本發(fā)明涉及設(shè)備測(cè)試?，尤其涉及一種命令測(cè)試方法、裝置、電子設(shè)備、存儲(chǔ)介質(zhì)和程序產(chǎn)品。

背景技術(shù)：

1、在當(dāng)前的服務(wù)器系統(tǒng)中，bmc（baseboard?management?controller，基板管理控制器）作為服務(wù)器硬件管理的重要組件，通過標(biāo)準(zhǔn)接口如smbus（system?management?bus，系統(tǒng)管理總線）來獲取設(shè)備端的各種信息，以便進(jìn)行設(shè)備管理。

2、然而，由于不同服務(wù)器廠商的bmc命令存在差異，對(duì)于設(shè)備廠商而言，其研發(fā)的硬件設(shè)備，如gpu（graphics?processing?unit，圖形處理器）等，需要兼容各服務(wù)器廠商的bmc命令，以便能夠順利集成并受到各服務(wù)器廠商bmc的有效管理。因此，設(shè)備廠商不僅需要投入大量資源購買各廠商的服務(wù)器，還需要將被測(cè)的硬件設(shè)備逐一安裝到各廠商的服務(wù)器上，才能對(duì)相應(yīng)服務(wù)器的bmc命令進(jìn)行測(cè)試，不僅導(dǎo)致了高昂的測(cè)試成本，而且測(cè)試過程繁瑣、測(cè)試效率低下。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、本發(fā)明提供一種命令測(cè)試方法、裝置、電子設(shè)備、存儲(chǔ)介質(zhì)和程序產(chǎn)品，用以解決相關(guān)技術(shù)中各服務(wù)器bmc命令測(cè)試存在的測(cè)試成本高昂、測(cè)試效率低下的缺陷。

2、本發(fā)明提供一種命令測(cè)試方法，所述方法應(yīng)用于計(jì)算機(jī)平臺(tái)，所述方法包括：

3、基于測(cè)試程序，從預(yù)設(shè)命令集合中獲取待測(cè)試命令，并將所述待測(cè)試命令發(fā)送給被測(cè)設(shè)備進(jìn)行測(cè)試，所述測(cè)試程序是預(yù)先在所述計(jì)算機(jī)平臺(tái)上構(gòu)建的，所述預(yù)設(shè)命令集合是預(yù)先基于各服務(wù)器端的測(cè)試命令構(gòu)建的；

4、接收所述被測(cè)設(shè)備返回的響應(yīng)結(jié)果，并基于所述響應(yīng)結(jié)果，確定所述待測(cè)試命令對(duì)應(yīng)的測(cè)試結(jié)果。

5、根據(jù)本發(fā)明提供的一種命令測(cè)試方法，所述預(yù)設(shè)命令集合的構(gòu)建步驟包括：

6、獲取所述各服務(wù)器端的測(cè)試命令的相關(guān)信息，所述相關(guān)信息包括命令文檔信息、命令跟蹤信息中的至少一種；

7、對(duì)所述各服務(wù)器端的測(cè)試命令的相關(guān)信息進(jìn)行解析，得到各測(cè)試命令的命令格式和參數(shù)信息；

8、基于所述各測(cè)試命令的命令格式和參數(shù)信息，構(gòu)建所述預(yù)設(shè)命令集合。

9、根據(jù)本發(fā)明提供的一種命令測(cè)試方法，所述基于測(cè)試程序，從預(yù)設(shè)命令集合中獲取待測(cè)試命令，并將所述待測(cè)試命令發(fā)送給被測(cè)設(shè)備進(jìn)行測(cè)試，包括：

10、基于測(cè)試程序，對(duì)所述預(yù)設(shè)命令集合進(jìn)行遍歷，并將遍歷到的預(yù)設(shè)命令作為所述待測(cè)試命令；

11、基于系統(tǒng)管理總線接口，將所述待測(cè)試命令發(fā)送給所述被測(cè)設(shè)備進(jìn)行測(cè)試。

12、根據(jù)本發(fā)明提供的一種命令測(cè)試方法，所述基于所述響應(yīng)結(jié)果，確定所述待測(cè)試命令對(duì)應(yīng)的測(cè)試結(jié)果，包括：

13、將所述響應(yīng)結(jié)果與預(yù)期結(jié)果進(jìn)行比較，得到比較結(jié)果；

14、若所述比較結(jié)果為比較一致，則確定所述待測(cè)試命令對(duì)應(yīng)的測(cè)試結(jié)果為測(cè)試成功，否則，確定所述待測(cè)試命令對(duì)應(yīng)的測(cè)試結(jié)果為測(cè)試失敗。

15、根據(jù)本發(fā)明提供的一種命令測(cè)試方法，所述確定所述待測(cè)試命令對(duì)應(yīng)的測(cè)試結(jié)果，之后還包括：

16、基于所述預(yù)設(shè)命令集合，獲取所述待測(cè)試命令對(duì)應(yīng)的服務(wù)器端標(biāo)識(shí)；

17、將所述服務(wù)器端標(biāo)識(shí)和所述待測(cè)試命令對(duì)應(yīng)的測(cè)試結(jié)果進(jìn)行關(guān)聯(lián)，并基于關(guān)聯(lián)結(jié)果，對(duì)所述各服務(wù)器端的測(cè)試命令的測(cè)試結(jié)果進(jìn)行分類展示。

18、根據(jù)本發(fā)明提供的一種命令測(cè)試方法，所述預(yù)設(shè)命令集合包括溫度獲取命令、功率獲取命令、hbm狀態(tài)獲取命令、pcie狀態(tài)獲取命令、fru信息獲取命令中的至少一種。

19、根據(jù)本發(fā)明提供的一種命令測(cè)試方法，所述各服務(wù)器端的測(cè)試命令的命令類型均為bmc命令。

20、本發(fā)明還提供一種命令測(cè)試裝置，所述裝置應(yīng)用于計(jì)算機(jī)平臺(tái)，所述裝置包括：

21、發(fā)送單元，用于基于測(cè)試程序，從預(yù)設(shè)命令集合中獲取待測(cè)試命令，并將所述待測(cè)試命令發(fā)送給被測(cè)設(shè)備進(jìn)行測(cè)試，所述測(cè)試程序是預(yù)先在所述計(jì)算機(jī)平臺(tái)上構(gòu)建的，所述預(yù)設(shè)命令集合是預(yù)先基于各服務(wù)器端的測(cè)試命令構(gòu)建的；

22、確定單元，用于接收所述被測(cè)設(shè)備返回的響應(yīng)結(jié)果，并基于所述響應(yīng)結(jié)果，確定所述待測(cè)試命令對(duì)應(yīng)的測(cè)試結(jié)果。

23、本發(fā)明還提供一種電子設(shè)備，包括存儲(chǔ)器、處理器及存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器上并可在處理器上運(yùn)行的計(jì)算機(jī)程序，所述處理器執(zhí)行所述程序時(shí)實(shí)現(xiàn)如上述任一種所述命令測(cè)試方法。

24、本發(fā)明還提供一種非暫態(tài)計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，其上存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序，該計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)如上述任一種所述命令測(cè)試方法。

25、本發(fā)明還提供一種計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品，包括計(jì)算機(jī)程序，所述計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)如上述任一種所述命令測(cè)試方法。

26、本發(fā)明提供的命令測(cè)試方法、裝置、電子設(shè)備、存儲(chǔ)介質(zhì)和程序產(chǎn)品，通過預(yù)先在計(jì)算機(jī)平臺(tái)上構(gòu)建的測(cè)試程序，能夠從預(yù)設(shè)命令集合中自動(dòng)獲取待測(cè)試命令，并將這些命令直接發(fā)送給被測(cè)設(shè)備進(jìn)行測(cè)試，由于預(yù)設(shè)命令集合基于各服務(wù)器端的測(cè)試命令構(gòu)建得到，因此，能夠在單一計(jì)算機(jī)平臺(tái)上，實(shí)現(xiàn)對(duì)不同服務(wù)器端測(cè)試命令的全面覆蓋與高效測(cè)試，從而無需再購買不同廠商的服務(wù)器，也無需將被測(cè)設(shè)備逐一安裝到服務(wù)器上進(jìn)行測(cè)試，不僅大幅降低了測(cè)試成本，還簡(jiǎn)化了測(cè)試流程，顯著提升了測(cè)試效率。

技術(shù)特征：

1.一種命令測(cè)試方法，其特征在于，所述方法應(yīng)用于計(jì)算機(jī)平臺(tái)，所述方法包括：

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的命令測(cè)試方法，其特征在于，所述預(yù)設(shè)命令集合的構(gòu)建步驟包括：

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的命令測(cè)試方法，其特征在于，所述基于測(cè)試程序，從預(yù)設(shè)命令集合中獲取待測(cè)試命令，并將所述待測(cè)試命令發(fā)送給被測(cè)設(shè)備進(jìn)行測(cè)試，包括：

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的命令測(cè)試方法，其特征在于，所述基于所述響應(yīng)結(jié)果，確定所述待測(cè)試命令對(duì)應(yīng)的測(cè)試結(jié)果，包括：

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的命令測(cè)試方法，其特征在于，所述確定所述待測(cè)試命令對(duì)應(yīng)的測(cè)試結(jié)果，之后還包括：

6.根據(jù)權(quán)利要求1至5任一項(xiàng)所述的命令測(cè)試方法，其特征在于，所述預(yù)設(shè)命令集合包括溫度獲取命令、功率獲取命令、hbm狀態(tài)獲取命令、pcie狀態(tài)獲取命令、fru信息獲取命令中的至少一種。

7.根據(jù)權(quán)利要求1至5任一項(xiàng)所述的命令測(cè)試方法，其特征在于，所述各服務(wù)器端的測(cè)試命令的命令類型均為bmc命令。

8.一種電子設(shè)備，包括存儲(chǔ)器、處理器及存儲(chǔ)在所述存儲(chǔ)器上并可在所述處理器上運(yùn)行的計(jì)算機(jī)程序，其特征在于，所述處理器執(zhí)行所述程序時(shí)實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1至7任一項(xiàng)所述命令測(cè)試方法。

9.一種非暫態(tài)計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，其上存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序，其特征在于，所述計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1至7任一項(xiàng)所述命令測(cè)試方法。

10.一種計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品，包括計(jì)算機(jī)程序，其特征在于，所述計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1至7任一項(xiàng)所述命令測(cè)試方法。

技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明涉及設(shè)備測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，提供一種命令測(cè)試方法、裝置、電子設(shè)備、存儲(chǔ)介質(zhì)和程序產(chǎn)品，其中方法包括：基于測(cè)試程序，從預(yù)設(shè)命令集合中獲取待測(cè)試命令，并將所述待測(cè)試命令發(fā)送給被測(cè)設(shè)備進(jìn)行測(cè)試，所述測(cè)試程序是預(yù)先在所述計(jì)算機(jī)平臺(tái)上構(gòu)建的，所述預(yù)設(shè)命令集合是預(yù)先基于各服務(wù)器端的測(cè)試命令構(gòu)建的，接收所述被測(cè)設(shè)備返回的響應(yīng)結(jié)果，并基于所述響應(yīng)結(jié)果，確定所述待測(cè)試命令對(duì)應(yīng)的測(cè)試結(jié)果。本發(fā)明提供的方法、裝置、電子設(shè)備、存儲(chǔ)介質(zhì)和程序產(chǎn)品，能夠在單一計(jì)算機(jī)平臺(tái)上實(shí)現(xiàn)對(duì)不同服務(wù)器端測(cè)試命令的全面覆蓋與高效測(cè)試，從而降低測(cè)試成本，提升測(cè)試效率。

技術(shù)研發(fā)人員：請(qǐng)求不公布姓名,請(qǐng)求不公布姓名,請(qǐng)求不公布姓名,請(qǐng)求不公布姓名
受保護(hù)的技術(shù)使用者：上海壁仞科技股份有限公司
技術(shù)研發(fā)日：
技術(shù)公布日：2024/10/21