敲擊測試治具【技術(shù)領(lǐng)域】本發(fā)明涉及一種測試治具，特別是一種自動(dòng)控制進(jìn)行敲擊測試的敲擊測試治具。

背景技術(shù)：
印制電路板(PRINTINGCIRCUITBOARD，PCB)為時(shí)下常見的電子零組件，其特色在于不透過外接的實(shí)體電線，插設(shè)于電路板的電子組件即可透過電路板上設(shè)計(jì)好的電路(layout)電性連接于其它電子組件，除了減少實(shí)體電路的設(shè)置以節(jié)省空間外，印制電路板并可于制作前依照電子裝置內(nèi)各電子組件的種類及電子裝置所欲實(shí)施的功能，進(jìn)行電路邏輯設(shè)計(jì)及電路布局，再依據(jù)設(shè)計(jì)結(jié)果制作印制電路板，因此可將印制電路板的表面積在滿足客戶需求的功能要求下縮減到最小，以符合目前電子產(chǎn)品體積日趨微型化的趨勢。此外，經(jīng)由印刷制程可使印制電路板可以大量的生產(chǎn)，從而降低制作成本，更符合電子產(chǎn)業(yè)的經(jīng)濟(jì)效益。由于具備上述的優(yōu)點(diǎn)，印制電路板于目前電子相關(guān)產(chǎn)業(yè)中，已經(jīng)成為不可或缺的必要電子零組件，并且產(chǎn)業(yè)需求量極大。印制電路板的制作過程，如前所述在完成電路設(shè)計(jì)后，必須經(jīng)過印刷、蝕刻、沖裁等加工手段產(chǎn)生電路圖形，并透過錫焊或銀焊等焊接技術(shù)將電子組件焊接于印制電路板上，焊接的步驟可以經(jīng)過表面貼焊(SurfaceMountTechnologySMT)或波峰焊(Wavesoldering)來達(dá)成。然而，部分印制電路板由于在制作過程中電路定位不良或電路板變形，造成電子組件在焊接過程中吃錫度不夠一般稱為「空焊」，意即電子組件無法透過焊接與電路板緊密連接，因此電路板上的電子組件可能因?yàn)檎鹗?、外力撞擊或其它因素而造成電子組件與電路板之間的接觸不良、短路，甚至是電子組件自電路板上脫落等問題。為避免此類空焊的瑕疵電路板銷售給客戶，電路板廠商在產(chǎn)品出廠前都必須進(jìn)行敲擊檢測，以確保產(chǎn)品的質(zhì)量。目前業(yè)界采用的敲擊檢測方法是通過測試人員以特制的膠棒直接敲打在印制電路板背面的特定位置并持續(xù)一定次數(shù)后，再將此印制電路板放入電子測試儀器進(jìn)行電路檢測，以測試敲擊后的電路板是否有接觸不良或短路等現(xiàn)象，整個(gè)敲擊檢測程序完全仰賴人工操作，因此無法精確控制敲擊的力道、時(shí)間及位置的準(zhǔn)確性。此外，敲擊面積也因?yàn)槿藶榈牟豢深A(yù)測及不可控制的因素，而無法精準(zhǔn)地控制在同一個(gè)點(diǎn)或是同一個(gè)面上，且極有可能因檢測人員的敲擊用力過度反而造成電路板損壞。同時(shí)，由于電路板的正面已電性配置裝設(shè)有多個(gè)電子組件，因此當(dāng)進(jìn)行敲擊測試時(shí)無法水平放置，導(dǎo)致在敲擊測試過程中，受測的電路板背面的受力點(diǎn)不均，亦可能影響敲擊測試的正確性。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：
鑒于以上的問題，本發(fā)明提供一種不用透過人力敲擊的敲擊測試治具，從而解決習(xí)用以人工方式進(jìn)行敲擊測試無法掌握敲擊力道和準(zhǔn)確性，可能造成測試結(jié)果存在有過于顯著的誤差問題。本發(fā)明涉及一種敲擊測試治具，用于一待測電路板，敲擊測試治具包含有一基座及一敲擊組件，其中基座用以放置待測電路板于其上，敲擊組件包括一控制器及一動(dòng)力組，動(dòng)力組具有一動(dòng)力源及一致動(dòng)件，動(dòng)力源電性連接于控制器，致動(dòng)件則與動(dòng)力源相連接，且敲擊器活動(dòng)連接于致動(dòng)件。在進(jìn)行敲擊測試時(shí)，控制器發(fā)出一電性訊號令動(dòng)力源啟動(dòng)，動(dòng)力源驅(qū)動(dòng)致動(dòng)件作動(dòng)，以帶動(dòng)敲擊器往復(fù)位移，并且敲擊器間歇敲擊待測電路板。上述的敲擊測試治具，基座更包括有一平臺，平臺相對于基座往復(fù)位移，待測電路板系放置于平臺上。上述的敲擊測試治具，平臺更具有多個(gè)定位柱，待測電路板具有多個(gè)定位孔，當(dāng)待測電路板設(shè)置于平臺上，等定位柱分別穿設(shè)過等定位孔。上述的敲擊測試治具，還包括有一固定件，是分別連接于所述基座與所述平臺，以固定所述平臺于所述基座上。上述的敲擊測試治具，敲擊組件的動(dòng)力源系是氣泵、馬達(dá)或電動(dòng)機(jī)。上述的敲擊測試治具，控制器還具有一第一調(diào)節(jié)件，用以控制敲擊器朝遠(yuǎn)離待測電路板方向的位移速度。上述的敲擊測試治具，控制器還具有一第二調(diào)節(jié)件，用以控制敲擊器朝向待測電路板方向的位移速度。上述的敲擊測試治具，控制器還具有一計(jì)數(shù)器，是設(shè)定敲擊器的敲擊次數(shù)。上述的敲擊測試治具，敲擊組件還包括有一力計(jì)器，連接于致動(dòng)件與敲擊器之間，力計(jì)器是控制敲擊器的敲擊力量。上述的敲擊測試治具，力計(jì)器的敲擊力量設(shè)定于0.1公斤至5公斤之間。上述的敲擊測試治具還包含有一測試開關(guān)，電性連接于控制器，測試開關(guān)選擇性被致動(dòng)，測試開關(guān)電性傳輸一測試訊號至控制器，以開啟動(dòng)力源執(zhí)行作動(dòng)。上述的敲擊測試治具還包含有一緊急停止開關(guān)，電性連接于控制器，緊急停止開關(guān)選擇性被致動(dòng)，緊急停止開關(guān)電性傳輸一停止訊號至控制器，以停止動(dòng)力源的作動(dòng)。上述的敲擊測試治具，敲擊器的材料為塑料材料。上述的敲擊測試治具，敲擊器具有一敲擊部，敲擊部是一圓角結(jié)構(gòu)。本發(fā)明的功效在于，敲擊測試治具的動(dòng)力源依據(jù)控制器的啟動(dòng)，驅(qū)動(dòng)致動(dòng)件作動(dòng)，致動(dòng)件則進(jìn)一步帶動(dòng)敲擊器往復(fù)位移，并間歇敲擊待測電路板，透過本發(fā)明的治具藉由機(jī)械控制的精準(zhǔn)運(yùn)作，可使敲擊測試的敲擊力度及敲擊次數(shù)標(biāo)準(zhǔn)化，以減少人為操作上的誤差，并可因應(yīng)不同種類的電路板的敲擊測試標(biāo)準(zhǔn)，有效提高測試的精確性，并可降低檢測所需的工時(shí)。有關(guān)本發(fā)明的特征、實(shí)作與功效，茲配合圖式作最佳實(shí)施例詳細(xì)說明如下?！靖綀D說明】圖1為本發(fā)明第一實(shí)施例的敲擊測試裝置的立體示意圖。圖2為本發(fā)明第一實(shí)施例的敲擊測試裝置的測試示意圖。圖3為本發(fā)明第一實(shí)施例的敲擊測試裝置的側(cè)視圖。圖4為本發(fā)明第一實(shí)施例的敲擊測試裝置的電路方塊示意圖。圖5為本發(fā)明第二實(shí)施例的敲擊測試裝置的立體示意圖。圖6為本發(fā)明第二實(shí)施例的敲擊測試裝置的測試示意圖。圖7為本發(fā)明第二實(shí)施例的敲擊測試裝置的側(cè)視圖。圖8為本發(fā)明第二實(shí)施例的敲擊測試裝置的局部放大圖。圖9為本發(fā)明第三實(shí)施例的敲擊測試裝置的立體示意圖。圖10為本發(fā)明第三實(shí)施例的敲擊測試裝置的測試示意圖。圖11為本發(fā)明第三實(shí)施例的敲擊測試裝置的側(cè)視圖。主要組件符號說明：10敲擊測試裝置100基座110平臺1101定位柱1102固定件200敲擊組件201控制器2011計(jì)數(shù)器202動(dòng)力組2021動(dòng)力源2022致動(dòng)件2023敲擊器2024敲擊部203力計(jì)器204第一調(diào)節(jié)器205第二調(diào)節(jié)器300測試開關(guān)400緊急停止開關(guān)50主機(jī)板501定位孔【具體實(shí)施方式】本發(fā)明所涉及各實(shí)施例的敲擊測試治具10用于一待測電路板50，待測電路板上有貫通的多個(gè)定位孔501，定位孔501的位置依據(jù)待測電路板50的種類及電性配置于待測電路板50上的電子組件的不同而變更位置，并不以本發(fā)明所涉及的各型態(tài)為限。在第一實(shí)施例中，請參考圖1的立體示意圖，并請同時(shí)參考圖2的測試示意圖、圖3的側(cè)視圖以及圖4的電路方塊示意圖。本發(fā)明第一實(shí)施例的敲擊測試治具10包含有一基座100及一敲擊組件200，基座100用以放置待測電路板50于其上，敲擊組件200進(jìn)一步包含有一控制器201、一動(dòng)力組202、一敲擊器2023以及一力計(jì)器203。動(dòng)力組202具有一動(dòng)力源2021及一致動(dòng)件2022，動(dòng)力源2021電性連接于控制器201，致動(dòng)件2022則與動(dòng)力源2021相連接，并且敲擊器2023活動(dòng)連接于致動(dòng)件2022。值得注意的是，本實(shí)施例所述的動(dòng)力源2021包含但不限于氣泵、馬達(dá)或電動(dòng)機(jī)等的動(dòng)力裝置，凡能產(chǎn)生動(dòng)能并帶動(dòng)與其相連的致動(dòng)件2022作動(dòng)的動(dòng)力裝置皆可為動(dòng)力源2021，本領(lǐng)域具有通常技藝的人士可依據(jù)測試需求采用不同的裝置。同時(shí)，本實(shí)施例的敲擊器2023還具有一敲擊部2024，且敲擊部2024設(shè)計(jì)為圓角結(jié)構(gòu)，而且敲擊器2023及其敲擊部2024的材料皆為塑料材料或其它具彈力特性的材料，以避免在進(jìn)行敲擊測試的過程中，因施力不當(dāng)或是敲擊位置不當(dāng)而造成待測電路板50上的電子組件損壞。除了前所述敲擊測試治具的機(jī)械結(jié)構(gòu)外，本實(shí)施例的控制器201通過與動(dòng)力源2021的電性連接關(guān)系，而得以控制致動(dòng)件2022的作動(dòng)，并且進(jìn)一步地帶動(dòng)敲擊器2023往復(fù)位移?？刂破?01還具有一計(jì)數(shù)器(counter)2011，用以設(shè)定敲擊器2023的敲擊次數(shù)。除此之外，力計(jì)器203是連接于致動(dòng)件2022與敲擊器2023之間，可控制敲擊器2023的敲擊測試力量。一般來說，在進(jìn)行敲擊測試時(shí)，敲擊力設(shè)定于0.1公斤至5公斤之間，但并不以此為限。此外，本實(shí)施例所述的計(jì)數(shù)器2011及力計(jì)器203亦可整合于控制器201中，檢測人員僅須在整合計(jì)數(shù)器2011及力計(jì)器203功能的控制器201上設(shè)定敲擊力量和敲擊次數(shù)即可，減少設(shè)定上的繁瑣程序，有效提高檢測效率。本實(shí)施例的敲擊測試裝置10還包含有一測試開關(guān)300，以及一緊急停止開關(guān)400。測試開關(guān)300電性連接于控制器201，當(dāng)測試開關(guān)300被測試人員致動(dòng)后，測試開關(guān)300電性傳輸一測試訊號至控制器201，以開啟動(dòng)力源2021執(zhí)行作動(dòng)。本實(shí)施例的測試開關(guān)300具有兩個(gè)啟動(dòng)按鈕，且兩個(gè)啟動(dòng)按鈕必須同時(shí)被按壓或開啟，才能夠啟動(dòng)本發(fā)明的敲擊測試裝置10，此一設(shè)計(jì)是為了避免測試人員在放置待測電路板50而手還未離開基座100的情況下錯(cuò)誤啟動(dòng)測試開關(guān)300而發(fā)生意外傷害，因此必須以雙手啟動(dòng)試開關(guān)300，加強(qiáng)操作人員于測試時(shí)的安全性。同理，緊急停止開關(guān)400亦為在相同安全考慮下的設(shè)計(jì)，本實(shí)施例的緊急停止開關(guān)400電性連接于控制器201，當(dāng)在敲擊檢測過程中有機(jī)械故障或意外發(fā)生時(shí)，測試人員可致動(dòng)緊急停止開關(guān)400，緊急停止開關(guān)400電性傳輸一停止訊號至控制器201，以緊急停止動(dòng)力源2021的作動(dòng)，待機(jī)械故障或意外排除后，再行重新啟動(dòng)本發(fā)明的敲擊測試治具，強(qiáng)化操作人員于測試時(shí)的安全性。當(dāng)測試人員以第一實(shí)施例的敲擊測試裝置10進(jìn)行電路板敲擊測試時(shí)，首先將待測電路板50放置于基座100上，并令待測電路板50欲進(jìn)行敲擊測試的特定位置對準(zhǔn)于敲擊器2023的敲擊部2024位置，測試人員透過控制器201上的計(jì)數(shù)器2011以及力計(jì)器203設(shè)定敲擊次數(shù)及敲擊力道。待設(shè)定完后，測試人員以雙手同時(shí)按壓測試開關(guān)300，此時(shí)測試開關(guān)300被致動(dòng)并電性傳輸測試訊號至控制器201?？刂破?01接收到測試訊號后，再發(fā)出一電性訊號令動(dòng)力源202啟動(dòng)，動(dòng)力源202驅(qū)動(dòng)致動(dòng)件2022作動(dòng)，致動(dòng)件2022并帶動(dòng)與其活動(dòng)連接的敲擊器2023往復(fù)位移，使敲擊部2024依據(jù)設(shè)定的敲擊次數(shù)及敲擊力道間歇敲擊待測電路板50的特定位置。若敲擊測試過程中有任何意外或故障發(fā)生，測試人員可隨時(shí)致動(dòng)緊急停止開關(guān)400以緊急停止敲擊測試裝置10，以保障測試過程的安全，亦可避免待測電路板50因?yàn)椴划?dāng)測試而損壞。在本發(fā)明所揭露的第二實(shí)施例中，請參考圖4的立體示意圖，并請同時(shí)參考圖6的測試示意圖、圖7的側(cè)視圖以及圖8的局部放大圖。第二實(shí)施例的敲擊測試具的結(jié)構(gòu)大致與第一實(shí)施相類似，其不同的地方在于，本實(shí)施例除第一實(shí)施例所揭露的組件外，基座100還包括有一平臺110，且平臺110相對于基座100為可上下左右(二維方向)移動(dòng)的。當(dāng)待測電路板50放置于平臺110上后，測試人員可任意移動(dòng)平臺110，使敲擊器2023得以對待測電路板50的各個(gè)測試位置進(jìn)行敲擊測試。本實(shí)施例的平臺110并具有多個(gè)定位柱1101及固定件1102，定位柱1101是對應(yīng)于待測電路板50上的定位孔501設(shè)置，并可依據(jù)不同種類的待測電路板50而相對調(diào)整定位柱1101的位置。當(dāng)待測電路板50設(shè)置于平臺110上時(shí)，定位柱1101分別穿設(shè)過待測電路板50的定位孔501，以固定待測電路板50，避免待測電路板50于進(jìn)行敲擊測試時(shí)產(chǎn)生偏位情形。同時(shí)，定位柱1101亦可緩沖敲擊部2024的撞擊，有效避免撞擊力道過當(dāng)所造成待測電路板50損壞或故障問題。此外，平臺110的固定件1102分別連接于基座100與平臺110，以固定平臺110于基座100上，其固定件1102固定基座100的方式包括但不限于螺絲鎖付、卡固或尼龍搭扣(Velcro)等方式，僅須達(dá)到暫時(shí)固定平臺110的功能，以避免平臺110在敲擊測試過程中因?yàn)樽矒舳晃灰?，進(jìn)而影響敲擊測試的正確性，并且方便在測試完畢后將平臺110與基座100分開。當(dāng)測試人員以第二實(shí)施例的敲擊測試裝置10進(jìn)行電路板敲擊測試時(shí)，首先將待測電路板50透過定位柱1101穿過定位孔501的方式固定于平臺110上，接著移動(dòng)平臺110，直到待測電路板50欲進(jìn)行敲擊測試的特定位置對準(zhǔn)于敲擊器2023的敲擊部2024。而后，經(jīng)由固定件1102將平臺110固定于基座100上，并執(zhí)行如上述第一實(shí)施例中所載的測試程序。當(dāng)完成第一個(gè)敲擊點(diǎn)的測試后，測試人員可松開固定件1102，使平臺110得以沿著二維方向自由的移動(dòng)，以使待測電路板50欲進(jìn)行敲擊測試的下一個(gè)特定位置對準(zhǔn)于敲擊器2023的敲擊部2024，以進(jìn)行第二次的敲擊測試。在第三實(shí)施例中，請參考圖9的立體示意圖，并請同時(shí)參考圖10的測試示意圖以及圖11的側(cè)視圖，本實(shí)施例的敲擊測試治具大致與第二實(shí)施相類似，其不同的地方在于，本實(shí)施例除第二實(shí)施例的組件外控制器201還具有一第一調(diào)節(jié)件204及一第二調(diào)節(jié)件205。第三實(shí)施例的第一調(diào)節(jié)件204是控制敲擊器2023朝遠(yuǎn)離待測電路板50方向的位移速度，從而控制敲擊器2023的敲擊頻率。敲擊器2023朝遠(yuǎn)離待測電路板50方向的位移速度越快，則敲擊器2023兩次敲擊間的時(shí)間間隔則較短，亦即敲擊頻率相對較高；相反的，則敲擊器2023的敲擊頻率則相對較低。第三實(shí)施例的第二調(diào)節(jié)件205是控制敲擊器2023朝向待測電路板50方向的位移速度，透過第二調(diào)節(jié)件205亦可控制敲擊器2023敲擊的頻率，其原理如前所述，故申請人不在此多加贅述。同時(shí)，第二調(diào)節(jié)件205亦可通過調(diào)整敲擊器2023朝向待測電路板50方向的位移速度，配合力計(jì)器203調(diào)整敲擊器2023的敲擊力道，以達(dá)到最精確的測試，提升測試的質(zhì)量。值得注意的是，本實(shí)施例所述的第一調(diào)節(jié)件204及一第二調(diào)節(jié)件205，亦可如第一實(shí)施例所述的力計(jì)器203及計(jì)數(shù)器2011整合于控制器201中，檢測人員僅須在整合有第一調(diào)節(jié)件204及一第二調(diào)節(jié)件205的控制器201上調(diào)整敲擊器2023遠(yuǎn)離和朝向待測電路板50的位移速度即可，減少設(shè)定上的繁瑣程序，有效提高檢測效率。經(jīng)由上述本發(fā)明所涉及各實(shí)施例的敲擊測試裝置10，測試人員毋須以人力親自敲擊待測電路板50進(jìn)行測試，僅須操作敲擊測試裝置10，即可針對待測電路板50特定的測試位置進(jìn)行敲擊測試，并通過平臺110于二維方向的位移，而可依序?qū)Υ郎y電路板50上的不同測試位置進(jìn)行敲擊測試，以進(jìn)行最完整的測試，并且不會受到過多人為操作因素的影響，獲得最精確的檢測結(jié)果。同時(shí)，本發(fā)明所涉及的第一調(diào)節(jié)件204、一第二調(diào)節(jié)件205、力計(jì)器203及計(jì)數(shù)器2011，亦可針對不同的待測電路板50進(jìn)行調(diào)整設(shè)定，從而簡單且快速地控制敲擊器2023的敲擊力道、敲擊頻率以及敲擊次數(shù)，以符合測試需求，大幅提高檢測效率，同時(shí)亦可避免主機(jī)板于測試過程中造成損壞。在經(jīng)過前述的敲擊測試流程后，測試人員再將待測電路板50連接于其它電路測試儀器，以檢測在經(jīng)過敲擊測試后，待測電路板50是否仍可正常運(yùn)作，抑或是有短路、接觸不良等問題，以篩選掉可能有空焊的不良品，達(dá)到提升產(chǎn)品質(zhì)量的目的。雖然本發(fā)明的實(shí)施例揭露如上所述，然并非用以限定本發(fā)明，任何熟習(xí)相關(guān)技藝者，在不脫離本發(fā)明的精神和范圍內(nèi)，舉凡依本發(fā)明申請范圍所述的形狀、構(gòu)造、特征及數(shù)量當(dāng)可做些許的變更，因此本發(fā)明的專利保護(hù)范圍須視本說明書所附的申請專利范圍所界定者為準(zhǔn)。