專利名稱：Ccd裸配光型檢測機的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及電光源領(lǐng)域，具體涉及對沒有裝配配光鏡的封閉式燈泡進行光型檢測的CCD裸配光型檢測機。
背景技術(shù)：
現(xiàn)有封閉式汽車燈泡和PAR燈類產(chǎn)品，主要有反射器、發(fā)光元件、配光鏡等組成，成品燈泡都有配光要求并且要通過光型檢測，其影響配光性能的因素主要有燈泡的光電參數(shù)、反射器的質(zhì)量、發(fā)光元件在反射器中的定位精度、配光鏡棱鏡設(shè)計和質(zhì)量等，在生產(chǎn)過程中，經(jīng)過真空鍍膜的反射器，在裝入發(fā)光元件后形成反射器發(fā)光組件，如果發(fā)光元件位置偏差超過裝配要求公差，裝配上配光鏡后則燈泡的配光性能肯定達不到標準要求，現(xiàn)在生產(chǎn)上一般采用的方法是:通電點亮裝入發(fā)光元件后的反射器組件，點亮發(fā)光元件把裸配的光型(即沒有經(jīng)過配光鏡對光束進行調(diào)整而直接由反射器發(fā)出的光束光型)投射到屏幕(或墻上或天花板上)，由人為視覺判斷其裸配光型是否合格，這樣效率低，人為判斷誤差大，在需要嚴格配光要求的產(chǎn)品，比如生產(chǎn)符合SAE配光要求的汽車前燈來說，難度極大。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題在于提供CCD裸配光型檢測機，能夠準確、高效地進行裸配光型的檢測，提高工作效率，降低檢測誤差。為解決上述現(xiàn)有的技術(shù)問題，本發(fā)明采用如下方案:CCD裸配光型檢測機，包括機架、設(shè)在機架上的用于定位反射器發(fā)光組件的檢測件定位工裝、設(shè)在檢測件定位工裝下方的菲涅爾透鏡、設(shè)在菲涅爾透鏡下方的成像屏、設(shè)在機架上位于成像屏側(cè)部的用于感應成像屏上的信息的CCD相機、設(shè)在檢測件定位工裝上方的用于點亮反射器發(fā)光組件的通電頭座、設(shè)在機架上與CCD相機連接的計算機機箱、設(shè)在機架上與計算機機箱連接的顯示屏。

作為優(yōu)選，所述機架上設(shè)有與通電頭座連接的點燈電源。無需外接電源，電壓穩(wěn)定，保證了供電。作為優(yōu)選，所述菲涅爾透鏡與成像屏平行設(shè)置。保證了透過菲涅爾透鏡的光在成像屏上成像的準確性。作為優(yōu)選，所述成像屏與菲涅爾透鏡之間的距離等于或小于菲涅爾透鏡的焦距。保證了成像屏上的成像完整。作為優(yōu)選，所述反射器組件由檢測件定位工裝定位，反射器組件的燈體軸線和菲涅爾透鏡的光軸同軸。保證了成像屏上的成像完整。有益效果:本發(fā)明采用上述技術(shù)方案提供CCD裸配光型檢測機，能夠準確、高效地進行裸配光型的檢測，提高工作效率，降低檢測誤差?？梢栽跀?shù)秒內(nèi)完成一只反射器組件的檢測，獲取光型分布區(qū)域大小與位置偏差、等照度曲線、最亮點和給定檢測點的照度值，判斷出裸配光型是否合格；如果檢測有不合格項，可以根據(jù)檢測結(jié)果對發(fā)光元件位置進行調(diào)整后重新檢測，直至檢測合格為止。


圖1為本發(fā)明的結(jié)構(gòu)示意圖；圖2為本發(fā)明中顯示屏上的裸配光型檢測圖。
具體實施例方式如圖1所示，C⑶裸配光型檢測機，包括機架1、設(shè)在機架I上的用于定位反射器發(fā)光組件7的檢測件定位工裝4、設(shè)在檢測件定位工裝4下方的菲涅爾透鏡5、設(shè)在菲涅爾透鏡5下方的成像屏2、設(shè)在機架I上位于成像屏2側(cè)部的用于感應成像屏2上的信息的CXD相機3、設(shè)在檢測件定位工裝4上方的用于點亮反射器發(fā)光組件7的通電頭座6、設(shè)在機架I上與CXD相機3連接的計算機機箱9、設(shè)在機架I上與計算機機箱9連接的顯示屏8。所述機架I上設(shè)有與通電頭座6連接的點燈電源10。所述菲涅爾透鏡5與成像屏2平行設(shè)置。所述成像屏2與菲涅爾透鏡5之間的距離等于或小于菲涅爾透鏡5的焦距。所述反射器組件7由檢測件定位工裝4定位，反射器組件7的燈體軸線和菲涅爾透鏡5的光軸同軸。成像屏2采用毛玻璃或投影幕布材料；菲涅爾透鏡5的焦距為600_，成像屏2與菲涅爾透鏡5之間的距離為580mm ;菲涅爾透鏡5的下面?zhèn)认?，CXD相機3與菲涅爾透鏡光軸約20°角設(shè)置并對準成像屏2中心；通電頭座6可以升降，下降位置可以和反射器發(fā)光組件7實現(xiàn)電連接，檢測完畢和取放工件時升起。實際工作時，在計算機機箱9編入檢測程序并經(jīng)過CXD相機3的圖像處理調(diào)試后即可進行檢測工作，在檢測前需對計算機機箱9輸入被檢反射器發(fā)光組件7的標準裸配光型數(shù)據(jù)；檢測時把發(fā)射器發(fā)光組件7按方向放入檢測件定位工裝4中，通電頭座6下降和反射器發(fā)光組件7實現(xiàn)電連接，點亮反射器發(fā)光組件7，其有反射器反射的光束投射過菲涅爾透鏡5，經(jīng)菲涅爾透鏡5匯聚到達成像屏2成像，此時啟動CXD相機3拍攝出在成像屏2上的裸配光型圖片，傳輸?shù)接嬎銠C機箱9中分析處理，處理結(jié)果在顯示屏8上以圖形和文字予以顯示，并給出判定結(jié)果。能夠準確、高效地進行裸配光型的檢測，提高工作效率，降低檢測誤差。如圖2所示，左邊是遠光裸配光型，右邊是近光裸配光型，其矩形方框線是給定等照度曲線的外接四邊形，該四邊形給定了裸配光型在測光屏幕上所處的區(qū)域位置，并指示出H-H和V-V方向的光束夾角，裸配光型圖還給出了不同的等照度曲線，還給出了最亮點坐標位置和照度值；對于給定的被測試燈泡，其遠近光裸配光型預先分別給定等照度曲線的外接四邊形的區(qū)域位置和大小，并給出最亮點坐標范圍和照度最小值，被測試燈泡的裸配光型以及最亮點坐標位置和照度值只要進入給定范圍即可判定裸配光型合格，否則為不合格；在圖片的下方文字框，其參考值是給定值，檢測出的數(shù)據(jù)是測量值，滿足性是指測量值是否小于等于參考值；圖中的遠光裸配光型是全部滿足要求，而近光裸配光型其光型區(qū)域和左上角坐標不合格，說明近光光型左邊超出區(qū)域O. 2°，以此檢測判斷，可以把發(fā)光元件在反射器中略微向右微量調(diào)整，再重新測試至合格。本文中所描述的具體實施例僅僅是對本發(fā)明精神作舉例說明。本發(fā)明所屬技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員可以對所描述的具體實施例做各種各樣的修改或補充或采用類似的方式替代，但并不會偏離本發(fā)明的精神或者超越所附權(quán)利要求書所定義的范圍。
權(quán)利要求
1.CCD裸配光型檢測機，其特征在于:包括機架(I)、設(shè)在機架(I)上的用于定位反射器發(fā)光組件(7)的檢測件定位工裝(4)、設(shè)在檢測件定位工裝(4)下方的菲涅爾透鏡(5)、設(shè)在菲涅爾透鏡(5)下方的成像屏(2)、設(shè)在機架(I)上位于成像屏(2)側(cè)部的用于感應成像屏(2)上的信息的C⑶相機(3)、設(shè)在檢測件定位工裝(4)上方的用于點亮反射器發(fā)光組件(7)的通電頭座(6 )、設(shè)在機架(I)上與C⑶相機(3 )連接的計算機機箱(9 )、設(shè)在機架(I)上與計算機機箱(9 )連接的顯示屏(8 )。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的CCD裸配光型檢測機，其特征在于:所述機架(I)上設(shè)有與通電頭座(6)連接的點燈電源(10)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的CCD裸配光型檢測機，其特征在于:所述菲涅爾透鏡(5)與成像屏(2)平行設(shè)置。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的CCD裸配光型檢測機，其特征在于:所述成像屏(2)與菲涅爾透鏡(5)之間的距離等于或小于菲涅爾透鏡(5)的焦距。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的CCD裸配光型檢測機，其特征在于:所述反射器組件(7)由檢測件定位工裝(4)定位，反射器組件(`7)的燈體軸線和菲涅爾透鏡(5)的光軸同軸。
全文摘要
本發(fā)明提供CCD裸配光型檢測機，包括機架、設(shè)在機架上的用于定位反射器發(fā)光組件的檢測件定位工裝、設(shè)在檢測件定位工裝下方的菲涅爾透鏡、設(shè)在菲涅爾透鏡下方的成像屏、設(shè)在機架上位于成像屏側(cè)部的用于感應成像屏上的信息的CCD相機、設(shè)在檢測件定位工裝上方的用于點亮反射器發(fā)光組件的通電頭座、設(shè)在機架上與CCD相機連接的計算機機箱、設(shè)在機架上與計算機機箱連接的顯示屏。能夠準確、高效地進行裸配光型的檢測，提高工作效率，降低檢測誤差。
文檔編號G01M11/02GK103076158SQ201310003109
公開日2013年5月1日 申請日期2013年1月4日 優(yōu)先權(quán)日2013年1月4日
發(fā)明者蔡棽, 蔡博, 萬海峰, 劉鶴鳴, 戴雪峰, 胡利華, 陳佳, 朱東良 申請人:嘉興市光泰照明有限公司