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一種檢測鍵盤鍵帽彈力或拉拔力不良的檢測方法

文檔序號:9504806閱讀:769來源:國知局
一種檢測鍵盤鍵帽彈力或拉拔力不良的檢測方法
【技術領域】
[0001]本發(fā)明涉及一種檢測方法,特別是涉及一種檢測鍵盤鍵帽彈力或拉拔力不良的檢測方法。
【背景技術】
[0002]鍵盤一般是由鋁基板、線路板、剪刀支撐架和鍵帽組裝而成的,目前已知的造成鍵盤鍵帽彈力或拉拔力不良的主要原因有:1、來料不良,例如鋁基板卡勾變形、剪刀支撐架中軸斷裂或內外剪刀配裝鍵帽結構處缺料和崩塌、鍵帽的四角與內外剪刀配裝處(即書面名為水滴孔和滑槽結構)存在不良;2、裝配不良,例如在組裝的過程中由于人為或組裝的機械設備不良損壞了鍵盤或鍵帽結構。
[0003]以上兩點造成鍵盤鍵帽彈力或拉拔力不足或沒有彈力的主要原因,將直接導致鍵盤做成成品后會嚴重影響鍵盤的使用壽命和使用的機械手感。所以鍵帽安裝到鍵盤上后,為了確保后續(xù)使用的可靠性,需要對鍵盤鍵帽組裝后的拉拔力進行測試。
[0004]現(xiàn)有技術中,一般采用手摳鍵盤鍵帽的方式來判斷拉拔力能否滿足使用要求,這種檢測方式人為主觀性強,容易導致誤判,而且需要投入大量的人力,成本高但效率低,顯然無法滿足現(xiàn)代工業(yè)生產(chǎn)的要求。
[0005]目前,一般使用機械設備進行自動檢測,比如:使用刷key機,在組裝好的鍵盤鍵帽上正方,用一塊柔性硅膠下降到鍵帽上方并干涉接觸,然而這種檢測方法存在檢出率很低且會對良品造成損傷等不足;或是使用頂key機,在組裝好的鍵盤鍵帽下正方,在每個key的正下方裝上對應探針,用探針的壓縮行程量來控制探針的彈力,從而把不良的鍵帽頂出鍵帽整體結構,因為整個不良的判斷是靠人工目測完成而需要很明顯的鍵帽脫離,由于鍵盤的多變性和探針的疲勞耐力有限,故檢出率也很低并誤判率也很高;再或是使用吸key機,在每個鍵帽的上方用吸盤靠足夠的真空于鍵帽表面接觸,從而產(chǎn)生吸力,往上拉拔鍵帽,由于吸盤的力是垂直向上的,而單腳的結構不良鍵帽,它的垂直拉拔力是正常的所以檢出力也會大大折扣,并且鍵盤的多變性多樣性,造成設備的更換維護成本很高。

【發(fā)明內容】

[0006]本發(fā)明的主要目的在于,克服現(xiàn)有技術中的不足,提供一種新的檢測鍵盤鍵帽彈力或拉拔力不良的檢測方法,自動化程度高,檢出率高、誤判率低,對良品不會造成損傷,能適應鍵盤的多變性,而且檢測成本低,安全可靠、實用性強。
[0007]為了達到上述目的,本發(fā)明所采用的技術方案是:
一種檢測鍵盤鍵帽彈力或拉拔力不良的檢測方法,包括以下步驟:
1)對待檢測的鍵盤用下壓機構壓持,使得鍵盤穩(wěn)固不動;
2)采用底部帶鉤子的稱重傳感器單獨掛住待檢測鍵盤中的一個鍵帽進行檢測接觸,稱重傳感器的鉤子直接作用于鍵帽的任意一條側邊緣的底面;
3)使用驅動器驅動稱重傳感器垂直向上移動設定行程,通過稱重傳感器實時反饋鉤子的模量變化至采集處理控制器進行鍵帽實時拉拔力的采集;
4)采集處理控制器中預存有鍵帽的正常拉拔力數(shù)據(jù)庫,通過采集處理控制器將采集的鍵帽實時拉拔力與數(shù)據(jù)庫中正常拉拔力進行比較并判定;
若鍵帽實時拉拔力處于正常拉拔力的上限與下限范圍之內、則判定鍵帽拉拔力正常,繼而判定鍵帽為良品;
若鍵帽實時拉拔力超出正常拉拔力的上限或低于正常拉拔力的下限,則判定鍵帽拉拔力不良,繼而判定鍵帽為不良品。
[0008]本發(fā)明進一步設置為:所述步驟2)中稱重傳感器的鉤子或作用于鍵帽的任意相鄰側邊緣的相交角的底面。
[0009]本發(fā)明進一步設置為:所述步驟2)中稱重傳感器的鉤子直接勾掛于鍵帽中水平分布的兩條橫邊中任意一條橫邊底面,設鍵帽橫邊長度為L,稱重傳感器的勾掛點與橫邊中心點的距離為X,0〈X〈0.5L。
[0010]本發(fā)明進一步設置為:所述稱重傳感器的勾掛點與橫邊中心點的距離為X=0.4L。
[0011]本發(fā)明進一步設置為:所述步驟2)中稱重傳感器包括并列設置成排的若干個,若干個稱重傳感器依次對應鍵盤中水平分布的一排鍵帽,每一個稱重傳感器均單獨勾掛對應鍵帽進行檢測。
[0012]本發(fā)明進一步設置為:所述步驟3)還包括將采集的鍵帽實時拉拔力進行數(shù)據(jù)存儲。
[0013]本發(fā)明進一步設置為:所述數(shù)據(jù)存儲的存儲方式按照鍵帽所在鍵盤的坐標位置與鍵帽實時拉拔力對應方式。
[0014]本發(fā)明進一步設置為:所述步驟4)還包括對鍵帽實時拉拔力的判定結果進行數(shù)據(jù)記錄。
[0015]本發(fā)明進一步設置為:所述數(shù)據(jù)記錄的記錄方式按照鍵帽所在鍵盤的坐標位置與判定結果--對應方式。
[0016]本發(fā)明進一步設置為:所述步驟4)還包括將判定為鍵帽拉拔力不良的判斷結果進行不良位置和不良值同步顯示。
[0017]與現(xiàn)有技術相比,本發(fā)明具有的有益效果是:
利用鍵盤的每個鍵帽邊緣都有其固定的相對應行程的向上拉拔力現(xiàn)象,通過底部帶鉤子的稱重傳感器單獨掛住待檢測鍵盤中的鍵帽進行檢測接觸,經(jīng)采集處理控制器將采集的鍵帽實時拉拔力與正常拉拔力進行比較并判定,從而檢測出不良品;檢測方法操作簡便、自動化程度高,能適應鍵盤的多變性,具有檢出率高、誤判率低、不損傷良品、檢測成本低、安全可靠等諸多優(yōu)點。
[0018]上述內容僅是本發(fā)明技術方案的概述,為了更清楚的了解本發(fā)明的技術手段,下面結合附圖對本發(fā)明作進一步的描述。
【附圖說明】
[0019]圖1為本發(fā)明實施例中稱重傳感器的勾掛點的分布圖。
【具體實施方式】
[0020]下面結合說明書附圖,對本發(fā)明作進一步的說明。
[0021]本發(fā)明提供一種檢測鍵盤鍵帽彈力或拉拔力不良的檢測方法,其利用鍵盤的每個鍵帽邊緣都有其固定的相對應行程的向上拉拔力這一原理,具體包括以下步驟:
1)對待檢測的鍵盤用下壓機構壓持,使得鍵盤穩(wěn)固不動。
[0022]2)采用底部帶鉤子的稱重傳感器單獨掛住待檢測鍵盤中的一個鍵帽進行檢測接觸,稱重傳感器的鉤子直接作用于鍵帽的任意一條側邊緣或是作用于鍵帽的任意相鄰側邊緣的相交角。優(yōu)選采用若干個稱重傳感器并列設置成排,對鍵盤中水平分布的任意一排鍵帽同時進行檢測,每一個稱重傳感器均單獨勾掛對應鍵帽,實現(xiàn)一排一排的按序檢測。
[0023]如圖1所示,圖中的方形框1代表一個鍵帽,方形框1的四條邊為鍵帽的側邊緣底面邊、包括處于水平分布的橫邊11兩條和處于垂直分布的豎邊12兩條;稱重傳感器的鉤子優(yōu)
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