專(zhuān)利名稱(chēng)：一種端子連接檢測(cè)裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及電氣設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及一種端子連接檢測(cè)裝置。
背景技術(shù)：
在各種工業(yè)電氣設(shè)備內(nèi)部，均大量使用連接端子，目的可以是信號(hào)傳輸，也可以是電源轉(zhuǎn)接等等?，F(xiàn)有技術(shù)中，連接端子一般采用機(jī)械式固定，其中一種固定方式是通過(guò)在連接端子上安裝固定外殼，將外殼通過(guò)螺釘?shù)确绞脚c欲連接的端子相固定，也有一些是采用塑料卡式固定。上述機(jī)械式固定方式雖然能夠在一定程度上實(shí)現(xiàn)連接端子之間的固定，但是仍然存在連接不穩(wěn)定的缺陷，一旦連接端子之間連接出現(xiàn)問(wèn)題，電氣設(shè)備將無(wú)法正產(chǎn)工作，甚至還會(huì)出現(xiàn)損壞等后果。更重要的是，現(xiàn)有技術(shù)中的固定方式，無(wú)法實(shí)時(shí)地檢測(cè)連接端子的連接情況，因此，設(shè)備的控制中心就無(wú)法針對(duì)連接的狀況制定相應(yīng)的控制方案，故不能在連接端子出現(xiàn)連接故障時(shí)采取相應(yīng)的控制措施而避免出現(xiàn)不可預(yù)料的故障后果，給電氣設(shè)備的使用造成較大的麻煩。因此，針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)的不足，提供一種能夠及時(shí)檢測(cè)連接端子連接故障的端子連接檢測(cè)裝置以克服現(xiàn)有技術(shù)不足之處甚為必要。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于避免現(xiàn)有技術(shù)的不足之處而提供一種端子連接檢測(cè)裝置，該端子連接檢測(cè)裝置能夠?qū)崟r(shí)檢測(cè)連接端子的連接情況。本發(fā)明的目的通過(guò)以下技術(shù)措施實(shí)現(xiàn)。一種端子連接檢測(cè)裝置，用于檢測(cè)連接端子PA和連接端子PB的連接狀況，連接端子PA設(shè)置有檢測(cè)端子C0NNECT-A和GNDl，檢測(cè)端子PB設(shè)置有檢測(cè)端子C0NNECT-B和GND2 ，其特征在于所述端子連接檢測(cè)裝置設(shè)置有探測(cè)單元、分析單元和輸出單元，所述探測(cè)單元的輸入端與所述檢測(cè)端子CONNECT-A、GNDl、C0NNECT-B和GND2連接，所述探測(cè)單元的輸出端與所述分析單元的輸入端連接，所述分析單元的輸出端與所述輸出單元的輸入端連接。進(jìn)一步的，上述探測(cè)單元設(shè)置有電阻Rl 1、電容Cl 1、電阻R21和電容C21 ；
所述電阻Rll的一端與所述檢測(cè)端子C0NNECT-A連接，所述電阻Rll的另一端與所述電容Cll的一端連接，所述電容Cll的另一端與所述檢測(cè)端子GNDl連接；
所述電阻R21的一端與所述檢測(cè)端子C0NNECT-B連接，所述電阻R21的另一端與所述電容C21的一端連接，所述電容C21的另一端與所述檢測(cè)端子GND2連接；
所述電阻Rll的另一端、所述電阻R21的另一端與所述分析單元的輸入端連接。優(yōu)選的，上述電阻Rll為470歐，所述電容Cll為IOOnF,所述電阻R21為470歐， 所述電容C21為IOOnF。進(jìn)一步的，上述分析單元設(shè)置有電阻R12、光耦I(lǐng)S01、二極管D11、二極管D12、電阻 R22、光耦I(lǐng)S02、二極管D21和二極管D22 ；所述光耦I(lǐng)SOl的1端接+5V電位，所述光耦I(lǐng)SOl的2端、所述二極管Dll的正極與所述電阻Rll的另一端連接，所述光耦I(lǐng)SOl的3端與GND3連接，所述電阻R12的一端接 +3. 3V電位，所述電阻R12的另一端、所述光耦I(lǐng)SOl的4端與所述二極管D12的正極連接； 所述光耦I(lǐng)S02的1端、所述二極管Dll的負(fù)極、所述二極管D21的負(fù)極接+5V電位，所述光耦I(lǐng)S02的2端、所述二極管D21的正極與所述電阻R21的另一端連接，所述光耦I(lǐng)S02 的3端與GND3連接，所述電阻R22的一端接+3. 3V電位，所述電阻R22的另一端、所述光耦 IS02的4端與所述二極管D22的正極連接；
所述二極管D12的負(fù)極、所述二極管D22的負(fù)極與所述輸出單元的輸入端連接。優(yōu)選的，上述電阻R12為1.5千歐，所述電阻R22為1. 5千歐。進(jìn)一步的，上述輸出單元設(shè)置有電阻R3、電阻R4、電阻R5、電容C3和三極管Q3 ； 所述電阻R3的一端與二極管D12的負(fù)極連接，所述電阻R3的另一端、所述電阻R4的
一端、所述電容C3的一端與所述三極管Q3的基極連接，所述電阻R4的另一端、所述電容C3 的另一端、所述三極管Q3的發(fā)射極與GND3連接，所述電阻R5的一端接+3. 3V電位，所述電阻R5的另一端與所述三極管Q3的集電極連接。優(yōu)選的，上述電阻R3為1千歐，所述電阻R4為47千歐，所述電阻R5為4. 7千歐， 所述電容C3為100nF。一種端子連接檢測(cè)裝置，用于檢測(cè)連接端子PA和連接端子PB的連接狀況，連接端子PA設(shè)置有檢測(cè)端子C0NNECT-A和GNDl，檢測(cè)端子PB設(shè)置有檢測(cè)端子C0NNECT-B和GND2 ，所述端子連接檢測(cè)裝置設(shè)置有探測(cè)單元、分析單元和輸出單元，所述探測(cè)單元的輸入端與所述檢測(cè)端子CONNECT-A、GNDUC0NNECT-B和GND2連接，所述探測(cè)單元的輸出端與所述分析單元的輸入端連接，所述分析單元的輸出端與所述輸出單元的輸入端連接。本發(fā)明的一種端子連接檢測(cè)裝置通過(guò)探測(cè)單元實(shí)時(shí)監(jiān)控系統(tǒng)連接端子的連接狀態(tài)，能夠在連接端子出現(xiàn)問(wèn)題時(shí)，系統(tǒng)可以做出相應(yīng)的處理動(dòng)作，從而避免系統(tǒng)問(wèn)題的發(fā)生。


結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步的描述，但附圖中的內(nèi)容不構(gòu)成對(duì)本發(fā)明的任何限制。圖1是連接端子PA和連接端子PB的示意圖。圖2是本發(fā)明一種端子連接檢測(cè)裝置的實(shí)施例1的電路圖。圖3是本發(fā)明一種端子連接檢測(cè)裝置的實(shí)施例2的電路圖。在圖2、圖3中，包括 探測(cè)單元100、
分析單元110、 輸出單元300。
具體實(shí)施例方式結(jié)合以下實(shí)施例對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步描述。實(shí)施例1。系統(tǒng)中存在PA與PB兩個(gè)連接端子需要連接。為了檢測(cè)PA與PB連接的狀態(tài)，需要將每個(gè)端子的兩個(gè)引腳開(kāi)辟為檢測(cè)用端子。如圖1所示，連接端子PA設(shè)置有兩個(gè)檢測(cè)端子第13腳C0NNECT_A和第1腳GNDl。連接端子PB設(shè)置有兩個(gè)檢測(cè)端子第13腳GND2和第1腳C0NNECT_B。如果連接端子PA與連接端子PB連接良好，那么C0NNECT_A將與GNDl 可靠連接，C0NNECT_B也將與GND2可靠連接。需要說(shuō)明的是，本發(fā)明適合檢測(cè)各類(lèi)具有不同管腳的連接端子，也可以檢測(cè)連個(gè)連接在一起的連接端子的任何管腳。一種端子連接檢測(cè)裝置，如圖2所示，用于檢測(cè)連接端子PA和連接端子PB的連接狀況。端子連接檢測(cè)裝置設(shè)置有探測(cè)單元100、分析單元200和輸出單元300。探測(cè)單元 100的輸入端與檢測(cè)端子CONNECT-A、GNDUC0NNECT-B和GND2連接，探測(cè)單元100的輸出端與分析單元200的輸入端連接，分析單元200的輸出端與輸出單元300的輸入端連接。探測(cè)單元100設(shè)置有電阻Rll、電容Cll、電阻R21和電容C21。電阻Rll的一端與檢測(cè)端子C0NNECT-A連接，電阻Rll的另一端與電容Cll的一端連接，電容Cll的另一端與所述檢測(cè)端子GNDl連接。電阻R21的一端與檢測(cè)端子C0NNECT-B連接，電阻R21的另一端與電容C21的一端連接，電容C21的另一端與所述檢測(cè)端子GND2連接。電阻Rll的另一端、電阻R21的另一端與分析單元200的輸入端連接。分析單元200設(shè)置有電阻R12、光耦I(lǐng)S01、二極管D11、二極管D12、電阻R22、光耦 IS02、二極管D21和二極管D22。光耦I(lǐng)SOl的1端接+5V電位，光耦I(lǐng)SOl的2端、二極管Dll的正極與電阻Rll的另一端連接，光耦I(lǐng)SOl的3端與GND3連接，電阻R12的一端接+3. 3V電位，電阻R12的另一端、光耦I(lǐng)SOl的4端與二極管D12的正極連接。光耦I(lǐng)S02的1端、二極管Dll的負(fù)極、二極管D21的負(fù)極接+5V電位，光耦I(lǐng)S02 的2端、二極管D21的正極與電阻R21的另一端連接，光耦I(lǐng)S02的3端與GND3連接，電阻 R22的一端接+3. 3V電位，電阻R22的另一端、光耦I(lǐng)S02的4端與二極管D22的正極連接。二極管D12的負(fù)極、二極管D22的負(fù)極與輸出單元300的輸入端連接。輸出單元300設(shè)置有電阻R3、電阻R4、電阻R5、電容C3和三極管Q3。電阻R3的一端與二極管D12的負(fù)極連接，電阻R3的另一端、電阻R4的一端、電容 C3的一端與三極管Q3的基極連接，電阻R4的另一端、電容C3的另一端、三極管Q3的發(fā)射極與GND3連接，電阻R5的一端接+3. 3V電位，電阻R5的另一端與三極管Q3的集電極連接。本發(fā)明的端子連接檢測(cè)裝置，其檢測(cè)原理是
如果連接端子PA與連接端子PB可靠連接，那么C0NNECT_A與GNDl連接，C0NNECT_ B 與GND2連接，則光耦I(lǐng)SOl和IS02都將導(dǎo)通，光耦副邊都將為低電平，Q3三極管將不會(huì)導(dǎo)通，檢測(cè)電路的輸出單元的輸出端C0NNECT_ FB將為高電平。如果連接端子PA與連接端子PB出現(xiàn)不可靠連接的情況，C0NNECT-A或C0NNECT_B 其中一個(gè)或全部將會(huì)與GND斷開(kāi)連接，那么C0NNECT_A或C0NNECT_B至少有一個(gè)不會(huì)處于低電平，則光耦I(lǐng)SOl和IS02其中一個(gè)將不會(huì)導(dǎo)通，其中一個(gè)光耦的副邊輸出將被拉高為高電平。由于兩個(gè)光耦的副邊輸出通過(guò)二極管D12和二極管D22進(jìn)行或邏輯，那么Ql三極管將會(huì)導(dǎo)通，檢測(cè)電路輸出將被拉低到低電平。通過(guò)以上分析可知，連接端子PA和PB在連接正常和連接故障時(shí)，檢測(cè)電路給出了相反的邏輯電平，通過(guò)此電平量，電氣設(shè)備的控制中心就可以進(jìn)行相應(yīng)的動(dòng)作處理，防止端子連接故障導(dǎo)致的系統(tǒng)級(jí)故障。實(shí)施例2。一種端子連接檢測(cè)裝置，如圖3所示，用于檢測(cè)圖1所示的連接端子PA和連接端子PB的連接狀況。連接端子PA設(shè)置有檢測(cè)端子C0NNECT-A和GNDl，檢測(cè)端子PB設(shè)置有檢測(cè)端子C0NNECT-B和GND2。端子連接檢測(cè)裝置設(shè)置有探測(cè)單元100、分析單元200和輸出單元300。探測(cè)單元100的輸入端與檢測(cè)端子CONNECT-A、GNDUC0NNECT-B和GND2連接， 探測(cè)單元100的輸出端與分析單元200的輸入端連接，分析單元200的輸出端與輸出單元 300的輸入端連接。探測(cè)單元100設(shè)置有電阻Rll、電容Cll、電阻R21和電容C21，電阻Rll為470歐， 電容Cll為IOOnF,電阻R21為470歐，電容C21為100nF。電阻Rll的一端與檢測(cè)端子C0NNECT-A連接，電阻Rll的另一端與電容Cll的一端連接，電容Cll的另一端與所述檢測(cè)端子GNDl連接。電阻R21的一端與檢測(cè)端子C0NNECT-B連接，電阻R21的另一端與電容C21的一端連接，電容C21的另一端與所述檢測(cè)端子GND2連接。電阻Rll的另一端、電阻R21的另一端與分析單元200的輸入端連接。分析單元200設(shè)置有電阻R12、光耦I(lǐng)S01、二極管D11、二極管D12、電阻R22、光耦 IS02、二極管D21和二極管D22，電阻R12為1. 5千歐，電阻R22為1. 5千歐。光耦I(lǐng)SOl的1端接+5V電位，光耦I(lǐng)SOl的2端、二極管Dll的正極與電阻Rll的另一端連接，光耦I(lǐng)SOl的3端與GND3連接，電阻R12的一端接+3. 3V電位，電阻R12的另一端、光耦I(lǐng)SOl的4端與二極管D12的正極連接。光耦I(lǐng)S02的1端、二極管Dll的負(fù)極、二極管D21的負(fù)極接+5V電位，光耦I(lǐng)S02 的2端、二極管D21的正極與電阻R21的另一端連接，光耦I(lǐng)S02的3端與GND3連接，電阻 R22的一端接+3. 3V電位，電阻R22的另一端、光耦I(lǐng)S02的4端與二極管D22的正極連接。二極管D12的負(fù)極、二極管D22的負(fù)極與輸出單元300的輸入端連接。輸出單元300設(shè)置有電阻R3、電阻R4、電阻R5、電容C3和三極管Q3，電阻R3為1 千歐，電阻R4為47千歐，電阻R5為4. 7千歐，電容C3為lOOnF。電阻R3的一端與二極管 D12的負(fù)極連接，電阻R3的另一端、電阻R4的一端、電容C3的一端與三極管Q3的基極連接，電阻R4的另一端、電容C3的另一端、三極管Q3的發(fā)射極與GND3連接，電阻R5的一端接+3. 3V電位，電阻R5的另一端與三極管Q3的集電極連接。以上元器件的參數(shù)值僅供參考，在實(shí)際應(yīng)用本技術(shù)方案時(shí)，可對(duì)以上參數(shù)值進(jìn)行調(diào)整。本發(fā)明的端子連接檢測(cè)裝置，其檢測(cè)原理是
如果連接端子PA與連接端子PB可靠連接，那么C0NNECT_A與GNDl連接，C0NNECT_ B 與GND2連接，則光耦I(lǐng)SOl和IS02都將導(dǎo)通，光耦副邊都將為低電平，Q3三極管將不會(huì)導(dǎo)通，檢測(cè)電路的輸出單元的輸出端C0NNECT_ FB將為高電平。如果連接端子PA與連接端子PB出現(xiàn)不可靠連接的情況，C0NNECT-A或C0NNECT_B 其中一個(gè)或全部將會(huì)與GND斷開(kāi)連接，那么C0NNECT_A或C0NNECT_B至少有一個(gè)不會(huì)處于低電平，則光耦I(lǐng)SOl和IS02其中一個(gè)將不會(huì)導(dǎo)通，其中一個(gè)光耦的副邊輸出將被拉高為高電平。由于兩個(gè)光耦的副邊輸出通過(guò)二極管D12和二極管D22進(jìn)行或邏輯，那么Ql三極管將會(huì)導(dǎo)通，檢測(cè)電路輸出將被拉低到低電平。通過(guò)以上分析可知，連接端子PA和PB在連接正常和連接故障時(shí)，檢測(cè)電路給出了相反的邏輯電平，通過(guò)此電平量，電氣設(shè)備的控制中心就可以進(jìn)行相應(yīng)的動(dòng)作處理，防止端子連接故障導(dǎo)致的系統(tǒng)級(jí)故障。最后應(yīng)當(dāng)說(shuō)明的是，以上實(shí)施例僅用以說(shuō)明本發(fā)明的技術(shù)方案而非對(duì)本發(fā)明保護(hù)范圍的限制，盡管參照較佳實(shí)施例對(duì)本發(fā)明作了詳細(xì)說(shuō)明，本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解，可以對(duì)本發(fā)明的技術(shù)方案進(jìn)行修改或者等同替換，而不脫離本發(fā)明技術(shù)方案的實(shí)質(zhì)和范圍。
權(quán)利要求
1.一種端子連接檢測(cè)裝置，用于檢測(cè)連接端子PA和連接端子PB的連接狀況，連接端子 PA設(shè)置有檢測(cè)端子C0NNECT-A和GNDl，檢測(cè)端子PB設(shè)置有檢測(cè)端子C0NNECT-B和GND2， 其特征在于所述端子連接檢測(cè)裝置設(shè)置有探測(cè)單元、分析單元和輸出單元，所述探測(cè)單元的輸入端與所述檢測(cè)端子CONNECT-A、GNDU C0NNECT-B和GND2連接，所述探測(cè)單元的輸出端與所述分析單元的輸入端連接，所述分析單元的輸出端與所述輸出單元的輸入端連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的端子連接檢測(cè)裝置，其特征在于所述探測(cè)單元設(shè)置有電阻 R11、電容C11、電阻R21和電容C21 ；所述電阻Rll的一端與所述檢測(cè)端子C0NNECT-A連接，所述電阻Rll的另一端與所述電容Cll的一端連接，所述電容Cll的另一端與所述檢測(cè)端子GNDl連接；所述電阻R21的一端與所述檢測(cè)端子C0NNECT-B連接，所述電阻R21的另一端與所述電容C21的一端連接，所述電容C21的另一端與所述檢測(cè)端子GND2連接；所述電阻Rll的另一端、所述電阻R21的另一端與所述分析單元的輸入端連接。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的端子連接檢測(cè)裝置，其特征在于所述電阻Rll為470歐，所述電容Cll為IOOnF,所述電阻R21為470歐，所述電容C21為100nF。
4.根據(jù)權(quán)利要求2或3所述的端子連接檢測(cè)裝置，其特征在于所述分析單元設(shè)置有電阻R12、光耦I(lǐng)S01、二極管D11、二極管D12、電阻R22、光耦I(lǐng)S02、二極管D21和二極管 D22 ；所述光耦I(lǐng)SOl的1端接+5V電位，所述光耦I(lǐng)SOl的2端、所述二極管Dll的正極與所述電阻Rll的另一端連接，所述光耦I(lǐng)SOl的3端與GND3連接，所述電阻R12的一端接 +3. 3V電位，所述電阻R12的另一端、所述光耦I(lǐng)SOl的4端與所述二極管D12的正極連接；所述光耦I(lǐng)S02的1端、所述二極管Dll的負(fù)極、所述二極管D21的負(fù)極接+5V電位，所述光耦I(lǐng)S02的2端、所述二極管D21的正極與所述電阻R21的另一端連接，所述光耦I(lǐng)S02 的3端與GND3連接，所述電阻R22的一端接+3. 3V電位，所述電阻R22的另一端、所述光耦 IS02的4端與所述二極管D22的正極連接；所述二極管D12的負(fù)極、所述二極管D22的負(fù)極與所述輸出單元的輸入端連接。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的端子連接檢測(cè)裝置，其特征在于所述電阻R12為1.5千歐， 所述電阻R22為1.5千歐。
6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的端子連接檢測(cè)裝置，其特征在于所述輸出單元設(shè)置有電阻 R3、電阻R4、電阻R5、電容C3和NPN型的三極管Q3 ；所述電阻R3的一端與二極管D12、所述二極管D22的負(fù)極連接，所述電阻R3的另一端、 所述電阻R4的一端、所述電容C3的一端與所述三極管Q3的基極連接，所述電阻R4的另一端、所述電容C3的另一端、所述三極管Q3的發(fā)射極與GND3連接，所述電阻R5的一端接 +3. 3V電位，所述電阻R5的另一端與所述三極管Q3的集電極連接。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的端子連接檢測(cè)裝置，其特征在于所述電阻R3為1千歐，所述電阻R4為47千歐，所述電阻R5為4. 7千歐，所述電容C3為lOOnF。
全文摘要
一種端子連接檢測(cè)裝置，用于檢測(cè)連接端子PA和連接端子PB的連接狀況，端子連接檢測(cè)裝置設(shè)置有探測(cè)單元、分析單元和輸出單元，探測(cè)單元的輸入端與檢測(cè)端子連接，探測(cè)單元的輸出端與分析單元的輸入端連接，分析單元的輸出端與輸出單元的輸入端連接。探測(cè)單元設(shè)置有電阻R11、電容C11、電阻R21和電容C21；分析單元設(shè)置有電阻R12、光耦I(lǐng)SO1、二極管D11、二極管D12、電阻R22、光耦I(lǐng)SO2、二極管D21和二極管D22；輸出單元設(shè)置有電阻R3、電阻R4、電阻R5、電容C3和三極管Q3。本發(fā)明能夠?qū)崟r(shí)監(jiān)控系統(tǒng)連接端子的連接狀態(tài)。
文檔編號(hào)G01R31/02GK102338837SQ201010230720
公開(kāi)日2012年2月1日 申請(qǐng)日期2010年7月20日 優(yōu)先權(quán)日2010年7月20日
發(fā)明者于瑋 申請(qǐng)人:廣東易事特電源股份有限公司