專利名稱：雙金屬片式防水溫控器浸水耐壓測(cè)試方法及其測(cè)試系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及溫控器的耐壓測(cè)試領(lǐng)域，尤其涉及的是雙金屬片式防水溫控器浸水耐壓測(cè)試方法及其測(cè)試系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
現(xiàn)有技術(shù)中，在進(jìn)行溫控器的耐壓測(cè)試時(shí)，是將溫控器放入V型槽里進(jìn)行檢測(cè)的，因?qū)乜仄鞣胖迷诳諝庵校援?dāng)耐壓測(cè)試儀檢測(cè)出溫控器的產(chǎn)品出現(xiàn)不良時(shí)，耐壓測(cè)試儀會(huì)發(fā)出報(bào)警聲，操作者可根據(jù)報(bào)警聲判斷出產(chǎn)品出現(xiàn)不良，為提高檢測(cè)速度，在V型槽檢測(cè)的溫控器樣品有多個(gè)，操作者無(wú)法通過(guò)目視判斷多個(gè)溫控器樣品中，究竟哪一個(gè)產(chǎn)品不良，所以很難快速準(zhǔn)確的將不良的溫控器從良品的溫控器中區(qū)分出來(lái)，從而不利于生產(chǎn)效率的提升。
因此，現(xiàn)有技術(shù)還有待于改進(jìn)和發(fā)展。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明要解決的技術(shù)問(wèn)題在于，針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)檢測(cè)效率低的上述缺陷，提供雙金屬片式防水溫控器浸水耐壓測(cè)試方法及測(cè)試系統(tǒng)。通過(guò)所述測(cè)試方法，使得不良的溫控器能夠在水中出現(xiàn)明顯的閃絡(luò)，閃光等現(xiàn)象，從而能夠快速的將不良的溫控器從良品的溫控器中快速的區(qū)分出來(lái)。本發(fā)明解決技術(shù)問(wèn)題所采用的技術(shù)方案如下
一種雙金屬片式防水溫控器浸水耐壓測(cè)試方法，其中，包括步驟
A.將溫控器本體浸入裝有水的第一金屬容器，將溫控器導(dǎo)線金屬端子部浸入裝有水的第二金屬容器；
B.將與耐壓測(cè)試儀連接的接地夾接觸所述第一金屬容器，將與所述耐壓測(cè)試儀連接的測(cè)試棒的測(cè)試棒探頭接觸所述第二金屬容器；
C.當(dāng)檢測(cè)到所述第一金屬容器內(nèi)的所述溫控器本體出現(xiàn)閃光，則判定浸入在所述第一金屬容器的溫控器本體為不良品。所述步驟B還包括將所述耐壓測(cè)試儀的漏電電流調(diào)節(jié)為I毫安，將所述耐壓測(cè)試儀的測(cè)試電壓調(diào)節(jié)為交流電2100V。在所述步驟A之前還包括在所述第一金屬容器和所述第二金屬容器中放置純凈水或蒸餾水。在所述步驟A之前還包括在所述第一金屬容器下方放置有用于容置所述第一金屬容器的第一絕緣槽，在所述第二金屬容器下方放置有用于容置所述第二金屬容器的第二絕緣槽。一種用于雙金屬片式防水溫控器的浸水耐壓測(cè)試系統(tǒng)，其中，包括一耐壓測(cè)試儀，分別與所述耐壓測(cè)試儀連接的測(cè)試棒和接地夾，以及用于容置溫控器本體的第一金屬容器，一用于容置溫控器導(dǎo)線金屬端子部的第二金屬容器；將所述接地夾接觸所述第一金屬容器，將所述測(cè)試棒的測(cè)試棒探頭接觸所述第二金屬容器，當(dāng)檢測(cè)到所述第一金屬容器內(nèi)的所述溫控器本體出現(xiàn)閃光，則判定浸入在所述第一金屬容器的溫控器本體為不良品。所述測(cè)試系統(tǒng)還包括在所述第一金屬容器下方放置有用于容置所述第一金屬容器的第一絕緣槽，在所述第二金屬容器下方放置有用于容置所述第二金屬容器的第二絕緣槽。所述耐壓測(cè)試儀的漏電電流調(diào)節(jié)為I毫安；所述耐壓測(cè)試儀的測(cè)試電壓調(diào)節(jié)為交流電2100V。所述第一金屬容器和所述第二金屬容器中的水為純凈水或蒸餾水。所述第一金屬容器和所述第二金屬容器中的水為純凈水或蒸餾水。本發(fā)明所提供的雙金屬片式防水溫控器浸水耐壓測(cè)試方法及測(cè)試系統(tǒng)，由于采用 了將溫控器本體和溫控器導(dǎo)線金屬端子部浸入裝有水的金屬容器中，使得當(dāng)將測(cè)試棒探頭接觸所述金屬容器進(jìn)行溫控器耐壓測(cè)試時(shí)，使得不良的溫控器能夠在水中出現(xiàn)閃絡(luò)或在水中閃光，而且閃絡(luò)或閃光現(xiàn)象非常明顯。使得操作人員能夠非?？焖俚膶⒉涣嫉臏乜仄鲝牧计返臏乜仄髦袡z測(cè)出來(lái)，進(jìn)而提升了溫控器的生產(chǎn)效率。


圖I是本發(fā)明所述的雙金屬片式防水溫控器浸水耐壓測(cè)試方法的較佳實(shí)施例的步驟流程圖。圖2是本發(fā)明所述的一種用于雙金屬片式防水溫控器的浸水耐壓測(cè)試系統(tǒng)的較佳實(shí)施例結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施例方式為使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案及優(yōu)點(diǎn)更加清楚、明確，以下參照附圖并舉實(shí)施例對(duì)本發(fā)明進(jìn)一步詳細(xì)說(shuō)明。應(yīng)當(dāng)理解，此處所描述的具體實(shí)施例僅僅用以解釋本發(fā)明，并不用于限定本發(fā)明。請(qǐng)參見(jiàn)圖1，圖I是本發(fā)明所述的雙金屬片式防水溫控器浸水耐壓測(cè)試方法的較佳實(shí)施例的步驟流程圖。首先進(jìn)入步驟101、將第一金屬容器和第二金屬容器中裝上水；在本較佳實(shí)施例中，所述第一金屬容器與所述第二金屬容器的材質(zhì)設(shè)置為不銹鋼，在實(shí)際生產(chǎn)中，廠商可根據(jù)方便將所述金屬容器設(shè)置為其他材質(zhì)，只要所述金屬容器能夠?qū)щ娂纯伞６?，需注意的是，裝入所述金屬容器中的水是純凈水或蒸餾水。水深較佳的為70 mm到80mm。而且不銹鋼容器中的水需要每8小時(shí)必須更換，其是為了保障不銹鋼容器中水的導(dǎo)電性，進(jìn)而能夠保障檢測(cè)溫控器耐壓結(jié)果的可靠性。步驟102、將溫控器本體浸入裝有水的第一金屬容器，將溫控器導(dǎo)線金屬端子部浸入裝有水的第二金屬容器；即操作者可將7到10個(gè)產(chǎn)品彎成大概彎成45度角，使得所述溫控器本體與所述導(dǎo)線金屬端子部能夠完全的浸入水中即可。步驟103、開啟耐壓測(cè)試儀；即開啟所述耐壓測(cè)試儀的電源開關(guān)，且所述耐壓測(cè)試儀采用的是現(xiàn)有技術(shù)，在此不再詳述。
步驟104、開啟耐壓測(cè)試儀的預(yù)置開關(guān)，并調(diào)節(jié)漏電電流；即當(dāng)操作者開啟所述預(yù)置開關(guān)后，檢查漏電電流是否在規(guī)定的范圍內(nèi)，在本較佳實(shí)施例中，將所述漏電電流的設(shè)置為I毫安。當(dāng)所述漏電電流不為I毫安時(shí)，則操作者用螺絲刀擰所述預(yù)置開關(guān)，從而調(diào)節(jié)所述漏電電流。步驟105、開啟與所述耐壓測(cè)試儀連接的耐壓測(cè)試棒的開關(guān)，并調(diào)節(jié)測(cè)試電壓；SP用戶開啟所述測(cè)試棒的開關(guān)，并檢查測(cè)試測(cè)試電壓符合規(guī)定的數(shù)值，在本較佳實(shí)施例中，所述測(cè)試電壓標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定為交流電2100V。當(dāng)所述測(cè)試電壓不符合所述的標(biāo)準(zhǔn)時(shí)，則操作者用手?jǐn)Q動(dòng)電壓調(diào)節(jié)開關(guān)，并將所述測(cè)試電壓調(diào)節(jié)到規(guī)定的數(shù)值，即交流電2100V。當(dāng)將所述耐壓測(cè)試儀的數(shù)據(jù)調(diào)節(jié)之后，進(jìn)入步驟106、接地夾接觸所述第一金屬容器；其中，接地夾與耐壓測(cè)試儀連接。步驟107、測(cè)試棒探頭接觸所述第二金屬容器； 步驟108、當(dāng)發(fā)現(xiàn)有不良品立即把其隔離；即當(dāng)檢測(cè)到所述第一金屬容器內(nèi)的所述溫控器本體出現(xiàn)閃光，閃絡(luò)或所述溫控器本體被擊穿，則判定浸入在所述第一金屬容器的溫控器本體為不良品。步驟109、將檢測(cè)合格的溫控器進(jìn)行烘干；
進(jìn)行上述步驟過(guò)程中，將所述溫控器本體和所述溫控器導(dǎo)線金屬端子部浸入所述第一金屬容器或所述第二金屬容器中的時(shí)間為60S;
即在測(cè)試所述溫控器是良品還是不良品時(shí)，因所述測(cè)試棒上帶有電壓，所述金屬容器中所裝的水都是導(dǎo)電的，當(dāng)所述溫控器的耐壓性不良時(shí)，浸入水中的溫控器將會(huì)被所述測(cè)試棒探頭上所帶的電壓擊穿，其產(chǎn)生的擊穿效果是，不良的溫控器在水中的部分會(huì)出現(xiàn)閃絡(luò)或閃光，操作者通過(guò)所述閃絡(luò)或閃光現(xiàn)象即可非?？焖偾宄谋鎰e到底是哪個(gè)溫控器出現(xiàn)了不良，從而提高了溫控器的檢測(cè)效率。較佳地是，在具體應(yīng)用中，還需要在所述第一金屬容器下方放置有用于容置所述第一金屬容器的第一絕緣槽，在所述第二金屬容器下方放置有用于容置所述第二金屬容器的第二絕緣槽。因金屬容器里的水是具有高壓的，當(dāng)在檢測(cè)過(guò)程中，水是可能從杯中流出來(lái)，而且當(dāng)操作者將測(cè)試完成的溫控器從所述金屬容器中取出來(lái)，也會(huì)帶出金屬容器中的水，因水帶有高壓，極容易打傷人，所述在金屬容器的下面放置有容置金屬容器的絕緣槽，使得即便金屬容器中的水流出或者被帶出，都能夠流入絕緣槽中，而不能打傷人。當(dāng)然也可以在所述第一金屬容器和所述第二金屬容器下方設(shè)置有一個(gè)絕緣槽。一種用于雙金屬片式防水溫控器的浸水耐壓測(cè)試系統(tǒng)，以下結(jié)合圖2對(duì)本發(fā)明所提供一種用于雙金屬片式防水溫控器的浸水耐壓測(cè)試系統(tǒng)做詳細(xì)說(shuō)明，其中圖2是本發(fā)明所述的一種用于雙金屬片式防水溫控器的浸水耐壓測(cè)試系統(tǒng)的較佳實(shí)施例結(jié)構(gòu)示意圖。圖2中用于雙金屬片式防水溫控器的浸水耐壓測(cè)試系統(tǒng)201包括耐壓測(cè)試儀202，所述耐壓測(cè)試儀為現(xiàn)有技術(shù)，在此不再詳述；還包括一與所述耐壓測(cè)試儀202連接的測(cè)試棒205和接地夾206 ；一用于容置溫控器本體的第一金屬容器203, —用于容置溫控器導(dǎo)線金屬端子部的第二金屬容器204。將所述接地夾206接觸所述第一金屬容器203，將所述測(cè)試棒的測(cè)試棒探頭接觸所述第二金屬容器204，當(dāng)檢測(cè)到所述第一金屬容器203內(nèi)的所述溫控器本體出現(xiàn)閃光，則判定浸入在所述第一金屬容器203的溫控器本體為不良品。
所述溫控器的浸水耐壓測(cè)試系統(tǒng)較佳地還包括在所述第一金屬容器203下方放置有用于容置所述第一金屬容器的第一絕緣槽，在所述第二金屬容器204下方放置有用于容置所述第二金屬容器的第二絕緣槽。其中放置絕緣槽的作用在于，防止在檢測(cè)過(guò)程中，金屬容器中的水流出而打到人，避免傷到操作者。當(dāng)然也可以在所述第一金屬容器和所述第二金屬容器下方設(shè)置有一個(gè)絕緣槽。且所述耐壓測(cè)試儀202的漏電電流調(diào)節(jié)為I毫安；所述耐壓測(cè)試儀的測(cè)試電壓調(diào)節(jié)為交流電2100V。而且需明確的是，在所述第一金屬容器和所述第二金屬容器中放置純凈水或蒸餾水。更佳地是，所述的用于雙金屬片式防水溫控器的浸水耐壓測(cè)試系統(tǒng)還可測(cè)量溫控器的絕緣電阻是否符合要求，在進(jìn)行溫控器的浸水耐壓測(cè)試時(shí)，還可將絕緣電阻測(cè)試儀的測(cè)試棒的測(cè)試棒探頭接觸所述第二金屬容器。進(jìn)而通過(guò)絕緣電阻儀上的指針是否在指定 的范圍內(nèi)，如果在范圍內(nèi)，則判定樣品合格，如果不在指定的范圍內(nèi)，則判定樣品不合格；
將本較佳實(shí)施例應(yīng)用在檢測(cè)溫控器時(shí)，即檢測(cè)溫控器絕緣電阻時(shí)，當(dāng)指針的指數(shù)大于等于500ΜΩ時(shí)，判定被檢測(cè)的溫控器合格，當(dāng)小于500ΜΩ時(shí)，則判定被檢測(cè)的溫控器不合格。綜上所述，本發(fā)明將溫控器本體和溫控器導(dǎo)線金屬端子部浸入乘有水的金屬容器中，使用測(cè)試棒的探頭接觸放置有溫控器導(dǎo)線金屬端子部的金屬容器時(shí)，就用接地夾接觸放置有溫控器本體的金屬容器，使得當(dāng)被檢測(cè)的溫控器樣品中出現(xiàn)不良品時(shí)，操作中可以通過(guò)不良的溫控器在水中閃絡(luò)或閃光現(xiàn)象，迅速的將不良的溫控器從良品的溫控器中隔離出來(lái)，從而提升了生產(chǎn)的效率。應(yīng)當(dāng)理解的是，本發(fā)明的應(yīng)用不限于上述的舉例，對(duì)本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來(lái)說(shuō)，可以根據(jù)上述說(shuō)明加以改進(jìn)或變換，所有這些改進(jìn)和變換都應(yīng)屬于本發(fā)明所附權(quán)利要求的保護(hù)范圍。
權(quán)利要求
1.一種雙金屬片式防水溫控器浸水耐壓測(cè)試方法，其特征在于，包括步驟 A.將溫控器本體浸入裝有水的第一金屬容器，將溫控器導(dǎo)線金屬端子部浸入裝有水的第二金屬容器； B.將與耐壓測(cè)試儀連接的接地夾接觸所述第一金屬容器，將與所述耐壓測(cè)試儀連接的測(cè)試棒的測(cè)試棒探頭接觸所述第二金屬容器； C.當(dāng)檢測(cè)到所述第一金屬容器內(nèi)的所述溫控器本體出現(xiàn)閃光，則判定浸入在所述第一金屬容器的溫控器本體為不良品。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的雙金屬片式防水溫控器浸水耐壓測(cè)試方法，其特征在于，所述步驟B還包括將所述耐壓測(cè)試儀的漏電電流調(diào)節(jié)為I毫安，將所述耐壓測(cè)試儀的測(cè)試電壓調(diào)節(jié)為交流電2100V。
3.根據(jù)權(quán)利要求I所述的雙金屬片式防水溫控器浸水耐壓測(cè)試方法，其特征在于，在所述步驟A之前還包括在所述第一金屬容器和所述第二金屬容器中放置純凈水或蒸餾水。
4.根據(jù)權(quán)利要求I所述的雙金屬片式防水溫控器浸水耐壓測(cè)試方法，其特征在于，在所述步驟A之前還包括在所述第一金屬容器下方放置有用于容置所述第一金屬容器的第一絕緣槽，在所述第二金屬容器下方放置有用于容置所述第二金屬容器的第二絕緣槽。
5.一種用于雙金屬片式防水溫控器的浸水耐壓測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，包括一耐壓測(cè)試儀，分別與所述耐壓測(cè)試儀連接的測(cè)試棒和接地夾，以及用于容置溫控器本體的第一金屬容器，一用于容置溫控器導(dǎo)線金屬端子部的第二金屬容器； 將所述接地夾接觸所述第一金屬容器，將所述測(cè)試棒的測(cè)試棒探頭接觸所述第二金屬容器，當(dāng)檢測(cè)到所述第一金屬容器內(nèi)的所述溫控器本體出現(xiàn)閃光，則判定浸入在所述第一金屬容器的溫控器本體為不良品。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的用于雙金屬片式防水溫控器的浸水耐壓測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所述測(cè)試系統(tǒng)還包括在所述第一金屬容器下方放置有用于容置所述第一金屬容器的第一絕緣槽，在所述第二金屬容器下方放置有用于容置所述第二金屬容器的第二絕緣槽。
7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的用于雙金屬片式防水溫控器的浸水耐壓測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所述耐壓測(cè)試儀的漏電電流調(diào)節(jié)為I毫安；所述耐壓測(cè)試儀的測(cè)試電壓調(diào)節(jié)為交流電2100V。
8.根據(jù)權(quán)利要求5所述的用于雙金屬片式防水溫控器的浸水耐壓測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所述第一金屬容器和所述第二金屬容器中的水為純凈水或蒸餾水。
全文摘要
本發(fā)明公開了雙金屬片式防水溫控器浸水耐壓測(cè)試方法及測(cè)試系統(tǒng)。所述方法包括步驟，A.將溫控器本體浸入裝有水的第一金屬容器，將溫控器導(dǎo)線金屬端子部浸入裝有水的第二金屬容器；B.將與耐壓測(cè)試儀連接的接地夾接觸所述第一金屬容器，將與所述耐壓測(cè)試儀連接的測(cè)試棒的測(cè)試棒探頭接觸所述第二金屬容器；C、當(dāng)檢測(cè)到所述第一金屬容器內(nèi)的所述溫控器本體出現(xiàn)閃光，則判定浸入在所述第一金屬容器的溫控器本體為不良品。采用本發(fā)明所述的測(cè)試方法，使得在測(cè)試溫控器的過(guò)程中，當(dāng)溫控器中出現(xiàn)不良時(shí)，其在裝有水的金屬容器中會(huì)出現(xiàn)明顯的閃絡(luò)或閃光，從而可以快速的將不良的溫控器檢測(cè)出來(lái)。
文檔編號(hào)G01R31/12GK102928748SQ20121042006
公開日2013年2月13日 申請(qǐng)日期2012年10月29日 優(yōu)先權(quán)日2012年10月29日
發(fā)明者顏陶, 龍克文, 武俊德, 雷克和 申請(qǐng)人:佛山市川東磁電股份有限公司