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密碼鎖壽命測試儀的制作方法

文檔序號:6152269閱讀:252來源:國知局
專利名稱:密碼鎖壽命測試儀的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及測試儀器技術(shù)領(lǐng)域,具體講是一種密碼鎖壽命測試儀。
背景技術(shù)
現(xiàn)有的密碼鎖的執(zhí)行機(jī)構(gòu)普遍使用電磁閥與其他機(jī)械結(jié)構(gòu)連接來實現(xiàn),為了保證密碼 鎖的質(zhì)量,密碼鎖的執(zhí)行機(jī)構(gòu)需要進(jìn)行壽命測試。目前,所述壽命測試均為人工操作方式, 即由多人輪流對密碼鎖的電磁閥進(jìn)行上電和放電工作,同時記錄操作次數(shù)。所述的人工操 作方式有以下顯著缺點(diǎn)1、由于壽命測試需要對電磁閥進(jìn)行上電、放電操作,其操作次
數(shù)多達(dá)幾萬次,甚至十幾萬次,勞動強(qiáng)度高,耗時長;2、容易受人為因素影響,即對電 磁閥進(jìn)行上電、放電操作的時間間隔無法準(zhǔn)確控制,導(dǎo)致測試結(jié)果不準(zhǔn),人工記錄操作次 數(shù)的方式增加了出現(xiàn)錯誤的概率,使測試結(jié)果的誤差被放大。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明要解決的技術(shù)問題是,提供一種測試效率高、自動化程度高、測試準(zhǔn)確性高的 密碼鎖壽命測試儀。
本發(fā)明的技術(shù)方案是,本發(fā)明密碼鎖壽命測試儀,它由電源模塊、控制信號輸入模塊、 中央微處理模塊、電磁閥驅(qū)動模塊、電磁閥通斷檢測模塊及狀態(tài)提示模塊組成;所述電源 模塊分別與控制信號輸入模塊、中央微處理模塊、電磁閥驅(qū)動模塊、電磁閥通斷檢測模塊 及狀態(tài)提示模塊電連接;所述中央微處理模塊還分別與控制信號輸入模塊、電磁閥驅(qū)動模 塊、電磁閥通斷檢測模塊及狀態(tài)提示模塊電連接;所述電磁閥驅(qū)動模塊還與電磁閥電連接; 所述電磁閥通斷檢測模塊還與電磁閥連接。
采用上述結(jié)構(gòu)后,本發(fā)明與現(xiàn)有技術(shù)相比,具有以下優(yōu)點(diǎn)所述電磁閥驅(qū)動模塊與電 磁閥電連接,當(dāng)工人通過制信號輸入模塊設(shè)定完測試次數(shù)等相關(guān)測試數(shù)據(jù)后,所述電磁閥 驅(qū)動模塊在中央微處理模塊的控制下,能夠自動地對電磁閥進(jìn)行上電和放電的操作,而且 上電和放電的操作的時間間隔能夠精確控制并自動記錄操作次數(shù),無需人工參與,通過狀 態(tài)提示模塊能夠?qū)y試情況及時反饋給測試人員,并能對測試所得到的數(shù)據(jù)進(jìn)行相關(guān)處 理。綜合上述,本發(fā)明密碼鎖壽命測試儀的測試效率高、自動化程度高、測試準(zhǔn)確性高。
作為改進(jìn),所述中央微處理模塊為芯片M37546及其外圍電路,該芯片M37546性價比 高,穩(wěn)定可靠,更有利于本發(fā)明密碼鎖壽命測試儀性能的提高。
作為進(jìn)一步改進(jìn),所述電磁閥通斷檢測模塊至少由一個微動開關(guān)組成,每個微動開關(guān)對應(yīng)一個電磁閥,所述電磁閥通斷檢測模塊還與電磁閥連接是指所述微動開關(guān)還與電磁閥 的閥芯的活動端的端部相抵;所述中央微處理模塊與電磁閥通斷檢測模塊電連接是指所述 中央微處理模塊與微動開關(guān)電連接;這樣,直接通過微動開關(guān)來檢測電磁閥的閥芯的運(yùn)動 來確定電磁閥的上電和放電的狀態(tài),能夠使測試快速準(zhǔn)確、可靠,而且這種檢測方式結(jié)構(gòu) 簡單、成本低,更有利于本發(fā)明密碼鎖壽命測試儀性能的提高。


圖1是本發(fā)明密碼鎖壽命測試儀的電路原理框圖。 圖2是控制信號輸入模塊的電路原理圖。
具體實施例方式
下面結(jié)合附圖對本發(fā)明作進(jìn)一步說明。
本發(fā)明密碼鎖壽命測試儀由電源模塊、控制信號輸入模塊、中央微處理模塊、電磁閥 驅(qū)動模塊、電磁閥通斷檢測模塊及狀態(tài)提示模塊組成;所述電源模塊分別與控制信號輸入 模塊、中央微處理模塊、電磁閥驅(qū)動模塊、電磁閥通斷檢測模塊及狀態(tài)提示模塊電連接; 所述中央微處理模塊還分別與控制信號輸入模塊、電磁閥驅(qū)動模塊、電磁閥通斷檢測模塊 及狀態(tài)提示模塊電連接;所述電磁閥驅(qū)動模塊還與電磁閥電連接;所述電磁閥通斷檢測模 塊還與電磁閥連接。如圖1所示。
所述電源模塊為現(xiàn)有技術(shù)常用的由交流電源變壓得到的直流穩(wěn)壓電源。 所述控制信號輸入模塊為現(xiàn)有技術(shù)常用的模擬量輸入電路,如圖2所示,該模擬量輸 入電路共設(shè)有5個摁鍵,公用一個模擬信號輸入端,該模擬信號輸入端與中央微處理模塊 電連接。
所述中央微處理模塊為芯片M37546及其外圍電路。 所述電磁閥驅(qū)動模塊為芯片ULN2003A。
所述電磁閥通斷檢測模塊至少由一個微動開關(guān)組成,每個微動開關(guān)對應(yīng)一個電磁閥, 所述電磁閥通斷檢測模塊還與電磁閥連接是指所述微動開關(guān)還與電磁閥的閥芯的活動端 的端部相抵;所述中央微處理模塊與電磁閥通斷檢測模塊電連接是指所述中央微處理模塊 與微動開關(guān)電連接。
所述狀態(tài)提示模塊由一個揚(yáng)聲器和三個雙八數(shù)碼管組成;所述揚(yáng)聲器與芯片ULN2003A 電連接;所述中央微處理模塊與狀態(tài)提示模塊電連接是指所述中央微處理模塊與三個雙八 數(shù)碼管電連接。
當(dāng)本發(fā)明密碼鎖壽命測試儀工作時,首先,測試人員將需要測試的電磁閥分別與電磁閥驅(qū)動模塊、電磁閥通斷檢測模塊連接好,再通過所述控制信號輸入模塊向中央微處理模 塊輸入測試初始參數(shù),此時由所述狀態(tài)提示模塊向測試人員顯示相關(guān)數(shù)據(jù),以供測試人員 確認(rèn)輸入的數(shù)據(jù)正確,當(dāng)初始參數(shù)輸入完畢,所述中央微處理模塊立即按照內(nèi)部程序執(zhí)行, 這樣,所述電磁閥的壽命測試就開始了。通過狀態(tài)提示模塊,測試人員可以查看任意一個 在測試的電磁閥的上電和放電次數(shù),而且狀態(tài)提示模塊還能報故障,即當(dāng)電磁閥上電時, 電磁閥的閥芯就會克服閥芯的復(fù)位彈簧的彈力移動一段距離,這樣,閥芯的活動端也會移 動一段距離,那么,與閥芯的活動端的端面相抵的微動開關(guān)就會抬起而斷開微動開關(guān),此 時,中央微處理模塊就會得到一個低電平的信號輸入,中央微處理模塊就會記錄一次上電 操作,如果,當(dāng)電磁閥上電時,電磁閥的閥芯沒動,那么,中央微處理模塊通過微動開關(guān) 獲得一個持續(xù)的高電平的信號輸入,此時,中央微處理模塊就會自動判斷該電磁閥發(fā)生故 障,并通過控制狀態(tài)提示模塊向測試人員報警。當(dāng)測試完成后,測試人員再通過控制信號 輸入模塊及狀態(tài)提示模塊即可查看中央微處理模塊所記錄的測試數(shù)據(jù),就能夠方便地知道 相關(guān)測試結(jié)果。
以上僅就本發(fā)明較佳的實施例作了說明,但不能理解為是對權(quán)利要求的限制。本發(fā)明 的結(jié)構(gòu)可以有其他變化,不局限于上述結(jié)構(gòu),比如所述中央微處理模塊可以為芯片
TMP86P809及其外圍電路??傊?,凡在本發(fā)明產(chǎn)品獨(dú)立權(quán)利要求的保護(hù)范圍內(nèi)所作的各種 變化均在本發(fā)明的保護(hù)范圍內(nèi)。
權(quán)利要求
1、一種密碼鎖壽命測試儀,其特征在于由電源模塊、控制信號輸入模塊、中央微處理模塊、電磁閥驅(qū)動模塊、電磁閥通斷檢測模塊及狀態(tài)提示模塊組成;所述電源模塊分別與控制信號輸入模塊、中央微處理模塊、電磁閥驅(qū)動模塊、電磁閥通斷檢測模塊及狀態(tài)提示模塊電連接;所述中央微處理模塊還分別與控制信號輸入模塊、電磁閥驅(qū)動模塊、電磁閥通斷檢測模塊及狀態(tài)提示模塊電連接;所述電磁閥驅(qū)動模塊還與電磁閥電連接;所述電磁閥通斷檢測模塊還與電磁閥連接。
2、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的密碼鎖壽命測試儀,其特征在于所述中央微處理模塊為 芯片M37546及其外圍電路。
3、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的密碼鎖壽命測試儀,其特征在于所述電磁閥驅(qū)動模塊為 芯片ULN2003A。
4、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的密碼鎖壽命測試儀,其特征在于所述電磁闊通斷檢測模 塊至少由一個微動開關(guān)組成,每個微動開關(guān)對應(yīng)一個電磁閥,所述電磁闊通斷檢測模塊還 與電磁閥連接是指所述微動開關(guān)還與電磁閥的閥芯的活動端的端部相抵;所述中央微處理 模塊與電磁闊通斷檢測模塊電連接是指所述中央微處理模塊與微動開關(guān)電連接。
5、 根據(jù)權(quán)利要求3所述的密碼鎖壽命測試儀,其特征在于所述狀態(tài)提示模塊由一 個揚(yáng)聲器和三個雙八數(shù)碼管組成;所述揚(yáng)聲器與芯片ULN2003A電連接;所述中央微處理 模塊與狀態(tài)提示模塊電連接是指所述中央微處理模塊與三個雙八數(shù)碼管電連接。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種測試效率高、自動化程度高、測試準(zhǔn)確性高的密碼鎖壽命測試儀,它由電源模塊、控制信號輸入模塊、中央微處理模塊、電磁閥驅(qū)動模塊、電磁閥通斷檢測模塊及狀態(tài)提示模塊組成;所述電源模塊分別與控制信號輸入模塊、中央微處理模塊、電磁閥驅(qū)動模塊、電磁閥通斷檢測模塊及狀態(tài)提示模塊電連接;所述中央微處理模塊還分別與控制信號輸入模塊、電磁閥驅(qū)動模塊、電磁閥通斷檢測模塊及狀態(tài)提示模塊電連接;所述電磁閥驅(qū)動模塊還與電磁閥電連接;所述電磁閥通斷檢測模塊還與電磁閥連接。
文檔編號G01M99/00GK101520382SQ20091009702
公開日2009年9月2日 申請日期2009年3月26日 優(yōu)先權(quán)日2009年3月26日
發(fā)明者耘 葉, 林輝撐, 馬建剛 申請人:寧波海誠電器有限公司
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