一種單層片式瓷介電容器高頻s參數(shù)測試夾具的制作方法
【技術領域】
[0001]本實用新型涉及一種電容測試夾具，具體地說涉及一種單層片式瓷介電容器高頻S參數(shù)測試夾具。
【背景技術】
[0002]單層片式瓷介電容器具有體積小、型號多、應用頻率高等特點，廣泛應用在電子對抗、雷達、導航、制導和衛(wèi)星通訊等方面。用戶或設計師在選用時比較關注單層片式瓷介電容器的高頻性能，這就要求單層片式瓷介電容器生產(chǎn)廠家對不同型號的產(chǎn)品進行高頻性能測量和監(jiān)控。然而，單層片式瓷介電容器高頻S參數(shù)測量精確一直是個難點，業(yè)內(nèi)還沒統(tǒng)一的測試方法以及測試的設備。
【實用新型內(nèi)容】
[0003]本實用新型要解決的技術問題是提供一種單層片式瓷介電容器高頻S參數(shù)測試夾具，滿足不同型號尺寸的單層片式瓷介電容器高頻S參數(shù)測量，解決單層片式瓷介電容器專業(yè)生產(chǎn)難題。
[0004]為實現(xiàn)上述目的，本實用新型提供一種單層片式瓷介電容器高頻S參數(shù)測試夾具，包括夾具主體和底座，所述底座上設有上壓板和下壓板，所述上壓板設有第一連接器和彈性傳輸線，所述第一連接器連接所述彈性傳輸線;所述下壓板設有測試載片和第二連接器，所述測試載片與所述第二連接器連接;所述上壓板與壓塊連接;所述壓塊通過導軌與手柄連接。
[0005]優(yōu)選地，所述測試載片數(shù)量為5個，型號各不相同，5組測試分夾具滿足不同型號尺寸的單層片式瓷介電容器高頻S參數(shù)測量。
[0006]優(yōu)選地，所述第一連接器和第二數(shù)連接器的數(shù)量各為5個，滿足不同電容測量時候連接方便。
[0007]本實用新型的有益效果是:1、應用廣泛、方便使用，5組測試分夾具滿足不同型號尺寸的單層片式瓷介電容器高頻S參數(shù)測量。2、采用TRL校準，把參考面校準到待測件兩端保證測試精確;3、采用垂直下壓模式定位產(chǎn)品，測試重復性好;測試精度高，重復性好。
【附圖說明】

[0008]附圖用來提供對本實用新型的進一步理解，并且構成說明書的一部分，與本實用新型的實施例一起用于解釋本實用新型，并不構成對本實用新型的限制。在附圖中:
[0009]圖1為本實用新型單層片式瓷介電容器高頻S參數(shù)測試夾具的立體圖；
[0010]圖2為本實用單層片式瓷介電容器高頻S參數(shù)測試夾具的局部放大圖；
[0011 ]圖3為為本實用新型單層片式瓷介電容器高頻S參數(shù)測試夾具使用示意圖。
【具體實施方式】
[0012]以下結合附圖對本實用新型的優(yōu)選實施例進行說明，應當理解，此處所描述的優(yōu)選實施例僅用于說明和解釋本實用新型，并不用于限定本實用新型。
[0013]如圖1至圖2所示，本實用新型一種單層片式瓷介電容器高頻S參數(shù)測試夾具，包括夾具主體I和底座2，所述底座2上設有上壓板3和下壓板4，所述上壓板3設有第一連接器5和彈性傳輸線6，所述第一連接器5連接所述彈性傳輸線6;所述下壓板4設有測試載片7和第二連接器55，所述測試載片7與所述第二連接器55連接;所述上壓板3與壓塊8連接;所述壓塊8通過導軌9與手柄10連接。
[0014]測試不同尺寸規(guī)格的電容器時，只需要把相應的載片旋轉(zhuǎn)至面前把待測件直接放在測試載片上，拉動手柄，使得壓塊下沉，壓塊下部有彈性的彈性傳輸線就可以把待測件壓緊在測試載片上，不需要螺釘固定或焊接，同時完成射頻連接。
[0015]測試載片數(shù)量為5個型號各不相同，為了與測試載片對應連接，所述第一連接器和第二數(shù)連接器的數(shù)量各為5個;5組測試分夾具滿足不同型號尺寸的單層片式瓷介電容器高頻S參數(shù)測量。
[0016]具體使用的操作步驟如下(如圖2和圖3所示):
[00?7] 第I步:測量校準:確定產(chǎn)品尺寸，選擇校準件(open、short和through校準件)對網(wǎng)絡分析儀進行校準，查看through狀態(tài)，是否校準好。
[0018]第2步:抬起手柄，選擇合適的分夾具，將待測產(chǎn)品放置到對應測試分夾具的載片中間位置。
[0019]第3步:用接在網(wǎng)絡分析儀端口電纜連接至測試分夾具端口，固定好。
[0020]第4步:進行單層片式瓷介電容器高頻S參數(shù)測量，從網(wǎng)絡分析儀上讀取S參數(shù)；
[0021 ]第5步:保存測得S參數(shù)數(shù)據(jù)或S2P文件。
[0022]對該實用新型結構描述:
[0023]該結構的設計主要由以下2個方面考慮:
[0024]1、方便使用
[0025]因為客戶所需測試的產(chǎn)品涉及到大量的試驗和篩選，因此要求待測件在夾具上的連接方便快捷，不能使用螺釘固定或焊接。該結構可以把待測件直接放在測試載片上，拉動手柄，使得壓塊下沉，壓塊下部有彈性的彈性傳輸線就可以把待測件壓緊在測試載片上，同時完成射頻連接。因待測電容尺寸種類較多，本方案設定5種規(guī)格尺寸的載片覆蓋全部尺寸范圍的芯片測試。測試不同尺寸規(guī)格的電容時，只需要把相應的載片旋轉(zhuǎn)至面前和待測件的連接處參見圖3。
[0026]2、測試精確，重復性
[0027]因客戶是進行批量測試，對產(chǎn)品做大量試驗和篩選，因此對測試精度，尤其是重復性要求較高。該結構采用垂直下壓模式，使用導軌從夾具主體到測試載片定位，使得壓塊下壓時橫向移動分量在微米級，保證了每次連接的一致性。同時采用TRL校準，把參考面校準到待測件兩端;待測件周邊的材料選用介電常數(shù)盡量低的絕緣材料，將其影響降到最低。
[0028]以上所述僅為本實用新型的較佳實施例而已，并不用以限制本實用新型，凡在本實用新型的精神和原則之內(nèi)，所作的任何修改、等同替換、改進等，均應包含在本實用新型的保護范圍之內(nèi)。
【主權項】
1.一種單層片式瓷介電容器高頻S參數(shù)測試夾具，包括夾具主體(I)和底座(2)，其特征在于:所述底座(2)上設有上壓板(3)和下壓板(4)，所述上壓板(3)設有第一連接器(5)和彈性傳輸線(6)，所述第一連接器(5)連接所述彈性傳輸線(6);所述下壓板(4)設有測試載片(7)和第二連接器(55)，所述測試載片(7)與所述第二連接器(55)連接;所述上壓板(3)與壓塊(8)連接;所述壓塊(8)通過導軌(9)與手柄(10)連接。2.根據(jù)權利要求1所述單層片式瓷介電容器高頻S參數(shù)測試夾具，其特征在于，所述測試載片(7)數(shù)量為5個，型號各不相同。3.根據(jù)權利要求2所述單層片式瓷介電容器高頻S參數(shù)測試夾具，其特征在于，所述第一連接器(5)和第二數(shù)連接器(55)的數(shù)量各為5個。
【專利摘要】本實用新型公開了一種單層片式瓷介電容器高頻S參數(shù)測試夾具，包括夾具主體和底座，所述底座上設有上壓板和下壓板，所述上壓板設有第一連接器和彈性傳輸線，所述第一連接器連接所述彈性傳輸線；所述下壓板設有測試載片和第二連接器，所述測試載片與所述第二連接器連接；所述上壓板與壓塊連接；所述壓塊通過導軌與手柄連接。本實用新型應用廣泛、方便使用；采用TRL校準，把參考面校準到待測件兩端保證測試精確；采用垂直下壓模式定位產(chǎn)品，測試重復性好，測試精度高。
【IPC分類】G01R1/04
【公開號】CN205384297
【申請?zhí)枴緾N201620159856
【發(fā)明人】劉劍林, 韓玉成, 潘甲東, 張烽, 嚴勇, 王利凱, 溫占福, 尚超紅, 魏栩曼, 孫鵬遠
【申請人】中國振華集團云科電子有限公司
【公開日】2016年7月13日
【申請日】2016年3月3日