立體定位轉(zhuǎn)盤式多項目干式熒光檢測儀的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明創(chuàng)造涉及醫(yī)療檢測儀器領(lǐng)域，具體涉及立體定位轉(zhuǎn)盤式多項目干式熒光檢測儀。
【背景技術(shù)】
[0002]干式熒光檢測技術(shù)是近年來興起的一種快速醫(yī)療檢測技術(shù)，該技術(shù)是以干式熒光測試卡為載體，通過測量光路，條碼識別器和測試平臺的組合使用，來進行快速醫(yī)療檢測的一種檢測技術(shù)。
[0003]干式熒光檢測技術(shù)是根據(jù)熒光免疫分析法的原理所發(fā)展出來的一種對檢測樣本中所含物質(zhì)進行定量或定性一種分析技術(shù)，其原理是被測物與檢測試劑作用，經(jīng)過一段時間的反應(yīng)，形成結(jié)合物，該結(jié)合物在特定波長激發(fā)光激發(fā)下發(fā)射出特定光譜的發(fā)射熒光，該發(fā)射光與被測物等比相關(guān)，通過對發(fā)射光熒光強度的測試，對被測物質(zhì)進行定性或定量分析，該技術(shù)具有高靈敏度、選擇性強、需樣品量少，方法簡單和方便快捷等優(yōu)點，在醫(yī)療檢測中的應(yīng)用較廣泛。
[0004]干式熒光檢測技術(shù)利用干式熒光測試卡進行檢測，干式熒光測試卡(以下簡稱:測試卡)是干式熒光檢測技術(shù)的載體，測試卡是由帶有視窗孔的塑料卡套和試紙組成(滴加了檢測樣本的干式熒光測試卡簡稱樣本測試卡)，測試卡上有顯示有檢測類別的條碼區(qū)和ABC三個區(qū)域，A區(qū)是層析區(qū)，B是測試區(qū)，C是標準區(qū)，基本結(jié)構(gòu)如圖6所示，其作用方式是:將測試樣本滴加到干式熒光測試卡A區(qū)層析區(qū)，樣本沿圖示方向流經(jīng)B區(qū)測試區(qū)和C區(qū)標準區(qū)，經(jīng)過一定時間周期，樣本會與B區(qū)內(nèi)的熒光試劑發(fā)生反應(yīng)(B區(qū)內(nèi)為過飽和的反應(yīng)物，樣本中的被測試物質(zhì)完全被反應(yīng))，再流到C區(qū)域進行反應(yīng)(C區(qū)域為含標準濃度的熒光物)，通過測量B，C兩區(qū)內(nèi)的熒光強度，比較計算兩個熒光強度，從而得到B區(qū)熒光測試卡含量，得出樣本的檢測結(jié)果。
[0005]樣本滴到干式熒光測試卡上，根據(jù)毛細原理液體往圖示方向流動，見圖6，由于材質(zhì)不均，通過每個點流速不同，最終形成螯合物的量也會有差別。而位于同一流向直線上的反應(yīng)物的量具有一定的比例關(guān)系，根據(jù)該關(guān)系計算兩個熒光強度，從而得到B區(qū)熒光測試卡含量，得出樣本的檢測結(jié)果。
[0006]但在實際應(yīng)用中，現(xiàn)有的轉(zhuǎn)盤式熒光檢測儀用于放置測試卡的卡槽一般是略寬于測試卡的寬度，以便在卡槽中取放測試卡，然而也正由于卡槽與測試卡之間存在間隙，測試卡在隨轉(zhuǎn)盤轉(zhuǎn)動的過程中會在卡槽中發(fā)生左右偏移，而用于讀取、檢測測試卡的讀卡檢測裝置與卡槽之間位置是相對固定，因此，測試卡在卡槽中的位置偏移會直接影響到讀卡檢測裝置對測試卡的檢測，而無法確保每次均是沿測試卡的中軸線進行讀取、檢測。
[0007]另一方面，測試卡在轉(zhuǎn)盤上隨轉(zhuǎn)盤轉(zhuǎn)動的過程中，由于離心力作用，測試卡會在卡槽中沿卡槽長度方向滑移，沿徑向向外滑出一小段距離，而正由于這一小段距離，導(dǎo)致讀卡檢測裝置所檢測到的測試卡上的部位不再是理想情況下的位置，若測試卡出現(xiàn)縱向偏移，最終將讀取不到理想的測試值。若測試卡位置正確，讀卡檢測裝置則能檢測到B、C的波峰值，實現(xiàn)正確測量；當(dāng)測試卡在卡槽中沿卡槽長度方向滑移，沿徑向向外滑出一小段距離時，雖然B、C之間的相對位置沒變，但B、C的實際位置同時改變了，如圖7所示，此時讀卡檢測裝置檢測到的值必定小于峰值，使讀卡檢測裝置實際檢測到的熒光強度出現(xiàn)偏差，從而影響檢測的準確度。
[0008]更壞的情況是，測試卡在卡槽中同時出現(xiàn)左后偏移及前后偏移，會使得測試卡在卡槽中呈傾斜放置，更進一步的放大誤差。如圖8所示，若測試卡出現(xiàn)偏斜，最終比較的熒光強度值將選取錯誤。正確測量時，讀卡檢測裝置的測試光源沿測試卡中軸線運動，B、C測試值成比例；但是，當(dāng)測試卡在卡槽中傾斜放置，如圖8所示，此時B/C測試值不再成比例，所得測試結(jié)果將是錯誤的。
[0009]另外，測試卡沿長度方向放置在卡槽中隨轉(zhuǎn)盤轉(zhuǎn)動等待被檢測的過程中，測試卡會被溫育，以促進測試卡上組織的反應(yīng)，由于測試卡是塑料材質(zhì)，被加熱溫育后，測試卡往往會發(fā)生輕微的彎曲變形。讀卡檢測裝置在沿徑向?qū)y試卡進行掃描檢測的時候，由于測試卡存在輕微的彎曲變形，由于讀卡檢測裝置的測試光源的入射角相同，照射在不同角度的平面上，會導(dǎo)致其反射的熒光角度出現(xiàn)偏移，若測試卡被測面不水平，最終被收集到的反射光強度值將不符合測試要求。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0010]本發(fā)明創(chuàng)造的目的在于避免現(xiàn)有技術(shù)中的上述不足之處而提供一種可避免檢測誤差的立體定位轉(zhuǎn)盤式多項目干式熒光檢測儀。
[0011]本發(fā)明創(chuàng)造的目的通過以下技術(shù)方案實現(xiàn):
[0012]提供了立體定位轉(zhuǎn)盤式多項目干式熒光檢測儀，包括安裝板、測試卡承載盤、撥卡裝置、進卡裝置、讀卡檢測裝置、取卡裝置、壓卡裝置和夾卡裝置；安裝板固定設(shè)置，測試卡承載盤水平固定于安裝板下方，撥卡裝置疊置于測試卡承載盤上，并可在測試卡承載盤上轉(zhuǎn)動，撥卡裝置上沿圓周均勻間隔設(shè)置有多個寬度與測試卡寬度相適應(yīng)的隔槽，隔槽沿徑向延伸至外圓周，所述隔槽在測試卡承載盤上形成用于放置測試卡的卡槽；進卡裝置、讀卡檢測裝置和取卡裝置分別安裝于安裝板上；進卡裝置沿徑向輸送測試卡至卡槽；讀卡檢測裝置上設(shè)置有條碼識別裝置和測量光路盒，讀卡檢測裝置可沿撥卡裝置的徑向移動以檢測卡槽內(nèi)的測試卡的條碼信息或熒光強度；測試卡承載盤上向上垂直延伸有一擋板，擋板位于讀卡檢測裝置的下方，擋設(shè)在撥卡裝置的外側(cè)以防止當(dāng)測試卡隨撥卡裝置轉(zhuǎn)動至讀卡檢測裝置時滑出卡槽；壓卡裝置位于撥卡裝置與讀卡檢測裝置之間，安裝在安裝板上，讀卡檢測裝置檢測時，觸發(fā)壓卡裝置下壓測試卡，壓平測試卡于測試卡承載盤上；夾卡裝置位于讀卡檢測裝置的下方，安裝于測試卡承載盤上，讀卡檢測裝置檢測前，夾卡裝置從測試卡兩側(cè)夾攏、扶正測試卡；取卡裝置沿徑向?qū)y試卡從卡槽內(nèi)送出。
[0013]其中，所述擋板與撥卡裝置的轉(zhuǎn)軸的距離等于卡槽內(nèi)側(cè)與撥卡裝置的轉(zhuǎn)軸的距離加上測試卡的長度再加上允許誤差。
[0014]其中，所述測試卡承載盤上向上垂直延伸有一圓弧形的擋圈用于圍擋測試卡，撥卡裝置位于擋圈內(nèi)。
[0015]其中，所述擋板呈圓弧形與擋圈同心設(shè)置，且關(guān)于讀卡檢測裝置的移動方向?qū)ΨQ設(shè)置在測試卡承載盤上，擋板與擋圈圓滑過度連接。
[0016]其中，所述擋板呈直線形，垂直于讀卡檢測裝置的移動方向，且關(guān)于讀卡檢測裝置的移動方向?qū)ΨQ設(shè)置在測試卡承載盤上，擋板與擋圈圓滑過度連接，構(gòu)成弓形圍擋結(jié)構(gòu)。
[0017]其中，所述測試卡承載盤的形狀與所述弓形圍擋結(jié)構(gòu)相適應(yīng)，擋圈和擋板設(shè)置于測試卡承載盤的邊緣，所述撥卡裝置均呈圓盤狀。
[0018]其中，所述允許誤差小于0.5mm。
[0019]其中，所述夾卡裝置包括分別位于測試卡兩側(cè)的夾板，在撥卡裝置轉(zhuǎn)動的情況，夾板收起隱藏于測試卡承載盤，在撥卡裝置轉(zhuǎn)動停止、讀卡檢測裝置要檢測前，夾板從測試卡承載盤翻起，并從測試卡兩側(cè)夾攏、扶正測試卡。
[0020]其中，所述壓卡裝置包括壓輪、壓桿、壓板和壓柱；壓輪設(shè)置在讀卡檢測裝置上、隨讀卡檢測裝置移動；壓桿通過壓柱連接至壓板，壓桿位于安裝板上方，其與安裝板之間支撐有彈簧，壓桿上設(shè)置有向上突起的突起部；壓板位于撥卡裝置與讀卡檢測裝置之間；當(dāng)讀卡檢測裝置移動到測試卡上時，壓輪沿壓桿滾壓上突起部，通過突起部下壓壓桿、并壓縮彈簧，壓桿通過壓柱推動壓板下移壓緊測試卡于測試卡承載盤上。
[0021]其中，所述壓桿沿壓輪的移動方向設(shè)置，所述突起部的頂面平整設(shè)置，所述壓板為平面板，其上開設(shè)有供讀卡檢測裝置檢測測試卡的檢測孔，壓板下壓時，壓設(shè)于測試卡的周邊。
[0022]本發(fā)明創(chuàng)造的有益效果:
[0023]本發(fā)明創(chuàng)造的立體定位轉(zhuǎn)盤式多項目干式熒