專利名稱：機(jī)械密封平面度檢測儀的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及用于計(jì)量表面的粗糙度或不規(guī)則性的儀儀，特別是涉及一種機(jī)械密封平面度檢測儀。
背景技術(shù)：
一般零件經(jīng)歷過各種成形工序后，表面應(yīng)力發(fā)生改變，板材會(huì)發(fā)生翹曲變形，嚴(yán)重的可能影響到外觀或者是裝配性能，因此需要對零件的表面度進(jìn)行檢測，生產(chǎn)中常用的檢測方法為平臺(tái)塞尺法將零件平放在平臺(tái)上，使用零件平面度要求規(guī)格數(shù)值的塞尺塞于零件與平臺(tái)之間的間隙處，通過塞尺是否能塞入間隙來判斷零件的平面度是否合格；此方法操作繁瑣，工作效率低，并且當(dāng)零件周緣平面度合格而中部平面度不合時(shí)候，使用該方法無法檢測，檢測誤差也較大。

實(shí)用新型內(nèi)容為解決上述技術(shù)問題，本實(shí)用新型提供一種操作簡單，檢測精度高的機(jī)械密封平面度檢測儀。本實(shí)用新型的機(jī)械密封平面度檢測儀，包括檢測儀殼體和位于該殼體下方的底板，所述檢測儀殼體上表面設(shè)有通孔，所述檢測儀殼體上端設(shè)有平面平晶，所述檢測儀殼體內(nèi)還設(shè)有鈉光燈，所述底板連接在檢測儀殼體下面，所述底板內(nèi)設(shè)有電感，所述底板還連接有支架，支架上固定有可上下活動(dòng)的磨砂玻璃。本實(shí)用新型的機(jī)械密封平面度檢測儀，所述平面平晶通過與平面平晶相對應(yīng)的圓環(huán)連接在檢測儀殼體上，平面平晶與檢測儀殼體上表面的通孔同心放置。本實(shí)用新型的機(jī)械密封平面度檢測儀，檢測儀殼體側(cè)面還設(shè)有能穿過電源線的圓孔，檢測儀殼體側(cè)面還設(shè)置有電源開關(guān)。本實(shí)用新型的機(jī)械密封平面度檢測儀，所述支架位于電感的前面。本實(shí)用新型的機(jī)械密封平面度檢測儀，所述磨砂玻璃在鈉光燈的上方。與現(xiàn)有技術(shù)相比本實(shí)用新型的有益效果為本實(shí)用新型的機(jī)械密封平面度檢測儀檢測儀殼體上表面設(shè)有通孔，檢測儀殼體上端設(shè)有平面平晶，檢測儀殼體內(nèi)還設(shè)有鈉光燈， 底板連接在檢測儀殼體下面，底板內(nèi)設(shè)有電感，底板還連接有支架，支架上固定有可上下活動(dòng)的磨砂玻璃；使用起來操作簡單，效率提高，而且能全方位的檢測零件的平面度，檢測精度尚。

圖1是本實(shí)用新型的立體圖；圖2是本實(shí)用新型未放置平面平晶的立體圖；圖3是圖2的沿A-A展開的示意圖。
具體實(shí)施方式

以下結(jié)合附圖和實(shí)施例，對本實(shí)用新型的具體實(shí)施方式
作進(jìn)一步詳細(xì)描述。以下實(shí)施例用于說明本實(shí)用新型，但不用來限制本實(shí)用新型的范圍。如圖1和圖2所示，一種機(jī)械密封平面度檢測儀，包括檢測儀殼體1和位于該殼體下方的底板3，檢測儀殼體1上表面設(shè)有通孔11，檢測儀殼體1上端設(shè)有平面平晶2，平面平晶2通過與平面平晶2相對應(yīng)的圓環(huán)8連接在檢測儀殼體1上，平面平晶2與檢測儀殼體 1上表面的通孔11同心放置；檢測儀殼體1側(cè)面還設(shè)有能穿過電源線的圓孔10，檢測儀殼體側(cè)面還設(shè)置有電源開關(guān)9 ；檢測儀殼體1內(nèi)還設(shè)有鈉光燈6 ；底板3連接在檢測儀殼體1 下面，底板1內(nèi)設(shè)有電感7，底板1還連接有支架4，支架4位于電感7的前面，支架4上固定有可上下活動(dòng)的磨砂玻璃5，磨砂玻璃5在鈉光燈6的上方。具體實(shí)施步驟如下1、準(zhǔn)備工作①將機(jī)械密封平面度檢測儀水平平穩(wěn)擺放，固定好位置。②將機(jī)械密封平面度檢測儀連接線插頭拉出接入電源插座，保證連線可靠。③取出平面平晶2固定放置在檢測儀殼體1上表面的通孔11上。2、開機(jī)①接通電源。②打開檢測儀殼體側(cè)面的電源開關(guān)9，鈉光燈6點(diǎn)亮，稍等 2-3分鐘，燈光顏色轉(zhuǎn)為紅色后就可以開始檢測了。3、檢測①將工件需檢測的平面放置在平面平晶2的中心位置上。②調(diào)整磨光玻璃5的角度，工件平面會(huì)通過平面平晶2經(jīng)鈉光燈6照射反映在磨光玻璃5上，把磨光玻璃 5所顯示的圖案，對照光譜圖示參照圖，找出相似或接近的圖示，即可檢測出該工件的平面度，如顯示的圖案不清晰，可輕輕轉(zhuǎn)動(dòng)工件，查看磨光玻璃5上顯示的圖案，找出一個(gè)清晰的圖案再去與常見干涉光線帶圖對照，找出與其對應(yīng)的圖片來，在通過平面度檢測對照數(shù)據(jù)找出其檢測的數(shù)據(jù)。4、關(guān)機(jī)關(guān)閉檢測儀殼體2側(cè)面的電源開關(guān)9，拔出電源插頭。平面度檢測對照數(shù)據(jù)一條光帶約等于0. 001-0. 002mm ；兩條光帶約等于0. 003-0. 004mm ； 三條光帶約等于0. 005-0. 006mm ；多條光帶約等于0.008-0. Olmm或以上。以上所述僅是本實(shí)用新型的優(yōu)選實(shí)施方式，應(yīng)當(dāng)指出，對于本技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，在不脫離本實(shí)用新型技術(shù)原理的前提下，還可以做出若干改進(jìn)和變型，這些改進(jìn)和變型也應(yīng)視為本實(shí)用新型的保護(hù)范圍。
權(quán)利要求1.一種機(jī)械密封平面度檢測儀，包括檢測儀殼體和位于該殼體下方的底板，其特征在于所述檢測儀殼體上表面設(shè)有通孔，所述檢測儀殼體上端設(shè)有平面平晶，所述檢測儀殼體內(nèi)還設(shè)有鈉光燈，所述底板連接在檢測儀殼體下面，所述底板內(nèi)設(shè)有電感，所述底板還連接有支架，支架上固定有可上下活動(dòng)的磨砂玻璃。
2.如權(quán)利要求1所述的機(jī)械密封平面度檢測儀，其特征在于所述平面平晶通過與平面平晶相對應(yīng)的圓環(huán)連接在檢測儀殼體上，平面平晶與檢測儀殼體上表面的通孔同心放置。
3.如權(quán)利要求2所述的機(jī)械密封平面度檢測儀，其特征在于檢測儀殼體側(cè)面還設(shè)有能穿過電源線的圓孔，檢測儀殼體側(cè)面還設(shè)置有電源開關(guān)。
4.如權(quán)利要求3所述的機(jī)械密封平面度檢測儀，其特征在于所述支架位于電感的前
5.如權(quán)利要求4所述的機(jī)械密封平面度檢測儀，其特征在于所述磨砂玻璃在鈉光燈的上方。
專利摘要本實(shí)用新型公開了用于計(jì)量表面的粗糙度或不規(guī)則性的儀器，特別是涉及一種機(jī)械密封平面度檢測儀，包括檢測儀殼體和位于該殼體下方的底板，檢測儀殼體上表面設(shè)有通孔，檢測儀殼體上端設(shè)有平面平晶，檢測儀殼體內(nèi)還設(shè)有鈉光燈，底板連接在檢測儀殼體下面，底板內(nèi)設(shè)有電感，底板還連接有支架，支架上固定有可上下活動(dòng)的磨砂玻璃；本實(shí)用新型結(jié)構(gòu)簡單，操作起來簡便，檢測精度高。
文檔編號(hào)G01B11/30GK202119415SQ201120221850
公開日2012年1月18日 申請日期2011年6月28日 優(yōu)先權(quán)日2011年6月28日
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