所述第=采樣點對應的像素點。
[0113] 步驟S33:將四個所述第=采樣點的坐標值和四個所述第四采樣點的坐標值代入 ,、.,_口1盧 +口口V +口口 '乂一 - 公式二< 32' ，計算出所述ail、所述ai2、所述ai3、所述322、所述323和所述332。 ^,_a"v + g，3 ; 心+】
[0114] 步驟S34:對所述ail、所述日12、所述日13、所述日22、所述日23和所述日32進行微調，得到微調后的日11、曰12、日13、日22、日23和曰32。
[011引其中，使用微調后的曰11、曰12、曰13、曰22、曰23和曰32對崎變指紋圖像中各個像素點的坐標進行透視變換，可W使校正效果更好。、.,_。1戶 + 幻12.化013 X --
[0116] 在本實施例中，利用公式二對崎變指紋圖像中各個像素點的戶…幻]]V + '?:; 心'+1 坐標進行透視變換的過程，具體可W參見圖4,可W包括W下步驟：
[0117] 步驟S41:從第一映射表中獲取所述崎變指紋圖像中各個像素點的X對應的aiix的值。
[0118] 在本實施例中，所述第一映射表包括多條不同的第一映射關系，所述第一映射關系為所述X與所述aiix的映射關系。
[0119] 步驟S42:從第二映射表中獲取所述崎變指紋圖像中各個像素點的y對應的a32y+l 的值。
[0120] 在本實施例中，所述第二映射表包括多條不同的第二映射關系，所述第二映射關系為所述y與所述a32y+l的映射關系；
[0121] 步驟S43:從第S映射表中獲取所述崎變指紋圖像中各個像素點的y對應的 Up V+ a!耳的值。
[0122] 在本實施例中，所述第=映射表包括多條不同的第=映射關系，所述第=映射關系為所述y與所述的映射關系。
[0123] 步驟S44:從第四映射表中獲取所述崎變指紋圖像中各個像素點的y對應的口 V +口，3 的值。
[0124] 在本實施例中，所述第四映射表包括多條不同的第四映射關系，所述第=映射關系為所述y與所述的映射關系。
[012引步驟S45:將各個所述aiix的值、各個所述a32y+l的值、各個所述的值和各個所述胃的值分別代入所述公式:
對采集到的崎變指紋圖像中的各個像素點的坐標進行透視變換。
[0126] 在本實施例中，直接從第一映射表獲取aiix的值、從第二映射表中獲取a32y+l的值、從第=映射表中獲取的值和從第四映射表中獲取的值，將aiix的值、曰32Y+1的值、的值和^^的值代入公式二，對采集到的崎變指紋圖像中的各個像素點的坐標進行透視變換，不需要進行乘運算，相比于直接通過公式二
采集到的崎變指紋圖像中的各個像素點的坐標進行透視變換，計算速率較快，進一步提高了校正效率。
[0127] 由于第一映射表、第二映射表、第=映射表和第四映射表均為一維數據表，因此占用的存儲空間小。
[012引實施例二
[0129] 與實施例一相對應，本實施例提供了一種圖像校正裝置，請參見圖5,圖像校正裝置包括:變換單元51、選取單元52和去除單元53。
[0130] 變換單元51，用于對崎變指紋圖像中各個像素點的坐標進行透視變換，得到第一校正圖像。
[0131] 選取單元52,用于從所述第一校正圖像中選取出空白點，所述空白點為灰度值為零的像素點。
[0132] 去除單元53,用于去除所述第一校正圖像中的所述空白點及所述空白點相關的像素點，得到第二校正圖像。
[0133] 在本實施例中，去除單元53具體可W包括:第一去除子單元和第二去除子單元。其中：
[0134] 第一去除子單元，用于若所述空白點所屬行數為偶數行，則去除所述第一校正圖像中的全部偶數行的像素點及全部偶數列的像素點。
[0135] 第二去除子單元，用于若所述空白點所屬行數為奇數行，則去除所述第一校正圖像中的全部奇數行的像素點及全部奇數列的像素點。
[0136] 在本實施例中，變換單元51具體可W包括：第一變換子單元，用于利用公式一
巧崎變指紋圖像中各個像素點的坐標進行透視變換；
[0137] 其中，所述X為所述崎變指紋圖像中某一個像素點的橫坐標，所述y為所述崎變指紋圖像中所述某一個像素點的縱坐標，所述X'為對所述崎變指紋圖像中某一個像素點的橫坐標進行透視變換后的橫坐標，所述y '為對所述崎變指紋圖中所述某一個像素點的縱坐標進行透視變換后的縱坐標，日11、日12、日13、日21、日22、日23、日31、日3沸日33為透視變換系數。
[0138] 在本實施例中，上述圖像校正裝置還可W包括:第一采樣單元、第二采樣單元和第一計算單元。
[0139] 第一采樣單元，用于對第一理想指紋圖像進行采樣，得到四個第一采樣點。
[0140] 第二采樣單元，用于對所述第一理想指紋圖像對應的崎變指紋圖像進行采樣，得到四個第二采樣點，所述第二采樣點為與所述第一采樣點對應的像素點。
[0141] 第一計算單元，用于將四個所述第一采樣點的坐標值和四個所述第二采樣點的坐標值代入公式-
t算出所述ail、所述曰12、所述曰13、所述曰21、所述曰22、所述曰23、所述曰31、所述曰32和所述曰33。
[0142] 或，變換單元5 1具體可W包括：第二變換子單元，用于利用公式二
r崎變指紋圖像中各個像素點的坐標進行透視變換；
[0143] 其中，所述X為所述崎變指紋圖像中某一個像素點的橫坐標，所述y為所述崎變指紋圖像中所述某一個像素點的縱坐標，所述X'為對所述崎變指紋圖像中某一個像素點的橫坐標進行透視變換后的橫坐標，所述y '為對所述崎變指紋圖中所述某一個像素點的縱坐標進行透視變換后的縱坐標，日11、日12、日13、日22、日2沸日32為透視變換系數。
[0144] 上述圖像校正裝置還可W包括:轉換單元，用于根據opencv仿真結果，將所述曰21賦值為0、將所述331賦值為O和將所述333賦值為I，則將公式-
轉換為公式 _
O
[0145] 上述圖像校正裝置還可W包括:第=采樣單元、第四采樣單元、第二計算單元和微調單元。
[0146] 第=采樣單元，用于對第二理想指紋圖像進行采樣，得到四個第=采樣點。
[0147] 第四采樣單元，用于對所述第二理想指紋圖像對應的崎變指紋圖像進行采樣，得到四個第四采樣點，所述第四采樣點為與所述第=采樣點對應的像素點。
[0148] 第二計算單元，用于將四個所述第=采樣點的坐標值和四個所述第四采樣點的坐標值代入公式二計算出所述ail、所述曰12、所述曰13、所述曰22、所述曰23和所述曰32。
[0149] 微調單元，用于對所述ail、所述曰12、所述曰13、所述曰22、所述曰23和所述曰32進行微調，得到微調后的曰11、曰12、曰13、曰22、曰23和曰32。
[0150] 其中，第二變換子單元的具體結構請參見圖6,第二變換子單元包括:第一獲取子單元61、第二獲取子單元62、第=獲取子單元63、第四獲取子單元64和第=變換子單元65。
[0151] 第一獲取子單元61，用于從第一映射表中獲取所述崎變指紋圖像中各個像素點的 X對應的aiix的值，所述第一映射表包括多條不同的第一映射關系，所述第一映射關系為所述X與所述aiix的映射關系。
[0152] 第二獲取子單元62,用于從第二映射表中獲取所述崎變指紋圖像中各個像素點的 y對應的a32y+l的值，所述第二映射表包括多條不同的第二映射關系，所述第二映射關系為所述y與所述a32y+l的映射關系。
[0153] 第=獲取子單元63,用于從第=映射表中獲取所述崎變指紋圖像中各個像素點的 y對應的的值，所述第=映射表包括多條不同的第=映射關系，所述第=映射關系巧2.少+々巧為所述y與所述的映射關系。
[0154] 第四獲取子單元64,用于從第四映射表中獲取所述崎變指紋圖像中各個像素點的 y對應的的值，所述第四映射表包括多條不同的第四映射關系，所述第=映射關系為所述y與所述的映射關系。
[01W]第S變換子單元65,用于將各個所述aiix的值、各個所述a32y+l的值、各個所述的值和各個所述^；^^的值分別代入所述公式：
計采集到的崎變指紋圖像中的各個像素點的坐標進行透視變換。
[0156] 需要說明的是，本說明書中的各個實施例均采用遞進的方式描述，每個實施例重點說明的都是與其他實施例的不同之處，各個實施例之間相同相似的部分互相參見即可。對于裝置類實施例而言，由于其與方法實施例基本相似，所W描述的比較簡單，相關之處參見方法實施例的部分說明即可。
[0157] 最后，還需要說明的是，在本文中，諸如第一和第二等之類的關系術語僅僅用來將一個實體或者操作與另一個實體或操作區(qū)分開來，而不一定要求或者暗示運些實體或操作之間存在任何運種實際的關系或者順序。而且，術語"包括"、"包含"或者其任何其他變體意在涵蓋非排他性的包含，從而使得包括一系列要素的過程、方法、物品或者設備不僅包括那些要素，而且還包括沒有明確列出的其他要素，或者是還包括為運種過程、方法、物品或者設備所固有的要素。在沒有更多限制的情況下，由語句"包括一個……"限定的要素，并不排除在包括所述要素的過程、方法、物品或者設備中還存在另外的相同要素。
[0158] W上對本申請所提供的一種圖像校正方法及裝置進行了詳細介紹，本文中應用了具體個例對本申請的原理及實施方式進行了闡述，W上實施例的說明只是用于幫助理解本申請的方法及其核屯、思想；同時，對于本領域的一般技術人員，依據本申請的思想，在具體實施方式及應用范圍上均會有改變之處，綜上所述，本說明書內容不應理解為對本申請的限制。
【主權項】
1. 一種圖像校正方法，其特征在于，包括：對畸變指紋圖像中各個像素點的坐標進行透視變換，得到第一校正圖像；從所述第一校正圖像中選取出空白點，所述空白點為灰度值為零的像素點；去除所述第一校正圖像中的所述空白點及所述空白點相關的像素點，得到第二校正圖像。2. 根據權利要求1所述的方法，其特征在于，去除所述第一校正圖像中的所述空白點及所述空白點相關的像素點的過程，包括：若所述空白點所屬行數為偶數行，則去除所述第一校正圖像中的全部偶數行的像素點及全部偶數列的像素點；若所述空白點所屬行數為奇數行，則去除所述第一校正圖像中的全部奇數行的像素點及全部奇數列的像素點。3. 根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述對畸變指紋圖像中各個像素點的坐標進行透視變換的過程，包括：利用公式?畸變指紋圖像中各個像素點的坐標進行透視變換；其中，所述X為所述畸變指紋圖像中某一個像素點的橫坐標，所述y為所述畸變指紋圖像中所述某一個像素點的縱坐標，所述X'為對所述畸變指紋圖像中某一個像素點的橫坐標進行透視變換后的橫坐標，所述y'為對所述畸變指紋圖中所述某一個像素點的縱坐標進行透視變換后的縱坐標，&11、&12、&13、&21、&22、&23、&31、&32和333為透視變換系數。4. 根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述對畸變指紋圖像中各個像素點的坐標進行透視變換的過程，包括：利用公式：對畸變指紋圖像中各個像素點的坐標進行透視變換；其中，所述X為所述畸變指紋圖像中某一個像素點的橫坐標，所述y為所述畸變指紋圖像中所述某一個像素點的縱坐標，所述X'為對所述畸變指紋圖像中某一個像素點的橫坐標進行透視變換后的橫坐標，所述y'為對所述畸變指紋圖中所述某一個像素點的縱坐標進行透視變換后的縱坐標，&11、312、313、322、323和332為透視變換系數。5. 根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述利用公式=對畸變指紋圖像中各個像素點的坐標進行透視變換的過程，包括：從第一映射表中獲取所述畸變指紋圖像中各個像素點的X對應的anx的值，所述第一映射表包括多條不同的第一映射關系，所述第一映射關系為所述X與所述anx的映射關系；從第二映射表中獲取所述畸變指紋圖像中各個像素點的y對應的a32y+l的值，所述第二映射表包括多條不同的第二映射關系，所述第二映射關系為所述y與所述a32y+l的映射關系；從第三映射表中獲取所述畸變指紋圖像中各個像素點的y對應K的值，所述第 v32，一三映射表包括多條不同的第三映射關系，所述第三映射關系為所述y與所迓的映 Xt^r, V ~Γ ± 射關系；從第四映射表中獲取所述畸變指紋圖像中各個像素點的y對應￥_彳值，所述第四映射表包括多條不同的第四映射關系，所述第三映射關系為所述y與所述的映射關系；將各個所述anx的值、各個所述a32y + l的值、各個所述的值和各個所述'的值分別代入所述公式二對采集到的畸變指紋圖像中的各，個像素點的坐標進行透視變換。6. 根據權利要求3所述的方法，其特征在于，所述an、所述ai2、所述ai3、所述a2i、所述a22、所述a23、所述a3i、所述a32和所述a33的生成過程包括：對第一理想指紋圖像進行采樣，得到四個第一采樣點；對所述第一理想指紋圖像對應的畸變指紋圖像進行采樣，得到四個第二采樣點，所述第二采樣點為與所述第一采樣點對應的像素點；將四個所述第一采樣點的坐標值和四個所述第二采樣點的坐標值代入公式一計算出所述an、所述ai2、所述ai3、所述a2i、所述a22、所述a23、所述a3i、所述a32和所述a33。7. 根據權利要求4所述的方法，其特征在于，所述公式二的生成過程，包括：根據opencv仿真結果，將所述a2i賦值為0、將所述a3i賦值為0和將所述a33賦值為1，則將公?8. 根據權利要求4所述的方法，其特征在于，所述an、所述ai2、所述ai3、所述a22、所述a23 和所述a32的生成過程，包括：對第二理想指紋圖像進行采樣，得到四個第三采樣點；對所述第二理想指紋圖像對應的畸變指紋圖像進行采樣，得到四個第四采樣點，所述第四采樣點為與所述第三采樣點對應的像素點；將四個所述第三采樣點的坐標值和四個所述第四采樣點的坐標值代入公式二，計算出所述an、所述ai2、所述ai3、所述a22、所述a23和所述a32; 對所述aii、所述ai2、所述ai3、所述a22、所述a23和所述a32進行微調，得到微調后的aii、ai2、 ai3、a22、a23#Pa32〇9. 一種圖像校正裝置，其特征在于，包括：變換單元，用于對畸變指紋圖像中各個像素點的坐標進行透視變換，得到第一校正圖像；選取單元，用于從所述第一校正圖像中選取出空白點，所述空白點為灰度值為零的像素點；去除單元，用于去除所述第一校正圖像中的所述空白點及所述空白點相關的像素點，得到第二校正圖像。10. 根據權利要求9所述的裝置，其特征在于，所述去除單元包括：第一去除子單元，用于若所述空白點所屬行數為偶數行，則去除所述第一校正圖像中的全部偶數行的像素點及全部偶數列的像素點；第二去除子單元，用于若所述空白點所屬行數為奇數行，則去除所述第一校正圖像中的全部奇數行的像素點及全部奇數列的像素點。11. 根據權利要求9所述的裝置，其特征在于，所述變換單元包括：第一變換子單元，用于利用公式- 對畸變指紋圖像中各個像素點的坐標進行透視變換；其中，所述X為所述畸變指紋圖像中某一個像素點的橫坐標，所述y為所述畸變指紋圖像中所述某一個像素點的縱坐標，所述X'為對所述畸變指紋圖像中某一個像素點的橫坐標進行透視變換后的橫坐標，所述y'為對所述畸變指紋圖中所述某一個像素點的縱坐標進行透視變換后的縱坐標，&11、&12、&13、&21、&22、&23、&31、&32和333為透視變換系數。12. 根據權利要求9所述的裝置，其特征在于，所述變換單元包括：第二變換子單元，用于利用公式二吋畸變指紋圖像中各個像素點的坐標進行透視變換；其中，所述X為所述畸變指紋圖像中某一個像素點的橫坐標，所述y為所述畸變指紋圖像中所述某一個像素點的縱坐標，所述X'為對所述畸變指紋圖像中某一個像素點的橫坐標進行透視變換后的橫坐標，所述y'為對所述畸變指紋圖中所述某一個像素點的縱坐標進行透視變換后的縱坐標，&11、312、313、322、323和332為透視變換系數。13. 根據權利要求12所述的裝置，其特征在于，所述第二變換子單元包括：第一獲取子單元，用于從第一映射表中獲取所述畸變指紋圖像中各個像素點的X對應的anx的值，所述第一映射表包括多條不同的第一映射關系，所述第一映射關系為所述X與所述anx的映射關系；第二獲取子單元，用于從第二映射表中獲取所述畸變指紋圖像中各個像素點的y對應的a32y+l的值，所述第二映射表包括多條不同的第二映射關系，所述第二映射關系為所述y 與所述a32y+l的映射關系；第三獲取子單元，用于從第三映射表中獲取所述畸變指紋圖像中各個像素點的y對應 αρν + απ 的的值，所述第三映射表包括多條不同的第三映射關系，所述第三映射關系為所述y與所述的映射關系；第四獲取子單元，用于從第四映射表中獲取所述畸變指紋圖像中各個像素點的y對應的+ Ι的值，所述第四映射表包括多條不同的第四映射關系，所述第三映射關系為所 a,-, r + a,, 述y與所述α·；ν + 1~的映射關系; 第三變換子單元，用于將各個所述anx的值、各個所述a32y+l的值、各個所対的值和各個所述的值分別代入所述公式: (寸采集到的畸變指紋圖像中的各個像素點的坐標進行透視變換。14. 根據權利要求11所述的裝置，其特征在于，還包括：第一采樣單元，用于對第一理想指紋圖像進行采樣，得到四個第一采樣點；第二采樣單元，用于對所述第一理想指紋圖像對應的畸變指紋圖像進行采樣，得到四個第二采樣點，所述第二采樣點為與所述第一采樣點對應的像素點；第一計算單元，用于將四個所述第一采樣點的坐標值和四個所述第二采樣點的坐標值代入公式-計算出所述an、所述ai2、所述ai3、所述a2i、所述a22、所述 a23、所述a3i、所述a32和所述a33。15. 根據權利要求12所述的裝置，其特征在于，還包括：轉換單元，用于根據opencv仿真結果，將所述a2i賦值為0、將所述a3i賦值為0和將所述 a33賦值為1，則將公式16. 根據權利要求12所述的裝置，其特征在于，還包括：第三采樣單元，用于對第二理想指紋圖像進行采樣，得到四個第三采樣點；第四采樣單元，用于對所述第二理想指紋圖像對應的畸變指紋圖像進行采樣，得到四個第四采樣點，所述第四采樣點為與所述第三采樣點對應的像素點；第二計算單元，用于將四個所述第三采樣點的坐標值和四個所述第四采樣點的坐標值代入公式二，計算出所述an、所述ai2、所述ai3、所述a22、所述a23和所述 a32 ；微調單元，用于對所述an、所述a12、所述a13、所述a22、所述a 23和所述a32進行微調，得到微調后的 811、&12、&13、&22、&23和已32。
【文檔編號】G06K9/00GK105956530SQ201610261057
【公開日】2016年9月21日
【申請日】2016年4月25日
【發(fā)明人】孫殿杰, 周斌, 張飛飛, 盧孟
【申請人】中科院微電子研究所昆山分所

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