一種封閉式粉末松裝密度檢測(cè)儀的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本實(shí)用新型涉及一種封閉式粉末松裝密度檢測(cè)儀，屬于精密儀器領(lǐng)域。
【背景技術(shù)】
[0002] 粉末松裝密度（apparent density of powders)是指粉末在規(guī)定條件下自 由充滿標(biāo)準(zhǔn)容器后所測(cè)得的堆積密度，即粉末松散填裝時(shí)單位體積的質(zhì)量，單位以g/ e??3表示，是粉末的一種工藝性能。
[0003] 松裝密度是粉末多種性能的綜合體現(xiàn)，對(duì)粉末冶金、機(jī)械零件生產(chǎn)工藝的穩(wěn)定，以 及產(chǎn)品質(zhì)量的控制都是很重要的，也是模具設(shè)計(jì)的依據(jù)。
[0004] 粉末松裝密度的測(cè)量方法有3種：漏斗法；斯柯特容量計(jì)法；振動(dòng)漏斗法。
[0005] 采用漏斗法測(cè)量密度時(shí)，由于環(huán)境內(nèi)氣流或者周?chē)腥俗邉?dòng)帶來(lái)風(fēng)的影響，會(huì)造 成由漏斗漏出的粉末不呈垂直狀態(tài)進(jìn)入量筒，給測(cè)量帶來(lái)誤差，使結(jié)果不準(zhǔn)確。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0006] 本實(shí)用新型要解決的技術(shù)問(wèn)題是克服現(xiàn)有的缺陷，提供了一種消除環(huán)境干擾、測(cè) 量精準(zhǔn)的封閉式粉末松裝密度檢測(cè)儀。
[0007] 為了解決上述技術(shù)問(wèn)題，本實(shí)用新型提供了如下的技術(shù)方案：
[0008] 一種封閉式粉末松裝密度檢測(cè)儀，包括底座、支架、漏斗和量筒，所述底座的上面 為平面，所述支架安裝在所述底座的上面，所述支架上設(shè)有漏斗支撐架，所述漏斗支撐架通 過(guò)升降塊固定在所述支架上，所述漏斗設(shè)置在所述漏斗支撐架上，還包括封閉罩，所述封閉 罩設(shè)置于所述底座的上面，所述封閉罩包括四個(gè)側(cè)面和一個(gè)頂面，所述頂面設(shè)有一個(gè)圓孔， 所述漏斗穿過(guò)所述圓孔。
[0009] 在上述方案的基礎(chǔ)上，所述底座的下面帶有可調(diào)高度的螺釘；在所述底座的上面 設(shè)有水準(zhǔn)泡；所述檢測(cè)儀器還包括圓形托盤(pán)，所述圓形托盤(pán)的中心設(shè)置小圓形凹陷，所述小 圓形凹陷的直徑與所述量筒的直徑相同，在所述底座的上面設(shè)有弧形定位塊，所述弧形定 位塊的直徑與所述圓形托盤(pán)的外直徑形同，在所述底座的上面設(shè)有通過(guò)所述支架和所述弧 形定位塊的圓心的標(biāo)線。
[0010] 在上述方案的基礎(chǔ)上，所述小圓形凹陷的底面為平面，側(cè)壁為筒狀。
[0011] 在上述方案的基礎(chǔ)上，所述弧形定位塊的數(shù)目至少為一個(gè)。
[0012] 在上述任一方案的基礎(chǔ)上，正常使用時(shí)，所述圓形托盤(pán)安裝于所述弧形定位塊內(nèi)。 [0013] 在上述方案的基礎(chǔ)上，正常使用時(shí)，所述量筒安裝于所述小圓形凹陷內(nèi)。
[0014] 在上述方案的基礎(chǔ)上，正常使用時(shí)，所述漏斗支撐架沿所述標(biāo)線設(shè)置，使所述漏斗 的中心與所述量筒的中心位于同一豎直直線上。
[0015] 在上述方案的基礎(chǔ)上，所述封閉罩為透明材質(zhì)，如玻璃、硬質(zhì)塑料等。
[0016] 在上述方案的基礎(chǔ)上，所述底座的下面設(shè)有4個(gè)螺釘。
[0017] 在上述方案的基礎(chǔ)上，，所述漏斗為標(biāo)準(zhǔn)漏斗。
[0018] 在上述方案的基礎(chǔ)上，所述量筒為標(biāo)準(zhǔn)量筒。
[0019] 在上述方案的基礎(chǔ)上，所述漏斗和所述量筒的材質(zhì)為黃銅。
[0020] 本實(shí)用新型封閉式粉末松裝密度檢測(cè)儀通過(guò)設(shè)有所述封閉罩，減少了環(huán)境中空氣 流動(dòng)和人員行走產(chǎn)生風(fēng)而帶來(lái)的干擾，使測(cè)量更精準(zhǔn)。另外，由于設(shè)置所述圓形托盤(pán)，可以 將通過(guò)刮片刮去的堆積于量筒上部的粉塵收集起來(lái)，測(cè)試結(jié)束后只需清洗所述圓形托盤(pán)即 可，無(wú)需清理底座，避免了操作人員的不便，也防止了由于清理底座時(shí)誤觸其他部件而對(duì)儀 器帶來(lái)的損傷；另外，本實(shí)用新型，通過(guò)所述弧形定位塊和小圓形凹陷以及標(biāo)線的設(shè)計(jì)，是 漏斗和量筒的中心精準(zhǔn)地位于同一豎直直線上，使測(cè)試更加精準(zhǔn)、降低誤差。
【附圖說(shuō)明】
[0021] 附圖用來(lái)提供對(duì)本實(shí)用新型的進(jìn)一步理解，并且構(gòu)成說(shuō)明書(shū)的一部分，與本實(shí)用 新型的實(shí)施例一起用于解釋本實(shí)用新型，并不構(gòu)成對(duì)本實(shí)用新型的限制。在附圖中：
[0022] 圖1是本實(shí)用新型封閉式粉末松裝密度檢測(cè)儀的一優(yōu)選的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0023] 圖2本實(shí)用新型的底座、圓形托盤(pán)、量筒依次安裝的俯視示意圖；
[0024] 圖3本實(shí)用新型的封閉罩的立體示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0025] 以下結(jié)合附圖對(duì)本實(shí)用新型的優(yōu)選實(shí)施例進(jìn)行說(shuō)明，應(yīng)當(dāng)理解，此處所描述的優(yōu) 選實(shí)施例僅用于說(shuō)明和解釋本實(shí)用新型，并不用于限定本實(shí)用新型。
[0026] 實(shí)施例1
[0027] 如圖1至3所示，一種封閉式粉末松裝密度檢測(cè)儀，包括底座1、支架2、漏斗3和 量筒4,所述底座1的上面為平面，所述支架2安裝在所述底座1的上面，所述支架2上設(shè) 有漏斗支撐架5,所述漏斗支撐架5通過(guò)升降塊6固定在所述支架2上，所述漏斗3設(shè)置在 所述漏斗支撐5上，還包括封閉罩12,所述封閉罩12設(shè)置于所述底座1的上面，所述封閉 罩12包括四個(gè)側(cè)面和一個(gè)頂面，所述封閉罩12的一個(gè)側(cè)面通過(guò)與相鄰一個(gè)側(cè)面活動(dòng)連接 可向外打開(kāi)，所述頂面設(shè)有一個(gè)圓孔13,所述漏斗3穿過(guò)所述13。
[0028] 進(jìn)一步地，為了測(cè)試更精準(zhǔn)，所述底座1的下面帶有可調(diào)高度的螺釘10 ;在所述底 座1的上面設(shè)有水準(zhǔn)泡8 ;所述檢測(cè)儀器還包括圓形托盤(pán)9,所述圓形托盤(pán)9的中心設(shè)置小 圓形凹陷，所述小圓形凹陷的直徑與所述量筒4的直徑相同，在所述底座1的上面設(shè)有弧形 定位塊11，所述弧形定位塊11的直徑與所述圓形托盤(pán)9的外直徑形同，在所述底座1的上 面設(shè)有通過(guò)所述支架2和所述弧形定位塊11的圓心的標(biāo)線7。
[0029] 進(jìn)一步地，所述小圓形凹陷的底面為平面，側(cè)壁為筒狀。所述弧形定位塊11的數(shù) 目至少為一個(gè)，本實(shí)施例中優(yōu)選為兩個(gè)。這樣設(shè)計(jì)，當(dāng)正常工作時(shí)，所述圓形托盤(pán)9緊靠所 述弧形定位塊11上進(jìn)行固定，量筒4的底面才會(huì)處于水平狀態(tài)，保證測(cè)量的結(jié)果的準(zhǔn)確度 和精度。
[0030] 進(jìn)一步地，正常使用時(shí)，所述圓形托盤(pán)安裝于所述弧形定位塊內(nèi)，所述量筒4安裝 于所述小圓形凹陷內(nèi)，所述漏斗支撐架5沿所述標(biāo)線設(shè)置，使所述漏斗3的中心與所述量筒 4的中心位于同一豎直直線上。這樣設(shè)計(jì)，才會(huì)是測(cè)試的結(jié)果更精確，也更準(zhǔn)確，減少誤差。
[0031] 進(jìn)一步地，所述封閉罩12為透明材質(zhì)，如玻璃、硬質(zhì)塑料等
[0032] 進(jìn)一步地，所述底座1的下面設(shè)有4個(gè)螺釘，4個(gè)螺釘無(wú)需全部為可調(diào)，可根據(jù)需要 設(shè)置至少一個(gè)螺栓是可調(diào)高度的，以保證底座處于水平狀態(tài)。4個(gè)螺釘，可根據(jù)需要設(shè)置位 置，如處于底座的四角處。
[0033] 進(jìn)一步地，所述漏斗3為標(biāo)準(zhǔn)漏斗。
[0034] 進(jìn)一步地，所述量筒4為標(biāo)準(zhǔn)量筒。
[0035] 進(jìn)一步地，所述漏斗3和所述量筒4的材質(zhì)為黃銅。
[0036] 所述漏斗和所述量筒，根據(jù)國(guó)標(biāo)上和通用的常識(shí)，來(lái)設(shè)計(jì)具體的尺寸和材質(zhì)，只要 能夠滿足測(cè)試要求即可。
[0037] 最后應(yīng)說(shuō)明的是：以上所述僅為本實(shí)用新型的優(yōu)選實(shí)施例而已，并不用于限制本 實(shí)用新型，盡管參照前述實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型進(jìn)行了詳細(xì)的說(shuō)明，對(duì)于本領(lǐng)域的技術(shù)人員 來(lái)說(shuō)，其依然可以對(duì)前述各實(shí)施例所記載的技術(shù)方案進(jìn)行修改，或者對(duì)其中部分技術(shù)特征 進(jìn)行等同替換。凡在本實(shí)用新型的精神和原則之內(nèi)，所作的任何修改、等同替換、改進(jìn)等，均 應(yīng)包含在本實(shí)用新型的保護(hù)范圍之內(nèi)。
【主權(quán)項(xiàng)】
1. 一種封閉式粉末松裝密度檢測(cè)儀，包括底座、支架、漏斗和量筒，所述底座的上面為 平面，所述支架安裝在所述底座的上面，所述支架上設(shè)有漏斗支撐架，所述漏斗支撐架通過(guò) 升降塊固定在所述支架上，所述漏斗設(shè)置在所述漏斗支撐架上，其特征在于：還包括封閉 罩，所述封閉罩設(shè)置于所述底座的上面，所述封閉罩包括四個(gè)側(cè)面和一個(gè)頂面，所述封閉罩 的一個(gè)側(cè)面通過(guò)與相鄰一個(gè)側(cè)面活動(dòng)連接可向外打開(kāi)，所述頂面設(shè)有一個(gè)圓孔，所述漏斗 穿過(guò)所述圓孔。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的封閉式粉末松裝密度檢測(cè)儀，其特征在于：所述底座的下面 帶有可調(diào)高度的螺釘；在所述底座的上面設(shè)有水準(zhǔn)泡；所述檢測(cè)儀器還包括圓形托盤(pán)，所 述圓形托盤(pán)的中心設(shè)置小圓形凹陷，所述小圓形凹陷的直徑與所述量筒的直徑相同，在所 述底座的上面設(shè)有弧形定位塊，所述弧形定位塊的直徑與所述圓形托盤(pán)的外直徑形同，在 所述底座的上面設(shè)有通過(guò)所述支架和所述弧形定位塊的圓心的標(biāo)線。
3. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的封閉式粉末松裝密度檢測(cè)儀，其特征在于：所述小圓形凹陷 的底面為平面，側(cè)壁為筒狀。
4. 根據(jù)權(quán)利要求3所述的封閉式粉末松裝密度檢測(cè)儀，其特征在于：所述弧形定位塊 的數(shù)目至少為一個(gè)。
5. 根據(jù)權(quán)利要求2至4中任一項(xiàng)所述的封閉式粉末松裝密度檢測(cè)儀，其特征在于：正 常使用時(shí)，所述圓形托盤(pán)安裝于所述弧形定位塊內(nèi)。
6. 根據(jù)權(quán)利要求5所述的封閉式粉末松裝密度檢測(cè)儀，其特征在于：正常使用時(shí)，所述 量筒安裝于所述小圓形凹陷內(nèi)。
7. 根據(jù)權(quán)利要求6所述的封閉式粉末松裝密度檢測(cè)儀，其特征在于：正常使用時(shí)，所述 漏斗支撐架沿所述標(biāo)線設(shè)置，使所述漏斗的中心與所述量筒的中心位于同一豎直直線上。
8. 根據(jù)權(quán)利要求7所述的封閉式粉末松裝密度檢測(cè)儀，其特征在于：所述封閉罩為透 明材質(zhì)。
9. 根據(jù)權(quán)利要求8所述的封閉式粉末松裝密度檢測(cè)儀，其特征在于：所述漏斗為標(biāo)準(zhǔn) 漏斗。
10. 根據(jù)權(quán)利要求9所述的封閉式粉末松裝密度檢測(cè)儀，其特征在于：所述量筒為標(biāo)準(zhǔn) 量筒。
【專利摘要】本實(shí)用新型公開(kāi)了一種封閉式粉末松裝密度檢測(cè)儀，包括底座、支架、漏斗和量筒，所述底座的上面為平面，所述支架安裝在所述底座的上面，所述支架上設(shè)有漏斗支撐架，所述漏斗支撐架通過(guò)升降塊固定在所述支架上，所述漏斗設(shè)置在所述漏斗支撐架上，其特征在于：還包括封閉罩，所述封閉罩設(shè)置于所述底座的上面，所述封閉罩包括四個(gè)側(cè)面和一個(gè)頂面，所述頂面設(shè)有一個(gè)圓孔，所述漏斗穿過(guò)所述圓孔。本實(shí)用新型測(cè)試結(jié)束后只需清洗圓形托盤(pán)即可，無(wú)需清理底座，避免了操作人員的不便，防止了由于清理底座時(shí)誤觸其他部件而對(duì)儀器帶來(lái)的損傷；使測(cè)試更加精準(zhǔn)降低誤差。
【IPC分類】G01N9-00
【公開(kāi)號(hào)】CN204556438
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201520248834
【發(fā)明人】劉慧玲, 張振興
【申請(qǐng)人】機(jī)械工業(yè)辦公自動(dòng)化設(shè)備檢驗(yàn)所
【公開(kāi)日】2015年8月12日
【申請(qǐng)日】2015年4月22日