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確定米的光澤度的方法和裝置的制作方法

文檔序號:5924933閱讀:435來源:國知局
專利名稱:確定米的光澤度的方法和裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及用于確定米的光澤度,尤其是拋光大米的光澤度的方法,以及用于確定這種米的光澤度的裝置。
背景技術(shù)
通過對米進(jìn)行拋光來生產(chǎn)大米是眾所周知的。此處,所獲得的光滑表面或表面光澤度表示所獲得的拋光質(zhì)量。但是,由于光澤度是人工估計(jì)的,因此其取決于估計(jì)者的主觀意見。
EP-A-296956公開了一種光澤度指示器,利用該指示器,通過與標(biāo)準(zhǔn)表面比較而提供一種比較標(biāo)準(zhǔn)。根據(jù)DE-A-3312948,通過研究其上被發(fā)射光脈沖的表面的光譜以及將其轉(zhuǎn)換成電信號,可以快速確定任何表面的光澤度。例如在EP-A-183270,JP56197959,WO96/33401或WO01/20308中已經(jīng)公開了通過研究反射光的強(qiáng)度等確定表面光澤度。這也可以通過NIR光譜儀(EP-A-240185)來完成。
由于可以通過光學(xué)儀器很好地確定大米的白色等級或顏色,顏色分析不再對米粒的光滑度和光澤度提供更多信息,因此對產(chǎn)品質(zhì)量和購買興趣也不再提供更多信息。

發(fā)明內(nèi)容
因此,本發(fā)明的一個(gè)目的是提供一種用于確定米的光澤度,尤其是大米的光澤度的方法,其能夠客觀地和經(jīng)濟(jì)地估算拋光米粒的光澤度。該目的通過權(quán)利要求1所述的特征而實(shí)現(xiàn)。
非常容易估算米粒的爬行效應(yīng)使得能夠相對估算大米的光澤度或光滑度,其使得生產(chǎn)者和消費(fèi)者能夠通過米粒表面的光澤度或光滑度客觀地估計(jì)加工質(zhì)量。這通過在一定量的米粒中施加剪切應(yīng)力并確定在該過程中的爬行效應(yīng),尤其是平均值來確定。
必須確定在受到剪切應(yīng)力期間的爬行效應(yīng)的時(shí)間間隔。它們隨后被平均并顯示。
本發(fā)明的目的還在于提供一種用于估算光澤度的可靠、經(jīng)濟(jì)、易于操作的裝置。該裝置通過權(quán)利要求6所述的特征來實(shí)現(xiàn)。
該裝置包括緩慢旋轉(zhuǎn)的旋轉(zhuǎn)工作臺,其支承一裝滿米的環(huán)形槽。還設(shè)置一電子計(jì)算器以獲得力矩的變化、最大值和最小值、間隔時(shí)間以及有關(guān)光澤度的結(jié)果數(shù)據(jù)。該裝置基于一環(huán)形剪切單元,通過該剪切單元,大批材料的剪切力在測量槽內(nèi)被測量并隨后顯示。這種環(huán)形剪切單元用于確定剪切力的大小和精確變化,同時(shí),根據(jù)本發(fā)明的裝置只測量“剪切力下降(shearing force drops)”的時(shí)間間隔。然后,這些時(shí)間例如用作米粒光澤度的參數(shù)。


下面結(jié)合附圖詳細(xì)描述本發(fā)明的示例性實(shí)施例。
圖1是傳統(tǒng)的大米測量顯示。
圖2是本發(fā)明裝置的兩個(gè)示意性視圖。
具體實(shí)施例方式
本發(fā)明的裝置包括帶有一環(huán)形容器2的旋轉(zhuǎn)工作臺1。容器2的底部安裝有同步板3。容器2中裝滿米4。
旋轉(zhuǎn)工作臺1由一(同步的)帶傳動(dòng)機(jī)構(gòu)5驅(qū)動(dòng),帶傳動(dòng)機(jī)構(gòu)5由具有高傳動(dòng)比的齒輪傳動(dòng)電機(jī)6供能,因此,在每次測量過程中,帶容器2的旋轉(zhuǎn)工作臺1的外周只旋轉(zhuǎn)很小的幾毫米。
在與旋轉(zhuǎn)工作臺1相反位置處有一鉸接的可打開的相反板,其底部安裝有支承件。
可以利用彈簧8、壓板10以及帶把手的芯軸11將相反板7壓靠在米的表面上。定位器12用于將蓋組件19定位。
在蓋組件19閉合后,可以利用芯軸11使壓板10運(yùn)動(dòng),從而預(yù)拉伸彈簧8直到壓板10對米的表面施加所期望的壓力。在彈簧螺栓13上有記號14,記號14與壓板10的表面齊平時(shí)表示預(yù)設(shè)置的預(yù)拉伸程度,因此每次測量可以設(shè)置相等的壓力??梢酝ㄟ^窗口15觀察記號14。
齒輪傳動(dòng)電機(jī)6在殼體16中繞傳動(dòng)軸樞轉(zhuǎn),并經(jīng)杠桿臂17支承在測力計(jì)18上。螺栓20用作容器2的支承件。
也可以在所述蓋和相反工作臺7之間安裝風(fēng)能元件并利用控制閥設(shè)置一容許壓力,從而利用壓縮空氣產(chǎn)生預(yù)拉伸。在所確定的空氣壓力下總能獲得恒定的預(yù)拉伸。
在測量過程中,首先,將容器2中充滿米并將其放在旋轉(zhuǎn)工作臺1上。然后,蓋19閉合,通過芯軸11在米的表面施加容許壓力。在啟動(dòng)齒輪傳動(dòng)電機(jī)6之后,旋轉(zhuǎn)工作臺1緩慢地旋轉(zhuǎn),并對傳動(dòng)軸施加反力矩。測量轉(zhuǎn)換器得到齒輪傳動(dòng)電機(jī)6的作用力,并且估計(jì)作用時(shí)間。
如果在一段時(shí)間后產(chǎn)生爬行間隙(stick-slip interval),則測得振動(dòng)過程的周期,并通過控制系統(tǒng)顯示平均值。
在測量完成后,電機(jī)關(guān)閉。預(yù)拉伸必須被再次去除,或者在風(fēng)力變化例中,壓力的減小速度必須是遞增的。還可以在相反工作臺7和/或者使用力傳感器或力矩傳感器的壓板10處得到反作用力矩。
電子計(jì)算器隨著時(shí)間和間隔進(jìn)程確定最小值和最大值。
旋轉(zhuǎn)工作臺1以低速旋轉(zhuǎn),在幾分鐘的作用時(shí)間T2后出現(xiàn)米層內(nèi)部的爬行效應(yīng),導(dǎo)致力矩的變化。整個(gè)測量循環(huán)時(shí)間T1是可調(diào)節(jié)的。
速度的增大使得能夠縮短作用時(shí)間,從而縮短測量過程。
在作用時(shí)間T2后,每次沒有達(dá)到預(yù)定最小力矩的情況都被記下來,甚至包括所測得的最大力矩的部分。在預(yù)設(shè)定的測量周期后,測量持續(xù)時(shí)間被確定的次數(shù)分開,產(chǎn)生爬行效應(yīng)的平均時(shí)間,其被顯示。這只需要計(jì)數(shù)器和預(yù)設(shè)置作用以及測量周期。
我們發(fā)現(xiàn),該效應(yīng)根據(jù)拋光的程度具有變化的間隔。米越光亮和光滑,力矩變化的時(shí)間越短。對于高拋光度和光澤度的米,單個(gè)間隔的時(shí)間間隙只需測量幾秒鐘,而拋光度差的米則要相對長的時(shí)間。
確定測量時(shí)間間隔T3為爬行效應(yīng)產(chǎn)生一時(shí)間間隙值,其表示米粒的平均光澤度。在該實(shí)例中,T3越小,米越光亮和光滑。
本發(fā)明不限于所述實(shí)施例。
附圖標(biāo)記說明1 旋轉(zhuǎn)工作臺2 容器3 同步板4 米5 帶傳動(dòng)機(jī)構(gòu)
6 齒輪傳動(dòng)電機(jī)7 相反板8 彈簧9 鉸鏈10 壓板11 芯軸12 定位器13 彈簧螺栓14 標(biāo)記15 窗口16 殼體17 杠桿臂18 測力計(jì)19 蓋20 螺栓T1 測量循環(huán)時(shí)間T2 作用時(shí)間T3 間隔
權(quán)利要求
1.確定米的光澤度,尤其是大米的光澤度的方法,步驟如下a)使一定量的米粒在預(yù)設(shè)的作用時(shí)間(T2)受到剪切應(yīng)力;b)記錄爬行效應(yīng)和它們的時(shí)間間隔(T3);c)根據(jù)這些間隔確定出預(yù)定的光澤度值。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所記錄的時(shí)間間隔(T3)被取平均值。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的方法,其特征在于,所述剪切應(yīng)力通過旋轉(zhuǎn)動(dòng)作施加。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法,其特征在于,記錄下力矩變化和/或電流變化。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述剪切應(yīng)力由線性運(yùn)動(dòng)和垂直施加在其上的反作用力產(chǎn)生。
6.確定米的光澤度的裝置,包括運(yùn)動(dòng)裝置,其上安置一裝有米(4)的空間或容器(2),其中,所述運(yùn)動(dòng)裝置包含與電子計(jì)算器相連的傳感器裝置。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的裝置,其特征在于,所述運(yùn)動(dòng)裝置是旋轉(zhuǎn)工作臺(1),并且所述容器(2)是環(huán)形的。
8.根據(jù)權(quán)利要求6或7所述的裝置,其特征在于,所述傳感器裝置適合于記錄力和/或力矩。
全文摘要
本發(fā)明涉及確定米的光澤度,尤其是大米的光澤度的方法和裝置,其能夠客觀地估算拋光米粒表面的光澤度。為此,對一定量的米施加剪切應(yīng)力,確定爬行效應(yīng)的時(shí)間間隔(T3),所述間隔表示米的拋光程度或光亮程度。
文檔編號G01N19/02GK1705879SQ200380101624
公開日2005年12月7日 申請日期2003年10月14日 優(yōu)先權(quán)日2002年10月17日
發(fā)明者范克-奧托·格利茨, 馬庫斯·布羅克費(fèi)爾德 申請人:布勒公司
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