基于電渦流傳感器轉(zhuǎn)速測試的轉(zhuǎn)速發(fā)生裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種監(jiān)測旋轉(zhuǎn)機(jī)械軸的轉(zhuǎn)速的裝置，尤其是采用電渦流傳感器測試的轉(zhuǎn)速的裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]電渦流傳感器的原理是過電渦流效應(yīng)的原理，準(zhǔn)確測量被測體(必須是金屬導(dǎo)體)與探頭端面的相對位置。其特點(diǎn)是長期工作可靠性好、靈敏度高、抗干擾能力強(qiáng)、非接觸測量、響應(yīng)速度快、不受油水等介質(zhì)的影響。電渦流傳感器常被用于對大型旋轉(zhuǎn)機(jī)械的軸位移、軸振動、軸轉(zhuǎn)速等參數(shù)進(jìn)行長期實(shí)時(shí)監(jiān)測，分析設(shè)備的工作狀況和故障原因，進(jìn)而有效地對設(shè)備進(jìn)行保護(hù)及預(yù)維修。轉(zhuǎn)速是衡量機(jī)器正常運(yùn)轉(zhuǎn)的一個(gè)重要指標(biāo)，對于所有旋轉(zhuǎn)機(jī)械而言，都需要監(jiān)測旋轉(zhuǎn)機(jī)械軸的轉(zhuǎn)速。如圖1中所示，常用的轉(zhuǎn)速發(fā)生裝置有以下幾種:用標(biāo)準(zhǔn)的漸開的線齒輪(M1~M5)作轉(zhuǎn)速發(fā)生信號、在轉(zhuǎn)軸上開一鍵槽(圖a)、在軸轉(zhuǎn)上安裝凸鍵(圖b)、在轉(zhuǎn)軸上開孔眼(圖c)等對應(yīng)傳感器形成轉(zhuǎn)速發(fā)生信號裝置等，其主要存在問題是無法實(shí)現(xiàn)單個(gè)與多個(gè)齒的選擇測量，以及無法實(shí)現(xiàn)軸向與徑向的不同方位的齒數(shù)選擇測量，以適應(yīng)不同轉(zhuǎn)速測量的要求。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本發(fā)明是要提供一種基于電渦流傳感器轉(zhuǎn)速測試的轉(zhuǎn)速發(fā)生裝置，用于實(shí)現(xiàn)單個(gè)與多個(gè)齒的選擇測量，以及實(shí)現(xiàn)軸向與徑向的不同方位的齒數(shù)選擇測量，以適應(yīng)不同轉(zhuǎn)速測量的要求。
[0004]為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明的技術(shù)方案是:一種基于電渦流傳感器轉(zhuǎn)速測試的轉(zhuǎn)速發(fā)生裝置，具有一個(gè)齒狀基底，所述齒狀基底為盤狀或帶狀，齒狀基底上面設(shè)有至少一個(gè)測量齒，所述齒狀基底內(nèi)，測量齒下面設(shè)有調(diào)整孔，調(diào)整孔內(nèi)嵌入調(diào)整件，用于實(shí)現(xiàn)單個(gè)或多個(gè)齒的選擇測量，以及軸向與徑向的不同方位的齒數(shù)選擇測量。
[0005]所述齒狀基底為盤狀時(shí)，齒盤基底的Di的圓周上布置有數(shù)量與齒數(shù)量相等并位置對應(yīng)的調(diào)整孔，且調(diào)整孔呈橢圓形，長軸為齒盤基底的圓周方向，短軸為齒盤基底的直徑方向，調(diào)整件為圓柱形，當(dāng)調(diào)整件嵌入調(diào)整孔后，其上對應(yīng)的測量齒向外突出，以及軸向突出，形成單齒或多齒選擇測量，調(diào)整件的長度大于齒狀基底的厚度。
[0006]所述齒狀基底為帶狀時(shí)，齒條基底的長度為等于被測軸圓周長，齒條基底上的調(diào)整孔呈正方形，并與齒位置對應(yīng)，調(diào)整件形狀為長方形，當(dāng)調(diào)整件嵌入調(diào)整孔后，對應(yīng)的測量齒向上抬高，以及軸向突出，形成單齒或多齒測量，調(diào)整件的長度大于齒狀基底的厚度。
[0007]所述齒狀基底的材料為導(dǎo)電、導(dǎo)磁橡膠；所述調(diào)整件的材料為金屬導(dǎo)磁材料。
[0008]本發(fā)明的有益效果是:本發(fā)明的基于電渦流傳感器轉(zhuǎn)速測試的轉(zhuǎn)速發(fā)生裝置的齒狀基底有盤狀及帶狀兩類，利用調(diào)整裝置調(diào)整測量齒的位置。由于調(diào)整件為金屬導(dǎo)磁材料，因此測量傳感器可以布置在被測軸的徑向利用測量齒進(jìn)行測量，也可以布置在軸向利用調(diào)整件進(jìn)行測量。同時(shí)由于調(diào)整件與齒盤形裝置材料的反光差異，還可以利用光電式傳感器進(jìn)行轉(zhuǎn)速測量。因此，可以實(shí)現(xiàn)單個(gè)與多個(gè)齒的測量，以及實(shí)現(xiàn)軸向與徑向的不同方位測量，以適應(yīng)不同轉(zhuǎn)速測量的要求。
【附圖說明】
[0009]圖1是常用的轉(zhuǎn)速發(fā)生裝置的示意圖；
其中:(a)為轉(zhuǎn)軸上開一鍵槽，(b)為軸轉(zhuǎn)上安裝凸鍵，(c)為轉(zhuǎn)軸上開孔眼；
圖2是齒盤形轉(zhuǎn)速發(fā)生裝置結(jié)構(gòu)主視圖；
圖3是圖2中沿1-Ι的剖視圖；
圖4是齒條形轉(zhuǎn)速發(fā)生裝置結(jié)構(gòu)剖視圖圖5是圖4的俯視圖；
圖6是圓柱形的調(diào)整件不意圖；
圖7是圖6的俯視圖；
圖8是長方形的調(diào)整件示意圖；
圖9是圖8的俯視圖；
圖10是齒盤形轉(zhuǎn)速發(fā)生裝置中嵌入單個(gè)調(diào)整件前、后對比圖；
圖11是齒條形轉(zhuǎn)速發(fā)生裝置中嵌入單個(gè)調(diào)整件后示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0010]下面結(jié)合附圖與實(shí)施例對本發(fā)明作進(jìn)一步說明。
[0011]如圖2至圖5所示，一種基于電渦流傳感器轉(zhuǎn)速測試的轉(zhuǎn)速發(fā)生裝置有盤狀及帶狀兩類，齒狀基底1上面設(shè)有至少一個(gè)測量齒2，齒狀基底1內(nèi)，測量齒2下面設(shè)有調(diào)整孔3，調(diào)整孔3內(nèi)嵌入調(diào)整件4，利用調(diào)整件4調(diào)整測量齒的徑向位置與軸向形成調(diào)整件4和齒狀基底1的位置差，能夠?qū)崿F(xiàn)單個(gè)與多個(gè)齒的選擇測量，以及實(shí)現(xiàn)軸向與徑向的不同方位的選擇測量，調(diào)整件數(shù)量由選擇測量齒數(shù)決定，以適應(yīng)不同轉(zhuǎn)速測量的要求。齒基底1的基本材料由導(dǎo)電、導(dǎo)磁橡膠構(gòu)成，調(diào)整件4為金屬導(dǎo)磁材料，調(diào)整件4的剛性遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于齒盤及齒條的剛性，調(diào)整件的長度略大于齒狀基底的厚度。
[0012]如圖2，3所示，齒盤形轉(zhuǎn)速發(fā)生裝置類似齒輪形狀，其測量原理同常規(guī)電渦流傳感器轉(zhuǎn)速測試，即如齒盤形裝置上有Z個(gè)齒，軸每轉(zhuǎn)一圈傳感器得到η個(gè)信號，則軸的轉(zhuǎn)速為η/Ζ。在齒盤的圓周上布置有調(diào)整孔3，調(diào)整孔3呈橢圓形，長軸為齒盤的圓周方向，短軸為齒盤的直徑方向，其數(shù)量與齒Z的數(shù)量相等，并位于齒的下方。Di大于(D+D2)/2，SP偏向D的一側(cè)。當(dāng)齒盤形轉(zhuǎn)速發(fā)生裝置調(diào)整件4嵌入調(diào)整孔3后，相應(yīng)位置產(chǎn)生徑向變形A (圖10)，使對應(yīng)的齒向外突出并高于其它未安裝調(diào)整件的齒，形成單齒測量的作用，此時(shí)測量齒數(shù)為一。根據(jù)測量需求，可對稱嵌入調(diào)整件4，形成多個(gè)測量齒數(shù)。由于調(diào)整件4為金屬導(dǎo)磁材料，并調(diào)整件的長度略大于齒狀基底的厚度，因此測量傳感器可以布置在被測軸的徑向利用測量齒進(jìn)行測量，也可以布置在軸向利用調(diào)整件進(jìn)行測量。同時(shí)由于調(diào)整件4與齒盤形裝置材料的反光差異，還可以利用光電式傳感器進(jìn)行轉(zhuǎn)速測量。
[0013]如圖4，5所示，齒條形轉(zhuǎn)速發(fā)生裝置類似齒條形狀，可以方便的纏繞在旋轉(zhuǎn)軸上。齒條形轉(zhuǎn)速發(fā)生裝置的長度可由被測軸的直徑周長自由裁剪。齒條形轉(zhuǎn)速發(fā)生裝置具有正方形的調(diào)整孔3，對應(yīng)的調(diào)整件4形狀為長方形。安裝時(shí)邊長大的一方與齒高同向，可以抬高對應(yīng)測量齒的高度△(圖11)，并調(diào)整件的長度略大于齒狀基底的厚度，形成徑向與軸向單齒或多齒選擇測量。
[0014]調(diào)整件為金屬導(dǎo)磁材料，可以用來墊高測試齒，也可以作為測試元件使用。如圖6，7所示，齒盤形轉(zhuǎn)速發(fā)生裝置的調(diào)整件為圓柱形。如圖8，9所示，齒條形裝置的調(diào)整件為立體長方形。
[0015]如圖2，3，10所示，齒盤形轉(zhuǎn)速發(fā)生裝置由設(shè)置有測量齒和調(diào)整孔的齒盤、圓形調(diào)整件等組成。齒盤用高強(qiáng)度黏結(jié)劑粘貼在被測軸上，并與被測軸同心。徑向測量時(shí)，當(dāng)被測軸旋轉(zhuǎn)時(shí)傳感器每接近一個(gè)測量齒時(shí)產(chǎn)生一個(gè)測量信號，經(jīng)過信號處理即可得到被測軸的轉(zhuǎn)速。當(dāng)嵌入圓形調(diào)整件后可以實(shí)現(xiàn)單個(gè)與多個(gè)齒的選擇測量，也可以實(shí)現(xiàn)軸向與徑向的不同方位選擇測量，調(diào)整件數(shù)量由選擇測量齒數(shù)決定，以適應(yīng)不同轉(zhuǎn)速測量的要求，如圖10所示。利用調(diào)整件與齒盤形裝置材料的反光差異，還可以利用光電式傳感器進(jìn)行轉(zhuǎn)速測量。
[0016]如圖4，5，11所示，齒條形轉(zhuǎn)速發(fā)生裝置由設(shè)置有測量齒與調(diào)整孔的齒條、正方形調(diào)整件等組成。齒條用高強(qiáng)度黏結(jié)劑以纏繞的方式粘帖在被測軸上，與軸的周長一致。如臨時(shí)短期測量也可以用捆扎的方式。徑向測量時(shí)，當(dāng)被測軸旋轉(zhuǎn)時(shí)傳感器每接近一個(gè)測量齒時(shí)產(chǎn)生一個(gè)測量信號，經(jīng)過信號處理即可得到被測軸的轉(zhuǎn)速。當(dāng)嵌入正方形調(diào)整件后可以實(shí)現(xiàn)單個(gè)與多個(gè)齒的選擇測量，也可以實(shí)現(xiàn)軸向與徑向的不同方位選擇測量，調(diào)整件數(shù)量由選擇測量齒數(shù)決定，以適應(yīng)不同轉(zhuǎn)速測量的要求，如圖11所示。利用調(diào)整件與齒盤形裝置材料的反光差異，還可以利用光電式傳感器進(jìn)行轉(zhuǎn)速測量。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種基于電渦流傳感器轉(zhuǎn)速測試的轉(zhuǎn)速發(fā)生裝置，具有一個(gè)齒狀基底(1)，所述齒狀基底(1)為盤狀或帶狀，所述齒狀基底(1)上面設(shè)有至少一個(gè)測量齒(2)，其特征在于:所述齒狀基底⑴內(nèi)測量齒⑵下面設(shè)有調(diào)整孔(3)，調(diào)整孔(3)內(nèi)嵌入調(diào)整件(4)，用于實(shí)現(xiàn)單個(gè)或多個(gè)齒的選擇測量，以及實(shí)現(xiàn)軸向與徑向的不同方位的齒數(shù)選擇測量。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于電渦流傳感器轉(zhuǎn)速測試的轉(zhuǎn)速發(fā)生裝置，其特征在于:所述齒狀基底(1)為盤狀時(shí)，齒狀基底(1)的圓周上布置有數(shù)量與齒數(shù)相等并位置對應(yīng)的調(diào)整孔(3)，且調(diào)整孔(3)呈橢圓形，長軸為齒狀基底(1)的圓周方向，短軸為齒狀基底(1)的直徑方向，調(diào)整件(4)為圓柱形，當(dāng)調(diào)整件(4)嵌入調(diào)整孔(3)后，其上對應(yīng)的測量齒(2)向外突出，形成單齒或多齒測量，調(diào)整件(4)的長度大于齒狀基底(1)的厚度。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于電渦流傳感器轉(zhuǎn)速測試的轉(zhuǎn)速發(fā)生裝置，其特征在于:所述齒狀基底(1)為帶狀時(shí)，齒狀基底(1)的長度為等于被測軸圓周長，齒條基底(1)上的調(diào)整孔⑶呈正方形，調(diào)整件⑷形狀為長方形，當(dāng)調(diào)整件⑷嵌入調(diào)整孔⑶后，對應(yīng)的測量齒(2)向上抬高，形成單齒或多齒選擇測量，調(diào)整件(4)的長度大于齒狀基底(1)的厚度。4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于電渦流傳感器轉(zhuǎn)速測試的轉(zhuǎn)速發(fā)生裝置，其特征在于:所述齒狀基底(1)的材料為導(dǎo)電、導(dǎo)磁橡膠；所述調(diào)整件(4)的材料為金屬導(dǎo)磁材料。
【專利摘要】本發(fā)明涉及一種基于電渦流傳感器轉(zhuǎn)速測試的轉(zhuǎn)速發(fā)生裝置，具有一個(gè)齒狀基底，齒狀基底為盤狀或帶狀，齒狀基底上面設(shè)有至少一個(gè)測量齒，所述齒狀基底內(nèi)，測量齒下面設(shè)有調(diào)整孔，調(diào)整孔內(nèi)嵌入調(diào)整件，用于實(shí)現(xiàn)單個(gè)或多個(gè)齒的測量，以及軸向與徑向的不同方位測量。本發(fā)明的轉(zhuǎn)速發(fā)生裝置有盤狀及帶狀兩類，利用調(diào)整裝置調(diào)整測量齒的位置。由于調(diào)整件為金屬導(dǎo)磁材料，因此測量傳感器可以布置在被測軸的徑向利用測量齒進(jìn)行測量，也可以布置在軸向利用調(diào)整件進(jìn)行測量。同時(shí)由于調(diào)整件與齒盤形裝置材料的反光差異，還可以利用光電式傳感器進(jìn)行轉(zhuǎn)速測量。因此，可以實(shí)現(xiàn)單個(gè)與多個(gè)齒的測量，以及實(shí)現(xiàn)軸向與徑向的不同方位測量，以適應(yīng)不同轉(zhuǎn)速測量的要求。
【IPC分類】G01P3/49
【公開號】CN105424968
【申請?zhí)枴緾N201510744945
【發(fā)明人】紀(jì)林章, 石鋼, 祁峰, 范建祥, 劉越
【申請人】上海應(yīng)用技術(shù)學(xué)院
【公開日】2016年3月23日
【申請日】2015年11月5日