例如，如果紅外發(fā)射強度信息包括多個變化強度數(shù)據(jù)點，比如表示為熱圖像中的像素的數(shù)據(jù)點，則每個數(shù)據(jù)點/像素的強度可由對照強度分割，以達到試件14的標準化紅外發(fā)射強度。試件紅外發(fā)射強度信息還可以使用本領域技術人員已知的其它方案標準化。熱圖像可從標準化紅外發(fā)射信息中產生，使得人類可評估結果，或者標準化紅外發(fā)射信息可簡單地以數(shù)據(jù)形式操縱，使得其被自動地評估。在標準化步驟之前，紅外發(fā)射信息可首先針對任何背景信息校正。
[0022]熱校準器12還可由高發(fā)射率涂料涂覆。該涂料確保熱校準器12不會向外反射紅外光。熱校準器12可構造成離開它的任何熱空氣不會加熱試件14。在實施例中，熱校準器12可以是薄壁鋁管(約0.5mm)，其可在外部噴砂。
[0023]圖4示出無損測試設備的夾具10的示例性實施例。代替具有將第二流28引導至熱校準器12的內部通道30的第二流動通道26，在該示例性實施例中，第二開口 34將第二流52引導成撞擊熱校準器12的表面46。
[0024]圖5示出無損測試設備的夾具10的另一示例性實施例。代替將加熱空氣的供給分為平行的流動通道，在該示例性實施例中，熱校準器12和試件14串聯(lián)地暴露于加熱空氣的單個供給60。在所示實施例中，加熱空氣的單個供給60首先進入熱校準器12，行進通過連接通道62，然后單個供給60進入試件14的內部?；蛘?，單個供給60可首先進入試件14，然后流入熱校準器12或撞擊熱校準器12的表面46。因首先加熱熱校準器12然后加熱試件14產生的單個流動60的任何溫度損失可忽略不計。類似地，沿第一流24和第二流28的任何溫差也可忽略不計。
[0025]熱校準器12作為相機的空氣溫度計而操作。然而，其不能由實際的溫度計代替，比如放置在空氣流中的熱電偶。這是因為在本文所公開的方法中，使用相同紅外傳感器同時收集空氣溫度和樣本數(shù)據(jù)。消除了響應率的任何變化。例如，這不是使用熱電偶的情況。另外，熱校準器考慮到熱空氣熱成像數(shù)據(jù)的平均和傅里葉變換處理。任何熱電偶數(shù)據(jù)需要以一些未知校正參數(shù)時間平均。此外，由于熱空氣脈沖化，所以熱電偶需要不太能獲得的快速響應時間。然而，這在熱校準器的情況下不是問題。另外，任何熱電偶裝置需要放置在相關位置處，但是至少部分地由于流動擾動，這已被證明是困難的。在熱校準器的情況下，響應在整個流動上平均化。由于這些原因以及上面詳細描述的原因，該方法和設備代表本領域的改進。
[0026]盡管本文中顯示和描述了本發(fā)明的各實施例，但是應明白，這種實施例僅以示例的方式提供。在不脫離本發(fā)明的情況下，可以進行許多變型、改變和替代。相應地，本發(fā)明僅由所附權利要求的精神和范圍限制。
【主權項】
1.一種無損評估的方法，包括: 將包括內部通道和外表面的試件以及熱校準器布置在紅外傳感器的視場內； 產生由流體溫度表征的流體流； 使試件內部通道和所述熱校準器暴露于來自所述流的流體； 使用所述紅外傳感器同時捕獲試件外表面和所述熱校準器的紅外發(fā)射信息，其中，試件紅外發(fā)射信息包括發(fā)射強度信息，并且其中，熱校準器紅外發(fā)射信息包括與所述流體溫度相關聯(lián)的對照發(fā)射強度；以及 使試件發(fā)射強度信息針對對照發(fā)射強度標準化。
2.如權利要求1所述的方法，還包括使用標準化的試件發(fā)射強度信息產生試件的熱圖像。
3.如權利要求1所述的方法，還包括將所述流體流分為第一流和第二流、使試件內部通道暴露于所述第一流以及使所述熱校準器暴露于所述第二流。
4.如權利要求1所述的方法，還包括使所述試件內部通道和所述熱校準器相繼地暴露于所述流體流。
5.如權利要求1所述的方法，還包括用所述流體撞擊所述熱校準器的表面。
6.如權利要求1所述的方法，其中，所述試件發(fā)射強度信息包括多個像素，每個像素包括像素強度，所述方法還包括通過所述對照發(fā)射強度分割每個像素強度，以標準化試件紅外信息。
7.如權利要求1所述的方法，還包括在所述熱校準器的給定位置處捕獲所述對照發(fā)射強度。
8.如權利要求1所述的方法，還包括在最大紅外發(fā)射強度的位置處捕獲所述對照發(fā)射強度。
9.一種無損評估的方法，包括: 將第一試件和熱校準器布置在紅外傳感器的視場內； 產生由第一流體溫度表征的第一流體流； 使所述第一試件和所述熱校準器暴露于來自所述第一流的流體； 使用所述紅外傳感器同時捕獲所述第一試件和所述熱校準器的第一紅外發(fā)射信息，其中，第一試件第一紅外發(fā)射信息包括第一發(fā)射強度信息，并且其中，熱校準器第一紅外發(fā)射信息包括與所述第一流體溫度相關聯(lián)的第一對照發(fā)射強度； 使第一發(fā)射強度信息針對第一對照發(fā)射強度標準化；以及 使用標準化的第一發(fā)射強度信息產生所述第一試件的第一熱圖像。
10.如權利要求9所述的方法，還包括: 將第二試件和熱校準器布置在紅外傳感器的視場內； 產生由第二流體溫度表征的第二流體流； 使所述第二試件和所述熱校準器暴露于來自所述第二流的流體； 使用所述紅外傳感器同時捕獲所述第二試件和所述熱校準器的第二紅外發(fā)射信息，其中，第二試件紅外發(fā)射信息包括第二發(fā)射強度信息，并且其中，由所述熱校準器產生的第二紅外發(fā)射信息包括與所述第二流體溫度相關聯(lián)的第二對照發(fā)射強度； 使第二發(fā)射強度信息針對第二對照發(fā)射強度標準化；以及 使用標準化的第二發(fā)射強度信息并使用與所述第一熱圖像相同的溫標產生所述第二試件的第二熱圖像。
11.如權利要求10所述的方法，還包括確保第一試件流路與第二試件流路相同，所述第一試件流路確立所述第一流體流和所述第一試件之間的流體連通，所述第二試件流路確立所述第二流體流和所述第二試件之間的流體連通。
12.如權利要求10所述的方法，還包括確保第一校準器流路與第二熱校準器流路相同，所述第一熱校準器流路確立所述第一流體流和所述熱校準器之間的流體連通，所述第二熱校準器流路確立所述第二流體流和所述熱校準器之間的流體連通。
13.如權利要求10所述的方法，還包括比較所述第一熱圖像和所述第二熱圖像。
14.一種無損評估的系統(tǒng)，包括: 紅外成像傳感器，構造成捕獲視場中的紅外信息； 熱校準器，構造成當暴露于加熱流體時發(fā)射紅外信息；以及 一組件，構造成: 將試件和所述熱校準器定位在視場中； 接收加熱流體的供給； 使所述加熱流體的供給和所述試件的內部通道之間流體連通；以及 使所述加熱流體的供給和所述熱校準器之間流體連通。
15.如權利要求14所述的系統(tǒng)，其中，所述系統(tǒng)還構造成在夾層空間中接收單個加熱流體流，并且其中，所述組件還包括第一孔和第二孔，所述第一孔構造成允許所述夾層空間和試件內部通道之間流體連通，所述第二孔構造成允許所述夾層空間和所述熱校準器之間流體連通。
16.如權利要求15所述的系統(tǒng)，其中，所述第二孔允許所述夾層空間和所述熱校準器內部的流體連通。
17.如權利要求15所述的系統(tǒng)，其中，所述第二孔構造成將所述加熱流體的供給的至少一部分引導成撞擊所述熱校準器的表面。
18.如權利要求14所述的系統(tǒng)，其中，所述系統(tǒng)還構造成接收單個加熱流體流，并將其分為到所述試件的內部通道的第一流路和到所述熱校準器的第二流路。
19.如權利要求14所述的系統(tǒng)，其中，所述系統(tǒng)接收單個流，并將所述單個流的至少一部分輸送至試件內部通道和所述熱校準器。
20.如權利要求14所述的系統(tǒng)，其中，所述熱校準器包括由高發(fā)射率涂料涂覆的表面。
【專利摘要】一種無損評估的方法和相關系統(tǒng)。該方法包括將具有內部通道(18)和外表面(15)的試件(14)以及熱校準器(12)布置在紅外傳感器(44)的視場(42)內；產生由流體溫度表征的流體流(16)；使試件內部通道(18)和所述熱校準器(12)暴露于來自所述流(16)的流體；使用所述紅外傳感器(44)同時捕獲試件外表面(15)和所述熱校準器(12)的紅外發(fā)射信息，其中，試件紅外發(fā)射信息包括發(fā)射強度信息，并且其中，熱校準器紅外發(fā)射信息包括與所述流體溫度相關聯(lián)的對照發(fā)射強度；以及使試件發(fā)射強度信息針對對照發(fā)射強度標準化。
【IPC分類】H04N5-33, G01J5-52, G01J5-00
【公開號】CN104603589
【申請?zhí)枴緾N201380046134
【發(fā)明人】E.巴萊尼, J.F.蘭迪, C-P.李, S.斯蒂內利
【申請人】西門子能量股份有限公司
【公開日】2015年5月6日
【申請日】2013年8月9日
【公告號】EP2893311A1, US8866084, US20140061476, WO2014039208A1