一種實現(xiàn)近紅外色散型光譜分析儀超高分辨率的方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種實現(xiàn)近紅外色散型光譜分析儀超高分辨率的方法，所述方法包括以下步驟：采用處理后的多波長光源作為為光譜儀的光源，通過光移頻對待測樣品的透光特性曲線進行光譜掃描與取樣；通過CCD探測器光譜數(shù)據(jù)讀取和重排技術實現(xiàn)光譜的檢測。通過本方法可以使得分辨率不依賴于光柵色散能力和探測器的像素個數(shù)以及尺寸大小；且可將光譜儀分辨率最少提高兩個數(shù)量級（達到0.lpm量級）；除了上述精密移頻技術之外，由于一般多波長光源產(chǎn)生技術得到的線寬較大，因此必須通過壓窄多波長光源的線寬使之小于多波長光源最小移頻量，從而在光源方面，保證光譜儀系統(tǒng)的分辨率能有兩個數(shù)量級的提升。
【專利說明】一種實現(xiàn)近紅外色散型光譜分析儀超高分辨率的方法

【技術領域】
[0001] 本發(fā)明涉及通信、儀器【技術領域】，尤其涉及一種實現(xiàn)近紅外色散型光譜分析儀超 高分辨率的方法。

【背景技術】
[0002] 光譜儀是將成分復雜的光分解為光譜線的科學儀器，通過測量物質的吸收光譜可 以確定其內部化學組成及其含量，在科學實驗、生物醫(yī)學、食品安全、環(huán)境、地質、國防等領 域一直有著廣泛的應用 [11。
[0003] 近年來，隨著微電子、光學技術等學科的迅速發(fā)展與融合，近紅外光譜分析技術由 于其儀器簡單、分析速度快、高效、準確、分析成本低、不破壞樣品、不消耗化學試劑、不污染 環(huán)境、幾乎適合各類形態(tài)樣品（液體、粘稠體、涂層、粉末和固體）分析、多組分多通道同時 測定等特點，受到越來越多人的關注。隨著光譜儀的不斷發(fā)展，光譜儀的接收系統(tǒng)也從最初 的目視系統(tǒng)發(fā)展成為光電系統(tǒng)，并且光電接收器也從單點接收器件發(fā)展成為陣列探測器， 光譜儀的性能指標、操作方法以及人機互動界面正一步步走向成熟和完善。
[0004] 物質的吸收光譜在不同波段有不同的特征，在可見波段的吸收峰譜線屬于原子或 離子能級，距離比較大，一般分辨率的色散型光譜儀就可以區(qū)分大部分物質的化學組成。近 紅外光譜屬于分子振動光譜，產(chǎn)生于共價化學鍵非簡諧能級振動，是非簡諧振動的倍頻和 組合頻，對于含氫基團，如含C-H、0-H、N-H的物質都會產(chǎn)生近紅外光譜。由于近紅外光譜 是倍頻或組合頻產(chǎn)生的吸收光譜，吸收信號弱，譜帶重疊嚴重，普通的光譜儀無法分辨。因 此，近紅外區(qū)光譜雖然是人們最早發(fā)現(xiàn)的非可見光區(qū)域，但是由于早期光譜分辨能力有限， 即使利用近紅外光譜儀也無法將重疊的譜帶完全分開，這使得近紅外光譜曾經(jīng)沉睡了許多 年。隨著近紅外儀器技術的發(fā)展，更加穩(wěn)定的電源、信號放大器、更靈敏的光子探測器、微型 計算機等的發(fā)展使得近紅外光譜區(qū)作為一段獨立的且有獨特信息特征的譜區(qū)得到了重視 和發(fā)展。人們通過后期化學計量學軟件、模型以及有關配套設施完成對近紅外光譜的分析。 到目前為止，近紅外光譜技術被人們稱為"分析的巨人" [4]。由此看來，光譜儀若能實現(xiàn)更高 的分辨率，就有可能幫助我們獲得更多、更全面的樣品信息，在科學研究領域，髙分辨率的 近紅外光譜儀可以用來測量和分析各種具有精細結構的光譜。這或許能使人們對物質的研 究工作登上一個新的臺階。
[0005] 從原理上說，近紅外光譜儀可分為色散型光譜儀和傅里葉光譜儀兩大類[5]。分光 技術的不同導致了其分辨率受到不同因素的制約。色散型光譜儀測量的是真實光譜，分辨 率取決于色散元件（光柵或棱鏡）的色散本領和作為光接收器的線陣CCD的分辨能力（像 素大?。┑南拗?。與可見光波段相比，近紅外光譜儀的分辨率要低很多，這一方面是因為 波長越長，光柵色散能力下降；另一方面是由于采用的光探測器不同，在可見光區(qū)域，采用 工藝比較成熟的Si探測器陣列，像素個數(shù)多（一般可達2048個），且像素尺寸可以做得很 ?。◣讉€微米），而近紅外光譜儀中用到的InGaAs探測器陣列像素點比較少（一般為256 個），像素尺寸也比較大（幾十個微米），對光的空間色散分辨能力下降，并且造價高昂。
[0006] 目前，國外各公司生產(chǎn)的分辨率比較高的商用色散型光譜儀有：美國StellarNet 最新推出的DWARF-Star采用線陣InGaAs探測器，在900-1700nm范圍內分辨率為1. 25nm。 荷蘭Avantes公司的AvaSpec系列近紅外光譜儀，測量范圍在9〇〇-l75〇nm之間，使用 256像素探測器時分辨率最高為2nm，使用512像素探測器時分辨率最高為1. 5nm。法國 JobinYvon公司開發(fā)的MicroHR光譜儀，在0· 25nm分辨率下測量范圍可達0-1500ηπ^美 國OceanOptics在推出覆蓋紫外、可見、短波紅外的光纖光譜儀后，又推出了 NIR QUEST系 列近紅外光譜儀，最高分辨率可達0. 25nm。在實驗室使用的高端色散型光譜儀的分辨能力 已經(jīng)能達到〇. Olnm(lOpm)，如日本橫河和美國的安捷倫都生產(chǎn)在C波段（1530- 1560nm) 波長分辨率可達O.OlnmdOpm)的色散型光譜分析儀。目前最高的分辨率記錄是由法國 Resolution Spectra公司的ZOOM Spectra創(chuàng)造并保持的，光譜儀的檢測分辨率是5pm。另 一家法國公司--APEX技術公司在2014年的光通信年會（0FC 2014)上展示了他們的光譜 儀最新成果，其分辨率可以達到40fm(5MHZ)，APEX公司聲稱他們采用的是干涉技術 [6]。這 是目前世界上最高的光譜分辨率。
[0007] 傅里葉光譜儀是測量時域信號，再通過計算得出頻譜曲線，其分光技術是基于核 心部件邁克耳遜干涉儀，最高分辨率取決于干涉儀中動鏡掃描的最大距離L，分辨率Λ u =l/(2L)m。目前，能夠實現(xiàn)較高分辨率的千涉儀為空氣軸承干涉儀和機械軸承干涉儀，其 光譜的最高分辨率可優(yōu)于〇. lcnT1 (3GHz)，分辨率高于0. lcnT1以后，動鏡在軸承上移動的距 離過長，（例如，分辨率為〇. OlcnT1的光譜儀，其動鏡移動的最大距離就要達到50cm)，機械 加工精度要求極高，很難滿足要求。因此，傅里葉光譜儀的分辨率受到干涉儀中動鏡移動的 最大距離的限制。上文中所提到的APEX公司最新推出的分辨率可以達到40fm(5MHz)的光 譜儀，是一種以干涉技術為原理的光譜儀，具體細節(jié)沒有公開，但是其原理一定有效的規(guī)避 了傅里葉光譜儀分辨率的限制因素。


【發(fā)明內容】

[0008] 本發(fā)明提供了一種實現(xiàn)近紅外色散型吸收光譜分析儀超高分辨率的方法，在擬研 究的光譜分析儀系統(tǒng)中（參見圖1)，采用多波長光源（Multi-wavelength Source)，也稱為 光頻梳光源作為光譜儀的光源，采用掌握的精確光移頻（光掃頻，F(xiàn)requency sweeping)技 術對待測樣品（Sample to be tested)的透光特性曲線進行光譜掃描與取樣，實現(xiàn)光譜儀 功能。光移頻間隔最小可以達到或小于〇.lpm，使得光譜儀的分辨能力不再單純受限于光色 散元件（光柵或棱鏡）的色散能力，以及CCD接收器的分辨能力（像素單元的大小）的限 制，從而使光譜分辨能力提高兩個數(shù)量級，或更高，詳見下文描述：
[0009] 一種實現(xiàn)近紅外色散型吸收光譜分析儀超高分辨率的方法，包括以下步驟：
[0010] (1)將普通多波長光源經(jīng)過放大后，利用高非線性四波混頻效應產(chǎn)生更多的波長， 使得多波長l〇dB范圍可以更寬，范圍約在30nm?60nm。多波長的波長間隔相等，并且可在 10GHz到50GHz的范圍內變化。這樣的光頻梳連續(xù)光源，再經(jīng)過光纖受激布里淵散射來壓窄 多波長線寬，使線寬小于預計實現(xiàn)的光譜分辨率，從而得到光譜分析儀系統(tǒng)所需的寬范圍、 窄線寬的光頻梳。
[0011] (2)多波長精密移頻技術：利用單邊帶光調制器實現(xiàn)多波長精密移頻技術。
[0012] 單邊帶光調制器（SSB)是由射頻電信號驅動的光調制器，當頻率為ω。的單色波 進入SSB調制器調制后，如果射頻電信號的頻率為，那么從SSB輸出的單色波的頻率將 變?yōu)?或ωε+ωπ)，從而實現(xiàn)移頻。SSB調制器對輸入光實現(xiàn)的移頻量取決于所加載 的射頻驅動信號頻率C0 m，與ω。無關。利用此原理，將上文所提到的多波長信號同時通入 SSB調制器時，不同波長獲得的移頻量相等，均為，因此，多波長信號可以實現(xiàn)整體的移 頻[8_9]。本發(fā)明中，為了提高光譜儀的分辨率，最小移頻量為10MHz (0. 08pm)。
[0013] (3) CCD讀出數(shù)據(jù)重排技術
[0014] CCD線陣是記錄被測物透過光強度隨波長變化的曲線的器件，多波長光經(jīng)過被測 物后，透射光含有被測物吸收譜的信息，透射光經(jīng)過普通光柵實現(xiàn)空間色散后，經(jīng)過普通光 學成像系統(tǒng)，承載著待測物透射譜信息的離散取樣多波長光束成像在CCD線陣上，每個CCD 像素的空間位置對應于原始的沒有移頻的多波長光源的各個波長的數(shù)值，CCD像素產(chǎn)生的 光生電流大小對應于光強數(shù)值。在后續(xù)的精密移頻過程中，波長的大小由移頻量和移頻次 數(shù)共同確定，對應的透射光強由CCD讀出數(shù)據(jù)確定。
[0015] 這種光譜數(shù)據(jù)獲取方式是本發(fā)明最核心的創(chuàng)新，即在不同時刻成像在同一 CCD像 素上的不同波長（最小相差〇· lpm)光束的光斑是可以交疊的（甚至光斑可以接近重疊）， 但它們的波長（或頻率）仍可以通過已知的移頻量和移頻次數(shù)來區(qū)分和確定，不需要在空 間上區(qū)分相鄰波長的愛里斑。因此，愛里斑的大小和C⑶像素的大小將不再是限制光譜儀 分辨率的因素了。
[0016] 以上技術的有效結合，可以實現(xiàn)在30nm?60nm范圍內的超高分辨率（光譜分辨 率約為0. lpm)的光譜檢測。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0017] 圖1為超高分辨率近紅外透射譜分析儀結構示意圖；
[0018] 圖2為CCD線陣上的光斑成像分布示意圖；
[0019]圖3為超高分辨率近紅外透射譜分析儀工作原理示意圖；
[0020] 圖4為非對稱交叉式Czerny-Turner光學平臺系統(tǒng)的示意圖。

【具體實施方式】
[0021]為使本發(fā)明的目的、技術方案和優(yōu)點更加清楚，下面對本發(fā)明實施方式作進一步 地詳細描述。
[0022]傳統(tǒng)色散型光譜儀的結構包括：光源、分光元件、樣品腔、CCD探測器、數(shù)據(jù)處理系 統(tǒng)。本發(fā)明中，對光源和CCD的選擇做了較大改動，得到了一種提高色散型光譜儀分辨率的 新的技術方案。
[0023]在本光譜分析儀中（如圖1所示），采用線寬壓窄處理后的多波長（波長個數(shù)為 整數(shù)N)光源作為光譜儀的光源，通過精密光移頻技術實現(xiàn)多波長精密移頻，移頻步長在 10MHz到10GHz之間，其中最小移頻步長10MHz對應于該光譜分析儀的最高波長分辨率為 〇· 08pm，約為0· lpm ;移頻步長為10GHz時，對應的該光譜分析儀波長分辨率為〇· 08nm。用 上述步進移頻的多波長光源對待測樣品的透光特性曲線進行光譜掃描與取樣；并通過光柵 實現(xiàn)空間色散，由數(shù)據(jù)同步讀出的CCD探測器記錄每一幀的光譜數(shù)據(jù)，最后通過各幀光譜 數(shù)據(jù)的重排，再現(xiàn)出待測樣品的透光特性曲線，實現(xiàn)光譜的檢測。
[0024] 相對于一般傳統(tǒng)的單波長掃描色散型光譜分析儀或寬帶光源單狹縫掃描的色散 型光譜分析儀，本發(fā)明的光譜分析儀有兩個特點：①用N個（N是范圍在1〇?1000之間的 整數(shù)）多波長同步掃描，在不降低光譜分析儀的分辨率和掃描測量范圍的前提下，能夠縮 短測量時間N倍，或提高掃描速度N倍。②將不同時刻CCD線陣列上的讀出數(shù)據(jù)重排再現(xiàn) 被測物的吸收曲線，從而打破空間成像的愛里斑（Airy disc)對分辨率的限制，使得本光譜 分析儀的波長分辨率不再單純受到CCD像元大小和光柵色散本領的限制，在對CCD線陣和 光柵的分辨本領不提出特殊要求的前提下，還能將光譜分辨率提高2個數(shù)量級。
[0025] 101 :高分辨率光譜分析儀的工作原理：采用多波長光源作為光譜儀的光源，通過 光移頻對待測樣品的透光特性曲線進行光譜掃描與取樣，CCD線陣記錄取樣數(shù)據(jù)，由計算機 完成CCD讀出數(shù)據(jù)重排，再現(xiàn)待測吸收譜。
[0026] 光譜分析伩系統(tǒng)中，多波長光源，移頻系統(tǒng)以及分時記錄的CCD讀出數(shù)據(jù)重排技 術是三個關鍵部分，三者有效的結合是本發(fā)明的創(chuàng)新部分所在。
[0027] (1)多波長光源：本發(fā)明將普通多波長光源經(jīng)過放大后，利用高非線性四波混頻 效應產(chǎn)生更多的波長，使得多波長10dB范圍可以更寬，最小30nm，最大可以達到6〇nm。多 波長之間的波長間隔是相等的，可以在10GHz到50GHz的范圍內變化，當要求獲得快速高分 辨率光譜探測時，典型的波長間隔為10GHz。在不要求掃頻速率的情況下，多波長間隔可以 是10GHz，甚至更大。光頻梳連續(xù)光源，再經(jīng)過受激布里淵散射來壓窄多波長線寬，使之小于 預計實現(xiàn)的光譜分辨率，從而得到光譜分析儀系統(tǒng)所需的寬范圍、窄線寬的光頻梳。
[0028] (2)多波長精密移頻技術：利用單邊帶光調制器實現(xiàn)多波長精密移頻技術。
[0029] 單邊帶光調制器（SSB)是由射頻電信號驅動的光調制器，當頻率為ω。的單色波 進入SSB調制器調制后，如果射頻電信號的頻率為ωπ，那么從SSB輸出的單色波的頻率將 變?yōu)棣卅?ω π(或ωε+ωπ)。相當于頻率為ω。的光載波經(jīng)SSB調制器后被調制為 光，從而實現(xiàn)移頻。SSB調制器對輸入光的移頻量取決于所加載的射頻驅動信號頻率ωπ， 與ω。無關。利用此原理，將上文所提到的多波長信號同時通入SSB調制器時，不同波長獲 得的移頻量相等，均為ωπ，因此，多波長信號可以實現(xiàn)整體的移頻 [8%。本發(fā)明中，為了提高 光譜儀的分辨率，最小移頻量為10MHz (0. 08pm)。
[0030] (3) CCD讀出數(shù)據(jù)重排技術
[0031] CCD線陣是記錄被測物透過光強度隨波長變化的曲線的器件，多波長光經(jīng)過被測 物后，透射光含有被測物吸收譜的信息，透射光經(jīng)過普通光柵實現(xiàn)空間色散后，經(jīng)過普通光 學成像系統(tǒng)，承載著待測物透射譜信息的離散取樣多波長光束成像在CCD線陣上，每個CCD 像素的空間位置對應于原始的沒有移頻的多波長光源的各個波長的數(shù)值，CCD像素產(chǎn)生的 光生電流大小，對應于光強。在后續(xù)的精密移頻過程中，波長的大小由移頻量和移頻次數(shù)共 同確定，對應的透射光強由CCD讀出數(shù)據(jù)確定。
[0032]這種光譜數(shù)據(jù)獲取方式是本發(fā)明最核心的創(chuàng)新，它使得光譜分析儀中波長的確定 不再是唯一地由CCD的空間位置決定，而是由移頻量和移頻次數(shù)共同確定，因此不需要在 空間上區(qū)分相鄰波長的愛里斑。這樣一來，限制光譜分析儀分辨率的因素就不再是愛里斑 的大小和CCD像素的大小了。在本發(fā)明中，在每個CCD像素上，是通過光源的移頻來區(qū)分和 讀出波長數(shù)值，因此盡管不同時刻成像在同一 CCD像素上不同波長，或不同頻率（最小相差 0. lpm，或10MHz)光束的光斑嚴重交疊，它們的波長（或頻率）仍是可以通過已知的移頻量 和移頻次數(shù)來區(qū)分和確定。
[0033] 102 :高分辨率光譜分析儀工作原理舉例說明：
[0034] 具體地講，假設有一個梳狀譜多波長連續(xù)光源，可以同時輸出6個波長的連續(xù)光， 強度都相同，波長分別是λ ρ λ2，…，λ6,相鄰波長的間隔也都相同，記為Λ。用這個多 波長光照射待測樣品，再用光柵對樣品透射光進行空間分光，之后，用CCD光探測器陣列接 收被空間色散的6個波長的透射光，接收的光斑分布如圖2所示（圖2為工作原理中多波 長光源經(jīng)過待測物后，在不同的掃頻時刻，透射光在CCD陣列上的光斑分布示意圖）。在掃 頻開始之前，透射光的光頻譜分布由圖3的t = 0時刻的光譜表示。在下一時刻t = 1時 刻到來之前，通過光移頻技術，對光源的輸出光進行移頻，這6個波長同時向長波方向移動 △ λ，這樣t = 0時刻的6個波長，在t = 1時亥IJ,變?yōu)棣酸苒苔耍?2+Δ λ，…，λ 6+Δ λ， 以此類推，在t = 2時刻，6個波長變?yōu)棣?+2Δ λ，λ2+2Δ λ，...，λ6+2Δ λ。在圖3中， 在 t = 3 時刻，6個波長變?yōu)?λ!+3Δ λ = λ2, λ2+3Λ λ = λ3，…，λ6+3Δ λ = λ7。同 時6個光斑在CCD像元上的位置如圖2所示。這樣，在一個周期內（從t = 0到t = 3的 3個時間單元內），波長掃描范圍橫跨入7到，共6個梳齒間隔（λ7- = 6Λ)。波長 的最小分辨率是每一個時間單元內的移頻量Δ λ?？梢灾庇^的看出這樣的波長掃描原理， 比單波長掃描，掃描范圍還是從λ i到λ 7,掃描間隔還是Δ λ，要節(jié)約6倍的掃描時間。 [0035] 更重要的是移頻間隔Δ λ可以不受光柵的分辨本領和(XD像素大小的限制，即可 以突破衍射極限的愛里斑大小的限制，而最小移頻間隔Δ λ是與本光譜分析儀的分辨率 對應的，它只和能夠實現(xiàn)的最小移頻間隔以及多波長線寬有關。在本發(fā)明中，移頻間隔Δ λ 可以做到0. lpm。
[0036]下一步是如何提取這些掃描光譜數(shù)據(jù)，并將它們對接起來，恢復、再現(xiàn)待測的吸 收光譜的形貌。測量中λρ λ2，…λ6各波長處的光強可以通過CCD探測器的灰度值測 出，如t = 0時刻讀出灰度值記錄為[ai，bl，Cl，屯，eifJ，在t = 1時刻，6個波長分別變成 λ1+Δ λ，λ2+Λ λ，…λ6+Δ入，這樣一組多波長的光再對待測光譜進行探測，測出第二組 數(shù)據(jù)[a2, b2, c2, d2, e2, f2]，同理，在t = 3時刻得到第三組數(shù)據(jù)[a3, b3, c3, d3, e3, f3]。經(jīng)過一 個周期掃描后，得到3組數(shù)據(jù)，每組數(shù)據(jù)為同一時刻各像素點處的光強，如ai，a 2, a3對應于 第一個像素點三次記錄的灰度值，依次表示λ η λ1+Δ λ，λ1+2 Δ λ處的光強值，將所有的 灰度值按照波長掃描從短到長的順序排列為：[ai，a2, a3, h b2, b3, ...，fp f2, f3]，所得到的 結果即為待測光譜圖，如圖3中數(shù)據(jù)處理后的光譜圖像所示。
[0037]上述方法，有效的規(guī)避了傳統(tǒng)色散型光譜儀的兩個缺陷，即掃描速度較慢和色散 元件以及CCD探測器對分辨率的限制。N個波長同時掃描的方法使掃描速度提高了 N倍。 在節(jié)省成本的前提下選擇滿足上述條件的CCD探測器從新的角度實現(xiàn)了對光譜儀分辨率 的提高，達到兩個數(shù)量級（〇. lpm)。
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[0048] 本領域技術人員可以理解附圖只是一個優(yōu)選實施例的示意圖，上述本發(fā)明實施例 序號僅僅為了描述，不代表實施例的優(yōu)劣。
[0049] 以上所述僅為本發(fā)明的較佳實施例，并不用以限制本發(fā)明，凡;^本發(fā)明的精神和 原則之內，所作的任何修改、等同替換、改進等，均應包含在本發(fā)明的保護范圍之內。
【權利要求】
1. 一種實現(xiàn)近紅外色散型光譜分析儀超高分辨率的方法，其特征在于，所述方法包括 以下步驟： 采用窄線寬的波長間隔為Λ的N個波長激光器作為光譜分析儀的多波長光源，通過對 待測樣品的透光特性曲線進行波長間隔為Λ的透射光強取樣，用CCD探測器線陣記錄并儲 存Ν個取樣光強數(shù)據(jù)；通過多波長光移頻技術對待測透光特性曲線進行Ν段并行掃描、取樣 及數(shù)據(jù)儲存，步進掃描的波長移頻量為Δ λ ;最終由計算機完成CCD讀出數(shù)據(jù)重排，實現(xiàn)Ν 段光譜無隙連接，再現(xiàn)完整的待測樣品吸收譜。
2. 根據(jù)權利要求1所述的一種實現(xiàn)近紅外色散型光譜分析儀超高分辨率的方法，其特 征在于，所述用CCD探測器線陣記錄并儲存Ν個取樣光強數(shù)據(jù)具體為： 通過色散元件，使含有待測物光譜信息的Ν個多波長光束進行空間色散，并通過成像 系統(tǒng)將Ν個多波長光束成像在CCD探測器線陣列的Ν個CCD像素上，在同一時刻，Ν個CCD 像素分別記錄與之對應的Ν個多波長光束的光強大小，并儲存數(shù)據(jù)；當光源的Ν個多波長光 束被精密移頻Λ λ后，Ν個CCD像素再次同時記錄并儲存新的移頻后的光強數(shù)據(jù)；以此類 推，直到移頻范圍覆蓋一個多波長間隔Λ為止。
3. 根據(jù)權利要求1所述的一種實現(xiàn)近紅外色散型光譜分析儀超高分辨率的方法，其特 征在于，所述方法采用的波長掃描方式為： 多波長并行掃描，即用波長間隔相等的多波長光源，其作用在于將現(xiàn)有光譜儀技術中 單波長掃描方式轉換成Ν個多波長并行掃描方式。
4. 根據(jù)權利要求1所述的一種實現(xiàn)近紅外色散型光譜分析儀超高分辨率的方法，其特 征在于，所述多波長光源采用線寬壓窄技術，所述線寬壓窄技術為： 連續(xù)光多波長線寬同時壓窄技術，將普通多波長光源經(jīng)過放大后，利用高非線性四波 混頻效應產(chǎn)生更多的波長，再經(jīng)過受激布里淵散射來壓窄多波長線寬，使每個波長的線寬 均小于預計實現(xiàn)的光譜分辨率，從而得到滿足光譜分辨率要求的寬范圍、窄線寬的光頻梳 光源，作為超高分辨率色散型光譜分析儀的光源。 '
【文檔編號】G01J3/42GK104215331SQ201410471787
【公開日】2014年12月17日 申請日期:2014年9月16日 優(yōu)先權日:2014年9月16日
【發(fā)明者】葛春風, 楊天新, 張雨辰 申請人:天津大學